Квантовая фотометрия и k-спектроскопия кристаллов на основе оптических параметрических процессов тема автореферата и диссертации по физике, 01.04.21 ВАК РФ

Введение.

Часть I. Спонтанные и вынужденные параметрические процессы в пространственно-ограниченных и периодически неоднородных нелинейных средах.

Глава 1. Параметрическое рассеяние и преобразование света в слое.;.

1.1 Матрица рассеяния плоского слоя при параметрическом взаимодействии трех волн.

12 Форма линии спонтанного параметрического рассеяния света в слое с учетом отражения и поглощения волн. а. Форма линии рассеяния при незАете эффектов отражения. б. Влияние отражений на форму линии параметрического рассеяния в прозрачном слое. в. Форма линии параметрического рассеяния с учетом отражений и поглощения волн в слое.

1.3 Проявление эффекта интерференции вакуумных флуктуации поля в параметрическом рассеянии.

1.4 Форма линии трехволнового параметрического преобразования света в слое.

Глава 2. Когерентное четырехволновое рассеяние света в пространственно-ограниченных средах с квадратичной и кубичной восприимчивостью.

2.1 Бигармоническая накачка поляритонной волны.

2.2 Когерентное рассеяние пробной накачки на возбужденной поляритонной волне.

2.3 Поляритонная линия рассеяния в условиях сильного поглощения на поляритонной частоте.

2.4 Поляритонная линия рассеяния в случае малой оптической плотности рассеивающего объема.

2.5 Влияние других типов каскадных процессов на четырехволновое рассеяние света на поляритонах.

Глава 3. Нелинейная дифракция в средах с пространственным изменением

3.1 Матрица рассеяния среды с периодической модуляцией квадратичной восприимчивости.

3.2 Нелинейная дифракция при параметрическом рассеянии света.

3.3 Форма линии параметрического рассеяния света в слое с произвольным пространственным распределением квадратичной восприимчивости.

3.4 Нелинейная дифракция при каскадном когерентном четырехволновом рассеянии света.

Часть II. Спектроскопия нецентросимметричных кристаллов в инфракрасной области на основе спонтанных и вынужденных параметрических процессов.

Глава 4. Измерение показателя преломления и исследование структурных изменений легированных кристаллов ЫКЪОз.

4.1 Влияние концентрации допирующей примеси на дисперсию показателей преломления По и Пе в видимом диапазоне.

4.2 Измерение дисперсии По в ближнем ИК диапазоне методом генерации второй гармоники.

4.3 Измерение дисперсии По в ИК диапазоне методом спонтанного параметрического рассеяния света.

4.4 Анализ механизмов вхождения примеси

§ в решетку нестехиометрического кристалла ЫМЬОз.

4.5 Проявление поляронных резонансов на дисперсии действительной части диэлектрической проницаемости кристаллов LiNbOsiMg.

Глава 5. Каскадное когерентное четырехволновое рассеяние света на фононньЕх поляритонах.

5.1 Схема экспериментальной установки для наблюдения четырехволнового когерентного стоксового рассеяния света.

5.2 Методика измерения параметров поляритонов.

5.3 Активная А:-спектроскопия поляритонов в кристаллах LiNbOsMg, LiNb03:Mg:Nd, ШОз.

5.4 Возбуждение поляронов при применении методов нелинейной спектроскопии к легированным кристаллам ниобата лития.

Глава 6. Исследование кристаллов с регулярной доменной структурой в условиях нелинейной дифракции.

6.1 Параметрическое рассеяние света в кристаллах ниобата бария-натрия с регулярной и квазирегулярной доменной структурой.

6.2 Спонтанное параметрическое рассеяние света и рассеяние света на поляритонах в кристаллах LiNbOs.Mg.Nd с регулярной доменной структурой.

6.3 Четырехволновое когерентное стоксово рассеяние света в кристаллах LiNbOsiMgiNd с регулярной доменной структурой.

Часть Ш. Абсолютный метод измерения яркости на основе параметрического рассеяния света.

Глава 7. Теоретические аспекты абсолютного метода с учетом поглощения и отражения волн на границах нелинейной среды.

7.1 Интегральная интенсивность реперного сигнала параметрического рассеяния света в слое.

7.2 Интегральная интенсивность сигнала параметрического преобразования и поправка на отражение и поглощение при измерении яркости в слое.

7.3 Учет отражения и поглощения волн в кристалле-преобразователе произвольной формы и при конечной ширине пучков.

Глава 8. Параметрический фотометр.

8.1 Принципиальная схема фотометра.

8.2 Спектральное и зтловое разрешение параметрического фотометра. а. Спектральное разрешение. б. Угловое разрешение.

8.3 Разрешение по площади поперечного сечения луча.

8.4 Кристаллы для безэталонного измерения яркости.

Глава 9. Экспериментальная реализация абсолютного метода измерения яркости на основе параметрического рассеяния света.

9.1 Измерение яркости тепловых источников излучения в ИК диапазоне частот.

9.2 Измерение эффективной яркости вакуумных флуктуации поля с учетом потерь на поглощение и отражение волн.

9.3 Анализ динамического диапазона и предельной точности метода

Диссертационная работа посвяпцена развитию и применению новых методов оптической фотометрии и лазерной спектроскопии, основанных на трех- и четырехволновых параметрических процессах в нецентросимметричных средах.

Исследования оптических параметрических процессов ведутся с самого начала развития нелинейной оптики [1,2] в 1961-1965 г., с первых опытов по удвоению частоты излучения [3], созданЕпю параметрических усилителей и генераторов света [4]. К этому типу процессов относят эффекты оптического смешения когерентных электромагнитных волн различной частоты в средах с нелинейной восприимчивостью, приводящие к эффективной перекачке энергии из одних мод поля в другие. Эффективность перекачки зависит от фазового согласования волн в среде. В стационарном случае частоты падающих и рождающихся в среде волн связаны жестким условием временного синхронизма, а эффективность взаимодействия тем выше, чем меньше расстройка пространственного синхронизма между волновыми векторами. Эффекты параметрического сложения, вычитания частоты, генерации гармоник в настоящее время широко используются в самых различных нелинейнооптических устройствах для получения когерентного оптического излучения в более коротковолновом или более длинноволновом диапазонах [5,6 .

Другой важной областью применения параметрических взаимодействий стала оптическая спектроскопия [7]. Исследование спектральной зависимости эффективности трехволновых процессов позволяет измерять дисперсию квадратичной восприимчивости среды, четырехволновых процессов - дисперсию кубичной, а в ряде случаев и квадратичной восприимчивости [8], и т.д. Эффективность параметрического взаимодействия зависит не только от величины нелинейной восприимчивости среды, но и от соотношения волновых векторов волн, участвующих в параметрическом смешении. На этом основаны различные методы к-спектроскопии, исследующие зависимость интенсивности сигнального излучения не только от частоты, но и от взаимной ориентации волновых векторов к. Если значения линейной восприимчивости среды на всех частотах кроме одной известны, по частотно-угловой зависимости интенсивности сигнального излучения определяется как действительная, так и мнимая часть неизвестной диэлектрической проницаемости среды на частоте этой волны. Такие измерения представляют наибольший интерес в случаях, когда среда обладает высоким поглощением на частоте данной волны и применение традиционных методов линейной оптической спектроскопии [9 затруднено. Однако при высоком поглощении излучение не может заводиться в нелинейную среду извне, и классические схемы вынужденного параметрического взаимодействия в толще среды не подходят. Одним из решений этой проблемы стало использование каскадных параметрических процессов в схемах активной спектроскопии [10] или применение спонтанных аналогов вынужденных параметрических взаимодействий [11.

В 1966г. Д.Н.Клышко теоретически предсказал явление параметрического рассеяния света [12-14] - спонтанного аналога эффекта трехчастотного параметрического преобразования частоты. При "вынужденном" параметрическом преобразовании сигнальное излучение разностной частоты образуется за счет смешения двух волн - накачки и холостой волны, падающих на среду извне. Для возникновения спонтанного параметрического рассеяния достаточно только волны накачки на входе в среду. Роль холостой волны берут на себя квантовые флуктуации электромагнитного поля. В 1967 г. были проведены первые эксперименты [15-17] по наблюдению параметрического рассеяния света.

Интенсивные исследования частотно-угловых спектров параметрического рассеяния [18-23], последовавшие сразу же вслед за открытием, показали широкие возможности использования этого явления в целях спектроскопии нецентросимметричных сред, его непосредственную связь с малоугловым комбинационным рассеянием света на поляритонах [24-26]. На базе этих двух явлений был создан метод к-спектроскопии фононных поляритонов 27]. Было показано [28-60], что по частотно-угловому распределению интенсивности сигнального излз'чения может быть определена дисперсия мнимой и действительной части диэлектрической проницаемости среды, квадратичная восприимчивость и мнимая часть кубичной восприимчивости в области высокого фононного поглощения, труднодоступного для линейных методов традиционной оптической ИК-спектроскопии поглощения и отражения. Одновременно измеряется закон дисперсии [29, 34, 35, 42-46, 49-51], поглощение [53,57,60] и время жизни фононных поляритонов [61], параметры фононных состояний - частоты, константы затухания, а в ряде случаев и силы осцилляторов, определяющие вклад отдельных фононов в дисперсию линейного отклика среды [59]. Отдельной темой исследований стало изучение колебаний высших порядков -бифононов, несвязанных двухчастичных состояний, проявляющихся в спектрах поляритонного рассеяния за счет ферми-резонанса [33,38,39,42,46,47,54,56,58].

Спектроскопия рассеяния света на поляритонах сегодня является одним из самых чувствительных оптических методов иззЛения слабых структурных изменений, происходящих в кристаллических средах. В отличие от методов ИК спектроскопии [62], этот метод позволяет исследовать фононную область частот без привлечения источников и приемников далекого ИК-диапазона. В отличие от спектроскопии комбинационного рассеяния света [63], метод рассеяния света на поляритонах позволяет измерять не только частоты и константы затухания фононов [64], но и их силы осцилляторов по дисперсии диэлектрической проницаемости среды на частотах, близких к частотам фононных резонансов [36]. Такие факторы, как изменение концентрации примеси, появление дефектов, пространственная неоднородность, проявление низкоразмерных свойств среды, часто могут не проявляться в спектрах комбинационного рассеяния света, поскольку они сказываются в основном на константах затухания или силах осцилляторов, оставляя частоты фононных колебаний практически неизменными. Как правило, силы осцилляторов более других фононных параметров чувствительны к малым вариациям кристаллического состава и структуры. В свою очередь, изменение сил осцилляторов приводит к заметному изменению хода кривых поляритонной дисперсии. Все это позволяет использовать метод рассеяния света на поляритонах для исследования изменения состава среды (например, при изотопическом замещении [42,50,55], легировании 65], и т.д.), изменении симметрии (например, при фазовом переходе 29,52,64,66]), изменении структуры дефектов (например, вызванных отклонением состава от стехиометрического [43, 65]).

Помимо трехволнового спонтанного рассеяния света развиваются и другие методы поляритонной спектроскопии, основанные на параметрических взаимодействиях более высоких порядков. Схема гиперкомбинационного рассеяния позволяет измерять дисперсию поляритонов в центросимметричных кристаллах [67,68]. Платой за расширение класса исследуемых кристаллов является существенное снижение мощности сигналов, регистрируемых при гиперкомбинационном рассеянии света. Другое направление развития поляритонной спектроскопии базируется на применении методов активной спектроскопии [10,69], которые позволяют существенным образом увеличить чувствительность за счет роста мощности регистрируемых сигналов, а в ряде случаев также улзЛшить спектральное разрешение при измерении дисперсии оптической восприимчивости. К числу данных методов можно отнести метод вынужденного комбинационного рассеяния (ВКР) света на поляритонах, методы четырехволнового когерентного антистоксова (КАРС) или стоксова (КСРС) рассеяния света на поляритонах.

Теория ВКР на поляритонах [70-72] развивалась практически одновременно с исследованием возможности применения этого эффекта для генерации перестраиваемого излучения от инфракрасного до субмиллиметрового диапазона [73-75]. Учет поляритонной дисперсии играет важную роль и в настоящее время в различных схемах генерации излучения терагерцового диапазона [76-78]. В спектроскопических целях используются схемы стационарного внутрирезонатороного ВКР [79] и нестационарного ВКР на поляритонах [80]. В стационарных схемах поляритонное затухание измеряется по ширине линии усиления, результаты [81] свидетельствуют о том, что ВКР позволяет достичь при этом более высокой точности измерения поглощения на поляритонной частоте и времени жизни поляритонов, чем метод спонтанного рассеяния. Начиная с конца 80-х годов, благодаря появлению фемтосекундных источников лазерной накачки, интенсивно используются нестационарные схемы ISRS (Impulsive Stimulated Raman Scattering) [82 - 91]. При этом ВКР - возбуждение поляритонных состояний происходит с помощью одного или двух одинаковых коротких импульсов накачки с широким спектром. Метод ISRS позволяет измерять как дисперсию, так и непосредственно время жизни поляритонных состояний. Однако, спектральный диапазон применения метода зависит от длительности импульсов накачки, и, как правило, ограничен областью нескольких нижних поляритонных ветвей.

Для возбуждения поляритонов с волновыми числами (частотами) более 300 см"А требуется две накачки с разнесенными центральными частотами. Схемы четырехволнового когерентного рассеяния света позволяют исследовать дисперсию фононных поляритонов в нецентросимметричных средах на всех частотах. Для этого четырехволновое смешение волн 3-х накачек и сигнала организуется в среде так, чтобы происходило каскадное рассеяние, состоящее из двух трехчастотных процессов - возбуждения поляритонной волны бигармонической накачкой и рассеяния зондирующей накачки на возбужденной поляритонной волне. Первые работы [92,93] по исследованию дисперсии когерентно возбуждаемых поляритонов в процессе четырехволнового смешения были проведены Де Мартини и соавторами [92-95]. Вслед за этим когерентное антистоксово рассеяние света (КАРС) на поляритонах наблюдалось в работах Вина [96], Бломбергена и соавт. [97]. Теория четырехволнового когерентного рассеяния на поляритонах развивалась в работах Клышко [69], Стрижевского и соавт. [98,99]. При этом рассматривалось рассеяние в кристаллах формы тонкого слоя, с бесконечно удаленными боковыми стенками, полностью заполненных излучением плоских волн накачки, имеющих также неограниченное сечение фронта. Практически во всех экспериментальных схемах по наблюдению четырехволнового рассеяния света на поляритонах регистрируется антистоксова часть сигнала, а частоты зондирующей накачки и одной из возбуждающих накачек совпадают. Поливанов и соавт. исследовали угловую и частотную поляритонную форму линии четырехволнового рассеяния, определяя соотношение квадратичной и кубичной восприимчивостей [100-103]. В 104] определяется дисперсия нелинейной восприимчивости кристалла на основе измерения сигналов как антистоксова, так и стоксова четырехволнового рассеяния света. В схемах нестационарного КАРС с временным [105,106] и пространственно-временным [107-111 разнесением пучков возбуждающей и зондирующей накачки измерялась эволюция возбужденных поляритонных состояний, непосредственно определялось время жизни и фазовая скорость поляритонов в широком диапазоне частот. В [112-113] развита методика измерения затухания поляритонов в схеме стационарной КАРС-спектроскопии с пространственно-разнесенными пучками. Суш;ественной чертой методов наблюдения КАРС с разнесенными (во времени или в пространстве) пучками накачки является выделение чисто каскадной части четырехволнового рассеяния, свободной от интерференции с вкладом от прямого четырехволнового процессах [112]. Как правило, это облегчает измерение поляритонной дисперсии, хотя теряется возможность одновременного измерения соотношения квадратичной и кубичной восприимчивости.

Методы поляритонной спектроскопии успешно применяются для исследования объемных пространственно-однородных сред. Вместе с тем, в связи с развитием микроэлектроники и оптоэлектроники, все больший интерес представляет включение в класс исследуемых объектов различных низкоразмерных твердотельных структур, сред с пространственно-неоднородным распределением как линейной, так и нелинейной оптической восприимчивости. Исследование фононных возбуждений, существующих на поверхности, в тонких пленках кристаллов, в гетероструктурах и фотонных кристаллах свидетельствует о сзтцественном влиянии низкоразмерных эффектов на дисперсионные характеристики фононов [114-120] и фононных поляритонов [119-125]. По спектрам спонтанного рассеяния света определяется дисперсия поверхностных поляритонов [126-133], волноводных и интерференционных поляритонных мод [134-136], наблюдаются эффекты сворачивания зоны Бриллюэна фононов в регулярных слоистых структурах [137-143]. Возможность изучения поверхностных поляритонов методами активной спектроскопии четырехволнового смешения привлекала внимание исследователей с самого начала развития КАРС-методики [95, 96, 144, 145]. Однако, повидимому, работа [95], выполненная в 1976г., до сих пор является единственной экспериментальной реализацией эффекта четырехволнового каскадного смешения света с промежуточным резонансом на поверхностных поляритонах. В [146 - 149] развивается метод активной спектроскопии трехволнового рассеяния света на когерентно-возбужденных поляритонах, при этом возбуждение поляритонного состояния происходит за счет линейного поглопдения ИК-излучения поляритонной частоты на гофрированной поверхности или в схеме нарзтпенного полного внутреннего отражения.

Проблема исследования низкоразмерных пространственно-ограниченных структур может рассматриваться как часть более общей задачи исследования пространственно-неоднородных объектов. Другой класс таких объектов представляют собой среды с пространственно-неоднородным распределением квадратичной восприимчивости. К таким средам принадлежат кристаллические структуры с периодической модуляцией эффективной величины квадратичной восприимчивости вдоль заданного направления, получившие широкое распространение в связи с возможностью осуществления квазисинхронных параметрических взаимодействий [150, 151]. Как было показано впервые Армстронгом и соавт. [152], пространственный синхронизм в этих структурах может выполняться с точностью до целого числа периодов обратной нелинейной сверхрешетки. Подробный теоретический анализ параметрических процессов преобразования света и генерации гармоник в условиях квазисинхронизма был дан в последующих работах [153-155]. В [154,155] перераспределение интенсивности сигнала в средах с периодическим распределением нелинейной восприимчивости было названо нелинейной дифракцией света. Использование эффекта нелинейной дифракции открывает возможность эффективного параметрического преобразования волн и тогда, когда двулучепреломление пространственно-однородного кристалла недостаточно для выполнения условий пространственного синхронизма за счет его анизотропии. Особенно важны случаи, когда сама величина действующего элемента тензора нелинейной восприимчивости велика. В настоящее время в качестве таких сред широко используются кристаллы с регулярной доменной структурой [156 - 168], в которых при переходе от домена к домену меняется знак эффективной нелинейности. Первой экспериментальной работой в этой области считается работа Миллера [156], выполненная в полидоменном кристалле титаната бария в 1964 г., в настоящее время лидирующим кристаллом является полидоменный ниобат лития с различными примесями. Использование кристаллов ниобата лития в условиях нелинейной дифракции позволяет проводить преобразование частоты через наибольший нелинейный коэффициент азз, тем самым увеличивая эффективность генерации второй гармоники [150, 158, 159, 165 - 168]. Кристаллы с регулярной доменной структурой используются в самых различных задачах, использующих параметрические взаимодействия [160 - 164]. Актуальны вопросы создания полидоменных структур высокого качества. Разрабатываются самые различные способы создания кристаллов с регулярными нелинейными сверхрешетками [150, 169], от непосредственного создания сверхрешетки во время роста кристалла [170 - 173], до получения сверхрешетки в изначально однородном образце [169]. Существенную роль играют методы диагностики полученных структур (периода, ориентации доменных слоев) и их качества - степени периодичности, плоскостности доменных слоев, и т.д. Для этого применяются поляризационные микроскопы, различные рентгеновские методы диагностики отдельных участков кристаллов (см., например, [171, 173, 174]) Однако, поскольку измеряемые параметры важны в конечном итоге для использования регулярных структур в параметрических процессах, наибольшую ценность играют методы диагностики, непосредственно основанные на оптических параметрических эффектах [175]. Методы, базирующиеся на параметрических процессах рассеяния, могут применяться к широкому классу структур с самыми различными характеристиками.

Кристаллы ниобата лития, как полидоменные, так и монодоменные, активно используются в нелинейной оптике благодаря высокой нелинейной восприимчивости [176] и возможности осуществления синхронных и квазисинхронных процессов в достаточно широком диапазоне частот [150,151]. Однако этим не исчерпывается область их применения [177]. Эти кристаллы используются в электрооптике [178], перспективны для объемной записи информации [179 - 182]. Между тем, несмотря на свою простую химическую формулу, в зависимости конкретных условий роста эти кристаллы могут иметь различную структуру, по-разному себя проявляют в физических процессах и, соответственно, по-разному используются. Даже номинально чистые кристаллы ЫКЪОз отличаются по химическому составу (отношение числа атомов Ы к числу атомов МЬ может варьироваться от 0.8 до 1.0 и более), что приводит к высокой концентрации дефектов самых разных типов [183 -185]. Кроме того "чистые" кристаллы обладают фоторефрактивными свойствами, приводящими к значительному изменению оптических характеристик под действием мощного лазерного излучения, и для подавления фоторефракции в расплавы, из которых выращиваются кристаллы, добавляют примеси некоторых химических элементов, например, М§, 8с, 2п, или 1п [185-191]. Напротив, использование таких примесей, как Ре, Си, способствует усилению фоторефракции [181, 182, 192]. Взаимодействие примесей с собственными дефектами делает структуру реальных кристаллов крайне сложной [190], а тонкие детали дисперсии их оптических параметров практически непредсказуемыми. Поэтому нет единых формул, обобщающих формулы Селмейера и описывающих дисперсию показателя преломления всех кристаллов ниобата лития с точностью, достаточной для расчета нелинейнооптических преобразователей. Как правило, константы Селмейера зависят не только от типа и концентрации примеси, но и от типа дефектов. В свою очередь, структура дефектов может зависеть и от методики роста, и, в ряде случаев, от предыстории использования образца. Набор параметров, влияющих на изменение показателя преломления уже в 4-м знаке после запятой, настолько велик, что, как правило, требуется измерение дисперсии оптических характеристик каждой серии образцов, выращенных в различных условиях (например, без легирования, но с отклонением состава от стехиометрического [193 - 198], с изменением концентрации допирующей примеси Mg [199 - 203, 65] и т.д.). Вместе с тем дисперсия линейной восприимчивости однозначно связана со структурой конкретного материала, поэтому исследование ее изменения при воздействии различных факторов может служить для решения обратной задачи о влиянии этих факторов на структуру [191]. Большинство работ (см., например, [193 - 196, 198, 200, 201]), посвященных этому вопросу, базируется на измерении дисперсии показателя преломления в видимом и ближнем ИК-диапазоне частот методами линейной спектроскопии. Так, в 198, 201] получены обобщенные формулы Селмейера, описывающие влияние нестехиометричности состава и величины концентрации легирующей примеси Mg на дисперсию показателя преломления в видимой области. Применение методов поляритонной к-спектроскопии позволяет существенно расширить спектральный диапазон измерений, обеспечив расчеты параметрических устройств на основе ниобата лития данными о дисперсии во всем диапазоне прозрачности, и перейти к измерению дисперсии в области фононных частот, наиболее чувствительной к структурным перестройкам среды.

Техника оптического преобразования излучения и нелинейная спектроскопия далеко не исчерпывают области применения оптических параметрических процессов сегодня. Третьей важной областью является квантовая оптика [11,204]. На использовании параметрических процессов трех- и четырехволнового смешения, параметрического рассеяния света основаны схемы получения неклассических световых полей [205,206] -сжатого света [207-212], света в "чистом" К-фотонном состоянии [211213].

В 1977 г. Д.Н.Клышко предложил новый метод оптической фотометрии, основанный на использовании параметрических эффектов рассеяния и преобразования света [214]. В 1980 г. им же была разработана идея абсолютного измерения квантовой эффективности фотоприемников с использованием двухфотонного света, рождающегося при параметрическом рассеянии [215]. Эти методы открывают новый раздел квантовой метрологии - раздел абсолютной квантовой фотометрии (радиометрии) излучения [216].

В современной радиометрии поиск новых стандартов оптЕгческого излучения - одна из наиболее актуальных проблем. Интенсивное развитие инженерной оптики, появление разнообразных источников излучения с принципиально новыми параметрами, расширение спектрального и динамического диапазонов действия оптических методов требуют создания адекватных новых средств измерения энергетических параметров электромагнитного изл)Ления. В свою очередь, для абсолютных измерений нужны эталоны, за каждым из которых стоит определенная физическая модель, описывающая пространственное и частотное распределение его энергетических параметров. Пределы применимости модели в конечном счете ограничивают область действия эталона. Характерным примером является разработка и использование эталонов на основе модели абсолютно черного тела (АЧТ). Это наиболее распространенная модель, с успехом используемая уже около 100 лет [217]. Она непосредственно применяется для абсолютной калибровки

ИСТОЧНИКОВ и приемников излучения с непрерывным спектром, в основном теплового излучения или близкого к нему по спектральному составу. На основе модели АЧТ созданы первичные эталоны, поддерживающие фотометрические шкалы многих стран мира [217-220]. Спектральный диапазон применимости этих эталонов широк: от 0.2мкм до 5мкм [221], динамический диапазон простирается до ЗОООК [222]. Проблемы, которые возникают при конструировании реальных устройств, энергетические параметры которых с высокой точностью описывались бы идеальной моделью, ограничивают предельно достижимую точность и диапазон действия эталонов АЧТ [223]. Кроме того, поскольку действующие радиометрические шкалы привязаны не к какому-либо физическому процессу, а лишь к его неточной модели, необходимо введение многоступенчатой поверочной схемы, обеспечивающей передачу единиц измерения от принятого эталона к калибруемому источнику. В силу этих причин точность измерения в УФ и ИК областях на порядок хуже точности, достигаемой в видимом диапазоне и прилегающих к нему участках ближнего УФ и ИК излучения, нет единого эталона для низкотемпературного и высокотемпературного излучения. Мощные световые потоки с существенно более высокой яркостной температурой (>3000К) требуют ослабления, что также влечет дополнительные погрешности измерения.

Наряду с совершенствованием изготовления источников с модельным спектром практикуется другой подход. Его идея состоит в калибровке фотодетекторов без использования стандартного излучения. Примером этого подхода является разработка самокалибрующихся кремниевых фотодиодов в Национальном институте стандартов и технологий США [224, 225], калибровка фотодиодов на основе анализа статистики фототока [226]. Использование полей с неклассической статистикой, рождающихся при параметрическом рассеянии света. заложено в основу метода абсолютной калибровки фото детекторов [215], предложенного Д.Н.Клышко и впервые реализованного Малыгиным, Пениным и Сергиенко в 1981 г. [227]. Этот метод позволяет с высокой точностью определить квантовую эффективность приемников слабых световых потоков в широком спектральном диапазоне от 0.4мкм до 5мкм [228-234].

Другой фотометрический метод, предложенный Д.Н.Клышко и основанный на использовании параметрического рассеяния света, позволяет решать проблемы абсолютного измерения спектральной плотности мощных световых потоков - потоков с эффективной яркостной температурой, значительно более высокой, чем возможная температура модели АЧТ [214, 216]. Актуальность этой проблемы обусловлена широким внедрением лазерных, люминесцентных источников света, развитием дистанционных методов оптического контроля над процессами, сопровождающимися выделением мощных потоков излзАения. При применении метода Д.Н.Клышко окрывается возможность абсолютной калибровки энергетических параметров излучения в динамическом диапазоне яркостных температур от тысяч градусов Кельвина и до 10К с помощью эталона принципиально нового типа. При этом можно считать, что в качестве эталона спектральной плотности энергетической яркости (в дальнейшем, для краткости, просто яркости) излучения выступают нулевые флуктуации электромагнитного вакуума (НФВ). Наличие НФВ является неотъемлемым следствием квантовой природы электромагнитного излучения; в том или ином виде они проявляются во всех оптических процессах. Как было показано теоретически, несмотря на то, что НФВ сами по себе не формируют потоков реального света, их действие в ряде нелинейнооптических процессов эквивалентно действию реального излучения фиксированной частоты со строго определенной яркостью. Наиболее подходящим процессом для определения яркости измеряемого излучения в единицах эффективной яркости НФВ является параметрическое рассеяние света, сопровождающее параметрическое взаимодействие накачки и измеряемого излучения в режиме вычитания частоты. Эффективная яркость эталона НФВ в квантовых единицах фотонов на моду излучения составляет при этом /N^^1 фотон/мода во всем спектральном диапазоне. Величина эффективной яркости эталона НФВ в спектрорадиометрических единицах вл1. = (Ьсл 1'к')Млс известна с точностью, ограничиваемой только точностью мировых констант. Предложенный эталон характеризуется высокой точностью и идеальной доступностью: НФВ сзтцествуют в любой лаборатории мира. Как было показано теоретически, использование трехчастотных параметрических процессов вычитания частоты в идеально прозрачных нелинейных средах с м м квадратичной восприимчивостью позволяет организовать помодовое сравнение эталона с калибруемым излучением.

Из представленного краткого обзора и анализа литературы следует актуальность исследования оптических параметрических процессов, лежащих в основе новых важных направлений спектроскопии и фотометрии. Применение параметрических процессов в спектроскопии привело к развитию методов поляритонной к-спектроскопии, позволяющей измерять одновременно как мнимую, так и действительную части линейной восприимчивости среды. Спектральный диапазон измерений простирается от области прозрачности до области высокого фононного поглощения среды, в которой могут быть определены законы дисперсии поляритонных состояний и параметры фононов. Возможность детектирования чрезвычайно слабых изменений сил осцилляторов фононов делает поляритонную спектроскопию высокочувствительным методом иззЛения структурных превращений среды. Применение параметрических процессов в фотометрии открывает возможность использования квантовых эталонов принципиально нового типа, повышая точность абсолютных измерений энергетических характеристик излучения и расширяя спектральный и динамический диапазоны традиционных методов.

К началу работы над диссертацией были разработаны теория и спектроскопическая схема трехчастотного спонтанного параметрического рассеяния света в пространственно-однородных нелинейных средах. Теория когерентного четырехволнового рассеяния света на поляритонах ограничивалась рассмотрением пространственно-однородных протяженных сред с высоким поляритонным поглощением, экспериментально исследовалась антистоксова часть сигнала. Методы квантовой фотометрии на основе параметрического рассеяния света были сформулированы теоретически, причем без учета потерь излучения в нелинейной среде. Основная цель данной диссертационной работы состояла в развитии методов поляритонной к-спектроскопии на основе трехволнового спонтанного параметрического и четырехволнового когерентного рассеяния света, применении этих методов для исследования пространственно-однородных и неоднородных кристаллов, в развитии теории и экспериментальной реализации метода абсолютного измерения яркости на базе параметрических процессов преобразования частоты и рассеяния света. Для решения поставленной цели решались следующие задачи:

1. Исследование влияния поглощения в нелинейной среде и отражения волн на ее границах на процессы трехволнового параметрического рассеяния и преобразования света.

2. Исследование когерентного четырехволнового рассеяния света на поляритонах в трехмерно-ограниченной области произвольных размеров и формы.

3. Исследование трех- и четырехволнового рассеяния света в средах с пространственно-неоднородным распределением квадратичной восприимчивости ^¿'Л\

4. Разработка экспериментальной схемы поляритонной к-спектроскопии на основе четырехволнового когерентного стоксова рассеяния света.

5. Применение методов поляритонной к-спектроскопии в исследовании кристаллов ниобата лития с различными дефектами и примесями.

6. Исследование кристаллов с регулярной доменной структурой методом нелинейной дифракции при трех- и четырехволновом рассеянии света.

7. Разработка теории метода абсолютного измерения яркости с учетом поглощения волн в кристалле-преобразователе и отражения волн от его границ.

8. Исследование влияния оптических характеристик кристалла-преобразователя на точность метода абсолютного измерения яркости, расчет пространственной и спектральной разрешающей способности метода и разработка на основе этого оптимальной функциональной схемы параметрического фотометра.

9. Экспериментальная реализация абсолютного метода измерения яркости.

В результате проведенных исследований развито новое направление абсолютной квантовой фотометрии, основанное на использовании параметрических процессов рассеяния и преобразования света, и методы поляритонной к-спектроскопии, сочетающие исследование стоксова сигнала рассеяния на возбужденных и невозбужденных фононных поляритонах. Экспериментальные результаты, установленные закономерности и их интерпретация составляют основные защищаемые положения.

На защиту выносятся следующие положения: I. При спонтанном параметрическом и когерентном четырехволновом рассеянии света в средах с неоднородным распределением квадратичной восприимчивости х*^

• матрица параметрического взаимодействия и частотно-угловые распределения интенсивности рассеянного излучения однозначно связаны со спектром пространственных гармоник пространственного распределения хллл;

• при наличии периодической модуляции хЛЛ-' возникает нелинейная дифракция света;

• на основе нелинейной дифракции при параметрическом рассеянии света может быть создан метод нелинейнооптической диагностики регулярной доменной структуры сегнетоэлектрических кристаллов.

П. Благодаря эффектам линейной и нелинейной интерференции, отражение волн на границах нелинейного слоя приводит к появлению тонкой структуры зависимостей интенсивности сигнального излучения параметрического рассеяния и преобразования света от волновой расстройки.

III. Зависимость интенсивности когерентного четырехволнового стоксова рассеяния света на поляритонах от волновых расстроек

• может быть использована для измерения дисперсии мнимой и действительной части диэлектрической проницаемости пространственно-ограниченных областей нецентросимметричных кристаллов в области высокого поляритонного поглощения;

• определяется как восприимчивостью нелинейной среды, так и геометрическими характеристиками рассеивающего объема в случае, если линейные размеры среды не превышают существенно длины свободного пробега поляритонов;

• до тех пор, пока линейные размеры среды остаются много больше поляритонной длины волны, позволяет однозначно определять величину действительной части диэлектрической проницаемости среды на поляритонной частоте по положению максимума каскадного вклада в четырехволновое рассеяние.

IV. Исследование дисперсии диэлектрической проницаемости кристаллов ниобата лития в ИК диапазоне с помощью параметрического рассеяния света

• является чувствительным методом изучения влияния примесей, дефектов структуры и образования поляронов на оптические свойства кристаллов;

• свидетельствует о четырехэтапном механизме вхождения примеси Mg в структуру нестехиометрического ниобата лития.

V. При абсолютном измерении яркости на основе параметрического рассеяния и преобразования света

• необходим учет поправочного фактора, учитывающего различное влияние эффектов поглощения и отражения на измеряемое излучение и эффективную яркость нулевых флуктуации электромагнитного вакуума;

• измерения яркости реализуются с помощью параметрического фотометра, спектральное и пространственное разрешение которого определяются разрешающими способностями схемы регистрации сигнального излучения, характером перестроечной кривой и геометрическими характеристиками кристалла-преобразователя, точность зависит от стабильности характеристик фотометра в течение последовательного измерения сигналов параметрического рассеяния и преобразования, а также от величины поправочного фактора, учитывающего потери излучения в кристалле-преобразователе.

Практическая ценность работы непосредственно связана с практическими возможностями разработанных методов фотометрии и спектроскопии. Применение нового метода измерения спектральной яркости, развитого и впервые апробированного в данной работе, позволит существенным образом поднять точность абсолютного измерения энергетических характеристик высокотемпературного излучения, расширить спектральный диапазон абсолютной радиометрии. Открывается возможность проведения абсолютной калибровки источников и приемников ИК излучения на длинах волн вплоть до 10 мкм и более, с высокой точностью, доходящей до 0.01%. Оптимальный подбор составных элементов параметрического фотометра на основании данных в работе рекомендаций позволяет проводить абсолютную калибровку яркости ИК излзАения с помощью некалиброванных приемников видимого диапазона, без привлечения каких-либо источников или приемников инфракрасного диапазона. Все это существенным образом снижает стоимость изготовления прибора и облегчает процедуру измерения яркости. Практическая значимость проведенных разработок нашла свое отражение также в авторских свидетельствах на изобретения и патенте РФ [235 - 237]. Разработанные методы к-спектроскопии могут быть использованы в диагностике параметров нецентросимметричных кристаллов: определении дисперсии мнимой и действительной части диэлектрической проницаемости в ИК диапазоне, расчете частотно-угловых характеристик параметрических преобразователей частоты, исследовании структурных превращений при изменении ростовых или каких-либо внешних условий, анализе пространственной неоднородности нелинейной восприимчивости и характера нелинейной сверхрешетки в кристаллах, допускающих квазисинхронные параметрические взаимодействия.

Диссертация состоит из введения, трех разделов, каждый из которых состоит из трех глав, заключения и списка цитируемой литературы.

Основные выводы и результаты работы можно сформулировать следующим образом:

I. Развита теория трехволнового спонтанного параметрического и когерентного четырехволнового рассеяния света в пространственно-ограниченных средах и средах с пространственно-неоднородным распределением квадратичной восприимчивости улл»;

1.1. Исследованы эффекты нелинейной дифракции при трех- и четырехволновом рассеянии света в средах с периодической одномерной модуляцией хЛЛЛ- Установлена связь формы линии рассеяния со спектром пространственных гармоник квадратичной восприимчивости.

1.2. Получены выражения для формы линии параметрического рассеяния и матрицы рассеяния, описывающей взаимодействие сигнальных и холостых волн в линейном параметрическом преобразователе света с произвольным одномерным пространственно-неоднородным распределением

1.3. Определена тонкая интерференционная структура формы линии параметрического рассеяния и преобразования света, обусловленная и и и и Л и линейной и нелинейной интерференцией волн, отраженных от границ среды. Установлено, что поглощение холостых волн по-разному влияет на тонкую структуру линий рассеяния и преобразования света; вклад нелинейной интерференции также различен в этих процессах. Рассчитана дифференциальная мощность параметрического рассеяния света на интерференционных модах поля в вакуумном состоянии.

I. 4. Определен общий вид зависимости интенсивности сигнального излучения от волновых расстроек при когерентном четырехволновом рассеянии света в пространственно-ограниченной среде произвольных размеров и формы. Показано, что положение максимума каскадного вклада в четырехволновое рассеяние однозначно определяется величиной действительной части диэлектрической проницаемости среды на поляритонной частоте до тех пор, пока линейные размеры среды остаются много больше длины волны поляритона. Получены также выражения для поляритонной формы линии четырехволнового рассеяния в случае, когда одновременно возбуждаются каскадные процессы с резонансами на промежуточной разностной и промежуточной суммарной частоте.

П. Разработаны экспериментальные схемы и проведены измерения оптических характеристик нелинейных кристаллов методами к-спектроскопии возбужденных и невозбужденных поляритонных состояний:

II. 1. Развита методика измерения дисперсии фононных поляритонов на основе эффекта каскадного рассеяния при четырехволновом когерентном стоксовом рассеянии света в среде с квадратичной восприимчивостью.

11.2. Методом четырехволнового стоксова рассеяния света измерены характеристики поляритонов в кристаллах иодата лития и легированных кристаллах ниобата лития в области высокого решеточного поглощения. Сравнение результатов спектроскопии спонтанного рассеяния света на поляритонах и активной спектроскопии четырехволнового рассеяния в химически редуцированных и нередуцированных кристаллах ЫКЪ08'.М§ привело к выводу о возможном формировании поляронных носителей заряда под действием интенсивного излучения накачки и существенном влиянии поляронов на дисперсию кристалла ниобата лития в области поляритонных частот.

II. 3. Исследована нелинейная дифракция при трех- и четырехволновом рассеянии света в кристаллах с регулярной доменной структурой. Предложен метод диагностики нелинейной сверхрещетки в средах с периодической модуляцией «)лл\

ПЛ. Методами к-спектроскопии параметрического рассеяния света и генерации второй гармоники измерена дисперсия диэлектрической проницаемости кристаллов ниобата лития, легированных М§, Кё, У, и установлено влияние дефектной структуры кристаллов нестехиометрического состава на дисперсию оптических параметров среды в ИК диапазоне. Анализ зависимостей показателей преломления от концентрации примеси М§ свидетельствует о четырехступенчатом механизме включения примеси М§ в структуру кристалла. Обнаружены резонансы поляронной природы в кристаллах LiNb0aiMg.

III. Развит метод абсолютного измерения спектральной яркости, основанный на сравнении сигналов параметрического рассеяния и преобразования излучения:

III. 1. Разработана функциональная схема параметрического фотометра. Проведен анализ предельно достижимой точности, спектральной и пространственной разрешающей способности нового метода абсолютного измерения яркости.

Ш.2. Теория абсолютного метода измерения яркости развита с учетом неидеальной прозрачности нелинейного кристалла. Получены выражения

ДЛЯ поправочного множителя к, учитывающего эффекты отражения и поглощения волн в кристалле-преобразователе.

III. 3. Ос5чцествлена экспериментальная реализация абсолютного метода измерения яркости на примере тепловых источников непрерывного действия в диапазоне 3-5 мкм. На основании сравнения результатов измерения яркости абсолютным методом и методами традиционной фотометрии установлена независимость эффективной яркости квантовых флуктуации электромагнитного поля при параметрическом рассеянии света от поглощения и отражения волн холостой частоты в кристалле-преобразователе.

В заключение считаю своим долгом выразить искреннюю благодарность всем сотрудникам и аспирантам кафедр волновых процессов, квантовой радиофизики (электроники) физического факультета МГУ, с которыми меня связывала общая научная работа на протяжении 1974 - 2001 г., особенно Татьяне Васильевне Лаптинской, Андрею Вадимовичу Шепелеву, Олегу Андреевичу Акципетрову, Виталию Ивановичу Соустину, Георгию Георгиеву, Алексею Геориевичу Михайловскому, Александру Алексеевичу Михайловскому, Сергею Павловичу Кулику, Марне Владимировне Чеховой, Иннессе Ивановне Наумовой, Евгению Алексеевичу Жукову, Павлу Андреевичу Прудковскому, Андрею Вячеславовичу Бурлакову, Кириллу Андреевичу Кузнецову, студентам М.Ф.Власенко, Е.Д.Мишиной, И.В.Таубину, А.Ф.Умыскову, О.А.Аброскиной, А.Л. Родину, П. С.Лосевскому.

273

Я глубоко благодарна Александру Николаевичу Пенину, моему бессменному научному руководителю, за поддержку и помощь на протяжении всех лет.

Я благодарна судьбе за то, что мне довелось работать рядом с Давидом Николаевичем Ютышко, видеть пример его жизни в науке. Теоретические идеи Давида Николаевича послужили отправным пунктом многих направлений этой работы.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Общим итогом работы стало развитие теории оптических параметрических процессов в ограниченных и неоднородных средах, разработка экспериментальных методов к-спектроскопии возбужденных и невозбужденных поляритонных состояний, применение этих методов в исследовании нецентросимметричных кристаллов, развитие теории и экспериментальное воплощение абсолютного метода измерения яркости. Проведенные теоретические и экспериментальные исследования параметрических процессов трех- и четырехволнового рассеяния света открывают новые возможности применения нелинейной к-спектроскопии. Прежде всего это относится к исследованию сред с пространственно-неоднородным распределением квадратичной восприимчивости, диагностике нелинейной сверхрешетки в неоднородных кристаллах. Важным примером использования параметрических процессов в спектроскопии нецентросимметричных кристаллов является также комплекс исследований структурных превращений и поляронных резонансов, наведенных в кристаллах ниобата лития в процессе легирования и химического редуцирования. Развитые методики могут быть использованы при исследовании нецентросимметричных кристаллов: определении дисперсии мнимой и действительной части диэлектрической проницаемости в ИК диапазоне, расчете частотно-угловых характеристик параметрических преобразователей частоты, исследовании структурных превращений при изменении ростовых условий, введении примесей различного состава и концентрации, изменении доменной структзфы, появлении низкоразмерных эффектов. Разработка экспериментальных основ предложенного Д.Н.Клышко метода абсолютного измерения яркости открывает возможность использования в фотометрии квантового эталона принципиально нового типа. Перспективы использования этого метода лежат в тех спектральных и динамических диапазонах, в которых до сих пор абсолютные измерения не проводились вообще или проводились с недостаточно высокой точностью. Это прежде всего актуально для измерений в дальней ИК области спектра, на длинах волн вплоть до Юмкм и выше, в диапазоне высоких яркостных температур излучения от ЮЛК и выше. Существенным моментом является возможность абсолютной калибровки непосредственно яркости - основной фотометрической характеристики излучения, с относительной погрешностью, доходящей до 10"Л, с использованием естественного эталона, непосредственно "встроенного" в параметрический фотометр.

1. С.А.Ахманов, Р.В.Хохлов. Проблемы нелинейной оптики.- М.; Изд-во АН СССР, 1965.-294с.,илл.

2. И.Р.Шен. Принципы нелинейной оптики.(Перевод с англ.) М.:Наука, 1989 - 557с.,табл.,схем.

3. P.A.Franken, A.E.Hill, C.W.Peters, G.Weinreich. Generation of optical harmonics. Phys.Rev.Lett., v.7, pp.118 -119 (1961).

4. J.A.Giordmaine, R.C.Miller. Tunable coherent parametric oscillation in LiNbOs at optical frequencies. Phys.Rev.Lett., v.l4, pp.973-976 (1965).

5. В.Г.Дмитриев, Л.В.Тарасов. Прикладная нелинейная оптика: генераторы второй гармоники и параметрические генераторы света. М.:Радио и связь, 1982 - 352с., илл., табл.

6. Справочник по лазерам. Под ред. А.М.Прохорова М.:Сов.радио, 1978, Т.2 - 400с., илл.

7. В.Демтредер. Лазерная спектроскопия. (Перевод с англ.) М.: Наука, 1985 - (гл.9) - 607 с, илл.

8. Notions and perspectives of nonlinear optics. Ed. O.Keller. World Scientific, 1995 - 676c., ИЛЛ.

9. А.Н.Зайдель, Г.В.Островская, Ю.И.Островский. Техника и практика спектроскопии. М.: Наука, 1972 - 375 с, илл.

10. С.А.Ахманов, Н.И.Коротеев. Методы нелинейной оптики в спектроскопии рассеяния света: Активная спектроскопия рассеяния света. М.:Наука, 1981 -543с., илл.

11. Д.Н.Клышко. Фотоны и нелинейная оптика. М.:Наука, 1980 - 256 с, илл.

12. Д.Н.Клышко. Когерентный распад фотонов в нелинейной среде. Доклад на всесоюзном совещании по нелинейным свойствам сред, Черноголовка, 1966.

13. Д.Н.Клышко. Когерентный распад фотонов в нелинейной среде. Письма в ЖЭТФ, Т.6, с.490-492 (1967).

14. Д.Н.Клышко. Рассеяние света в среде с нелинейной поляризуемостью. ЖЭТФ, Т.55, с.1006-1013 (1968).

15. С.А.Ахманов, В.В.Фадеев, Р.В.Хохлов,О.Н.Чунаев. Квантовые шумы в параметрических усилителях света. Письма в ЖЭТФ, т.6, с.575-578 (1967).

16. T.G.Giallorenzi, C.L.Tang. Quantmn theory of spontaneous parametric scattermg of intense light. Phys.Rev., v. 166, pp.225 233 (1968).

17. S.E.Harris, M.K.Oshman, R.L.Byer. Observation of tunable optical parametric fluorescense. Phys.Rev.Lett., vl 8, pp.732 734 (1967).

18. D.Magde, H.Mahr. Study in ammonium dihydrogen phosphate of spontaneous parametric interaction tunable from 4400 to 1600 A. Phys.Rev.Lett., v. 18, pp.905-907 (1967).

19. S.E.Harris. Tunable optical parametric oscillator. Proc.IEEE, v.57, pp.20962113 (1969).

20. Д.Н.Клышко, Д.П.Криндач. Параметрическая люминесценция ниобата лития. Оптика и спектроскопия, т.26, с.981-985 (1969).

21. Д.Н.Клышко, А.Н.Пенин, Б.Ф.Полковников. Параметрическая люминесценция и рассеяние света на поляритонах. Письма в ЖЭТФ, т. 11, С.11-14 (1970).

22. J.F.Scott. Light scattering from polaritons. Amer.J.Phys., v.39, pp. 1360-13721971).

23. Д.Н.Клышко, В.Ф.Куцов, А.Н.Пенин, Б.Ф.Полковников. Рассеяние света на поляритонах в двухосном кристалле а ШО3. ЖЭТФ, т.62, с. 1291-12981972).

24. C.H.Henry, J.J.Hopfield. Raman scattering by polaritons. Phys.Rev.Lett., v. 15, pp.964-966 (1965).

25. S.P.S.Porto, B.Tell, T.C.Damen. Near-forward Raman scattering in zinc oxide. Phys.Rev.Lett.,v.l6, pp.450-452 (1966).

26. C.H.Henry, C.G.B.Garrett. Theory of parametric gain near a lattice resonance. Phys.Rev.,v.l71, pp.1058-1064 (1968).

27. Ю.Н.Поливанов. Комбинационное рассеяние света на поляритонах. УФН, Т.126, с.185-232(1978).

28. W.D.Johnston, Jr., I.P.Kaminov. Contributions to optical nonlinearity in GaAs as determined from Raman scattering efficiencies. Phys.Rev., v.l88, pp.1209-1211 (1969).

29. A.Pinczuk, E.Burstern, S.Ushioda. Raman scattering by polaritons in tetragonal BaTiOs. Sol.Stat.Commun., v.4, pp.139 142 (1969).

30. V.V. Obukhovskii, H.Ponath, V.L.Strizhevskii. Spontaneous Raman scattering by polaritons. I.General theory. Phys.Stat.sol, v.41, pp.837-846 (1970).

31. В.Л.Стрижевский. Эффект анизотропии при комбинационном рассеянии света на обыкновенных поляритонах. Оптика и спектроскопия, т.31, с.831-833 (1971).

32. J.F.Scott, T.C.Damen, J.Shah. Electrooptic and deformation potential contributions to the Raman tensor in CdS. Optics Comm., v.2, pp.384-386 (1971).

33. В.М.Агранович, И.И.Лалов. Бифононы, ферми-резонанс и поляритонные эффекты в теории комбинационного рассеяния света в кристаллах. ЖЭТФ, т.61,с. 656-666 (1971).

34. R.Claus. Light scattering by optical phonons and polaritons in perfect crystals. Phys.Stat.Sol., serB, v.50, pp.11-32 (1972).

35. F.X.Winter. Light scattering by polaritons associated with ordinary photons in LilOs. Phys.Lett., v.40a, pp.425 426 (1972).

36. A.S.Barker, Jr., R.Loudon. Responce functions in the theory of Raman scattering by vibrational and polariton modes in dielectric crystals. Rev.Mod.Phys., v.44, pp.l8-47(1972).

37. В.И.Емельянов, Ю.Л.Климонтович. К теории параметрического рассеяния света на поляритонах. ЖЭТФ, т.62, с.778-788 (1972).

38. Б.Н.Маврин, Х.Е.Стерин. Ферми-резонанс поляритонов с бифононом в кристалле LiNbOs. Письма в ЖЭТФ, т. 16, с.265-267 (1972).

39. К.Д.Кнейп, Г.Э.Понат, В.М.Стрижевский, Ю.Н.Яшкир. Новое проявление поляритонного резонанса Ферми при комбинационном рассеянии света в кристалле ЫЮз. Письма в ЖЭТФ, т. 18, с.89 94 (1973).

40. Б.Н.Маврин, Т.Е.Абрамович, Х.Е.Стерин. О поперечных поляритонах в кристалле LiNbOs. ФТТ, т.14, с.1810 1812 (1972).

41. V.L.Strizhevskii, Yu.N.Yashkir. Peculiarities ofRaman scattering by polaritons and polar optical phonons in anisotropic crystals. Pliys.Stat.sol.(b), v.61, pp.353-364(1974).

42. Г.М.Георгиев, А.Г.Михайловский, А.Н.Пенин, В.Н.Чумаш. Многочастичные состояния и ферми-резонанс в 1фисталлах а Н10з и а -DIO3. ФТТ, Т.16, С.2907 - 2911 (1974).

43. Г.М.Георгиев, А.Г.Михайловский, Г.Х.Китаева, А.Н.Пенин, Н.М.Рубинина. Стехиометрия метаниобата лития и спонтанное параметрическое рассеяние света в нем. ФТТ, т. 16, с.3524 3525 (1974).

44. Л.И.Кузнецова, Л.А.Кулевский, Ю.Н.Поливанов, К.А.Прохоров. Рассеяние на поляритонах в ЫЮз. Квантовая электроника, т.9, с.2095-2098 (1975).

45. О.А.Акципетров, А.Г.Михайловский, И.В.Митюшева, А.Г.Михайловский, А.Н.Пенин. Спонтанное параметрическое рассеяние света в танталате лития. ФТТ, т. 17, с. 1508 1509 (1975).

46. В.С.Горелик, Г.Г.Митин, М.М.Сущинский. Комбинационное рассеяние света в хлористом аммонии в условиях поляритонного ферми-резонанса. ЖЭТФ, Т.69, С.822 828 (1975).

47. Б.Н.Маврин, Х.Е.Стерин. Двухчастичные состояния и спектр поляритонов в кристалле GaP. ФТТ, т. 18, с.3028 3033 (1976).

48. О.А.Акципетров, Г.М.Георгиев, Т.В.Лаптинская, А.Г.Михайловский, А.Н.Пенин. Дисперсия нелинейной восприимчивости кристалла иодата лития. Квантовая электроника, т.З с.926 928 (1976).

49. L.A.Kulevsky, Yu.N.Polivanov, S.N.Poluektov. Stokes and anti-Stokes scattering of light by low-frequency polaritons in ЫЮз. Joum. of Raman Spectroscopy, Y.5, pp.269-272 (1976).

50. О.А.Акципетров, Г.Х.Китаева, А.Н.Пенин. Спонтанное параметрическое рассеяние света и рассеяние света на поляритонах в кристаллах формиата и дейтерированного формиата лития. ФТТ, т.19, с. 127 133 (1977).

51. В.А.Винокуров, С.С.Кляго, Ю.Н.Поливанов, К.А.Прохоров. Комбинационное рассеяние света на поляритонах в кристалле парателлурита. Квантовая электроника, т.4, с. 1602 1604 (1977).

52. О.А.Акципетров, Г.Х.Китаева, А.Н.Пенин. Исследование сегнетоэлектрического фазового перехода в KDP методом спонтанного параметрического рассеяния света. ФТТ, т.19, с. 1001 1007 (1977).

53. Б.Н.Маврин, Х.Е.Стерин. Ширина и форма линии комбинационного рассеяния на поляритонах. в сб. Современные проблемы спектроскопии комбинационного рассеяния света. М.: Наука, 1978 - с.48-69.

54. А.Акципетров, Г.Х.Китаева, А.Н.Пенин. СПР на поляритонах и поляритонный ферми-резонанс в кристалле пентабората калия. ФТТ, т.20, с.402-408 (1978).

55. И.В.Митюшева, Е.Д.Мишина, А.Н.Пенин. Особенности рассеяния света на поляритонах в кристаллах KDP и DKDP. ФТТ, т.21, с. 1834 1837 (1979).

56. Ю.Н.Поливанов. Ферми-резонанс поляритонов со связанными и диссоциированными состояниями фононов. Письма в ЖЭТФ, т.З, с.415 -419(1979).

57. О.А.Акципетров, В.М.Иванов, А.Н.Пенин. Частотно-угловой спектр рассеяния света на поляритонах и интерференция восприимчивостей разных порядков. ЖЭТФ, т.78, с.2309 2315 (1980).

58. В.М.Иванов, П.В.Митюшев, А.Н.Пенин. Двухчастичные несвязанные состояния в спектре формиата лития. Вестник МГУ, т.21, с.92 95 (1980).

59. В.М.Иванов, Т.В.Лаптинская, А.Н.Пенин. Слабые колебания в спектрах параметрического рассеяния света. ДАН СССР, сер.физ., т.260, с.321 325 (1981).

60. В.М.Иванов, Т.В.Лаптинская, А.Н.Пенин, М.В.Чехова. Анизотропия многочастичных состояний в поляритонном спектре монокристалла йодноватой кислоты. ФТТ, т.31, с.68 72 (1989).

61. A.V.Biirlakov, M.V.Chekhova, S.P.Kulik, A.N.Penin. Propagation and decay of equilibrium phonon polaritons studied via near-forward Raman scattering. Optics Commun., v. 165, pp.39 44 (1999).

62. Прикладная инфракрасная спектроскопия, под ред. Д.Кендалла. (Перевод с англ.) М.:Мир,1970 376с., илл.

63. Современные проблемы спектроскопии комбинационного рассеяния света. Под ред. М.М.Сущинского. М.:Наука, 1978 ЗОЗс, илл.

64. D.Heiman, S.Ushioda. Damping of the soft E-symmetry phonon in lead titanate. Phys.Rev.B, V. 17, pp.3616 3623 (1978).

65. Г.Х.Китаева, К.А.Кузнецов, И.И.Наумова, А.Н.Пенин. Влияние дефектов структуры на оптические свойства монокристаллов LiNbOsMg. Квантовая электроника, т.ЗО, с.726-732 (2000).

66. Т.Накамура, Я.Томинага. Поляритоны и центральная мода в ВаТЮз. Известия АН СССР, т.41, с.579-587 (1977).

67. В.Н.Денисов, Б.Н.Маврин, В.Б.Подобедов, Х.Е.Стерин. Гиперкомбинационное рассеяние на поляритонах в центросимметричном кристалле SrTiOs. Письма в ЖЭТФ, т.31 с.111 114 (1980).

68. K.Inoue, N.Asai, T.Sameshima. Observation of the phonon polariton in centrosymmetric crystal of SrTiOs by hyper-Raman scattering. J. Phys. Japan, V.48, pp.1787 1788(1980).

69. Д.Н.Клышко. Активная спектроскопия поляритонов (феноменологическое описание). Квантовая электроника, т.2, с.265 271 (1975).

70. В.Л.Стрижевский, В.В.Обуховский, Г.Э Понат. Теория вынужденного комбинационного рассеяния света на поляритонах. ЖЭТФ, т.61, с.537 -550(1971).

71. В.Л.Стрижевский. Теория вынужденного комбинационного рассеяния света на поляритонах в кубических и одноосных кристаллах. ЖЭТФ, т. 62, С.1446 1460 (1972).

72. В.Л.Стрижевский, Г.Э Понат, Ю.Н.Яшкир. Поляритонный резонанс Ферми и его проявление в спектрах комбинационного рассеяния. Оптика и спектроскопия, т.31,с. 388 391 (1971).

73. Перегудов Г.В. Перестраиваемый лазер на вынужденном комбинационном рассеянии света на поляритонах. УФН, т.104, с.156 160 (1971).

74. M.A.Piestrup, R.N.Fleming, R.H.Pantell. Continuously tunable submillimiter wave source. Appl.Pliys.Lett., v.26, pp.418 421 (1975).

75. R.L.Aggarwal, B.Lax, H.R.Fetterman, P.E.Tannenwald, B.J.Clifton. CW generation of tunable narrow band far-infrared radiation. J.Appl.Phys., v.45, pp.3972-3974 (1974).

76. J.Khurgin. Optical rectification and terahertz emmission semiconductors excited above the band gap. J.Opt.Soc.Am.B, v . ll, pp.2492 2501 (1994).

77. H.J.Bakker, G.C.Cho, H.Kurz, Q.Wu, X.-C. Zhang. Distortion of terahertz pulses in electro-optic sampling. J.Opt.Soc.Am.B, v 15, pp. 1795 1801 (1998).

78. T.Dekorsy, H.Auer, H.J.Bakker, H.G.Roskos, H.Kurz. THz elecromagnetic emission by coherent infrared-active phonons. Phys.Rev.B, v.53, pp.4005 4014 (1996).

79. А.М.Бельский, И.М.Гулис, К.A.Саечников. Внутрирезонаторное ВКР на поляритонах в кристалле LiNbOs. Квантовая электроника, т.22, с.841 842 (1995).

80. R.R.Alfano, S.L.Shapiro. Optical phonon lifetime measured directly with picosecond pulses. Phys.Rev.Lett., v.26, pp.1247 1251 (1971).

81. U.T.Schwarz, M.Maier. Damping mechanizms of phonon polaritons, exploited by stimulated Raman gain measurements. Phys.Rev.B, v.58, pp.766 775 (1998).

82. Y.-X.Yan, E.B.Gamble, K.ANelson. Impulsive stimulated scattering: General importance in femtosecond laser pulse interaction with matter, and spectroscopic applications. J. Chem. Phys., v.83, pp.5391 5399 (1985).

83. P.C.M.Planken, L.D.Noordam, J.T.M.Kennis, A.Lagendijk. Femtosecond time-resolved study of the generation and propagation of phonon polaritons in LiNbOs. Phys.Rev.B, v.45, pp.7106 7114 (1992).

84. P.Grenier, D.Houde, S.Jandl, L.A.Boatner. Soft-mode studies in KTao.93Nbo.07O3 with use of the time-resolved third-order optical susceptibility jA- Phys.Rev.B, V.47, pp. 1 4 (1993).

85. H.J.Bakker, S.Hunsche, H.Kurz. Time-resolved study of phonon polaritons in LiTaOs. Phys.Rev.B, v.48, pp. 13524 13537 (1993).

86. H.J.Bakker, S.Hunsche, H.Kurz. Quantum-mechanical description of the ferroelectric phase transition in LiTa03. Phys.Rev.B, v.48, pp.9331 9335 (1993).

87. H.J.Bakker, S.Hunsche, H.Kurz. Investigation of anharmonic lattice vibrations with coherent phonon polaritons. Phys.Rev.B, v.50, pp.914 920 (1994).

88. G.P.Wiederrecht, T.P.Dougherty, L.Dhar, K.A.Nelson, D.E.Leaird, A.M.Weiner. Explanation of anomalous polariton dynamics in LiTaOs. Phys.Rev.B, v5 1, pp.916 931 (1995).

89. J.C.Loulergue, J. Etchepare. E-symmetry phonon polaritons in PbTiOs. Phys.Rev. B, V.52, pp. 15160 15164 (1995).

90. O.Albert, J.Etchepare. Femtosecond temporal behavior measurement of Kerr-like cascaded second-order non-linearities. Opt. Comm., v. 154, pp.345 349 (1998).

91. H.J.Bakker, S.Hunsche, H.Kurz. Coherent phonon polaritons as probes of anharmonic phonons in ferroelectrics. Rev. Mod. Phys. v.70, c.523 536 (1998).

92. J.P.Coffinet, F.DeMartini. Coherent excitation of polaritons in gaUium phosphide. Phys.Rev.Lett., v.22, pp.60 64 (1969).

93. F.DeMartini, J.Lerroy. Temperature dependence of the polariton dispersion and damping in GaP. Application of the nonlinear spectroscopy of the k-space. Solid State Comm., v.9, pp.1779 1783 (1971).

94. F.DeMartini, Y.R.Shen. Nonlinear excitation of surface polaritons. Phys.Rev.Lett., v.36, pp.216 219 (1976).

95. F.DeMartini, G.Giuliani, P.Mataloni, E.Palange, Y.R.Shen. Study of surface polaritons in GaP by optical four-wave mixing. Phys.Rev.Lett., v. 37, pp.440 -443 (1976).

96. J.J.Wynne. Nonlinear optical spectroscopy of хллл in LiNbOs. Phys.Rev.Lett., V.29, pp.650 653 (1972).

97. E.Yablonovitch, C.Flytzanis, N.Bloembergen. Anisotropic interference of three-wave and double two-wave frequency mixing in GaAs. Phys.Rev.Lett., v.29, pp.865- 868 (1972).

98. В.Л.Стрижевский, Ю.Н.Яшкир. Комбинационное рассеяние света на когерентных поляритонах. Квантовая электроника, т.2, с.995 1006 (1975).

99. Н.И.Лихолит, В.Л.Стрижевский, Ю.Н.Яшкир. Активная спектроскопия спонтанного комбинационного рассеяния света на поверхностных поляритонах. Квантовая электроника, т.З, с.457 459 (1976).

100. Ю.Н.Поливанов, Р.Ш.Саяхов, А.Т.Суходольский. О возможности разделения прямых и каскадных процессов при активной спектроскопии комбинационного рассеяния света на поляритонах. Крат.сооб.физ.ФИАН, №12,с.16-22(1976).

101. Ю.Н.Поливанов, А.Т.Суходольский. Наблюдение интерференции прямых и каскадных процессов при активной спектроскопии поляритонов. Письма в ЖЭТФ, Т.25, С.240 244 (1977).

102. Ю.Н.Поливанов, А.Т.Суходольский. Когерентное антистоксово рассеяние света на поляритонах в кристалле Ь1Юз. Квантовая электроника, т. 5, 0.1689- 1693 (1978).

103. С.Н.Орлов, Ю.Н.Поливанов. Когерентное антистоксово комбинационное рассеяние света на оптических фононах в кристалле ВеО. Крат. сооб. физ. ФИЛИ, №5, С.9- 15(1998).

104. S.-X.Qian, Y.-F.Li, Y.-G.Jin, G.-F.Dong. The CARS and CSRS spectra of LiNbOs crystal. Chinese Physics, v.3, pp.1037 1043 (1983).

105. A.Laubereau, D.von der Linde, W.Kaiser. Direct observation of the lifetime of a polariton mode in gallimn phosphide. Optics Comm., v.7, pp.173 175 (1973).

106. T.Juhasz, W.E.Bron. Subpicosecond-resolved polariton decay. Phys.Rev.Lett., v.61 ,pp. 2385 -2388(1989).

107. G.M.Gale, F.Valee, C.Flytzanis. Propagation and dephasing of picosecond phonon polariton pulses in ammonium chloride. Phys.Rev.Lett., v.57, pp.1867 -1870 (1986).

108. F.Valee, G.M.Gale, C.Flytzanis. Time and space-resolved study of a dressed polariton: the polariton Fermi resonance in ammonium chloride. Phys.Rev.Lett., v.63,pp. 2102-2105 (1988).

109. F.Valee, C.Flytzanis. Temporal and spatial evolution of picosecond phonon-polariton pulses in crystals. Phys.Rev.B, v.46, pp.13799 13812 (1992).

110. F.Valee, C.Flytzanis. Picosecond phonon-polariton pulse transmission through an interface. Phys.Rev.Lett., v.74, pp.3281 3284 (1995).

111. T.Qiu, M.Maier. Long-distance propagation and damping of low-frequency phonon polaritons in LiNbOs. Phys.Rev.B, v.56, pp.R5717 R5720 (1997).

112. С.Н.Орлов, Ю.Н.Поливанов. Устранение пьедестала в спектрах КАРС на поляритонах с помощью пространственного разнесения возбуждающих и пробного пучков. Квантовая электроника, т.25, с. 175 176 (1998).

113. С.Н.Орлов, Ю.Н.Поливанов. КАРС на поляритонах с пространственно разнесеннными возбуждающими и пробным пучками. Квантовая электроника, т.25, с.899 904 (1998).

114. Fernandez, V.R.Velasco, F.Garcia-Moliner. Phonons in transition metal superlattices. Surface Science, v.251/252 p.685 689 (1991).

115. M.V.Klein. Phonons in semiconductor superlattice. IEEE Joum Quant.Electr., v.QE-22, pp.1760 1770 (1986).

116. F.Rossi, L.Rota, C.Bungaro, P.Lugh, E.Molinari. Phohons in thin GaAS quantum wires. Phys.Rev.B, v.47, pp.1695 1698 (1993).

117. A.Tanaka, S.Onari, T.Arai. Low-frequency Raman scattering from CdS microcrystals embedded in a germanium dioxide glass matrix. Phys.Rev.B, v.47, pp.1237- 1243 (1993).

118. Е.А.Виноградов, Г.Н.Жижин, Т.А.Лескова, Н.Н.Мельник, В.И.Юдсон. Колебательные состояния тонких кристаллических пленок полярных полупроводников. ЖЭТФ, т.78, с. 1030 1049 (1980).

119. R.Tsu, S.Jha. Phonon and polariton modes in a superlattice. Appl.Phys.Lett., V.20, pp.16- 18 (1972).

120. Поверхностные поляритоны. Под ред. В.М.Аграновича, Д.И.Миллса. М.:Наука, 1985 525с., илл.

121. A.Dereux, J.-P.Vigneron, P.Lambin, A.Lucas. Polaritons in semiconductor multilayered materials. Phys.Rev.B, v.38, pp.5438 5452 (1988).

122. H.Chu, Y.-C. Chang. Phonon-polariton modes in superlattices; The effect of spatial dispersion. Phys.Rev.B, v.38, p. 12369 12376 (1988).

123. Яшкир O.B., Яшкир Ю.Н. Нелинейно-оптические процессы в планарных световодах с участием поверхностных поляритонов. Квантовая электроника, т. 14, стр.2325-2332 (1987).

124. Г.Х.Китаева, С.П.Кулик, А.Н.Пенин. Поверхностные поляритоны на границе между доменами. ФТТ, т.31, с.116 123 (1989).

125. L.V.Deych, A.A.Lisyansky. Disorder-induced polaritons. Phys.Lett.A, v.220, pp.125 130 (1996).

126. D.I.Evans, S.Ushioda, I.D.McMuUen. Raman scattering from surface polaritons in GaAs film. Phys.Rev.Lett., v.31, pp.369 372 (1973).

127. J.S.Nkoma. Theory of Raman scattering by surface polaritons in a thin film. J.Phys.C:Solid State Phys., v.8, pp.3919 3936 (1975).

128. Chen Y.J., Burstein E., Mills D.L. Raman scattering by surface polaritons. Phys.Rev.Lett., v.34, pp.1516-1519 (1975).

129. S.Ushioda, A.Aziza, I.B.Valdes, G.Mattei. Effects of surface roughness on surface polaritons. Phys.Rev., v. 19, pp.4012 4019 (1979).

130. Jun-ichi Watanabe, T.Sekine, K.Uchinokura, E.Matsuura. Raman scattering from the upper and the lower modes of surface phonon polaritons in ZnTe. Solid State Comm., v.45, pp.403-406 (1983).

131. Jun-ichi Watanabe, T.Sekine, K.Uchinokura, E.Matsuura. Observation of increase in Raman intensity of surface polaritons on rough surfaces of ZnTe. Solid State Comm., v.51, pp.289-291 (1984).

132. В.Н.Денисов, Б.Н.Маврин, В.Б.Подобедов. Комбинационное рассеяние света на поверхностных поляритонах кристалла GaP: дисперсия, интенсивность и поляризационные свойства. ЖЭТФ, т.92, с. 1855 1867 (1987).

133. Mills D.L., Chen Y.J., Burstein Е. Raman scattering of hght by polaritons in thin films; surface polaritons and size effects. Phys.Rev.B, v.l3, pp.4419-4438 (1976).

134. Y.Sasaki, S.Ushioda. Guided-wave polaritons in thin fihns of the layered compound GaSe. Phys.Rev.B, v.27, p. 1122-1135 (1983).

135. В.Н.Денисов, Т.А.Лескова, Б.Н.Маврин, В.Б.Подобедов. Спектры комбинационного рассеяния на волноводных и интерференционных модах свободной пленки GaP. ЖЭТФ, т.94, с.261 273 (1988).

136. Chekhova M.V., Kulik S.P., Penin A.N. Waveguide polariton modes in the polariton scattermg spectra of a thin LiNbOa layer. Opt.Comm., v.ll4, pp.301-308(1995).

137. J.L.Merz, A.S.Barker, Jr., A.C.Gossard. Raman scattering and zone-folding effects for alternating monolayers of GaAs-AlAs. Appl.Phys.Letts., v.31, pp.117 119(1977).

138. A.R.Sood, J.Menendez, M.Cardona, K.Ploog. Resonance Raman scattermg by confined LO and TO phonons in GaAs-AlAs superlattices. Phys.Rev.Lett., v.54, pp.2111 -2114(1985).

139. S.-F.Ren, Y.-C.Chang. Theory of nonresonant Raman scattering of GaAs/ AlAs superlattices. Phys.Rev., v.47, pp.1489 1499 (1993).

140. MO.T.Ruf, V.I.Belitsky, J.Spitzer, V.F.Sapega, M.Cardona, K.Ploog. Raman scattering fi-om folded phonon dispersion gaps. Phys.Rev.Lett., v.71, pp.3035 -3038 (1993).

141. Г.Х.Китаева, С.П.Кулик, А.Н.Пенин. Новые моды в спектрах рассеяния на поляритонах в слоистых кристаллах. ФТТ, т.29, с.3489 3492 (1987).

142. Г.Х.Китаева, С.П.Кулик, А.Н.Пенин. Параметрическое рассеяние света в пространственно-неоднородных кристаллах. ФТТ, т.34, с.3440 3447 (1992).

143. G.KJi.Kitaeva, S.P.Kulik, A.N.Penin. Light scattering in crystals with layer-type superstructure. Ferroelectrics, v. 172, pp.469 476 (1995).

144. Н.Н.Ахмедиев. Об активной спектроскопии поверхностных поляритонов. С.820 827 (1976).

145. D.Rogovin, T.P.Shen. Excitation of surface polaritons via optical nonlinearities: Threshold behavior. Phys.Rev.B, v.37, pp.1121 1135 (1988).

146. C.Y.Chen, Y.I. Chen, S.WoUins, E.Burstain. Scattering of light by surface polaritons at a BeO-air interface. BuU.Amer.Phys.Soc, v.23, pp.279 282 (1978).

147. Р.Ш.Саяхов, Ю.Н.Поливанов. Рассеяние света на когерентно-возбужденных объемных и поверхностных поляритонах. Изв.АН СССР. Сер.физ., Т.52, С.1155 1159 (1988).

148. С.Н.Орлов, Ю.Н.Поливанов. Комбинационное рассеяние света на когерентно-возбужденных поверхностных поляритонах гофрированного кристалла ВеО. ЖЭТФ, т.104, с.4143 4156 (1993).

149. С.Н.Орлов, Ю.Н.Поливанов, Р.Ш.Саяхов, Ю.Л.Чузавков. Экспериментальное исследование рассеяния света на когерентно-возбужденных объемных и поверхностных поляритонах. Труды ИОФАН, Т.43, с.52-82 (1993).

150. R.L.Byer. Quasi-phasematched nonlinear interactions and devices. Jomn. of Nonlinear Optical Physics & Materials, v.6, pp.549 592 (1997).

151. R.L.Byer. Quasi-phasematched nonlinear materials and apphcation to devices. Nonlinear Optics, v.7, pp.235 245 (1994).

152. J.Armstrong, N.Bloembergen, J.Ducuing, P.S.Pershan. Interactions between light waves in a nonlinear dielectric. Phys.Rev., v. 127, pp.1918 1939 (1962).

153. M.M.Fejer, G.A.Magel, D.H.Jundt, R.L.Byer. Quasi-phase-matched second harmonic generation: tuning and tolerances. IEEE J.Quantum Electron., v.28, pp.2631 -2654 (1962).

154. А.С.Чиркин. О генерации второй гармоники в полидоменных кристаллах. В сб. "Нелинейная оптика". Новосибирск: Наука, 1968 с.202 - 207.

155. Freund I. Nonlinear diffraction. Phys.Rev.Lett., v.21, pp. 1404-1426 (1968).

156. R.C.Miller. Optical harmonic generation in single crystal ВаТЮз. Phys.Rev., v.l34,pp.A13 13-A13 19(1964).

157. A.L. Aleksandrovskii, I.I.Naumova, V.V. Tarasenko. Lithium niobate with laminar domains for frequency tripling of Nd:YAG laser radiation. Ferroelectrics, v.l41, pp.147-152 (1993).

158. А.Л.Александровский, В.В.Волков. Квазисинхронная генерация второй гармоники в режиме нелинейной дифракции. Квантовая электроника, т.23, стр.557-560 (1996).

159. L.E. Myers, G.D.Miller, R.C.Eckardt, M.M.Fejer, R.L.Byer. Quasi-phasematched 1.064-pm-pmnped optical parametric oscillator in bulk periodically poled LiNbOs. Opt. Lett., v.20, pp.52-54 (1995).

160. P.Vidakovic, D.J.Lovering, J.A.Levenson. Large nonlinear phase chift owing to cascaded х*ааа in quasi-phase matched bulk LiNbOs. Optics Letters, v.22, pp.277-279 (1997).

161. S.Odulov, T.Tarabrova, A.Shumelyuk. Photorefractive response of bulk periodically poled LiNbOs :Y:Fe at high and low spatial frequencies. Phys.RevLett., v.84, pp.3294 3297 (2000).

162. D.K.Serkland, M.M.Fejer, R.L.Byer, Y.Yamamoto. Squeezing in a quasi-phase-matched LiNbOs waveguide. Optics Lett., v.20, pp.1649 1651 (1995).

163. M.Asobe, I.Yokohama, H.Itoh, T.Kaino. All-optical switching by use of cascading of phase-matched sum-frequency-generation and difference-frequency-generation processes in periodically poled LiNbOs. Optics Lett., v.22, pp.274-276 (1997).

164. Y.Lu, L.Mao, N.Ming. Blue-hght generation by frequency doubling of an 810-nm cw GaAlAs diode laser in a quasi-phase-matched LiNbOs crystal. Optics Lett., V.19, pp.1037 1039 (1994).

165. В.В.Волков, А.С.Чиркин. Квазисинхронное параметрическое усиление волн при низкочастотной накачке. Квантовая электроника, т.25, с. 101 102 (1998).

166. С.Г.Гречин, И.Г.Дмитриев. Одновременная генерация второй гармоники лазерного излзАения на трех типах взаимодействия в нелинейный кристаллах с регулярной доменной стрз'тстурой. Квантовая электроника, Т.26, с. 151 154 (1999).

167. С.Г.Гречин, И.Г.Дмитриев, Ю.В. Юрьев. Генерация второй гармоники при одновременной реализации синхронного и квазисинхронного взаимодействий в нелинейных кристаллах с регулярной доменной структурой. Квантовая электроника, т.26, с. 155 157 (1999).

168. А.С.Чиркин, В.В.Волков, Г.Д.Лаптев, Е.Ю.Морозов. Последовательные трехчастотные волновые взаимодействия в нелинейной оптике периодически-неоднородных сред. Квантовая электроника, т.ЗО, с.847 -858 (2000).

169. А.В.Голенищев-Кутузов, В.А.Голенищев-Кутузов, Р.И.Калимуллин. Индуцированные домены и периодические доменные структуры в электро-и магнитоупорядоченных веществах. УФН, т.170, с.697 712 (2000).

170. И.И.Наумова, О.А.Глико. Монокристаллы LiNbOs с периодической модуляцией доменной структуры. Кристаллография, т.41, с.1 2 (1996).

171. Н.Ф.Евланова, И.И.Наумова, Т.О.Чаплина, С.В.Лаврищев, С.А.Блохин.• Периодическая доменная структура в кристаллах LiNbOsiY,выращиваемых методом Чохральского. ФТТ, т.42, с. 1678 1681 (2000).

172. N.F.Evlanova, I.I.Naumova, T.O.Chaplina, S.A.Blokhin. Domain wall movement in the Czochralski-Grown YiLiNbOs single crystal. Ferroelectrics Letters, v.26, pp.137 143 (1999).

173. А.Л.Александровский, О.А.Глико, И.И.Наумова, В.И.Прялкин. Линейная и нелинейная дифракционные решетки в монокристаллах ниобата лития с периодической доменной структзфой. Квантовая электроника, т.23, с.657 -660 (1996).

174. Ю.С.Кузьминов. Ниобат и танталат лития материалы для нелинейной оптики. М.: НазАка, 1975 - 223с., илл.

175. A.M.Glass. Materials for optical information processing. Scince, v.226, pp. 657 -662(1984).

176. Ю.С.Кузьминов. Электр о оптический и нелинейнооптический кристалл ниобата лития. М.: Наука, 1987 264с., илл.

177. S.Tao, D.R.Selviah, J.E.Midwinter. Spatioangular multiplexed storage of 750 holograms in an FeiLiNbOg. Optics Letters, v. 18, pp. 912 914 (1993).

178. D.von der Linde, A.M.Glass, K.F.Rodgers. Multiphoton photorefractive processes for optical storage in LiNbOs. Appl.Phys.Letts., v.25, pp.155 157 (1974).

179. K.Buse. Light-induced charge fransport processes in photorefractive crystals II: Materials. Applied Physics B, v64, pp.391 407 (1997).

180. D.Berbén, K.Buse, S.Wevering, P.Herth, M.bnlau, and Th.Woike. Lifetime of small polarons in iron-doped lithium niobate crystals. Journ. Appl. Phys., v.87, pp.1034- 1041 (2000).

181. S.C.Abrahams and P.Marsh. Defect structure dependence on composotion in lithium niobate. Acta Ciyst. B42, pp.61-68 (1986).

182. H.Donnerberg, S.M.Tomlinson, C.R.A.Catlow, and O.F.Schirmer. Computer -simulation studies of infrinsic defects in LiNbOs crystals. Phys.Rev.B, v.40, pp.11909 11916(1989).

183. T.Volk, M.Wohlecke. Optical damage resistance in lithium niobate crystals. Ferroelectrics Review, v. l, pp.195 262 (1998).

184. T.Volk, M.Wohlecke, N.Rubinina, A.Reichert, N.Razumovsky. Optical-damage-resistant impurities (Mg, Zn, In, Sc) in lithium niobate. Ferroelectrics, V.183, pp.291 -300(1996).

185. T.Volk, N.Rubinina, and M.Wohlecke. Optical-damage-resistant impurities in lithium niobate. Joum.Opt.Soc.Am.B, v.l 1, pp.1681 1687 (1994).

186. T.Volk, B. Maximo v, T.Chemaya, N.Rubinina, M.Wohlecke, V.Simonov. Photorefractive properties of LiNbOs.Zn crystals related to the defect ctructure. Appl. Phys.B V.72, pp.1 6 (2001).

187. D.A.Bryan, R.Gerson, and H.E.Tomaschke. Increased optical damage resistance in lithium niobate. Appl.Phys.Lett., v.44, pp.847 849 (1984).

188. H.Donnerberg, S.M.Tomlinson, C.R.A.Catlow, and O.F.Schirmer. Computer stimulation studies of extrinsic defects in LiNbOs crystals. Phys.Rev.B, v.44, pp.4877 -4883 (1991).

189. M.Wohlecke, G.Corradi, K.Betzler. Optical methods to characterise the composition and homogeneity of lithium niobate single crystals. Appl. Phys. В v. 63, pp.323 -330(1996).

190. J.J.Amodei, W.Phyllips, and D.L.Staebler. Optical and holographic storage properties of transition metal doped lithium niobate. RCA Rev., v.33, pp.94 -109 (1972).

191. M.V.Hobden, J.Warner. The temperature dependence of the refractive indices of pure lithium niobate. Phys.Lett., v.22, pp.243 244 (1966).

192. J.G.Bergman, A.Ashkin, A.A.Ballman, J.M.Dziedzic, H.J.Levinstein, R.G.Smigth. Curie temperature, birefrigence, and phase matching temperature variations in LiNbOa as a ftmction of meh stoichiometry. Appl.Phys.Lett., v. 12, pp. 92-94(1968).

193. D.F.Nelson, R.M.Mikulyak. Refractive indices of congruently melting lithium niobate. J.Appl.Phys., v.45, pp.3688 3689 (1974).

194. D.S.Smith, H.D.Riccius, R.P.Edwin. Refractive indices of lithium niobate. OptComm., V.17, pp.332 335 (1976).

195. Г.М.Георгиев, А.Г.Михайловский, Г.Х.Китаева, А.Н.Пенин, Н.М.Рубинина. Спонтанное параметрическое рассеяние света и стехиометрия кристаллической решетки. Тезисы VII Всес. конференции по когерентной и нелинейной оптике КиНО, Ташкент, с.276 (1974).

196. U.ScMarb, K.Betzler. Refractive indices of lithimn niobate as a function of temperature, wavelength, and composition: A general fit. Phys.Rev.B, v.48, pp.15613 15619(1993).

197. А.Л.Александровский, Г.И.Ершова, Г.Х.Китаева, С.П.Кулик, И.И.Наумова, В.В.Тарасенко. Дисперсия показателя преломления кристаллов LiNb03:Mg и ЫМЬОз:У. Квантовая электроника, т. 18, pp.254 -256 (1991).

198. H.Y.Shen, H.Xu, Z.D.Zeng, W.X.Lin, R.F.Wu, and G.F.Xu. Measurement of refractive indices and thermal refractive-index coefficients of LiNbOs crystal doped with 5 mol.% MgO. Appl.Opt., v.31, pp.6695 6697 (1992).

199. U.Schlarb, K.Betzler. Influence of the defect structure on the refractive indices of undoped and Mg-doped lithium niobate. Phys.Rev.B, v.50, pp.751 757 (1994).

200. D.E.Zehnon, D.L.Small, D.Jundt. Infrared corrected Sellmeier coefficients for congraently grown lithium niobate and 5 mol.% magnesium oxide-doped lithium niobate. J.Opt.SocAm.B, v. 14, pp.3319 3322 (1997).

201. G.Kh.bCitaeva, I.I.Naumova, A.A.Mikhailovsky, P.S.Losevsky, A.N.Penin. Visible and infrared dispersion of the refractive indices in periodically poled and single domain Nd:Mg:LiNb03 crystals. Appl.Phys.B, v.66, pp.201 205 (1998).

202. M.O.Scully, M.S. Zubairy. Quantum optics. Cambrige: University Press. -630p.

203. D.N.Klyshko. Observable signs of nonclassical hght. Physics Lett. A, v.213, pp.7 15 (1996).

204. Д.Н.Клышко. Неклассический свет. УФН, т. 166, с.613 638 (1996).

205. R.L.Slusher, L.W.HoUberg, B.Yurke, J.C.Mertz, J.F.Valley. Observation of squeezed states generated by four-wave mixing in an optical cavity. Phys.Rev.Lett., v.55, pp.2409 2412 (1985).

206. L.-A. Wu, H.J.Kimble, J.L.Hall, H.Wu. Generation of squeezed states by parametric down conversion. Phys.Rev.Lett., v.57, pp.2520 2523 (1986).

207. R.E.Slusher, P.Grangier, A.LaPorta, B.Yurke, M.J.Potasek. Pulsed squeezed light. Phys.Rev.Lett., v.59, pp.2566 2569 (1987).

208. Д.Н.Клышко. Поляризация света: эффекты четвертого порядка и поляризационно сжатые состояния. ЖЭТФ, т.111, с.1955 - 1983 (1997).

209. Д.Н.Клышко. Поперечная группировка фотонов и двухквантовые процессы в поле параметрического рассеяния света. ЖЭТФ, т.83, с. 1313 -1323 (1982).

210. D.N.Klyshko. Two-photon (squeezed) light: classical and quantum effects. Phys. Lett. A, V.146, pp.93 101 (1990).

211. A.Lamas-Linares, J.C. Howell, D.Bouwmeester. Stimulated emission of polarization entangled photons. Naujre, v.412, pp.887 - 890 (2001).

212. Д.Н.Клышко. Об использовании вакуумных флуктуации в качестве репера яркости света. Квантовая электроника, т.4, с. 1056 1062 (1977).

213. Д.Н.Клышко. Об использовании двухфотонного света для абсолютной калибровки фотоэлектрических детекторов. Квантовая электроника, т.7, с.19 3 2- 1940 (1980).

214. Д.Н.Клышко, А.Н.Пенин. Перспективы квантовой фотометрии. УФН, Т.152, 0.653 -665 (1987).

215. W.Wien, O.Lummer. Methode zur prtftmg des strahlungsgesetzes absolut schwarzer кофег. Ann.Phys., v.56, pp.451-456 (1895).

216. R.Stair, R.G.Johnston, E.W.Halbach. Standard of spectral radiance for the region of 0.25 to 2.6microns. J.Res.Nat.Bur.Std., A, v.64, pp.291-296 (1960).

217. R.E.Bedford. A low temperature standard of total radiation. Ganad. J.of Phys. v.38,pp.l256-1278(1960).

218. O.Touayar, H.Re3n, J.Bastie, T.Varpula. Indirect comparison of cryogenic radiometers from the INM (France), and the VTT (Finland) with a QED-200 from VSL (Netherlands). Mefrologia, v.32, pp.561 564 (1995-1996).

219. K.C.Lapworth, T.J.Quinn, L.A.Allnutt. A blackbody source of radiation covering a wavelength range from the ulfraviolet to the infrared. J.Phys.E, v.3, pp.116- 120 (1970).

220. A.R.Karoh. Experimental blackbody (absolute) radiometry. Adv.Geophys., v.l4,pp.l65-202 (1970).

221. О.И.Касаткина. Абсолютные прецизионные источники излучения на основе черного тела. Обнинск: "Информационный центр" -1974 74с., илл.

222. J.Geist, E.F.Zalewski, and A.R.Schaefer. Spectral response self-calibration and interpolation of silicon photodiodes. Appl.Opt., vl9, pp.3795-3799 (1980).

223. E.F.Zalewski, and C.R.Duda. Sihcon photodiode device with 100% external quantum efficiency. Appl.Opt., v.22, pp.2867 2936 (1981).

224. E.Halaska, M.Dienstbier, and P.Sladky. Calibration of silicon photodiodes by photoacoustics. Appl.Opt.,v.32, pp.3843 (1993).

225. А.А.Малыгин, А.Н.Пенин, А.В.Сергиенко. Абсолютная калибровка чувствительности фотоприемников с использованием бифотонного поля. Письма в ЖЭТФ, т.З, с.493 496 (1981).

226. J.G.Rarity, K.D.Ridley, and P.R.Tapster. Absolute measurement of detector quantum efficiency using parametric down-conversion. Appl.Opt.,v.26, pp.4616 (1987).

227. A.N.Penin and A.V.Sergienko. Absolute standardless calibration of photodetectors based on quantum two photon fields. Appl.Opt., v.30, pp.35823588 (1991).

228. V.M.Ginzburg, N.G.Keratishvih, E.L.Korzhenevich, G.V.Lunev, A.N.Penin, V.I.Sapritsky. Absolute meter of photodetector quantum aeeiciency based on the parametric down-conversion effect. Opt.Eng., v.32, pp.2911 2916 (1993).

229. P.G.Kwiat, A.M.Steinberg, R.A.Chiao, P.H.Eberhard, M.D.Petroff. Absolute efficiency and time-response measurement of single-photon detectors. Appl.Opt., V.33, pp.1844- 1853 (1994).

230. A.L.Migdall, R.U.Datla, A.V.Sergienko, J.S.Orszak, Y.H.Shih. Absolute detector quantum efficiency measurements using correlated photons. Metrología, V.32, pp.479 483 (1996).

231. G.Brida, S.Castelletto, C.Novero, M.L.Rastello. Quantum-efficiency measurement of photodetectors by means of correlated photons. J.Opt.SocAm.B, V.16, pp.1623 1627 (1999).

232. G.Brida, S.Castelletto, C.Novero, M.L.Rastello. Measurement ofthe quantum efficiency of photodetectors by parametric fluorescence. Metrología, v.35, pp.397-401 (1998).

233. Г.Х.Китаева, А.В.Сергиенко, А.Н.Пенин, А.В.Шепелев. Способ определения временных параметров фотоприборов и характеристик оптических процессов. Авторское свидетельство на изобретение № 1533534 в Государственном реестре изобретений СССР, 1989г. -Зс.

234. О.А.Акципетров, Г.Х.Китаева, Е.Д.Мишина, А.Н.Пенин. Форма линии спонтанного параметрического рассеяния света в тонких пластинах ниобата лития. Физика твердого тела, т.21, с.1834-1837 (1979).

235. Г.Х.Китаева, Д.Н.Клышко, И.В.Таубин. К теории параметрического рассеяния и абсолютного измерения яркости света. Квантовая электроника, т.9, с.560-568 (1982).

236. Г.Х.Китаева, А.Н.Пенин, А.Н.Плешков. Нулевые флуктуации электромагнитного вакуума в процессе параметрического рассеяния света. Тезисы XII Всес. сонференции по когерентной и нелинейной оптике КиНО, Москва, ч.1, с.91-92 (1985).

237. Г.Х.Китаева, А.В.Сергиенко, А.Н.Пенин. Интерференция нулевых флуктуации электромагнитного вакуума и корреляция фотонов при параметрическом рассеянии света. ДАН СССР, сер.Физика, т.293, с.848-850 (1987).

238. Д.Н.Клышко. Обобпденные законы Кирхгофа и абсолютная квантовая фотометрия. Изв.АН СССР, сер. физ., т.46, с. 1478 1485 (1982).

239. Б.Я.Зельдович. Теория спонтанного параметрического рассеяния света. ЖЭТФ, Т.58, С.1348 1358 (1970).

240. М.Борн, Э.Вольф. Основы оптики. М.: Наука, 1970 856 с, илл.

241. Д.Н.Клышко. Интерференция Рамзея при двухфотонном параметрическом рассеянии. ЖЭТФ, т. 104, с.2676 2684 (1993).

242. Д.Ю.Корыстов, С.П.Кулик, А.Н.Пенин. "Крюки" Рождественского при двухфотонном параметрическом рассеянии света. Письма в ЖЭТФ, т.73,1. C. 248 252 (2001).

243. Д.Ю.Корыстов, С.П.Кулик, А.Н.Пенин. Интерферометрия спонтанного параметрического рассеяния света. Квантовая электроника, т.ЗО, с.921 -926 (2000).

244. A.V.Burlakov, M.V.Chekhova, D.N.Klyshko, S.P.Kulik, F.N.Penin,

245. D. V.Strekalov, Y.H.Shih. Interference effects in spontaneous two-photon parametric scattering from two makroskopic regions. Phys.Rev.A, v.56, pp.3214- 3225 (1997).

246. Р.Глаубер. Оптическая когерентность и статистика фотонов. В сб. "Квантовая оптика и квантовая радиофизика" М.:Мир, 1966г. - с.90 - 280.

247. Д.Н.Клышко. Физические основы квантовой электроники. М: Наука, 1986- гл.7, С.203 282.

248. G.Kh.Kitaeva, A.A.Mikhailovsky, K.A.Kuznetsov, A.N.Penin. Four-wave scattering by coherently excited polaritons. Technical digest of the XVI Intern. Conf. on Coherent and Nonlinear Optics ICONO'98, Moscow, p. 111 (1998).

249. Г.Х.Китаева, К.А.Кузнецов, И.И.Наумова, А.А.Михайловский, А.Н.Пенин. Четырехволновое рассеяние света на когерентно возбужденных поляритонах. Квантовая электроника т.26, с.89-93 (1999).

250. G.Kh.Kitaeva, K.A.Kuznetsov, A.A.Mikhailovsky, I.I.Naumova, A.N.Penin. Four-wave scattering by coherently excited polaritons. Proceedings of SPIE, v.3732,pp.65-71 (1999).

251. G.Kh.Kitaeva, K.A.Kuznetsov, A.A.Mikhailovsky, A.N.Penin. Cascaded coherent Raman scattering by phonon polaritons. Journal of Raman Specttoscopy, V.31, pp.767-773 (2000).

252. В.А. Бушуев, Д.Н.Клышко. Феноменологическое описание неупругого рассеяния электромагнитного излучения. ЖТФ, т.43, с.2255 2261 (1973).

253. Ю.Н.Поливанов, А.Т.Суходольский. Компенсация нерезонансного фона при когерентной антистоксовой спектроскопии комбинационного рассеяния света в кристаллах без центра симметрии. Письма в ЖЭТФ, т.4, С.164- 167 (1978).

254. M.DeMartini, M.Colocci, S.E.Kohn, Y.R.Shen. Nonlinear optical excitation of surface exciton polaritons in ZnO. Phys.Rev.Lett., v.38, pp.1223 1226 (1977).

255. V.Fano. Atomic theory of electromagnetic mteraction in dense materials. Phys.Rev., V.3, pp.1202 -1218 (1956).

256. А.Л.Александровский, Г.Х.Китаева, С.П.Кулик, А.Н.Пенин. Нелинейная дифракция при параметрическом рассеянии света. ЖЭТФ. т.90, вып.З, с. 1051-1055 (1986).

257. Г.Х.Китаева, С.П.Кулик, А.Н.Пенин. Параметрическое рассеяние в периодически неоднородных сегнетоэлектриках. Тезисы докладов III Всесоюзной конференции по спектроскопии комбинационного рассеяния света. Душанбе, с.322-323 (1986).

258. G.KJi.Kitaeva, S.P.Kulik, A.N.Penin. Raman scattering by polaritons in crystals with layer type superstractmAe Proc. of XlVth International Conf on Raman Spectroscopy, Hong Kong, pp.A237 - 238 (1994).

259. Г.Х.Китаева, A.A.Михайловский, А.Н.Пенин. Нелинейная дифракция при спонтанном трехволновом и когерентном четырехволновом рассеянии света на поляритонах. ЖЭТФ, т.112, с.2001-2015 (1997).

260. G.Kh.Kitaeva, K.A.Kuznetsov, A.A.Mikhailovsky, A.N.Penin. Shape of the polariton line under cascaded coherent four-wave scattering. XIX European CARS Workshop ECW 2000, Moscow, pp.11 (2000).

261. G.Kh.Kitaeva, A.A.Mikhailovsky, I.I.Naumova, P.S.Losevsky, A.N.Penin. Visible and infrared dispersion of the refractive indices in periodically poled and single domain Nd:Mg:LiNb03 crystals. Applied Physics B, v.66, pp.201-205 (1998).

262. I.I.Naumova. The growth of Y-, Dy-, Nd-, and Mg-doped lithium niobate single crystals with a regularomain structure. Crystallography Reports, v.39, pp.1119 1122(1994).

263. Г.Х.Китаева, С.П.Кулик, А.Н.Пенин, М.В.Чехова. Polariton spectroscopy: а method of investigating spectral and spatial properties of nonlinear optical materials. Proceedings of SPIE,v.l863, pp.192 203 (1993).

264. A.S.Barker, R.Loudon. Dielecfric properties and optical phonons in LiNbOs. Phys.Rev., V.158, pp. 433 445 (1967).

265. L.J.HU, Y.H.Chang, C.S.Chang, S.J.Yang, M.L.Hu, and W.S.Tse. Raman and NMR study in MgO-doped LiNbOs crystal. Modem Phys.Lett. B, v.5, pp.789 -797 (1991).

266. O.F.Schirmer, D.von der Linde. Two-photon- and x-ray-induced Nb"** and O" small polarons in LiNbOa. Appl.Phys.Lett.,v.33, pp.35 37 (1978).

267. O.F.Schirmer, O.Thiemann, and M.Wohlecke. Defects in LiNbOs -1.Experimental aspects. J.Phys.Chem. Solids, v.52, pp.185 200 (1991).

268. F.Jermaim, M.Simon, E.bCratzig. Photorefractive properties of congruent and stoichiometric lithium niobate at high light intensities. Joum. Opt. Soc. Amer. B, V. 12, pp.2066-2070 (1995).

269. A.Dhar, A.Mansingh. Optical properties of reduced lithium niobate single crystals. J.Appl.Phys., v.68, pp.5804 5809 (1990).

270. B.Faust, H.MuUer, O.F.Schirmer. Free small polarons in LiNbOs. Ferroelectrics, v.l53, pp.297 -302. (1994).

271. K.L.Sweeney, L.E.Halliburton, D.A.Bryan, R.R.Rice, R.Gerson, and H.E.Tomaschke. Point defects in Mg-doped lithium niobate. Joum. Appl. Phys., V.57, pp.1036 1044(1985).

272. И. Ш. Ахмаду л лин, В.А.Голенищев Кутузов, С.А.Мигачев Электронная структура глубоких центров в LiNbOs. ФТТ, т.40, 1109 - 1116 (1998).

273. G.Kh.Kitaeva, K.A.Kuznetsov, A.N.Penin, A.V.Shepelev. Influence of small polarons on optical properties of MgiLiNbOs crystals. Phys.Rev.B, v.65 (принято к публикации в 2002).

274. G.Kh.Kitaeva, A.A.Mikhailovsky, P.S.Losevsky, A.N.Penin. Four-wave light scattering by polaritons in LiNbOs. Optics Communications, v. 138, pp.242-248 (1997).

275. G.Kh.Kitaeva, A.A.Mikhailovsky, P.S.Losevsky, A.N.Penin. Four-wave hght scattering on phonon polaritons. Proc. of European Quantum Electronics Conf EQEC'96, Hamburg (Gemiany), p.73 (1996).

276. G.Kh.Kitaeva, A.A.Mikhailovsky, P.S.Losevsky, A.N.Penin. Four-wave mixing spectroscopy of phonon polaritons. Proc.of the 15th Int.Conf. on Raman Spectroscopy, Pittsburgh (USA), v.2, pp.13-14 (1996).

277. Г.Х.Китаева, А.А.Михайловский, А.Н.Пенин. Четырехволновое поляритонное рассеяние света в LiNbOs. ЖЭТФ т. 112, вып.8, рр.441-452 (1997).

278. G.Kh.Kitaeva, K.A.Kuznetsov, S.P.Solosin, A.N.Penin. The simuhaneous excitation of phonon polaritons and small polarons under cascaded coherent four-wave scattering in LiNbOsiMg. XX European CARS Workshop ECW 2001, Lund, p.36 (2001).

279. G.Kh.Kitaeva, K.A.Kuznetsov, S.P.Solosin, A.N.Penin. Four-wave scattering by phonon polaritons under excitation of small polaritons in LiNbOsMg. Proceedings of SPIE (принято к публикации в 2001).

280. Д.Н.Никогосян. Кристаллы для нелинейной оптики. Квантовая электроника, т.4, с.5 26 (1977).

281. J.T.Devreese. Polarons. Encyclopedia of Appl.Physics, v. 14, pp.383-409 (1996).

282. R.Muhlstroh and H.G.Reik. Optical аЬ80ф11оп by small polarons in p- and n-type lanthanum cobaltite. Phys.Rev., v.l62, pp.703 709 (1967).

283. Ю.А.Фирсов. О форме кривой поглопхения при взаимодействии света с поляронами малого радиуса. ФТТ, т. 10, с. 1950 1967 (1968).

284. D.M.Eagles. Optical absoфtion in ionic crystals involving small polarons. Phys.Rev., V.130, pp.1381 1400 (1963).

285. Г.Х.Китаева, С.П.Кулик, А.Н.Пенин. Поляритонное рассеяние света в полидоменных кристаллах. Тезисы IV Всесоюзной конференции по спектроскопии комбинационного рассеяния света. Ужгород, с.96 (1989).

286. А.Л.Александровский, И.Н.Леонтьева, И.И.Наумова. Слои роста в сегнетоэлектрике BaiNaNbsOis. Вестник МГУ, т.20, с.30 36 (1979).

287. А.Л.Александровский, Ю.А.Маскаев, И.И.Наумова. Эффект электрооптической дифракции света на ростовой доменной структзфе кристаллов барий натриевого ниобата. ФТТ, т.17, с.3192 - 3201 (1975).

288. И.И.Наумова, Н.Ф.Евланова, С.В.Лаврищев; С.А.Блохин, Т.О.Чаплина, Т.Г.Черневич, О.А.Шустин. Влияние грани {0112} на распределение примесей в кристаллах NdMg^NbOs, выращенных методом Чохральского. Материалы электронной техники, №1, с. 30 34 (1999).

289. N.F.Evlanova, I.I.Naumova, T.O.Chaplina, S.A.Blokhin, S.V.Lavrishev. Periodically poled YiLiNbOs single crystal: impurity distribution and domain wall location. Joum. Cryst. Grouth, v.223, pp.156 160 (2001).

290. Г.Х.Китаева, А.Н.Пенин, В.В.Фадеев, Ю.А.Янайт. Измерение яркости световых потоков с использованием вакуумных флуктуации в качестве репера. ДАН СССР, сер. физ.,т.247, с.586-590 (1979).

291. М.Ф.Власенко, Г.Х.Китаева, А.Н.Пенин. Измерение яркости излучения теплового источника с помощью параметрического преобразователя света. Квантовая электроника, т.7, с.441-445 (1980).

292. А.Н.Пенин, А.Ф.Умысков. Абсолютный метод измерения спектральной яркости на основе параметрического преобразования света. Тезисы XI Всес. конференции по когерентной и нелинейной оптике КиНО, Ереван, 4.1,0.116-117 (1982).

293. О.А.Аброскина, Г.Х.Китаева, А.Н.Пенин. Эффективная япкость нулевых флуктуации электромагнитного вакуума при параметрическом рассеянии света. ДАН СССР, сер. физ., т.280, с.584-586 (1985).

294. Г.Х.Китаева, А.Н.Пенин, А.В.Сергиенко. Квантовая оптика и новые методы абсолютной фотометрии. Тезисы 6 Всесоюзной научно-технической конференции "Фотометрия и ее метрологическое обеспечение", Ленинград (1986).

295. Г.Х.Китаева, А.Н.Пенин. Влияние оптических параметров кристалла на точность измерения яркости квантовым фотометром. Квантовая электроника, т.19, с.816 818 (1992).

296. G.Kh.Kitaeva, D.N.Klyshko, A.N.Penin. Parametric photometer: a device for standardless non-destructing measurement of radiation spectral brightness. Proceedings of SPIE, v.1869, pp.250 - 257 (1993).

297. Г.Х.Китаева, А.Н.Пенин. The accuracy and resolving power of standardless non-destructive measurement of radiation spectral brightness by parametric photometer. Proceedings of European quantum electronics conference, Amsterdam (1994).

298. A.N.Penin, G.Kh.Kitaeva, A.V.Sergienko. Nondestructive measurement of intensity of optical fields using spontaneous parametric down conversion. Laser Science, v. 11 of 1991 OSA Technical digest series 1991, pp.110 112 (1991).

299. Г.Х.Китаева, А.Н.Пенин. Разрешающая способность квантового фотометра. Квантовая электроника, т.21, с.793 797 (1994).

300. E.Dauler, A.Migdal, N.Boeuf, R.U.Datla, A.Muller, A.V.Sergienko. Measuring absolute infrared specfral radiance with correlated photons: new arrangements for improved uncertainty and extended IR range. Metrologia, v.35, pp.295 300 (1998).

301. A.Migdal, R.U.Datla, A.V.Sergienko, J.S.Orszak, Y.H.Shih. Measuring absolute infrared specfral radiance with correlated visible photons: technique304verification and measurement uncertainty. Appl.Optics, v.37, pp.3455 3463 (1998).

302. G.Brida, S.Castelletto, C.Novero, M.L.Rastello. Parametric amplification for radiance measurements. Metrologia, v.35, pp.247 250 (1998).

303. С.Э.Фриш. Оптические методы измерений. Ленинград: Изд-во ЛГУ им.А.А.Жданова. часть 1,126с., илл.

304. А.С.Сонин, А.С.Васильевская. Электрооптические кристаллы. М.:Атомиздат, 1971. 328 с, илл.

305. А.Ф.УМЫСКОВ. Дипломная работа. МГУ, 1982 33с.

306. М.Ф.Власенко, И.В.Митюшева, А.Н.Пенин. Спонтанное параметрическое рассеяние света в молибдате гадолиния. Вестник МГУ, сер.З, т.21, с.99 -101 (1980).

307. В.Эспе. Технология электровакуумных материалов. М.-Л.: Госэнергоиздат, 1962. т.1, 632 с, илл.

308. М.А.Брамсон. Справочные таблицы по инфракрасному излучению нагретых тел. М.:Наука, 1964 318с.,илл.

309. А.В.Шепелев. Об определении постоянной тонкой структуры с помощью абсолютного метода измерения яркости. Вестник МГУ, сер.З физика, астрономия, Т.25, с.З - 5 (1984).