Влияние переходных металлов Mn, Fe и Cu на фотоиндуцированные свойства монокристаллов Bi12 TiO20 тема автореферата и диссертации по химии, 02.00.04 ВАК РФ

Егорышева, Анна Владимировна АВТОР
кандидата химических наук УЧЕНАЯ СТЕПЕНЬ
Москва МЕСТО ЗАЩИТЫ
1993 ГОД ЗАЩИТЫ
   
02.00.04 КОД ВАК РФ
Автореферат по химии на тему «Влияние переходных металлов Mn, Fe и Cu на фотоиндуцированные свойства монокристаллов Bi12 TiO20»
 
Автореферат диссертации на тему "Влияние переходных металлов Mn, Fe и Cu на фотоиндуцированные свойства монокристаллов Bi12 TiO20"

Г6 од

СВ'1 РОССИЙСКАЯ АКАДЕМИЯ НАУК

ОРДЕНА ЛЕНИНА ИНСТИТУТ ОБЩЕЙ И НЕОРГАНИЧЕСКОЙ ЗШШИ им. Н.С.КУИМКОВА

На правах рукописи

ЕГОгаПЕВА Анна Владимировна

ВЛИЯНИЕ ПЕРЕХОДНЫХ МЕТАЛЛОВ Мп, Ре И Си НА ФОТОШдаЦИРОВАННЫЕ СВОЙСТВА . МОНОКРИСТАЛЛОВ Bi12Ti020

(02.00.04 - физическая химия)

АВТОРЕФЕРАТ диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук

Москва 1993

Работа выполнена в ордена Ленина Институте оби в нво'рг витав екай химии им. Н.С.Курнаков РАН.

Научный руководитель - доктор химических па; профессор В.Н.Скориков.

Официальные 'оппоненты: доктор технических на] профессор В.А.Федоров; доктор химических ш П.П.Федоров.

Ведущая организация - Научно-иссладовательсз физико-химический институт им. Л.Я.Карпова,г.Ыосга

Защита состоится 1993

в /¿2 часов на заседании специализирован® совета К 002.37.02 по присуждению ученой стеш кандидата наук в ордена Ленина Институте общей неорганическое химии им. Н.С.Курнакова РАН адресу: 1179СГ7, ГСП-1. Москва, Ленинский просто] 31.

С диссертацией »южно ознакомится в библиот< ОШ РАН по адресу: Москва, Ленинский проспект, 31

Автореферат разослан 1993

Ученый секретарь специализированного совета /Ь каадидат химических наук ¿^^(/Ч/У/'^О/' ^Э.Г.ЖУ]

ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ

Актуальность теш. Монокристаллы со структурой типа силленита, одновременно обладают избирательной фоточувстштельностьо и линейным электрооптическин эффектом. Они находят инрокое применение в качестве фоторэфрактивных срэд, не уступая по свош свойствам таким известные материалы как шлю^ а БаМО^. Ыэнее изученный монокристалл титаната висмута В112ТЮ20 демонстрирует лучшие электрооптическне свойства н высокую фэточувствительность по сравнению с используемыми в настоящий момент силикатом в112бю20 и германатом висмута В:Ц2се02О, что определяет перспективность его применения.

Улучшение характеристик устройств оптоэлектроники и дальнейшее расширение области применения этих кристаллов связано с целенаправленным изменением свойств за счет легирования. На примере других материалов било закачено, что легирование переходными металлами грухшы яелэза существенно улучшает фоторефрактивные свойства. С другой стороны, внесение этих элементов приводит к появлению фэтохромного эффэкта, что в сочетании с фоторефрактившм эффектом открывает ноше возможности для применения.

Оптимизация свойств материала для фоторефракции требует детального изучения процессов, происходящих, в кристалле. В частности, необходимо иметь информации о взаимодействии центров, вносимых примесью с решеткой кристалла, о механизме оптического возбуждения и процессах переноса заряда. В то зэ время вопрос о влиянии легирования переходными элементами группы кзлэза на свойства титаната яаскута и их зависимость от концентрации вводимой примеси практически не освещен в литературе.

Таким образом, проведение исследования по влиянию легирования переходными элементами группы келеза на фотоиндуцированные свойства

титаната висмута является актуальной задачей как с научной, так и с практической точек зрения.

Цель работы. Целью данной работы является исследование влияния легирования переходными металлами на примере Ып, Ре и Си на оптические, фотохромные .и фотоэлектрические свойства монокристаллов титаната висмута.

Для достижения поставленной цели решаются следующие конкретные задачи:

-получение можнфисталлов Bi12Ti020, легированных lin, Fe к Си, методом вытягивания из раствора в расплаве;

-исследование влияния легирования в различных концентрациях на поглощение кристаллов Bi12Ti020, идентификация полос поглощения примесных ионов, исследование их. температурной зависимости и расчет соответствущих им сил осцилляторов;

-выяснение зарядового состояния и локального окружения вводимых в кристалл примесей на основании сравнения экспериментально, полученных данных с рассчитанными теоретически;

-изучение фотохромного эффекта в кристаллах Bi12Tio20, легированных Мп, Ре и Си, а также влияния на него различных термических обработок, исследование температурной зависимости термообесцвечивания, построение модели фотохромных превращений в кристаллах Bi12Tio20, содержащих Un, Ре, Си;

-исследование дисперсии фоточувствительных свойств полученных материалов в зависимости от концентрации легирущей примеси, а также связи этих свойств с поглощением;

-нахождение дисперсии показателя преломления и величины электрооптического модуля г41 кристаллов Bi12Tio20, а также влияния на них легирования Мп, Ре, Си.

Научная новизна. Впервые проведено комплексное исследование влияния легирования переходными металлами на оптические, фото-

фомные, фойэпроводящие и элекгрооптические свойства монокристаллов 3i12Tio2Q. Вшолненное на одних и тех же кристаллах, в одинаковых условиях, с учетом концентраций примеси в кристалле такое исследование позволяет создать объективную картину изменения свойств материала и их взаимосвязи. !

Проведенные исследования влияния легирования Мп, Ре и. См в различных концентрациях на коэф&щиент поглощения монокристаллов Bi12Tio20 позволили предложить неразрушащий способ определения концентрации Ып и Ре в данном материале по величине поглощения в диапазоне концентраций 0.02-0.60 масс.% для Мп и 0.06-0.17 масс.% для Ре; показано, что отяиг в вакууме приводит к полной перезарядке ионов Мп и частичной - ионов Ре и Си. Изучена температурная зависимость штенсивностей примесных полос поглощения.

Показан концентрационный характер фотохромного эффекта в Bi12Ti020, обусловленного вводимой примесью. Обнаружено совпадение полос возбувдения фэтохромного аффекта для кристаллов, содержащих Мп, Ре, Си, свидетельствующее о единой природе генерации электронов в процессе перезарядки примеси. Изучено влияние отжига в вакууме на фотохромные свойства исследуемых кристаллов.

Установлены координационное окружение и зарядовое состояние легирущих элементов. Предложены возмогшие механизмы перезарядки ионов примеси при засветке и отжиге в вакууме. •

Методами термообесцвечивания и термостимулированной люминисцен-ции найдены энергии активации процессов перезарядки, приводящих к релаксации фотохромного возбуждения.

/

Исследовано и объяснено влияние легирующих добавок на фоточувствительные свойства титаната висмута, показано, что с ростом концентрации примеси фототок падает в результате конкуренции двух процессов: поглощения, сопровождаемого d-d переходом в. ионе примеси, и поглощения с последующей ионизацией электрона в зону проводимости.

В области 2.4-2.8 эБ падение фототока связано с уменьшением времен! жизни фотоносителей в результате захвата на примесные уровни.

Впервые измерена дисперсия показателя преломления монокристаллг Bi12Tio20 в видимой области спектра. Уточнено значение элекгро-оптического модуля г41 и показано, что его величина не зависит от длины волны падащего на образец света, а также от содержат« примеси в 1фисталле в изученном концентрационном интервале.

Практическая значимость работы. Показана принципиальная возможность управления уровнем поглощения, фотохромного возбуждения v фоточувствительности при легировании монокристаллов В112тю2с переходными металлами Mn, Ре, Си, что может быть использовано для получения фоторефр активного материала с заданными свойствами. Даны рекомендации по использованию указанных примесей для создания новнх фоторефр активных устройств.

Предложен неразрушаицай безэталонный метод определения содержания ионов Ып и Ре в монокристаллах В112ТЮ20 по величине коэффициента -поглощения в максимуме полосы, соответствущей d-d переходам указанных ионов, что позволяет определять содержание мп в диапазоне концентраций 0.02-0.60 и Ре- 0.06-0.17 масс.%.

Показано преимущество специально нелегированных кристаллов Bi12Ti02Q, а также содержащих Mn, Fe, Си в малых концентрациях, перед используемыми в настоящее время кристаллами Bi12Sio20 и Bi12Ge020 за счет большей электрооптической эффективности (г^п-3) и высокой фоточувствительности.

Апробация работы и публикации. Основные результаты работы докладывались и обсуждались на III Всесоюзной конференции по физико-химическим основам технологии сегнетоэлектрических и родственных материалов (Звенигород, 1988г.), а также на ежегодных конференциях молодых ученых ЙОНХ РАН (в 1989, 1990, 1992 гг.). По теме диссертации опубликовано 5 печатных работы.

Структура и объем диссертации. Диссертация состоит из введения, гетырах. глав, зшишчения и списка цитируемой литературы из 138 ^именований. Работа излокена на 171 странице, содержит 46 рисунков I 17 таблиц.

ОСНОВНОЕ СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ

Во введении обосновывается актуальность выбранного направления гсследовашй, сформулированы цель, задачи, новизна и практическая ценность настоящей работы, приведены основные результаты и краткое юдержание последующих глав.

Первая глава представляет собой обзор литературы, в котором риводятся известные сведения о фазовых равновесиях с участием В12о3 оксидов ¿.озличшх элементов, рассмотрены некоторые особенности ристаллической структуры и кристаллохимии соединений типа илленита, в частности титаната висмута. Приведены основные азико-химические параметры кристаллов В112ТЮ20. Рассматриваются ггтаческие, фотогромные и фотопроводящие свойства кристаллов со груктурой типа силленита, влияние на эти свойства легирования, в астности переходными элементами грунш железа. Обсуздаются чествующие модели формирования дефектного центра, ответственного а "плечо" в спектре поглощения и фотопроводимости, а также модель этохромного возбуждения. Рассматриваются электрооптические и зфрактивные свойства исследуемых кристаллов. В конце обзора сделан ¿вод о необходимости исслздования оптических, фотохромных и фото-юктрических свойств кристаллов В112Т1Ог0, содержащих переходные гементы группы железа в различных концентрациях, и создания модели,

шсывакхдей экспериментально полученные данные. *

Вторая глава посвящена методическим аспектам работы. В ней тсаны аппаратура, условия выращивания и исследования монокристал-«, используемые в настоящей работе. Выращивание специально

нелегированного и легированных монокристаллов 3i12Ti020 провода методом Чохральского из раствора в расплаве из полуторного оксид висмута и диоксида титана марки "ос.ч." при температурах 1115-1130 на установках омического нагрева с применением дополнительнь тепловых экранов из А12о3> что позволило снизить аксиальнь температурный градиент до 8 град/см. Выбранные условия криста: лизации приводили к образованию атомно гладких граней, составляют стационарную форму кристалла. При этом скорость вытягивания i раствора в расплаве не превышала 1.2 мм/час, при скорости вращен, 20-50 об./мин. Исходя из форм роста и морфологии поверхности фрон: кристаллизации, можно предположить, что вытягивание монокристаллс осуществляли в условиях анизотропного послойного механизма криста. лизации. Температура перегрева расплава не превышала ю-20°( Легирование осуществляли добавлением к исходной шихте оксид* соответствующих элементов квалификации "ос.ч." в следуют концентрациях: ib^Oj - 0.013-0.60 масс.г, Рег03~ О-03-0-^0 масс.! Сио - о.ю-о.эо масс.Ж. Экспериментально установлена предельн; концентрация ihx^o^ в расплаве, равная о.бо масс.Ж, позволяют получать качественные монокристаллы Bi12Tio20. Полученны специалы нелегированный, легированные Ып и Ре, а также легированные одновр менно Си и Ре монокристаллы Bi12Tio20, обозначенные в тексте к. Bi12Ti020:Cu.

Рентгенофазовый анализ, проведенный на рентгеновском дифракт метре "Geigerilex", показал, что все полученные монокристал обладают структурой типа силленита. Приводятся значения параметр

элементарной ячейки, плотности полученных кристаллов, измерены

<

гидростатическим взвешиванием, а также данные ЛМС и химическо анализов о концентрации легирующего элемента и других примесе Установлен»), что содержание легирующего элемента превышало сумма

ную концентрацию примесей. Описываются процесс подготовки образцов к исследованиям, методики измерения и расчета.

В работе были использованы следующие установки: для изучения спектров пропускания и отражения в диапазоне 200-900 нм - спектрофотометр "speoord-m40", в диапазоне 0.8-2.5 мкм - nhitachi-3400", Рамэн спектры снимали на лазерном спектрофотометре ДФС-24 с

о

Аг-лазером {X = 5145.3129 А) (совместно с д.х.н. Н.А.Чумаевским ИОНХ РАН)

Исследования стационарной фотопроводимости, термообесцвечивания, термостимудированной лнминисценции, дисперсии показателя преломления и продольного элэктрооптического эффекта проводили на оригинальных установках, описания и блок-схемы которых приведены в работе.

Третья и четвертая главы посвящены описанию экспериментально и теоретически полученных результатов, а такке.их обсуждению.

Исследование влияния легирования Ып, Ре и Си в различных концентрациях на коэффициент поглощения монокристаллов Bi12Ti020 в диапазоне длил волн 0.4-2.5 мкм показало, что при легировании на спектрах поглощения появляются полосы обусловленные, d-d переходами в примесных ионах, а также процессами переноса заряда (рис.1,2), что приводит к потемнению кристаллов в видимой области спектра. Положение максимумов этих полос было уточнено с помощью дифференциальных спектров пропускания, позволяицях получить информацию о недоступной для обычных спектров поглощения области вблизи края, собственного поглощения (рис.3).

Установленно, что фотохромный эффект в кристаллах В112тю20 носит объемный характер. Во всех исследуемых кристаллах, наряду с фотохромным эффектом наведенным ионами вводимой примеси, присутствует "собствзнный" фотохромный эффект, характерный для специально нелегированных кристаллов Bi12Tio2Q. Причем" с увеличением содержания лигатуры в образце, происходит тушение "собственного" эффекта.

о£,ст

<0

10

-I- в то

-о- это Мп

-V- Ре

— о— Си

—я— Мп,

О*

<-25 ».5 1.75 2.0 ■ из 2.5

£.ЭВ

Рис.1. Спектры поглощения легированных кристаллов В1,2Т1020. V - указывает на отжиг в вакууме.

юо л

50-

0

---у

--2

— 3

- 4

• « • ■

\ \ * Г\ ■' •' I

/ — —:?— ЛЧ

-__ ! \ ^------- / Ч '/ \

у ——1-,-,-,-

0.6

10

12

1.6

1.6

2.0

14

Л ,мнм

Рис.2. ИК-спектры пропускания в11гТ1020, легированных: Мп - 1, ?е - 2, Си - 3.4 - до и после засветки соответственно.

Рис.з. Дифференциальные спектры пропускания В112ТЮ20, содержащих: Ип-1,4. Си-2.5. Ре- 3, относительно нелегировнного кристалла до облучения - 1,2,3 и облученных кристаллов относительно необлученных-4,5.

Е.'В

Рис.4. Спектры дополнительного поглоцения В112ТЮ20:Ип; отрицательная область значений ¿а - а, положительная - б.

Исследование полосы возбуждения фотохромного эффекта показало, что положение ее максимума при 2.4-2.5 эВ не зависит от состава и концентрации легирущих элементов, являясь одним и тем же для всех рассматриваемых образцов. Это свидетельствует о единой природе центра, игранцаго роль поставщика электронов в процессе переноса заряда, лежащего в основе фотохромного эффекта.

Применяя к исследуемым образцам различные методы воздействия (УФ-облучениэ, отжиг в вакууме и кислороде), удалось разделить наблюдаемые полосы на системы по природе их происхождения (табл.1). Показано, что при облучении светом из области максимума полосы возбуждения фотохромного эффекта на спектрах поглощения в112Т1020:Мп появляется новая полоса при 2.7 эВ одновременно с уменьшением интенсивности полос при 1.7 и г.8 эВ, что отчетливо проявляется на спектрах дополнительного поглощения в виде отрицательной области Да (рис.4). После термовакуумного воздействия (4= 4бо°с, т= э часа) на В112Т1020:Мп наблюдалось обесцвечивание образцов, спектр поглощения которых мало- отличим от спектра специально нелегированного кристалла, что свидетельствует о произошедшей в них полной перезарядке ионов Ми. После отжига в тех же условиях кристаллов, содержащих Ре и Си, также обнаружено некоторое просветление рбразцов, особенно в области 2.95-3.00 эВ, интенсивность остальных полос при этом не изменялась. Спектр поглощения облученных светом кристаллов В112ТЮ20:Ре не содержит новых полос, изменения проявляются только в увеличении интенсивности полосы при 0.99 эВ и некотором уменьшении поглощения в остальных полосах. Для кристаллов в112тю20:Си облучение приводит к возникновению на спектрах дифференциального поглощения новой интенсивной полосы при 2.66 эВ, а также к просветлению в области 0.89 эВ.

• Таблица 1.

Положение' полос поглощения, • обнаруженных • в исследуемых ртсталлах различными методами

Материал Спектры Спектры Спектры

поглощения дополнительного дифференциального

поглощения поглощения

см-1 эВ см-1 ЭВ см 1 ЭВ

12000- 1 .48- 14100* 1.75* 12000- 1.48-

ВТО:Нп 14500* 1,80* 14500* 1.80*

21800 2.7 22000** 22900* 2.73** 2.84*

7150* 0.89*

20150 2.5 19800 2.45

ВТО:Си • 21400 22200 2.65 2.75 21500*'** 2.67*'**

23400 2.9 24000** 2.97**

8000 0-99

11100 1.37 13600 1.6а

14000 1.74 18800 2.33 14400 1.78

ВТО:Ре 19800 2.45 19500 2.42

21940 2.72 4 21800 23800* 2.70 2.95*

* - полоса исчезает после отетга в вакууме

»* - проявляется после засветки

Показана линейная концентрационная зависимость поглощения в полосах при 1.7 эВ е в112тю20:ып и при 1.67 эВ в в112т1020:ре (рис.5). По формуле А.Смакулы расчитаны величины сил осцилляторов, соответствующие этим полосам. Их порядок ю-4 указывает на то, что данные перехода являются запрещенными' по четности, разрешаемые с участием нечетных колебаний.

¿.см

10

10

10

0.01

0.1

С ,насХ

Рис.5. Концентрационная зависимость коэффициента поглощения Bi12Tio20:Hn для значений энергий падающего света: 2.73 -1, 2.68 -2, 2.50 -3, 2.23 -4, 1.98 -5, 1.83 -6, 1.67 -7, 1-49 эВ -8.

Изучение температурных зависимостей интенсивностей этих полос не обнаружило влияния температуры на величину поглощения в них, что свидетельствует о нецентросимметричном расположении ионов вводимой примеси, например тетраэдрическом.

Используя линейную зависимость поглощения от содержания Мп и Ре в указанных полосах, были получены эмшрические формулы &ля

определения концентрации указанных элементов в интервалах 0.025-о.бо маес.% Нп и о.об-о.го масс.% Ре:

с = о.обг а0*99, (масс.% Нп, е=1.70 эВ); С = 0.088 а0-40, (масс.Ж Ре, Е=1.55 эВ).

Подобные зависимости позволяют оценить содержание Нп и Ре в кристаллах В112ТЮ20 с точностью не хуже, чем при использовании традиционных химических и ЛМС методов, но без разрушения образца.

С помощью диаграмм Танабе-Сугано и. полуэмпирического варианте теории кристаллического поля были найдены возмогшие положения полос поглощения ионов вводимой примеси . во всех наиболее вероятных окружениях и зарядовых состояниях. Показано, что для иона Мп, валентность которого может изменятся от 1 до 7, саше близкие к экспериментальным результаты получаются в случаях: иона Нп5+ в тетраэдркческом и иона Мп4+ в тетраэдрическок и октаэдрическом окружениях. Полосе, проявляющейся после облучения с максимумом при 2.7 эВ, лучше всего соответствует ион Мп3+. Для Ре наиболее вероятные состояния -Ре3+и Ре2+. Ионы Си в кристаллах В112тю20 находятся в зарядовом состоянии 2+.

При исследовании Раман спектров образцов, содержащих Ып, обнаружен пик при 740 см-1, интенсивность которого увеличивается с ростом содержания Мп и не наблюдаемый на спектрах специально нелегированного В112?1020. Исходя из имеющихся сведений о частотах наблюдаемых линий КРС в кристаллах со структурой типа силленита, а также в других материалах, содержащих Ып известной валентности, показано, что найденную полосу следует отнести к колебаниям нормальной моды тетраэдра по связям Мп-о с зарядовым состоянием Мп меньше 5+.

Рассчитана рентгеновская плотность исследуемых образцов по двум схемам замещения ионами переходных элементов в кристаллической решетке в^рТЮ- : в тетраэдркческих позициях вместо иона тГ* в в

октаэдрических вместо иона Bi3+. Показано хорошее совпадение теоритических и экспериментальных результатов при условии вхожденш ионов ид, Рвиоив твтраэдрические позиции.

На основании нескольких независимых методов исследования; расчета положения полос поглощения, расчета рентгеновской плотносп и сравнения ее с экспериментальной,- данных спектров КРС ] температурного поведения интенсивности полос поглощения - показано что ионы lin, Ре и Си входят в кристалл Bi12ri020 в тетраэдричесюи позиции. Ион Ып существует в двух зарядовых состояниях 4+ и 3+, ' преобладанием 4+ (как имеющее более устойчивую конфигурацию). Пр; облучении светом из области возбуждения фотохромного эффект, происходит перезарядка ионов Мп4+—► iin3+. Роль донора в это: процессе берет на себя дефектный центр, содержащий однократн заряженную вакансию по кислороду. При гермовакуумном воздействии сопровоадаемом образованием дополнительных кислородных вакансий, и также меняет свою валентность Ма4+—> —» Мп2+, что проявляете в виде просветления кристалла, поскольку d-й переходы иона Мп2 запрещены по спину и характеризуются величиной силы осциллятора н три порядка ниже, чем для иона ¡¿п4+. При последующем отжиге окислительной атмосфере (t=400°c, т=зчаса) ион Jin2* переходит в 4-валентное состояние. Показано, что из-за нарушений в анконно годрешетке, отжиг в вакууме сопровождается изменением веса образца величина которого совпадает с расчетной, необходимой для полно перезарядки ионов Мл4'1".

Ионы Ре ■ в монокристаллах Bi12Tio20 также существуют в дез зарядовых состояниях Ре3+ и Ре24. Причем Ре2+ образуется за сче процесса переноса заряда с ic-орбитали кислорода на Реэ+. Перехс Ре3+—» Ре2+ происходит и при засветке, однако новых поле поглощения при этом не возникает. Таким образом, фотохромный эффект обусловленный перезарядкой ионов Ре в кристаллах Bi12Tio20:ie i

наблюдается, а уменьшение "собственного" фотохромного эффекта связано с внесением Ре мелких уровней, легко ионизуемых при комнатной температуре.

В кристаллах в112ТЮ20:Си, ион Си2+ содержится наряду с ионами Ре3+ и Ре2+. При облучении светом из области возбуждения фотохромного эффекта в образце происходят следующие. процессы перезарядки: Си2+—► Си+, Ре3+—► ?е2+ и Си++ РеЭ+—» Си2++ Ре2*. Показано, что существованием последнего процесса и объясняется сильный фотохромный эффект в этих кристаллах.

Методами термоо.бесцвечивания и термостимулированной лшинисцен-ции найдены энергии активации центров захвата в специально нелегированном и содержащих Нп, Ре и Си кристаллах, приводящих к' стабилизации фотохромного возбуядения и участвующих в процессах перезарядки. Показано, что термообесцвечивание происходит по ступенчатому закону, отражающему процесс опустошения центров захвата равномерно во всех полосах дополнительного поглощения, и не сопровождается появлением новых полос, что указывает на преобладание одного типа центров окраски,. Основной вклад в восстановление поглощения образца вносит опустоиение уровней с энергиями активации: для специально нелегированного В112ТЮ20- 0.63-0.76 эВ, В112ТЮ20:Мп 0.80-0.96 ЭВ, В112Т1020:Ре - 0.34-0.40 эВ, В112ТЮ20:Си - 0.63-0.80 ЭВ.

Изучение кинетических зависимостей термообесцвечивания показало существование двух режимов в процессе релаксации фотохромного эффекта, что при условии преобладания одного типа центров окраски' указывает на наличие двух различных механизмов рекомбинации. По данным термообесцвечивания, термостимулированной люминисценции и спектров поглощения построена энергетическая диаграмма уровней в запрещенной зоне легированных кристаллов В112ТЮ20, приведены

возможные модели переходов, сопровоздаодос возбуждение и релаксацию фотохромного эффекта.

Показано, что фотопроводимость в исследуемых кристаллах носит примесный характер. В ее основе лекат переходы с уровней, участвующих в фотохромном возбуждении образцов. При легировании величина фототока в области d-d переходов резко падает (до 5 порядков в случав легирования Мп, до 4- порядков - Ре, до 2.5 порядков - Си) с увеличением концентрации лигатуры (рис.6) в результате конкуренции двух процессов поглощения: первого - сопровождаемого d-d переходом электрона и не приводящего к появлению свободного носдтеля заряда, и

второго - поглощения с последующей ионизацией электрона в зону проводимости. В области, соответствующей полосе возбуждения фотохромного эффекта, уменьшение фототока связано с повышением вероятности рекомбинации носителей и уменьшением их времени жизни в зоне свободных состояний. Изучена кинетика установления стационарного фототока. Определено энергетическое положение глубоких уровней. Показано, что при термовакуумном воздействии на образец происходит внутренняя пере-

Рис.б.Спектральная зависимость фототока в нелегированном Bi12œi020 (1) и легированных: о.об масс.% Ре-2, 0.13 масс.S Си- 3, 0.05 И 0.57 масса Ып- 4,5 соответственно.

стройка кристалла, сказывавдаяся на изменении концентрации глубоких и мелких уровней в запрещенной зоне кристалла, а также появлении новых с глубиной залегания 1.3-1.7 эВ. \

Впервые получена дисперсионная зависимость показателя преломления п{Х) специально иелегировашюго В1_12т10го (табл.2). Дисперсия показателя преломления носит нормальный характер. Значения п превосходят аналогичные для широко используегшх в настоящее время монокристаллов б11251020 и в112се020 во всем исследуемом диапазоне.

Таблица г

Зависимость показателя преломления п от длины волны X

iv х..нм п

492 2.688 600 2.578

500 2.673 625 2.565

525 2.639 633 2.561

550 2.617 650 2.552

575 2.599 675 2.541

Погрешность измерения -1-1 о--3 единиц п.

Исследован продольный электрооптический эффект в специально нелегированном и легированных кристаллах В112т±о20. Оказалось, что величина электрооптического модуля г41 не зависит от длины волны проходящего света и его значение 5-9-ю-12 м/В больше аналогичных, для В112б1020 и В112се020, что в сочетании с высоким показателем преломления делает В112тю20 более предпочтительным при использовании его в оптоэлектронике. Легирование переходными металлами группы железа в максимально полученных концентрациях не привело к изменении величины гд1 (в пределах ошибки эксперимента, оцениваемой наш в

10%). Исходя из этого сделан вывод, что легирование данными элементами не ухудшает электрооптические свойства Bi12Tio20.

В заключении даны рекомендации по вероятному использованию полученных материалов, сформулированы основные результаты и вывода. Они сводятся к следующему:

1. Получении и исследовании физико-химическими методами моно. кристаллы твердых растворов Bi12Tio20, содержащие Мп (о.02-0. 60 масс.%), Fe (0.06-0.17 масс.Ж) и Си (0.03-0.12 масс.Ж). Установлений , что легирующие элементы Bin, Fe и cu входят в тетраэдрические позиции кристаллической решетки Bi12Ti020, замещая кон П4+ в следующих зарядовых состояниях: Мп4+, Те3+и Си2+, определяющих фотоиндуцированные свойства материала и изменяющихся при внешнем воздействий в результате процессов переноса заряда. Показано, что перезарядка ионов примеси при термовакуунвой обработке: lîn4+—» Ыпэ+—» Ып2+ и РеЭ+—► Fe2+ - сопровождается обесцвечиванием кристалла, а щт УФ-аблучешт: в Bi12rio2Q:Hn - Ып4+—» Ып3+ и в Bi12ri020:Cu:Pe - Cu2+—>• Си+И Cu++Fe3+—► Cu2++Pe2+ - вызывает появление новых полос поглощения и фотохромного эффекта, в отличие от перехода Fe3+—» Fe2+ в Bi12Tio20;Fe, приводящего к просветлению монокристалла. Обнаружено, что введение примеси в рассматриваемом концентрационном интервале приводит к падению фоточувствительности: в случае В112ТЮ20:Ма-на 5 порядков, Bi12Tio20:Fe-Ha 4 порядка, Bi12ri020:0u- на 2.5 порядка. Это связано с повышением вероятности рекомбинации неравновесных носителей заряда и уменьшением их времени жизни, с одной стороны, и уменьшением квантового выхода в результате поглощения й-электронами ионов примеси, с другой. Создана общая картина изменения фотоиндуцированных свойств изученных кристаллов, что является необходимым для целенаправленного изменения свойств материала на основе титаната висмута.

2. Показано, что фотохромный эффект в специально нелегированном I легированных кристаллах В112Г1020 носит объемный характер. Обнару-:ено, что полокение полосы возбувдения фотохромного эффекта не ¡ависит от состава лигатура и является одной для всех образцов, что видетельствует о единой природе поставщика электронов.

3. Найдены энергии активации цептров захвата, ответственных за ютохромный эффект в легированных кристаллах В112ТЮ20. Показано, то процесс термообесцвечивания образцов идет по двум механизмам елаксации. Построена энергетическая диаграмма уровней в запрещенной оне кристаллов Bi12TiO20:Mn.

4. Предложен неразрутакций метод определения содержания Un и Уе монокристаллах Bi12Tio20 с помощью концентрационной зависимости

оэ^фициента поглощения.

5. Определены дисперсия показателя преломления и электро-птический коэффициент г41 монокристаллов В112ТЮ20,на основании оторых показано, что электрооптическая .эффективность титаната исмута превосходит аналогичную величину для Bi12sio20 и Bi12Ceo20, то определяет большую перспективность его применения. Установленно, то легирование не ухудшает электрооптические свойства кристаллов i12Tio20.

Основные результаты диссертации опубликованы в следующих аботах:

'. Чмырев В.И., Егорышева A.B. Дисперсия показателя преломления и электрооптического коэффициента в монокристаллах титаната висмута Bi12Tio20 // В сб. тез. докл. III Всесоюзной конференции по физико-химическим основам технологии сегнетоэлектрических и родственных материалов. Звенигород. 1988. С. 78.

2. Скориков B.Ii., Чшрев В.И., Егоршева A.B., Волков В.В. Оптические и электрооптические свойства высокосовершенных монокристаллот титаната шсмута (Bi12Ti02Q) // Высокочистые вещества. 1989. В. 2. С. 72-75.

3. Скориков В.15., Чмарев В.И., Егорышэва A.B., Волков В.В. Влияние легирования Си на фотоэлектрические свойства монокристалло! В112ТЮ20 // Высокочистые вещества. 1991. В. 2. С. 81-87.

4. Валков В.В., Егоркпева A.B., Скориков В.М. Выращивание i некоторые физические свойства фаз типа силленита с ориентеционно! разупорядочевностью // Неорг. материалы. 1993. Т. 29. В. 5. С. 652-655.

5. Волков В.В., Егорыщева A.B., Каргин Ю.Ф., Скориков В.М. Фото-хромные центры в монокристаллах Bi12TI020:Mn // Неорг. материалы, 1993. в печати.

тир. 374-

Предприятие «ПАТЕНТ». Москва, Г-59, Бережковская наб., 24