Группировка фотонов при параметрическом рассеянии света и её метрологические применения тема автореферата и диссертации по физике, 01.04.03 ВАК РФ
Малыгин, Александр Александрович
АВТОР
|
||||
кандидата физико-математических наук
УЧЕНАЯ СТЕПЕНЬ
|
||||
Москва
МЕСТО ЗАЩИТЫ
|
||||
1984
ГОД ЗАЩИТЫ
|
|
01.04.03
КОД ВАК РФ
|
||
|
Введение . 4-II
Главе. I. ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ ЮТОПРИЕМНИКА И СТАНДАРТНЫЕ МЕТОДЫ ЕЕ ИЗМЕРЕНИЯ. ГРУППИРОВКА ФОТОНОВ ПРИ
ПАРАМЕТРИЧЕСКОМ РАССЕЯНИИ СВЕТА . 12
§ I. Чувствительность фотоцриемника и традиционные методы ее измерения. 13
§ 2. Спонтанное параметрическое рассеяние света 21
§ 3. Группировка фотонов при параметрическом рассеянии света . 35
Глава П. СПОНТАННОЕ ПАРАМЕТРИЧЕСКОЕ РАССЕЯНИЕ СВЕТА И ГРУППИРОВКА ФОТОНОВ ПРИ НАЛИЧИИ ОТРАЖЕНИЯ И
ПОГЛОЩЕНИЯ ВОЛН В НЕЛИНЕЙНОЙ СРВДЕ. 43
§ I. Матрица параметрического рассеяния нелинейного слоя при наличии отражения и поглощения волн 43-
§ 2. Интенсивность параметрического рассеяния в нели^^ном слое при наличии отражения и поглощения волн . 50
§ 3. Функция корреляции второго порядка параметрически рассеянного излучения при наличии поглощения и отражения волн . 57
§ 4. Поправки на отражение, поглощение волн и конечные размеры кристалла при исследовании эффекта группировки фотонов и абсолютной калибровке фотоприемников . 70
Глава Ш. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ЭФФЕКТА ГРУППИРОВКИ ФОТОНОВ ПРИ ПАРАМЕТРИЧЕСКОМ РАССЕЯНИИ СВЕТА . 79
§ I. Экспериментальная установка . 79
§ 2. Группировка фотонов при параметрическом рассеянии света (эксперимент) . 97
Глава 17. АБСОЛЮТНАЯ КАЛИБРОВКА ФОТОПРИЕМЕЖКОВ С
ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ПАРАГЛЕТРИЧЕСКИ РАССЕЯННОГО
СВЕТА . III-I
§ I. Использование двухфотонного света для абсолютной калибровки чувствительности фотоприемников III—
§ 2. Двухканальная схема калибровки детекторов излучения . II8-I
§ 3. Одноканальная схема калибровки фотоприемников 143-
§ 4. Спектральное и пространственное разрешение, точность нового метода абсолютной калибровки фотоприемников . 153
В диссертационной работе исследуется эффект группировки фотонов в процессе параметрического рассеяния света (ПР) в нецент-росимметричных кристаллах и основанный на нем метод абсолютной калибровки спектральной чувствительности фотоприемников, предложенный в [i, 2] (см.также [з]).
Параметрические процессы, одной из форм проявления которых является ПР, весьма разнообразны [4 ] . Эффекты параметрического вычитания и умножения частоты, параметрического усиления, генерации, исследовавшиеся первоначально в радио- и СШ диапазонах, после появления лазеров стали предметом многочисленных исследований в оптике, продолжающихся и в настоящее время. С перестраиваемыми параметрическими генераторами света, усилителями, преобразователями световых сигналов (см.например, [5] ) связаны многочисленные и разнообразные практические применения. Прикладное применение было найдено и шумам параметрического усилителя, играющим обычно роль фактора, ограничивающего его предельную чувствительность: на основе сравнения этих шумов с сигналом параметрического преобразователя разработал метод абсолютного измерения спектральной энергетической яркости излучения [б] . Уникальные статистические свойства параметрически рассеянного света позволяют с принципиально новых позиций подойти к решению ряда задач фотометрии [7, 8] .
Параметрическое рассеяние света (спонтанная параметрическая лшинисценция) [9, ю] представляет собой пример параметрического процесса, при котором происходит распад фотонов накачки ( СЗо - частота излучения накачки, к0 - волновой вектор) на пару фотонов с частотами СО± и CJ^ , волновыми векторами и причем
О0 = сOi + cj2 , ki A la) (16)
A- - волновая расстройка синхронизма. Указанные условия отражают точное выполнение закона сохранения энергии (1а) и приближенное (с точностью ~ 1л| ) импульса (16) фотонов, участвующих в элементарном акте рассеяния. ПР имеет место в средах с отличной от нуля квадратичной поляризуемостью, причем выполнение условий (1а, 16) приводит к жесткой связи между оптическими характеристиками рассеивающей среды и частотно-угловым распределением интенсивности рассеяния. Такая связь позволяет использовать параметрическое рассеяние в качестве весьма информативного метода исследования свойств нецентросимметричных материалов jII) .
Излучение, появляющееся при ПР, обладает и еще одним свойством, не привлекавшем до последнего времени должного внимания физиков-экспериментаторов: сам характер его протекания приводит к корреляции энергий в сопряженных условиями (1а, 16) модах поля. Появление фотона в одной моде означает и появление фотона в сопряженной, то есть фотоны при параметрическом рассеянии появляются только парами. Будем называть такие пары фотонов - бифото-нами. Двухфотонный характер излучения, предсказанный теорией [12, 13, 14 J означает принципиальное отличие нормированной корреляционной функции 2-ого порядка сигнальной и холостой волн в случае ПР от соответствующих функций в случае обычных тепловых (гауссовских) или лазерных (когерентных) источников света [l5, 16 ]; при выполнении условий (I) эта функция испытывает стремительный рост, означающий сильную группировку ("сверхгрушшровку") фотонов.
Кроме эвристической ценности, изучение такой группировки имеет и важное прикладное значение. Основанный на ней метод абсолютного безэталонного измерения квантовой эффективности фотоприемников был предложен сравнительно недавно Д.Н.Клышко [i, 2] . Двухканалышй метод основан на сравнении чисел отсчетов двух фотодетекторов, работающих в режиме счета отдельных квантов света, и числа одновременных отсчетов их за тот же период в процессе регистрации излучения ПР. Назовем условно фотоны с частотой > - сигнальными, а с частотой ~ холостыми. Отношение числа одновременных отсчетов обоих детекторов к числу отсчетов приемника сигнального излучения за тот же период оказывается равным квантовому выходу холостого детектора на частоте СО^ в единицах Если же в качестве опорного использовать холостой канал, можно аналогичным образом получить значение квантовой эффективности ^ сигнального приемника на частоте (рис.1). При этом регистрируемые сигнальные и холостые фотоны должны быть сопряженными в смысле условий пространственного и временного синхронизма (1а), (16). Квантовый выход детектора может быть определен и путем анализа его амплитудного распределения импульсов (рис.2) при освещении фотокатода двухфо-тонным излучением ПР (одноканальная схема - см.например, [17] ). Возможность абсолютной калибровки в указанных методах существует вследствие парной группировки фотонов. Отметим, что в двухка-нальной схеме абсолютная калибровка вспомогательного детектора не производится.
Метод может быть применен как в видимой, так и в УФ и Ж диапазонах спектра. В видимой и ближней ИК областях спектра разработка нового метода может дополнить существующие возможности фотометрии [ 18-24] . Используемые модели абсолютно черного тела м л as Ni ; fc сл i
MMN
2згс Nai V uz 2 liN = Jik. Ma*
I'
21
Mc
- Mi-^Ni.^M
Mc-^i N
- Mjf lA=l*N
Рис.I. Принцип абсолютной калибровки фотоприемников с использованием излучения, состоящего из N пар фотонов с частотами COi = 25ГСЛ1 и Uz = ( двухканальная схема): 1,2 - калибруемые детекторы, работающие в режиме счета отдельных квантов; I1 , 21 - счетчики импульсов детекторов; 3 - счетчик импульсов совпадений отсчетов детекторов 1,2«
Ni; cjj=2a°
Ni-Ki-N; W
Z4H
Mw=o2N;
4l(i
-i . 1 м<А ию) у
Рио. О
Принцип абсолютной калибровки фотоприемника в т. 2*Х при помощи излучения,состоящего из N пар фотонов с одинаковыми частотами O^ss^Vfc (одноканальная схема): I - калибруемый детектор, 2 - линейный усилитель, 3 - многоканальный амплитудный анализатор импульсов ( или счетчик числа импульсов)
АЧТ) обладают некоторыми недостатками, особо сильно сказывающимися при калибровке пороговых по чувствительности фотоприемников, работающих в режиме счета квантов излучения. Дополнительные трудности возникают при переходе от интегральных величин чувствительности к спектральным. Метод калибровки, использующий двухфо-тонное излучение ПР, свободен от этих недостатков.
В настоящей работе проведено исследование некоторых общих вопросов, связанных с параметрическим рассеянием света, и экспериментально исследовал эффект группировки фотонов при ПР в целях развития теоретической и практической основ нового метода энергетической фотометрии. Целью работы являлось:
1) исследование влияния поглощения и отражения взаимодействующих в кристалле волн, геометрии преобразователя на значения коррелжщонных функций первого и второго порядков ПР,
2) вычисление поправочных коэффициентов для методов калибровки фотоприемников с использованием ДФС, учитывающих поглощение, отражение волн и величину спектрально-угловых полос пропускания калибруемых детекторов,
3) экспериментальное доказательство двухфотонного характера излучения ПР,
4) разработка новых методов энергетической фотометрии и определение абсолютной чувствительности некоторых типичных счетчиков квантов (фотоэлектронных умножителей) отечественного и зарубежного производства.
Диссертация состоит из четырех глав и заключения.
В первой главе с использованием основополагающих работ [з, 9, 10, 12-14, 25-35] рассмотрены некоторые вопросы теории спонтанного параметрического рассеяния: частотно-угловой спектр СПР, его интенсивность, нелинейный аналог закона Кирхгофа для
СЕР, группировка фотонов при параметрическом рассеянии света. На основании работ [18-24, 36-44] описаны основные фотометрические параметры, характеризующие, с одной стороны, падающее на фотокатод излучение, с другой - регистрирующий фотодетектор, рассмотрены некоторые стандартные методы калибровки фотоприемников.
Во второй главе теоретически исследуется спонтанное параметрическое рассеяние при наличии отражения от граней кристалла и слабого поглощения всех взаимодействующих волн, в том числе и накачки. Расчет матрицы рассеяния нелинейного плоскопараллельного слоя позволяет определить изменение частотно-углового спектра рассеянных волн и функции корреляции 2-ого порядка сигнальной и холостой волн в зависимости от оптических параметров среды. Вычисляются поправочные параметры, позволяющие учесть изменение указанных функций в среднем по частотной и угловой полосам синхронизма СИР. Вычисляются также значения найденных поправочных множителей в случае кристалла с ограниченными поперечными размерами.
Третья глава посвящена экспериментальному исследованию эффекта группировки фотонов при параметрическом рассеянии света. Описывается схема разработанного интерферометра интенсивноетей параметрического рассеяния, его оптическая и электрическая части. Приводятся результаты экспериментов по обнаружению и исследованию двухфотонного характера ПР, определяется эффективность группировки фотонов в пары.
В четвертой главе исследуется возможность измерения абсолютного квантового выхода фотоприемников с использованием параметрического интерферометра интенсивноетей. С помощью двухфотонного света, образовавшегося в процессе ПР, производится калибровка по одно- и двухканальной схемам чувствительности ряда фотоэлектронных умножителей и сравнение ее результатов с результатами стандартных методов измерения квантовой эффективности. Обсуждаются достигнутые в работе и принципиально достижимые значения точности и разрешения нового метода.
В заключении приводится краткая сводка полученных результатов.
В приложение вынесены конкретные значения, полученные для элементов матриц параметрического взаимодействия и рассеяния нелинейного плоскопараллельного слоя.
Основные результаты докладывались на X и XI конференциях по когерентной и нелинейной оптике и на УН Вавиловской конференции по нелинейной оптике и изложены в работах [7,8,45,80-85] .
Пользуясь случаем,выражаю глубокую благодарность моему научному руководителю профессору Д.Н.Клышко и старшему научному сотруднику А.Н.Пенину за постоянное внимание,интерес и повседневную помощь в работе. Выражаю также благодарность Г.Х.Китаевой и А.В.Сер-гиенко за помощь в работе.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Выполненные в работе теоретические и экспериментальные исследования доказывают существование парной группировки фотонов в параметрически рассеянном свете и показывают возможность и перспективность нового нелинейно-оптического метода абсолютной калибровки фотоприемников. Основанный исключительно на двухфотонном характере излучения, метод является, таким образом, безэталонным. Влияние оптических параметров нелинейного кристалла учитывается введением поправочного параметра, рассчитываемого через коэффициенты отражения и поглощения взаимодействующих волн. Описываются схемы одно- и двухканального интерферометров интенсивно-стей параметрического рассеяния, определяются степень группировки фотонов в пары в рассеянном свете, абсолютная чувствительность ряда типов ФЭУ в диапазоне длин волн 550 - 1000 нм, оцениваются достигнутые и предельно возможные значения точности и спектрально- пространственного разрешения нового метода.
1. Клышко Д.Н. Об использовании вакуумных флуктуаций в качестве репера яркости света. - Квантовая электроника, 1977, т.4, J& 5, с.1056-1062.
2. Клышко Д.Н. Об использовании деухфотонного света для абсолютной калибровки фотоэлектрических детекторов. Квантовая электроника, 1980, т.7, № 9, с.1932-1940.
3. Клышко Д.Н. Фотоны и нелинейная оптика. М.: Наука, 1980 -256 с., ил.
4. Ярив А. Квантовая электроника и нелинейная оптика. Пер. с анлг., М.: Советское радио, 1980 - 488 е., ил.
5. Ахманов С.А., Хохлов Р.В. Параметрические усилители и генераторы света. УФН, 1966, т.88, в.З, с.439-460.
6. Китаева Г.Х., Пенин А.Н., Фадеев В.В., Янайт Ю.А. Измерение яркости световых потоков с использованием вакуумных флуктуации в качестве репера. ДАН СССР, 1979, т.247, с.586-588.
7. Клышко Д.Н., Лебедев Н.М., Малыгин А.А., Пенин А.Н. Новый нелинейно-оптический метод абсолютной калибровки фотоприемников. Сборник тезисов докладов X Всесоюзной конференции по нелинейной и когерентной оптике, Киев, 1980, ч.И,с.193-194.
8. Клышко Д.Н., Малыгин А.А., Пенин А.Н. Метод абсолютной калибровки чувствительности фотоприемников. Труды УП Вави-ловской конференции по нелинейной оптике, июнь 1981, - Новосибирск, Изд. СО АН СССР, ч.1, с.206-209.
9. Клышко Д.Н. Когерентный распад фотонов в нелинейной среде. -Письма в ЖЭТФ, 1967, т.6, B.I, с.490-492.
10. Клышко Д.Н. Рассеяние света в среде с нелинейной поляризуемостью. ЖЭТФ, 1968, т.55, в.З, с.1006-1013.
11. Пенин А.Н. Спектроскопия параметрического рассеяния света. -Дис. д.ф-м.н. Москва, 1982 - 278 с.
12. Зельдович Б.Я., Клышко Д.Н. Статистика поля при параметрической люминисценции. Письма в ЖЭТФ, 1969, т.9, с.69.
13. Mollow B.R. Photon Correlation in the Parametric Frequency Splitting of light.- Phys.Rev. A, 1973,v.8,Uo5,p.2684-2694.
14. Mollow B.R.,Glouber R.I. Quantum Theory of Parametric Amplification. -Phys.Rev. ,1967,v.160,p.1076.
15. Р.Лоудон. Квантовая теория света. М.: Мир, 1976. - 488 е., ил.
16. Сборник статей "Спектроскопия оптического смешения и корреляция фотонов", пер. с англ. М.: Мир, 1978 - 583 е., ил.
17. Клышко Д.Н. Поперечная группировка фотонов и двухквантовые процессы в поле параметрического рассеяния света. ЖЭТФ, 1982, т.83, в.4, с.I313-1323.
18. Ландсберг Г.С. Оптика. М.: Наука, 1976. - 928 е., ил.
19. Ишанин Г.Г., Панков Э.Д., Родяйкин B.C. Источники и приемники излучения. М.: Машиностроение, 1982. - 222 е., ил.
20. Кощок А.Ф., Красинская В.М., Панасюк B.C., Самойлов Л.Н., Сагнов В.И., Степанов Б.М., Фромберг Л.Б. Метрологическое обеспечение энергетической фотометрии. М.: Атомиздат, 1979. - 138 с., ил.
21. Копгак А.Ф., Кузнецов В.И., Нестеренко В.М., Николаев Ю.Н., Самойлов Л.Н., Степанов Б.М. О возможности воспроизведения и передачи размера единицы лучистого потока ватта - с помощью светодиодов. - Метрология, 1976, Jfc I, с.7-14.
22. Фрид С.Э. Оптические методы измерений. Ленинград, ЛГУ -ч.1, 126 с., ил.
23. Касаткина О.И., Абсолютные прецизионные источники излучения на основе черного тела. Обнинск, Информационный центр, 1979. - 73 с.
24. Bedford R.E. Blackbodies as Absolute Radiation Standarts.-Adv.Geophys.,v.14,- New york-London,1970 p. 165-202.
25. Зельдович Б.Я. Теория спонтанного параметрического рассеяния света. ЖЭТФ, 1970, т.58, в.4, с.1348-1358.
26. Giallorenzi Т.G.,Tang C.L. Quantum Theory of Sponteneouse Parametric Scattering of Intense light.,- Phys.Bev.,1968, v.166, No2, p.225-233.
27. Kleinman D.A. Theory of Optical Parametric Noise,- Phys.fiev., 1968, v.174, No3, p.1027-1041.
28. Обуховский В.В., Стрижевский В.Л. Параметрическая люминисцен-ция в кристаллах с возбуждением поляритонов. ЖЭТФ, 1969,т.57, в.2, с.520-528.
29. Harris S.E. Tunable Parametric Oscillation.- Proc. IEEE, 1969, v. 57, No 12, p.2096-2113.
30. Клышко Д.Н., Назарова H.H. Рассеяние света на свете в нецен-тросимметричной среде. ЖЭТФ, 1970, т.58, № 3, с.878-886.
31. Клышко Д.Н. Многофотонные процессы в оптическом и радиодиапазоне. Дис. докт.физ-мат.наук. - Москва, 1972. - 264 с.
32. Byer R.L., Harris S.E. Power and Bandwidth of Spontaneous Parametric Emission.-Phys.Rev., 1968,v.168, No 3, p.1064-1069.
33. Стрижевский В.Л., Обуховский В.В. Теория нелинейного рассеяния света в кристаллах. ЖЭТФ, 1970, т.58, в.З, с.929-936.
34. Клышко Д.Н., Криндач Д.П. Параметрическая люминисценция ,необата лития. Оптика и спектроскопия, 1969, т.26, J6 6, с.981-985.
35. Поливанов Ю.Н. Исследование спонтанного параметрического излучения и комбинационного рассеяния света в кристалле. -Дис. к.ф-м.н. Москва, 1973, 137 с.
36. Соболева Н.А., Меламид А.Е. Фотоэлектронные приборы. М.: Высшая школа, 1974.
37. Анисимова И.И., Глуховский Б.М. Фотоэлектронные умножители. М.: Сов.радио, 1974.
38. Аут И., Генцов К. Фотоэлектрические приемники. Пер. с нем., М.: Мир, 1980, 208 с.
39. Лебедева В.В. Техника оптической спектроскопии. М.: Изд. МГУ, 1977. - 193 с., ил.
40. Малышев В.И. Введение в экспериментальную спектроскопию. -М.: Наука, 1979. 480 е., ил.
41. Зайдель А.Н., Островская Г.В., Островский 10.И. Техника и практика спектроскопии. М.: Наука, 1972. - 376 е., ил.
42. Зайдель А.Н., Шрейер Е.Я. Вакуумная спектроскопия и ее применения. М.: Наука, 1976. - 432 е., ил.
43. Жигарев А.А., Шамаева Г.Г. Электронно-лучевые и фотоэлектронные приборы. М.: Высшая школа, 1982. - 463 е., ил.
44. Петров А.С. Основы приема оптических сигналов. Томск, Изд. ТГУ, 1982. - 143 с., ил.
45. Малыгин А.А., Пенин А.Н., Сергиенко А.В. Абсолютная-калибровка чувствительности фотоприемников с использованием бифотон-ного поля. Письма в КЭТФ, 1981, Т.33, в.10, с.493-496.
46. Клышко Д.Н. Когерентный распад фотонов в нелинейной среде. -Доклад на Всесоюзном совещании по оптическим свойствам вещества. 1966, Институт физики твердого тела, Черноголовка.
47. Ахманов С.А., Фадеев В.В., Хохлов Р.В., Чунаев О.Н. Квантовые шумы в параметрических усилителях света. Письма в ЖЭТФ, 1967, т.6, № 20, с.905-907.
48. Harris S.E.,Oshman М.К.,Byer R.L. Observation of Tunable Parametric Fluorescense.-Phys.Rev.Lett.,1967iv.18,Uo18,p.732-734.
49. Magde D.,Mahr H. Study in Ammonium Dihidrogen Phosphat of Spontaneous Parametric Interaction Tunable.-Phys.Rev.Lett.,1967, v.18,No20,p.905-907.
50. Louisell W.H.,Yariv A.,Siegman A.E. Quantum Fluctuation and Hoise in Parametric Processes.- Phys.Rev.,1961,v.124,p.1646.
51. Gordon S.P.,Louisell W.H.,Walcer L.R. Quantum Fluctuation and Noise in Parametric Processes.II.-Phys.Rev.,1963,v.129,p.481-485.
52. Ахманов С.А., Хохлов P.В. Проблемы нелинейной оптики. М.: ВИНИТИ, 1964. - 296 е., ил.
53. Бломберген Н. Нелинейная оптика. перевод с англ. - М.: Мир, 1966. - 424 с., ил.
54. Ильинский Ю.А., Клышко Д.Н., Петникова В.М. Статистика фотонов при параметрическом взаимодействии трех волн. Квантовая электроника, 1975, т.2, №11, с.2467-2474.
55. Стркжевский В.Л., Яшкир Ю.Н. Поляритонный резонанс Ферми как сверхчувствительный метод регистрации слабополярных колебаний. Оптика и спектроскопия, 1978, т.44, в.2, с.601-603.
56. Клышко Д.Н. О некоторых особенностях теплового излучения. -ДАН СССР, 1979, т.244, § 3, с.563-566.
57. Китаева Г.Х., Клышко Д.Н., Таубин И.В. К теории параметрического рассеяния и метода абсолютного измерения яркости света. Квантовая электроника, 1982, т.9, № 3, с.560-568.
58. Агранович В.М., Лалов И.Й. Бифононы, ферми-резонанс и поляритон-ные эффекты в теории комбинационного рассеяния света в кристаллах.- ЖЭТФ, 1971, т.61, в.2(8), с.656-666.
59. Клышко Д.Н., Пенин А.Н., Полковников Б.Ф. Параметрическая люминисценция и рассеяние света на поляритонах. Письма в ЖЭТФ, 1970, Т.II, с.II-14.
60. Montgomery G.Р.,Giallorenzi T.G. Experimental and Theoretical Study of Parametric and Polariton Scattering in LilO^ and LiKbOy- Phys. Rev.B. , 1973, v. 8,No",p. 808-822.
61. Клышко Д.Н., Пенин А.Н., Полковников Б.Ф. Измерение показателя преломления в кристаллах adp и kdp в инфракрасной области с помощью параметрического рассеяния света. Квантовая электроника, 1971, № 5, с.122-125.
62. Клышко Д.Н., Куцов Б.Ф., Пенин А.Н., Полковников Б.Ф. Рассеяние света на поляритонах в двуосном кристалле (НЮ^ ). ЖЭТФ, 1972, т.62, В 5, C.II60-II68.
63. Георгиев Г.М. Спонтанное параметрическое рассеяние в нецен-тросимметричных средах. Дис. к.ф-м.н. - Москва, 1975, 168 с.
64. Михайловский А.Г. Многочастичные состояния в спектрах спонтанного параметрического рассеяния света. Дис. к.ф-м.н.- Москва, 1976, 125 с.
65. Поливанов Ю.Н. Комбинационное рассеяние света на поляритонах.- УФН, 1978, Т.126, В.2, 185-232.
66. Кузнецова Л.И., Кулевский Л.А., Поливанов Ю.Н., Прохоров К.А. Рассеяние на поляритонах в Liio^ . Квантовая электроника, 1975, Т.2, с.2095-2098.
67. Otasuro V/., Wiener- Anvear Е,,Arguello С. A*, Porto S.P. Phonon, Polariton and Oblique Phonons in LilO^ by Raman Scattering and Infrared Reflection.-Phys.Rev.B,1971,v.4,No12,p.4542-4551.
68. Акципетров О.А., Георгиев Г.М., Лаптинская Т.В., Михайловский А.Г., Пенин А.Н. Дисперсия нелинейной восприимчивости кристалла йодата лития. Квантовая электроника, 1976, т.З, в.4, с.926-928.
69. Budin J.B.,Godarg B.,Ducuing J., Nonlinear Interaction in Parametric luminescence.-IEEE Quantum El., 1968,v.QE-4,1. No 11,p.831-837.
70. Поливанов 10.H., Суходольский А.Т. Наблюдение интерференции прямых и каскадных процессов при активной спектроскопии по-ляритонов. Письма в НЭТФ, 1977, т.25, в.5, с.240-244.
71. Ажршетров О.А. Исследование пъезоэлектриков методом спонтанного параметрического рассеяния света и рассеяния света на поляритонах. Дис. к.ф-м.н. - Москва, 1978, 167 с.
72. Полковников Б.Ф. Параметрическое и поляритонное рассеяние света в анизотропных кристаллах. Дис. к.ф-м.н. - Москва, 1974, 122 с.
73. Campillo A.J., Tang С.Ъ. Spontaneous Parametric Scattering of light in LilOy-Appl.Phys.Lett.,1970,v.16,No6,p.242-244.
74. Китаева Г.Х. Параметрическое преобразование частоты как метод абсолютного излучения спектральной яркости излучения. -Дис. к.ф-м.н. Москва, 1982, 167 с.
75. Власенко М.Ф., Китаева Г.Х., Пенин А.Н. Измерение яркости излучения теплового источника с помощью параметрического преобразователя света. Квантовая электроника, 1980, Т.7, № 2, с.441-444.
76. Кузнецова Л.И., Кулевский Л.А., Поливанов Ю.И., Прохоров К.А. Рассеяние света на поляритонах в кристалле формата лития. -Квантовая электроника, 1975, т.2, в.9, с.2095-2098.
77. Акципетров О.А., Китаева Г.Х., Израиленко А.Н., Пенин А.Н., -Рашкович Л.Н. Спонтанное параметрическое рассеяние света в кристаллах формата лития и дейтерированного формиата лития. ФТТ, 1977, т.19, в.1, с.127-133.
78. Акципетров О.А., Георгиев Г.М., Митюшева И.В., Михайловский А.Г., Пенин А.Н. Спонтанное параметрическое рассеяние света в тан-талате лития. ФТТ, 1975, т.17, в.7, с.I508-1509.
79. Penna A.,Porto S.P. ,Ninham B.W.Anomalous Polariton Dispersion in LiTaO^ near TQ .-Solid State Comm.,1977,v.23,Ho6,p.377--381.
80. Малыгин А.А., Сергиенко А.В. К теории абсолютной калибровки с использованием эффекта параметрического рассеяния света.- МГУ, М., 1984, 21 е., депонировано в ВИНИТИ, Ife 5294-84 от 23.07.84.
81. Малыгин А.А., Пенин А.Н., Сергиенко А.В. Эффективный генератор бифотонного поля видимого диапазона. Квантовая электроника, 1981, т.8, В 7, с.I563-1565.
82. Клышко Д.Н.,Малыгин А.А.,Пенин А.Н. Двухквантовые процессы в поле параметрического рассеяния света.- Сб.тезисов докладов XI Всесоюзной конференции по когерентной и нелинейной оптике, Ереван, 1982, 4.2, с.605-606.
83. Малыгин А.А.,Пенин А.Н.,Сергиенко А.В. Пространственно-временная группировка фотонов при параметрическом рассеянии света.-ДАН СССР, 1984, 5с., принято в печать.
84. Bumham D.С.,Weinberg D.L. Observation of Simultaneity in Parametric Production of Optical Photon Pairs.-Phys.Rev.Letts., 1970,v.25,Жо2,p.84-87.
85. Справочник по лазерам. перевод с англ. в 2-х томах. - М.: Сов.радио, 1978. - т.1, 504 е., ил., т.2, 400 е., ил.
86. Пахомов И.И., Рожков О.В., Родцествин В.Н. Оптико-электронные квантовые приборы. М.: Радио и связь, 1982, 456 е., ил.
87. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1970, - пер. с англ. - 856 е., ил., гл.7.
88. Берковский А.Г., Гаванин В.А., Зайдель И.Н. Вакуумные фотоэлектронные приборы. М.: Энергия, 1976. - 344 е., ил.
89. Ветохин С.С., Гулаков И.Р., Перцев А.Н., Резников И.В. Одно-электронные фотоприемники. М.: Атомиздат, 1979 - 192 е., ил.
90. Цернике Ф., Миндвинтер Да. Прикладная нелинейная оптика. -М.: Мир, 1976. 261 е., ил.
91. Pershan P.S. Nonlinear Optical Properties of Solids;Energy Consideration.- Phys.Rev.,130,919,1963.
92. Виноградова М.Б., Руденко O.B., Сухоруков А.В. Теория волн. М.: Наука, 1979, 384 е., ил.
93. Перина Я. Когерентность света. М.: Мир, 1974, пер. с англ., 376 с.
94. Клаудер Дж., Судершан Э. Основы квантовой оптики. пер. с англ. под ред. С.А.Ахманова - М.: Мир, 1970.
95. Глаубер Р. в сб.: Квантовая оптика и квантовая радиофизика. - пер. с англ. и франц. - М.: Мир, 1966, с.91.
96. Лыоиселл У. Излучение и шумы в квантовой электронике: Пер. с англ. М.: Наука, 1972.
97. Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Электродинамика сплошных сред. -М.: Наука, 1982, 620 с.
98. Weinberg D.L.Qbservation of Optical Parametric Hoise Pamped by a Mercury Lamp.- J.Appl.Ehys.,1970,v.41,p.4239.
99. Goldsborough J.P. Stable,long life,cw excitation of helium-cadmium lasers by dc cataphoresis.- Appl.Phys.Lett.,1969,v. 15, No6,p.159-161.
100. Карабут Э.К., Михайловский B.C., Палакин В.Ф., Сэм М.Ф. •Непрерывная генерация когерентного излучения при разряде впарах 2п и Cd , полученных катодным распылением. ЖТФ, 1969, т.39, № 10, с.1923-1924.
101. Collins G.J, Excitation mechanism in He-Cd and He-Zn ion lasers.- J.Appl.Phys.,1973,v.44,No10,p.4633-4652.j04 Goldsborough J.P. Continuous laser oscillation at 3250 8. in cadmium ion.-IEEE J. of QE,1969,v.QE-5,No2,p.133.
102. Нелинейная спектроскопия. Сб-к работ под редакцией Н.Бломбер-гена.- Пер.с англ. под ред. С.А.Ахманова. -М.,Мир, 1979,586 е., ил.
103. Никогосян Д.Н. Кристаллы для нелинейной оптики.-Квантовая электроника, 1977, т.4, №1, с.5-26
104. Nash F.R., Bergman J.G., Boyd G.D., Turner E.H. Optical nonlinearities in LilO^.- J.Appl.Phys.,1969,v.40, No 13, p., 5201 -5206.
105. Hat Дне. Физические свойства кристаллов. Пер. с англ. М.: Мир, I960.
106. Агранович В.М. .Гинзбург В.Л. Кристаллооптика с учетом прос-тран<Звенной дисперсии и теория экситонов.- Изд. 2-е, перераб. и доп.-М.:Наука, Гл.редакция ф.-м. лит., 1979, 432 е., ил.
107. НО. Мелешко Е.А. Наносекундная ядерная электроника. М.: Атом-издат, 1978.
108. Дмитриева Н.Н., Ковтюх А.С., Кривицкий Б.Х. Ядерная электроника. М.; Изд. МГУ, 1972, 238 с.
109. Гольденберг Л.М. Импульсные устройства. М.: Радио и связь, 1981, - 224 е., ил.
110. Рохин Е.И., Чернов П.С., Басиладзе С.Г. Метод совпадений. -М.: Атомиздат, 1979, 240 с.
111. Мелешко Е.А., Мишин А.А. Измерительные генераторы в ядерной электронике. М.: Атомиздат, 1981, с.256.
112. Хоровиц П., Хилл У. Искусство схемотехники. М.: Мир, 1983. - Пер. с англ., в 2-х томах, T.I.
113. Титус У., Шенк К. Полупроводниковая схемотехника. М.: Мир. - Пер. с нем. - 1982, 512 е., ил.
114. Ахманов С.А., Дьяков Ю.Е., Чиркин А.С. Введение в статистическую радиофизику и оптику. М.: Наука, 1981 - 640 с.
115. Ахманов С.А., Чиркин А.С. Статистические явления в нелинейной оптике. М.: Изд. МГУ, 1971.
116. Раппопорт Л.П., Зон Б.А., Манаков Н.Л. Теория многофотонных процессов в атомах. М.: Атомиздат, 1978, с.
117. Lipeles М., Novick R., Tolk N.-Direct detection of two-photon emission from the metastable state of singly ionized helium.- Phys.Rev.Lett.,1965,v. 15, p.690.
118. Соколов И.В. 0 двухфотонном поглощении света, излученного в двухфотонном процессе,- ЖЭТФ, 1977, т.72, №5, с.1688-1692.
119. Kaul R.D.- Observation of Optical photons in Cascade.-J.Opt.Soc.Amer.,1966,v. 56,p. 1262.
120. Гринберг А.А., Рывнин C.M., Фишман И.М., Ярошецкий И.Д. Экспериментальное обнаружение рассеяния света на свете в твердом теле с изменением частоты. Письма в ЖЭТФ, 1968, т.7, в.9, с.324-327.
121. Мелешко Е.А., Морозов А.Г. Быстрый усилитель с высокой загрузочной способностью.- Приборы и техника эксперимента", 1976, №2, C.I4I-I43.
122. Брандт 3. Статистические методы анализа наблюдений. М.: Мир, пер. с англ., 1975, с.310, ил.
123. Рабинович С.Г. Погрешность измерений. Ленинград, Энергия, 1978, с.260.
124. Геда Н.Ф. Измерение параметров приборов оптоэлектроники. -М.: Радио и связь, 1981, 368 е., ил.
125. Lemke D., Labs D.- The Synchrotron Radiation of the 6-GeV DESY Machine as a Fundamental Radiometric Standard.- Appl. Opt.6,1967, p.1043.
126. Ederer D.L., Madden R.M.- Use of Synchrotron Radiation as a Known Source for Spectrometer Calibrations.- J .Opt. Soc. Amer., 64,1974, p.545.
127. Самойлов Л.Н., Саприцкий В.И., Степанов Б.М., Эпштейн М.И. Эталонная база радиометрии и перспективы ее развития. В сб.тезисов докладов Ш Всесоюзной конференции "Фотометрия и ее метрологическое обеспечение. - М., изд. ВНИИОФИ, 1979. -с.3-4.
128. Барашков М.С., Матвеев Й.Н., Пшеничников С.М., Умнов А.Ф. Экспериментальное■исследование статистических характеристик спонтанного шума параметрических преобразователей частоты.
129. Сб.тезисов докладов X Всесоюзной, конференции по нелинейной и когерентной оптике, Киев, 1980, 4.2, с.197-198.