Исследование электрических флуктуаций в микроконтактах нормальных металлов тема автореферата и диссертации по физике, 01.04.07 ВАК РФ

Введение

1. МИКРОКОНТАКТНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ МЕТАЛЛОВ. НИЗКОЧАСТОТНЫЕ ФЛУКТУАЦИИ В ТВЕРДЫХ ТЕЛАХ (Литературный обзор).

1.1. Исследование электрон-фононного взаимодействия в металлах методом микроконтактнои спектроскопии

1.2. Флуктуационные явления в контактных системах

2. МЕТОДИКА И ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА.

2.1. Методика получения микроконтактов

2.1 Л. Способы создания контактов.

2.1.2. Термостабильная конструкция контакта

2.1.3. Применение контактов с использованием усилия сдвига

2.2. Методика измерений.

2.2.1. Измерение нелинейностей вольт-амперных характеристик микроконтактов

2.2.2. Измерение температурных зависимостей сопротивления микроконтактов

2.2.3. Измерение шумовых' характеристик микроконтактов

2.3. Краткие выводы.

3. ТЕМПЕРАТУРНЫЕ ЗАВИСИМОСТИ СОПРОТИВЛЕНИЯ МИКРОКОНТАКТОВ МЕЖДУ НОРМАЛЬНЫМИ МЕТАЛЛАМИ. ЗАВИСИМОСТЬ МК СПЕКТРОВ ОТ ПАРАМЕТРОВ КОНТАКТА.

3.1. Постановка задачи. Теория.

3.2. Экспериментальные результаты и их обсуждение.

3.2.1. Зависимость сопротивления микроконтактов Си-Сиот температуры в диапазоне 1,5

100 К

3.2.2. Зависимость абсолютной интенсивности МК спектров и относительной интенсивности продольных и поперечных фононных пиков от отношения размеров контакта к упругой длине свободного пробега электронов.

3.2.3. Зависимость интенсивности фона от характеристик микроконтакта

3.2.4. Нулевые аномалии

3.3. Краткие выводы.

4. ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ФЛУКТУАЦИИ В МИКРОКОНТАКТАХ НОРМАЛЬНЫХ МЕТАЛЛОВ. ШУМОВАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ЭФВ

4.1. Постановка задачи

4.2. Классификация шумовых спектров металлов . IOO

4.3. Электрические флуктуации микроконтактов в тепловом режиме.

4.4. Электрические флуктуации микроконтактов в баллистическом режиме.

4.4.1. Особенности шумовых спектров на кратных фононных энергиях

4.4.2. Тонкая структура шумовых спектров в области характерных фононных энергий для микроконтактов из натрия

4.4.3. Исследование особенностей шумовых спектров в области характерных фононных энергий для микроконтактов из меди и олова

4.4.4. Исследование шумовых спектров в области малых напряжений.

4.5.Исследование анизотропии шумовых и микроконтактных спектров меди.

4.6.Краткие выводы

В современной физике твердого тела большое значение имеют исследования спектров квазичастичных возбуждений нормальных и сверхпроводящих металлов. Большое развитие получило изучение осцилляционных явлений и связанное с этим восстановление формы поверхности Ферми для электронов в металлах. Позже получили развитие магнито-акустические и резонансные явления в металлах. В настоящее время развиты так называемые "магнитная спектроскопия" нормальных металлов и туннельная спектроскопия, позволяющие изучать значительные участки электронного и фононно-го спектров металлов.

В самые последние годы во ФГИНТ АН УССР открыт и уже подробно изучен метод микроконтактной спектроскопии нормальных металлов (i, 2 . Этот метод позволяет исследовать важные особенности электрон-фононного, электрон-магнонного и др. взаимодействий.

При помощи микроконтактов, изучая вторую производную вольт-амперной характеристики (ВАХ), можно получить значительную информацию о так называемой функции электрон-фононного взаимодействия (ЭФВ), которую символически записывают в виде

Cj.(co) = ^(oj) Г (со) где - квадрат матричного элемента ЭФВ; F(cSj зьункция плотности йононных состояний.

Очевидные преимущества этого метода заключаются в том, что микроконтактная спектроскопия (МКС) дает возможность непосредственно записывать функцию, близкую к СО) . Экспериментальная методика достаточно проста, она обеспечивает хорошую точность экспериментальных результатов.

Согласно £2Ц , (функция , записываемая в эксперименте, отличается от функции наличием структурного

Актора К(PjP )* который определяется геометрией микроконтакта. В настоящее время изучены микроконтактные спектры многих металлов (см. обзоры [3, 4] ). В этих работах основное внимание уделялось исследованию природы фона, фононных особенностей, нулевых аномалий, анизотропии спектров. Несмотря на указанные преимущества метода микроконтактной спектроскопии, он обладает одним существенным недостатком - отсутствием прямой информации о геометрии контакта. В диссертационной работе разработан метод, позволяющий определять непосредственно по экспериментальным кривым эффективный размер контакта и упругую длину свободного пробега электронов. Таким методом является исследование температурных зависимостей сопротивления контакта.

Другим аспектом, определившим основное направление диссертационной работы было то, что в микроконтакте реализуется существенно-неравновесное состояние электронной и сРюнонной подсистем, не имеющее аналогов в других процессах переноса. Эта неравновесность должна существенным образом сказываться на (!шу-ктуациях тока в микроконтактах. Это обстоятельство стимулировало исследование низкочастотных электрических флуктуаций в микроконтактах. Тем более, что эта область микроконтактной спектроскопии практически не изучена. Низкочастотные флуктуации и связанный с ними фликкер-шум давно исследуется в различных лабораториях мира (см., например, обзор QTj ). Интерес к ним обусловлен тем, что^несмотря на значительное число работ в этой области, не существует пока единого мнения по этому вопросу.

Эти направления исследований и определили основные задачи, стоящие перед данной работой.

Целью настоящей работы было дальнейшее развитие метода микроконтактной спектроскопии и исследование низкочастотных электрических флуктуаций в точечных контактах, в том числе:

1) разработка метода определения эффективного размера контакта и упругой длины свободного пробега электронов по температурным зависимостям сопротивления микроконтактов ;

2) создание термостабильной конструкции микроконтакта ;

3) создание установки для исследования Флуктуаций напряжения в точечных контактах ;

4) исследование шумовых зависимостей от постоянного смещения на контакте для различных металлов: Ац, А^ / Си,

Sh.

5) совместное изучение анизотропии шумовых зависимостей и МК спектров на монокристаллах заданной ориентации.

Научная новизна диссертации определяется результатами, полученными в данной работе впервые:

I. Получены температурные зависимости сопротивления медных микроконтактов в диапазоне температур 1,5-300 К. Обнаружена различная температурная зависимость сопротивления микроконтакта и удельного сопротивления массивного металла, что связывается со специфическим характером рассеяния электронов в области микросужения.

2. По температурным зависимостям сопротивления микроконтактов вычислены важные геометрические характеристики контак -тов - эффективный диаметр контакта ol и упругая длина свободного пробега электронов . Знание этих параметров позволяет производить количественную спектроскопию ЭФВ даже в случае грязных контактов.

3. Детально исследованы шумовые характеристики микроконтактов для трех режимов пролета электронов через микроконтакт: баллистического, диффузионного и теплового. Полученные данные свидетельствуют о том, что флуктуационные характеристики более чувствительны к упругому рассеянию электронов, чем МК спектры. Показано, что основной вклад в наблюдаемые зависимости вносит

В баллистическом режиме пролета электронов обнаружена тонкая воспроизводимая структура на зависимости спектральной плотности флуктуаций напряжения от приложенного к контакту постоянного смещения, как в области характерных фононных энергий, так и за пределами энергетического спектра фононов.

5. Обнаружена корреляция положения особенностей на шумовых спектрах с характерными энергиями на дисперсионных кривых фононов для соответствующих металлов. Это позволяет говорить о возможности шумовой микроконтактной спектроскопии фононов в мешумов таллах в случае баллистического режима пролета электронов через область контакта.

6. Показана хорошая воспроизводимость шумовых спектров для различных кристаллографических направлений. Обнаружена значительная анизотропия шумовых спектров в отличие от МК спектров.

Эти результаты являются в данной работе основными и выносятся на защиту.

Практическая ценность. В диссертации получил дальнейшее развитие метод МК спектроскопии. Разработанный в настоящей работе метод нахождения параметров микроконтактов, позволяет распространить микроконтактную спектроскопию на случай диффузионного режима, что открывает возможность нахождения функции ЭФВ в сплавах ив металлах с малой упругой длиной свободного пробега электронов. Знание функции ЭФВ важно для физического материаловедения и поиска сверхпроводников с высокими критическими параметрами .

Поскольку контакты малых резмеров являются основными элементами приборов микроэлектроники, знание флуктуационных процессов, происходящих в них, позволит определить предельные режимы работы микроэлементов (в частности, нижний порог чувствительности таких приборов).

Апробация работы. Материалы диссертации докладывались на XX Конференции по физике и технике низких температур стран -членов СЭВ (Вроцлав, ПНР, 1981) ; ХХП Всесоюзном совещании по физике низких температур (Кишинев, 1982) ; 1У Международной конференции по рассеянию фононов в твердых телах (Штутгардт, ФРГ,

1983) ; ХУЛ Международной конференции по физике низких температур (Карлсруэ, ФРГ, 1984).

Диссертация состоит из Введения, четырех глав и Заключения.

Основные результаты диссертации изложены в работах [88-91, 93 , 94].

Практически вся экспериментальная часть, а также обработка, систематизация и оформление результатов выполнены диссертантом самостоятельно.

Постановка задач и обсуждение полученных результатов производились диссертантом совместно с научными руководителями - членом-корреспондентом АН УССР, доктором физ.-мат.наук, профессором И.К. ЯНСОНОМ и кандидатом физ.-мат.наук, старшим научным сотрудником А.И. АКИМЕНКО. Некоторые экспериментальные результаты в работах [93, 94] получены совместно с инженером Н.М. ПОНОМАРЕНКО.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

1. Янсон И.К. Нелинейные эффекты в электропроводности точечных контактов и электрон-фононное взаимодействие в нормальных металлах. - ЖЭТФ, 1974, 66, вып. 3, с.1035-1050.

2. Кулик И.О., Омельянчук А.Н. Шехтер Р.И. Электропроводность точечных микроконтактов и спектроскопия фононов и примесей в нормальных металлах. ШТ, 1977, 3, № 12, с. 1543-1558.

3. Jansen A#G#M#f van Gelder A#P#, Wyder P, Point-contact spectroscopy in metals,- J#Phys.C, 1980, 22* N 33, p.607> 6118.

4. Янсон И.К. Микроконтактная спектроскопия электрон-фонон-ного взаимодействия в чистых металлах. (Обзор). ФНТ, 1983, 9, № 7, с. 677-710.

5. Van der Ziel А# Flicker noise in electronic devices»-Advanced in Electronics and Electron Physics, 1978,1. 2, p.225-297*

6. Хольм P. Электрические контакты. M.: Иностранная литература, 1961. - 464 с.

7. Шарвин Ю.В. Об одном возможном методе исследования поверхности Ферми. ЖЭТФ, 1965, 48, вып. 4, с. 984-985.

8. Янсон И.К. Спектр электрон-фононного взаимодействия в индии. ФТТ, 1974, 16, вып. 12, с. 3595-3601.

9. Янсон И.К., Шалов Ю.Н. Спектр электрон-фононного взаимодействия в меди. ЖЭТФ, 1976, 71, вып. 7, с. 286-289.

10. Шалов Ю.Н., Янсон И.К. Спектр электрон-фононного взаимодействия в серебре и золоте. ФНТ, 1977, 3, № I, с. 99102.

11. Jansen A,G,M,, Mueller F.M,, Wyder P, Direct measurementspof electron-phonon coupling cL P(co) using point-contactss noble metals,- Phys,Rev,B, 1977, 16, N 4, p,1325-1328,

12. Кулик И.О., Янсон И.К. Микроконтактная спектроскопия фононов в металлах в грязном пределе. ФНТ, 1978, 4, № 10, с. 1267-1278.

13. Кулик И.О., Шехтер Р.И., Шкорбатов А.Г. Микроконтактная спектроскопия электрон-фононного взаимодействия в металлах с малой длиной свободного пробега электронов. -ЖЭТФ, 198I, 81, вып. 6, с. 2126-214I.

14. Жернов А.П., Найдюк Ю.Г., Янсон И.К., Кулагина Т.Н. -Определение микроконтактных функций электрон-фононного взаимодействия в натрии и калии методом псевдопотенциала. ФНТ, 1982, 8, № 7, с. 713-717.

15. Ashraf М,, Swihart J»C* Point-contact spectra for sodium and potassium,- Phys,Rev,B, 1982, 2£, N 4, p»2094-2102.

16. MacDonald A,H.,Leavens C,Rj,, Calculated point contact electron-phonon spectral functions for alkali metals,-Phys,Rev,B, 1982, 26, N 8, p,4293-4298.

17. Шустов Г.Р., Кулик И.О. Псевдопотенциальный расчет функции ЭФВ в металлических микроконтактах.- ФНТ, 1983, 9, № 3, с. I6I-I69.2 2

18. Van Gelder А,Р# On the structure of the d I/dv characteristics of point contacts between metals.- Solid State Communs , 1980, H" 1, p.19-21»

19. Кулик И.О., Омельянчук A.H., Янсон И.К. Неравновесные фононы в точечных контактах мевду нормальными металлами. ФНТ, 1981, 7, № 2, с. 263-267.

20. Кулик И.О., Омельянчук А.Н., Тулузов И.Г. Процессы второго порядка по электрон-фононному взаимодействию в микроконтактах нормальных металлов. ФНТ, 1984, 10, № 9,с. 929-940.

21. Yanson I»K«, Kulik I«0#, Batrak A»G# Point contact spectroscopy of electron-phonon interaction in normal metal single crystalsJ#Low Temp#Phys», 1981, £2, N 5/6, p.527-556#

22. Lysykh А0Аф, Yanson I.K*, Shklyarevski 0,1», Naydyuk Yu#G# Point contact spectroscopy of electron-phonon interaction in alloys,- Solid State Communs 1980, N 12, p.987-989,

23. Frankowski I», Wachter P# Point contact spectroscopy on LaS, CdS and TmSe#- Solid State Communs , 1981, £0, N 9, p#885-888»

24. Шкляревский О.И., Найдюк Ю.Г., Янсон И.К. Микроконтактная спектроскопия электрон-фононного взаимодействия в интермета ллиде Cu3Au . ФНТ, 1982, 8, № 10, с. 1073-1077.

25. Найдюк Ю.Г., Янсон И.К., Лысых А.А., Шитиков Ю.А. Микроконтактная спектроскопия oL -растворов Ni-Be . -ФТТ, 1984, j26, вып. 9, с. 2734-2738.

26. Тулина Н.А. Микроконтактная спектроскопия сплавов Re-Ов,

27. Re W . - ФНТ, 1983, 8, № 5, с. 499-503.

28. Кулик И.О. Тепловая спектроскопия фононов в металлах с помощью микроконтактов. Харьков, 1984, - 43 с. -(препринт ФТИНТ АН УССР, № 8-84).

29. Verkin B.I., Yanson I.K., Kulik I.O., Shklyarevski 0.1.,2 21.sykh А. А., Nayduyk Yu.G. Singularities in d v/dl dependences of point contacts between ferromagnetic metals.-Solid State Communs^, 1979, £0, N 4, p.215-219.

30. Акименко А.И., Веркин А.Б., Пономаренко H.M., Янсон И.К. Микроконтактная спектроскопия магнонов в редкоземельных металлах. ФНТ, 1982, 8, № 10, с. 1084-1094.

31. Кулик И.О., Шехтер Р.И. Микроконтактная спектроскопия ферромагнитных металлов. ФНТ, 1980, 6, № 2, с. 184-192.

32. Jansen A.G.M., van Gelder А.Р., V/yder P., Strassler S. Application of point contact spectroscopy in metals to the Hondo problems.- J.Phys.F, 1981, Ц, N 1, p.L15-L21.

33. Найдюк Ю.Г., Шкляревский О.И., Янсон И.К. Микроконтактная спектроскопия разбавленных сплавов Си Ып и Си - Ре. ФНТ, 1982, 8, № 7, с. 725-731.

34. D'Ambrumenil N., Duif A.W., Jansen A.G.M., Wyder P. Point contact spectroscopy of internal field distributions in spin glasses.- J.Magn.and Magn.il/Iatter., 1983, 31-34. Pt 3, p.1415-1416.

35. Омельянчук А.Н., Тулузов И.Г. Электропроводность металлических микромостиков, содержащих магнитные примеси. -ФНТ, 1980, б, № 10, с. I286-I20I.

36. D'Ambrumenil N*, White R«M* Point contact spectroscopy of g-values in metals»- J,Appl#Phys.,1982, £2, N 3, p.2052-2054.

37. Козуб В.И. 0 низкотемпературных свойствах точечных и мостиковых микроконтактов нормальных металлов с аморфной окрестностью. ФТТ, 1984, 26, вып. 7, с. 1955-1962.

38. Хоткевич А.В., Янсон И.К. Совместное изучение энергетической зависимости избыточного тока в сверхпроводящем состоянии для точечных контактов. ФНТ, 1981, 7, № 6, с. 727-737.

39. Янсон И.К., Бобров H.JI., Рыбальченко Л.Ф., Фисун В.В. Спектроскопия фононов в грязных сверхпроводящих контактах. ФНТ, 1983, 9, № II, с. II55-II65.

40. Янсон И.К., Камарчук Г.В., Хоткевич А.В. Нелинейности вольт-амперной характеристики точечного контакта сверхпроводник нормальный металл, обусловленные электрон-фононным взаимодействием. - ФНТ, 1984, 20, № 4, с. 415418.

41. Хлус В.А., Омельянчук А.Н. Электрон-фононное взаимодействие в сверхпроводящих микроконтактах. ФНТ, 1983,9, № 4, с. 373-384.

42. Хлус В.А. Нелинейная вольт-амперная характеристика микроконтактов типа s с - К. - ФНТ, 1973, 9, № 9,с.985-988.

43. Шехтер Р.И. Спектроскопия энергетической зависимости времени энергетической релаксации горячих электроновв полупроводниках с помощью микроконтактов. ФТТ, 1983, 17, вып. 8, с. 1463-1470.

44. Itskovich I.F., Kulik 1.0», Shekhter R.I. Point contact spectroscopy of electron-phonon interaction in semiconductors.- Solid State Communs, 1984, £0, N 5» p.421-424#

45. Kulik 1*0., Shekhter R.I. Point contact spectroscopy of electron-relaxation mechanism in semiconductors.- Phys. Lett., 1983, 2М» H 3* P*132-134#

46. Pepper M. Ballistic injection of electrons in metal -semiconductor junction.- J»Phys.C, 1980, 1J3, If 26, p. L708- L723.

47. Vengurlikar A.S., Inkson J.C. On the ballistic injection into semiconductors from point contacts and the2 2structure in d I/dv characteristics.- Solid State Communs, 1983, N 1, p.17-21.

48. Van der Heijden R.W., Jansen A.G.M., Stoelinga J.H.M,, Swarties H.M., Wyder A new mechanism for high frequency rectification at low temperatures in point contacts between identical metals.- Appl.Phys.Lett.,1980, 2L» N 2, p.215-218.

49. Балкашин О.П., Янсон И.К., Соловьев B.C., КрасногоровА.Ю. Тепловая релаксация металлических микроконтактов в высокочастотном электромагнитном поле. ЖТФ, 1982, 52,вып.4, с. 8II-8I3.

50. Кулик И.О., Омельянчук А.Н., Тулузов И.Г. Кинетическая индуктивность точечных контактов между нормальными металлами. ФНТ, 1982, 8, № 7, с. 769-773.

51. Омельянчук А.Н., Тулузов И.Г. Нелинейная электропроводность металлических микроконтактов в переменном электрическом поле. ФНТ, 1983, 9, № 3, с. 284-296.

52. Кулик И.О., Омельянчук А.Н., Тулузов И.Г., Саркисянц Т.З. Эффекты высокочастотного выпрямления в микроконтактах между нормальными металлами. ФНТ, 1982, 10, № 8,с. 882-885.

53. Вандер Зил А. Шум (источники, описание, измерение). -М.: Сов. радио, 1973. 228 с.

54. Мак Дональд Д. Введение в физику шумов и флуктуаций. -М., Мир, 1964, 158 с.

55. Дыкман И.М., Томчук П.М. Явления переноса и флуктуациив полупроводниках. Киев, Наукова думка, 1981. - 361 с.

56. Климонтович Ю.Л. Статистическая физика: Учебное пособие для вузов. -М., Наука, 1982 , 608-'с.

57. Hooge ВД, 1/f Noise.- Physica, 1976, 83В+С, N 1, р*1423.

58. Van der Ziel A* The state of solid devices noise research,- Physica, 1976, 83B+C, N 1, p,41-5U

59. Dutta P,, Horn P#M* Low-frequency fluctuations in solids : 1/f noise»- Rev#Mod.Phys., 1981, £3» N 3» p.497-515*

60. Vandamme L#K#J# 1/f noise in homogeneous single crystals of III-V compounds»-Phys,lett*,1974, М2» N 3, p«.233-234.

61. Kleinpenning"T.G.M.,Bell D.A. Hall effect noise: fluctuar tions in number or mobility.- Physica, i976, BC8I, N2,1. P.30I-/304.

62. Kleinpenning T.G.M. Electrical conduction and 1/f noise in Li-doped MnO.- J.Phys. and Chem.Solids, 1976, 21*1. N 10, p.925-928.

63. Stroeken J.T.M,,Kleinpenning T.G.M, 1/f noise of deformed crystals.- J.Appl. Phys., 1976, N10, p.4691-4692.

64. Hooge F.N, 1/f Noise In: Proc.of the Symposium 1/f fluctuations (Inst,Elect.Engineers, Tokyo, Japan), 1977,p.88,

65. Voss R,F,, Clarke T. Flicker (1/f) noise: equilibrium temperature and resistance fluctuations.- Phys.Rev,B,i976 22* N 2, p,556-573.

66. Eberhard J,W,, Horn P.M, Excess (1/f) noise in metals.-Phys.Rev.B, 1978, 18, N 12, p.6681-6687.

67. Carruthers T, Bias-dependent structure in excess noise in GaAs Schottky junctions.- Appl.Phys.Lett., 1971, JL§, N 1, p.35-37.

68. Кулик И.О., Омельянчук A.H. Неравновесные флуктуации в точечных контактах нормальных металлов. ФНТ, 1984, 10, № 3, с. 305-317.

69. Хоткевич А.В., Янсон И.К. Изучение функции электрон-фононного взаимодействия в свинце методом микроконтактной спектроскопии. ФНТ, 198I, 7, № 5, с. 623-729.

70. Авт. свид. № 834803 (СССР). Способ получения прижимных микроконтактов между металлическими электродами. / Чубов П.Н., Акименко А.И., Янсон И.К. опубл. в Б.И., 1981, № 20.

71. Flesner 1#D#, Silver А#Н. Improved method for measuring tunneling conductance.- Rev#Sci#Instr., 1980, £1., N 10, p#1411-1412.

72. Klein J„, Lager A„, Belin M#l Defourneau D»t Sangster M»J#L. Inelastic electron-tunneling spectroscopy of metal»Insulator metal junctions.- Phys.Rev.B, 1973, 1, N 6, p.2336-2348.

73. Ананьев JI.JI., Пожаров A.M., Егоров Н.В. Охлаждаемый усилитель на полевых транзисторах с температурой шума I К. ПТЭ, 1977, № 3, с. 135-136.

74. Янсон И.К., Кулик И.О. Микроконтактная спектроскопия фононов в металлах. Харьков, 1978. - 25 с. - (препринт ФГИНТ АН УССР, № 24).

75. Дорожкин С.И. Температурная зависимость проводимости точечных контактов между сверхпроводником и нормальным металлом. ЖЭТФ, 1980, 79, вып. 3, с. 1025-1036.

76. Айнитдинов Х.А., Боровицкий С.И., Малиновский Л.Л. Нестационарный эффект Джозефсона на точечном контакте при высоких напряжениях. ЖЭТФ, 1979, 76, вып. 4,с. I342-1350.

77. Van Gelder А.Р#, Jansen A.G.M.,Wyder P. Temperature dependence of point-contact spectroscopy in coopper.-Phys.Rev.B, 1980, 22, N 4, p.1515-1521.

78. Wexler G» The size effect and the nonlocal Bo It?,man transport equation in orifice and disk geometry.- Proc» Phys.Soc», 1966, 82, N 4, p»927-941.

79. Dugdale J»S», Basinski Z»S»Matthiessen*s rule and anisotropic relaxation times*- Phys»Rev»,1967, 157. N 3, р»552-5бО»

80. Moussouros P»K», Kos J»F» Temperature dependence of the electrical resistivity of coopper at low temperature»-Can»J»Phys., 1977, 55, N 23, p»2071-2079»

81. Kos J»P» Determination of the ideal resistivity and the deviation from Matthiessen1s rule in silver»- Can»J» Phys., 1973, £1, N 15, P»1602-1618,

82. Янсон И.К., Найдюк Ю.Г., Шкляревский О.И. Двухфононные процессы рассеяния электронов в металлических микроконтактах. ФНТ, 1982, 8, № II, с. II78-II86.

83. Gniewek J«J#, Moulder J»C», Kropschot R»H# Electrical conductivity of high purity coopper»- In: X Intern» Conf.Low Temp*Phys#:Proc. Moscow :VIHITI, 1967, 2*p.366-370»

84. Крекнелл А., Уонг К. Поверхность Ферми. М.: Атомиздат, 1978, - 350 с.

85. Grimvall G» The electron-phonon interaction in normal metals»- Phys» Scr», 1967, £2, N 1/2, p»63-78»

86. Nicklow R»M., Gilat G», Smith H„G,, Raubenheimer L#J», Wilkinson М» Phonon frequencies in coopper at 49 and 298 K»- Phys» Rev», 1967, I64, 11 3, p.922-928»

87. Allen P.B, Electron-phonon effects in the infrared properties of metals,- Phys,Rev,B, 1971, N 2, p,305-319.

88. Hooge ,Hoppenbrouwers A,M,H, Contact noise,- Phys, Lett,, 1969, 29 At N11, p.642-643.

89. Yanson I,K,, Akimenko A.I,, Verkin A,B, Electrical fluctuations in normal metal point-contacts,- Solid State Communs, 1982, ±2* N10, p,765-768,

90. Акименко А.И., Веркин А.Б. Электрические флуктуации в точечных контактах благородных металлов. В кн.: ХХП Всесоюзное совещание по физике низких температур. - Тез. докладов, 2, Кишинев, 1982, с. 54-55.

91. Akimenko A,I,, Verkin А,В,, Yanson I.K, Point-contact noise spectroscopy of phonons in metals,- J,Low Temp, Phys,, 1984, N 3/4, p,247-266,

92. Akimenko A,I,, Verkin A,B,, Yanson I,K, Point-contact noise spectroscopy of phonons in metals,- In: Proc,17th Intern,Conf,Low Temp,Phys,, Karlsruhe, 1984, p.1143-1144.

93. Акименко A.M., Веркин А.Б., Янсон И.К. Анизотропия шумовых микроконтактных спектров в меди. ФНТ, 1984, 10, № II, с. II59-II65.

94. Акименко А.И., Веркин А.Б., Пономаренко Н.М., Янсон И.К. Зависимость сопротивления микроконтактов Си Си от температуры в диапазоне 1,5-100 К. - ФНТ, 1981, 7, № 8, с. 1076-1080.

95. Акименко А.И., Веркин А.Б., Пономаренко Н.М., Янсон И.К. Микроконтактная спектроскопия меди; температурные измерения. Зависимость МК спектров от параметров контакта. -ФНТ, 1982, 8, № 3, с. 260-275.

96. Pippard А.В. Acoustic amplification in semiconductors and metals.- Phil.Mag», 1963, 8, N 85, p.161-165.

97. Woods A.D.B., Brockhouse В.И., March R.H., Stewart A.T., Bowers R. Crystal dynamics of sodium at 90 K#- Phys.Rev., 1962, 128, N 3, p*1112 III7.

98. Hughes А.Т», Callaway J, Energy bands in body-centered and hexagonal sodium.- Phys.Rev., 1964, 136. N 5A, P.A1390-A1397#

99. Найдюк Ю.Г., Янсон И.К., Лысых А.А., Шкляревский О.И. Исследование электрон-фононного взаимодействия в щелочных металлах. ФТТ, 1980, 22, вып. 12, с. 3665-3672.

100. Rower J.M. Crystal dynamics of metallicj3-Sn at 110 K. Phys.Rev., 1967, 162, 11 3, p#547-551.

101. Caro J. Point-contact spectroscopy of palladium-hydride, palladium-deuteride and some transition metals.- Amsterdam: Rodopi, 1983, 174 p.