Исследование закономерностей в поведении штарковских параметров спектральных линий тяжелых элементов тема автореферата и диссертации по физике, 01.04.05 ВАК РФ

Ц 1. п я ?

КАЗАНСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА И ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ имени В.И. УЛЬЯНОВА-ЛЕНИНА

На правах рукописи

САРАНДАЕВ Евгений Владимирович

ИССЛЕДОВАНИЕ ЗАКОНОМЕРНОСТЕЙ В ПОВЕДЕНИИ ШТАРКОВСКИХ ПАРАМЕТРОВ •СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ ТЯЖЕЛЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

01. 04. 05 - оптика

Автореферат

диссертации на'соискание ученой степени кандидата физико-математических наук

КАЗАНЬ - 1992

Работа выполнена в Казанском ордена Ленина и ордена Трудово; Красного Знамени государственном университете им. В.И.Ульянова-Ленина.

Научные руководители:

Официальные оппоненты:

Ведущая организация:

заслуженный деятель науки Татарстана доктор физико-математических наук, профессор Фишман И.С. кандидат физико-математических наук, доцент Салахов Ы.Х. член-корреспондент АН Татарстана, доктор технических наук, профессор Даутов Г.Ю. кандидат фшико-математических наук Тарасов В.И.

Государственный институт прикладной оптики (г.Казань)

Защита состоится "сУ?» 0&П1Я1)р(Я 1992 г. в /3

К.053.29.06

¿9

заседании специализированного Совета к.053.29.06 по защи диссертаций на соискание ученой степени кандидата физик математических наук при Казанском государственном университе им. В.И. Ульянова-Ленина (420008, г.Казань, ул.Ленина, 1 физический факультет).

С диссертацией можно ознакомиться в научной библиотеке КГУ. Автореферат разослан

Ученый секретарь специализированного Совета, кандидат физико-математических наук

З^^^Б.П.Халепп

ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ

Актуальность темы. Штарковскйе параметры спектральных линий

атомов и ионов (ширина и , сдвиг <1 и параметр ионного уширения

о ° 17

<*0 для заданной электронной плотности 10 'см У являются объектом

многочисленных экспериментальных и теоретических исследований.

Знание параметров штарковского уширения спектральных линий имеет

большое значение в астрофизике и физике плазмы и позволяет не

только определять свойства плазмы, но и проверять существующие

теории уширения. Сравнение ■экспериментальных данных с

рассчитанными значениями штзрковских параметров для линий легких

элементов {1 £ 20) показало хорошее совпадение в пределах ±20 %.

В последнее время акцент в изучении штарковских параметров

линий сместился в сторону исследования тяаелых элементов. Интерес

к этим объектам определяется двумя причинами. Во-первых, тем, что

число теоретических расчетов для этих элементов крайне

ограничено. Во-вторых, большим расхоздением мезэду отдельными

имеющимися полуклассическими расчетами и экспериментальными

данными. В последние годы у исследователей возник такке интерес к

поиску общих закономерностей в поведении штарковских параметров

спектральных линий.Необходимость иметь какие-либо зависимости для

ютя бы достаточно грубых оценок сирин и сдвигов линий тягелых

элементов объясняется невозможностью сопоставления большинства

экспериментальных измерений с теоретическими расчетами ввиду

отсутствия последних.

Поэтому новые экспериментальные измерения параметров

птарковского уширения как уже исследованных, так и

1еисследованных линий тяжелых элементов с одной стороны, и поиск

закономерностей в их поведении с другой, является актуальной

задачей.

^елыо настоящей работы является:

1. Экспериментальное измерение штарковских параметров спектраль-шх линий ряда тяжелых элементов в плазме.

>. Установление новых закономерностей в поведении штарковских гараметров спектральных линий различных элементов. I. Разработка спектроскопических методов диагностики низкотемпе-затурной плазмы.

Научная новизнэ работы:

1. Разработана и изготовлена экспериментальная установка с оригинальным источником света, позволяющая повысить точность измерений птарковских параметров спектральных линий. ¿.Впервые измерены штарковские параметр! ширины и сдвига ряда линий атомов и однократнозаряженных ионов свинца и меди.

3. Предложена новая методика определения параметра ионного уширения, с помощью которой впервые экспериментально измерены значения этого параметра для ряда линий свинца.

4. Предложен новый подход к поиску закономерностей в поведения штарковских параметров уширения и сдвига спектральных линий атомов и ионов.

5. Найдена новая закономерность в распределении сил осцилляторо! спектральных линий водорода, натрия и алюминия.

Научная и практическая ценность.

Созданный источник света может быть использован да экспериментального измерения штарковских параметров спектрзльнш линий. Измеренные штарковские параметры ширины и сдвиг; спектральных линий могут быть использованы в целях диагностик! низкотемпературной.плазмы. Полученные в работе закономерности да штарковских параметров уширения и сдвига спектральных лини! позволяют критически оценивать экспериментальные результаты ] теоретические расчеты, определять штарковские параметр неисследованных линий различных элементов. Предложенная закономерность для сил осцилляторов спектральных линий пут® интерполяции и экстраполяции может быть использована дл определения неизвестных значений сил осцилляторов ряда переходов Достоверность полученных результатов и вывода обеспечивается тщательной отработкой экспериментальной техники применяемых методик, учетом возможных случайных и систематически ошибок эксперимента, удовлетворительным согласием рассчитанных экспериментальных данных, а также согласием результатов наши измерений и измерений, проведенных другими методами. На защиту выносятся следующие основные положения; 1. Разработанный источник света позволяет повысить точност измерений штарковских параметров спектральных линий.

2. Измеренные штарковекие параметр! ряда линий свинца и меди и предложенные методы диагностики позволяют определять параметры (электронную и ионную концентрации, температуру) шзкотешературной плазмы.

3. Полученные новые зависимости для штарковских.параметров ширины х сдвига спектральных линий с высоким коэффициентом корреляции эписывают имеющиеся экспериментальные и теоретические данные и тозволяют определять штарковские параметры неисследованных линий различных элементов.

I. Предложенные новые закономерности в распределении сил )сцилляторов линий позволяют критичеоки оценивать жспериментальные результаты и теоретические расчеты и определять геизвестные значения сил осцилляторов ряда переходов. Апробация работы. Материалы диссертации докладывались и »бсувдались на XX Всесоюзном съезде по спектроскопии (Киев, 988), XIX и XX Международных конференциях по явлениям в юнизованных газах (Югославия, Белград, 1989; Италия, Пиза, 991),на XI Всесоюзной конференции по теории атомов и атомных истем и II семинаре по атомной спектроскопии (Суздаль, 1991), «однократно на итоговых научных конференциях Казанского осударственного университета.

труктура и объем работы. Диссертация состоит из введения-, етырех глав и заключения. Объем работы составляет 155 страниц, ключэя 35 рисунков и 8 таблиц. Список цитируемой литература ключает 142 наименования.

СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ

Во введении обосновывается актуальность темы дисоертации, эмулируются цели и задачи исследования, излагаются основные эзультаты проведенных исследований, показывается их научная эвизна и практическая значимость, указываются основные элокения, выносюше на защиту, кратко излагается содержание аботы.

Первая глава посвящена обзору литературы по ■ плазменным ¡точникам света и описанию экспериментальной установки, с мощью которой проводились исследования. Вначале анализируются пличные источники света (стабилизированная дуга, .плазмотрон,

электромагнитная Т-труОа, обычная ударная труба, ишульсная дуг:

низкого давления, г-пинч, импульсный -капиллярный разряд 1

некоторые другие) с точки зрения возможности их использования дл

исследования штарковского уширения спектральных линий

Перечисляются - требования, которым должен удовлетворят:

предназначенный для етой цели источник света. Сделан вывод о той

что для измерения штарковских параметров линий тяжелых елементо:

лучше всего подходит импульоный капиллярной разряд. Он позволяв

получать высокую электронную плотность, обладает хороше:

однородностью по Н.,а излучаемые линии имеют слабо

6

самопоглощение.

Источник света, иоиользуемый в вкспериментах, представляв собой текстолитовый капилляр длиной 12 мм и внутренним диаметрь 4 мм, к одному концу которого плотно прижимается влектро (катод) с исследуемым элементом. Примерно на расстоянии 5 мм о другого конца капилляра аксиально расположен второй влектро (анод), представляющий собой остро заточенный угольный стержен диаметром-б ш. Исследуемый влемент поступает в текстолитовы капилляр с плоской поверхности электрода в виде факела Образующийся канал претерпевает дополнительное сишетричнс обжатие потоками газов с испаряющейся стенки капилляра, результате такого обжатия диаметр канала примерно в три раз меньше диаметра капилляра. Малый диаметр канала и близкое однородному распределение электронной плотности в пределах канал позволяют в большинстве случаев при обработке контуре спектральных линий отказаться от преобразования Абеля.

Созданная нами вкспериментальная установка. обладав следующими характеристиками. 1). Она позволяет получать за оде разряд одновременно как спектр исследуемого влемента, так водородную линию На, используемую для определения влект|юннс плотности. 2). Дисковый затвор с усовершенствованной системс синхронизации позволяет снимать указанные спектры" с временш разрешением 0.15 мсек. 3). Предусмотрена возможность съеш спектров в любой заданной фазе импульсного разряда в пределах с 0.2 моек до 6 мсек о шагом 0.2 мсек. 4). Путем просвечиваш плазмы с помощью постороннего источника света ЭВ-45 исш проверять спектральные линии на самопоглощение, то есть с помоин

многощелевой диафрагмы можно получать одновременно как спектры излучения, так и спектры поглощения в поперечном оечении разряда. В конце главы рассматривается ряд методических вопросов.

Вторая глава посвящена диагностике плазмы капиллярного источника света. Показано, что плазма источника света удовлетворяет предложенным Г. Гримом критериям локального термодинамического равновесия (ЛТР). Представлены результаты экспериментального исследования температурного поля импульсного капиллярного источника света. Для этой цели наш применен метод с использованием функции источника. Для нахождения функции источника экспериментально определялись профили линий излучения и поглощения в поперечном сечении плазмы , которые связаны с коэффициентами излучения и поглощения интегральными уравнениями. С помощью метода статистической регуляризации коэффициент поглощения находился из решения уравнения Абеля, а коэффициент излучения- из уравнения Вольтерра I рода. Проведенные для проверки эффективности алгоритма математические эксперименты показали, что для всех частот имеется хорошее • совпадение восстановленных.значений температуры с исходными, даже в случае, когда в исходные линии излучения и поглощения вводились значительные случайные ошибки, распределенные по нормальному закону с дисперсией 20%.

По выше описанной методике была проведена обработка асимметрично самообращенной резонансной линии меди Cul 324.7 нм. ¡оказано, что в центральной части разряда температура 22000К, а ia периферии она несколько повышается и достигает 27000К, после [его резко уменьшается. Температура импульсного разряда была ?акже измерена классическим методом двух линий (в нашем случае !ull 254.5 нм и Cull 249.0 нм). Средняя температура вдоль оси >азряда оказалась равной 24000К. Последним методом проведены ■акже аксиальные измерения температуры. Показано, что температура юдленно спадает от среза капилляра к аноду и резко возрастает в дарно-сжэтой области.

Измерение электронной концентрации в импульсном- капиллярном сточнике света проводилось по ширине -»чини н^. Предварительно утем просвечивания плазмы посторонним источником света ЭВ-45 ыла проверена степень самопоглощения этой линии, которая

- 7 -

оказалась в пределах Ь-7%. Эта величина учитывалась в дальнейшее при определении ширины линии.

Проведены экспериментальные исследования профиля линии Н^ ъ капиллярном источнике света. Учет неоднородности проводился с помощью решения уравнения Абеля для фиксированных длин волн.

Сопоставление экспериментального контура линии Н ,

18 -3 а

зарегистрированного при Ие=10 см , с теоретически рассчитанны»

профилем показало, что в пределах точности восстановления контур*

наблюдается хорошее совпадение.

Проведены также дополнительные исследования сдвига линш

водорода Н . Показано , что для случая электронных концентраций ]

• 17* 3

пределах Ые=(1+10)10 'см 3 "красные" сдвиги, обусловленны<

дальними электрон-атомными соударениями, совместно с меньшим!

"синими" сдвигами от ион-атомных квадрупольных взаимодействй

удовлетворительно объясняют наблюдаемые "красные" сдвиги лини

V

Получены как радиальные, так и осевые распределени: электронной плотности в капиллярном источнике света. Показано что электронная плотность практически постоянна в области г=1. мм (зона свечения линии На), а вдоль оси разряда наблюдаете монотонное уменьшение электронной плотности вплоть до ударно сжатой области около анода, где она резко возрастает.С помощь прозрачного плексигласового капилляра, была измерена электронна плотность внутри него, которая оказалась примерно в два раз выше, чем около среза капилляра. Причем, резкое падение N происходит в пределах О.1 мм , а затем начинается более плавно ее уменьшение. Исходя из этого, участок плазмы для измерени штарковоких параметров линий выбирался на расстоянии г=0.5+1 м от среза капилляра, так как здесь не наблюдается резких изменени электронной плотности.

Проведены также временные измерения электронной плотности, начальный момент времени происходит резкое ее увеличение д г=0.7-0.8 мсек., а затем она начинает плавно уменьшаться. Исхо;] из этого, оптимальный момент для съемки спектров выбран щ 1=1.3-1.5 мсек (максимум тока), где можно избавиться от случайнь ошибок, связанных с резкими изменениями электронной концентрации

В третьей главе описана методика определения штарковских параметров спектральных линий и представлены результаты измерений для линий свинца и меди. Вначале анализируются факторы, искажающие контур спектральных линий (аппаратная функция, ван-дер- вазльсовское и резонансное уширения).. Так как ширины регистрируемых линий на порядок превосходили ширину аппаратной функции ДФС-8, то при обработке контуров линий аппаратурными искажениями пренебрегалось. Оценки ван-дер- вазльсовской и резонансной ширин линий показали, что ими также можно пренебречь по сравнению со штарковской шириной.

Проверка на самопоглощение исследуемых линий проводилась, как

и для водородной линии На, путем просвечивания исследуемых линий

посторонним источником света ЭВ-45. Проводилось разделение ширин

и сдвигов линий на электронные и ионные ¿оставляющие, если был

известен параметр ионного уширения.

Параметр сдвига определялся по смещению максимума

исследуемой линии относительно соответствующей реперной линии,

излучаемой безелектродной шариковой лампой. Сдвиги, как и ширины

17 -Т

линий, приводились к электронной плотности 10 'см .

Нами предложена оригинальная методика измерения параметра ионного уширения. Этот параметр определялся из наклона прямой, описывающей зависимость ширины правого крыла линии %цот ширины ее левого крыла хл> которые отсчитываются на различных уровнях. Эта зависимость получена из теоретических расчетов профилей линий. В соответствии с- обозначениями Грима:

х=(Х-Х0-1е)/ие. (1)

Хп связяно с хл зависимостью, которую в рассматриваемом интервале значений можно представить прямыми линиями. Эти линии были аппроксимированы следующими соотношениями:

хи=(2.2«+1)|хл|+а(2.1-«). (2) На практике удобнее строить аналогичную зависимость не в единицах х> а в единицах К(А)=Х-Х0. Тогда из выражения (2) следует:

Кп(1)=(2.2а+1)|КЛ(1)| + (2.2а+2)(1е + а(2.1-а)ие. (3)

Из наклона этой зависимости р определяется -параметр а,

который при известной электронной плотности легко пересчитывается

в параметр ионного уширения <*, отнесенный к концентрации

17 -Ч о

электронов 10 см :

а»0.45(0-1); а0=а(Ю17/Ие)1/4 (4)

Приводятся результаты измерения штарковских параметре спектральных линий свинца и меди, которые представлены в таблице. Проводится их обсуждение. На основе анализа структуры энергетических уровней исследуемых элементов дается качественное объяснение измеренным ширинам и сдвигам спектральных линий.

Четвертая глава посвящена исследованию закономерностей в поведении штарковских параметров спектральных линий. Приводится обзор литературы, который охватывает работы, касающиеЬя зависимости штарковских параметров линий от потенциала ионозации верхнего уровня, заряда ядра, атомной поляризуемости и главного квантового числа. Хотя тенденция, выраженная этими зависимостями, прослеживается, однако, они не обладают достаточно хорошей корреляционной связью между величинами (И « 0.8-0.9) и имеют ограниченный характер (закономерности описывают определенные сериальные переходы), что снижает их практическую ценность.

Нам удалось улучшить корреляционную зависимость путем установления закономерностей штарковских параметров не для линий, а для энергетических уровней, мезду которыми осуществляется переход. Из общих соображений можно заключить, что существование закономерностей для ширин и сдвигов энергетических уровней более вероятно, чем для соответствующих величин спектральных линий. Действительно, на каждый отдельно взятый уровень действуем система возмущающих уровней, которая чаще всего представляеч собой регулярную структуру. Уширение и сдвиг энергетического уровня в той или иной степени отражает регулярность возмущенш этой структура. Однако, при рассмотрении штарковских параметра спектральных линий эта регулярность нарушается, что приводит I ушудшению корреляционной связи меаду ширинами и сдвигаш спектральных линий с одной стороны и структурной регулярность! возмущающих уровней с другой.

Нами обнаружено существование зависимостей для ширин (АЕ ) I

ч

сдвигов (да ) энергетических уровней следующего вида! ч

ДЕ =А(п*)а (5)

ч ч

АЛ =В(п*)Ь (6)

ч ч

где А, В, а, Ь - коэффициенты, не зависящие от эффективного

* * 1/Р

главного квантового числа п^; п^ [Еп/1д] , где (2-1) заряд

иона, Ед-потенциал ионизации водорода, энергия ионизации q-гo

уровня. В нашем предположении ширина спектральной линии,

возникающей при переходе между верхним (а') и нижним (а) уровнями

определяется с точностью до интерференционного члена суммой ширин

обоих уровней, выраженных в частотных единицах!

ДЕ + ДЕ , . (7)

ч ч

Для сдвигов спектральных линий можно соответственно записать:

с1=Дс1 - Д<1 , . (8)

ч ч

где Дй и Д<1 , берутся со своими знаками, ч ч

Предложенные зависимости (5) и (6) проверены нами для

энергетических уровней щелочных металлов (Ы, N3, К и Св). Ширины

и сдвиги энергетических уровней определялись из расчетов Грима

соответствующих величин для спектральных линий (Т=2*Ю*К, 17 —

Ие=10 'см ), при помощи соотношений (7) и (8). Показано, что для ширин уровней коэффициент корреляции 11=0.98, а для сдвигов (*-0.99. Объясняется поведение ширин некоторых уровней, которые не описываются зависимостью (5). Отрицательные и малые по величине сдвиги уровней также не подчиняются зависимости (6), что объясняется на основе ударной теории уширения. В качестве примера, демонстрирующего возможности найденных зависимостей, сравниваются экспериментально измеренные ширины и сдвиги резонансных линий ЯМ с оценками по (5) и (6). Расхоздение по обеим аппроксимациям составило не более 2Ъ% и 7% соответственно цля ширин и сдвигов линий.

При рассмотрении структуры энергетических уровней тяжелых элементов можно заметить, что о увеличением их атомного веса регулярность возмущающих уровней ухудшается. Однако, для 5олыпинства уровней характерные (средние) расстояния до ближайших юзмущающих уровней в среднем сохраняются. Поэтому нами федпринятз попытка расширения области применения выражений (5),

(6) на тяжелые элементы. Были обработаны теоретические расчеты

Г.Грима для ширин спектральных линий атомов и однократно

17 -3

заряженных ионов легких элементов (при Ne~10 см и Т=20000К). В результате оказалось, что полученные ширины энергетических уровней можно описать следующими зависимостями:

для атомов iE = 3.2-109 (п*)5-0 рад/сек (R=0.96), (9) ч я

для ионов АЕ = 1.6-109 (л*)4-4 рад/сек (R=0.91). (10) ч ч

Подтверждение высказанной идеи о применимости соотношений (9) и (10) для тяжелых элементов было проверено нами на основе сравнения с экспериментальными данными и теоретическими расчетами.

Во-первых, было отобрано несколько линий, которые можно считать "эталонными". Для них выполнено большое количество экспериментальных измерений различными методами и получены весьма близкие результаты. Кроме того, для них имеются и теоретические расчеты в различных приближениях, в том числе и квантовомеханические, которые совпадают с точностью до ошибок с экспериментальными значениями. Сравнение с этой группой линий показало, что расхождение не превышает 1556.

Во-вторых, результаты расчетов по (9) и (10) сравнивались с другими менее точными экспериментальными данными, которые удовлетворяли определенным критериям. Сопоставление показало, чтс для спектральных линий нейтральных атомов расхождение междц средними экспериментальными значениями ширин линий и значениями, оцененными по (9), не превышает 50%. Для ионных лини! рассмотренных элементов расхождение не превышает 70%. Кроме того, проведено сравнение измеренных нами ширин спектральных линий РЫ, PMI и Cull с оценками по (9) и (10). Показано, что для лини! Cull в основном наблюдается довольно хорошее согласи« (расхождение в среднем не более 20%). Для ширин линий РЫ и РЬГ наблюдается систематическое завышение оценок по аппроксимация! (9) и (10). Примерно такая же ситуация наблюдается для ширш линий аналогичных переходов олова, структура - энергетически: уровней которого сходна со структурой уровней свинца. По-видимому, можно сделать вывод о том, что по мере увеличена атомного веса погрешность расчетов по (9) и (10) возрастает.

В-третьих, проведено сопоставление теоретических расчетов для 12 спектральных линий тяжелых элементов, выполненных в полуклассическои • приближении LS-связи, с оценками по (9) • Получено согласие в пределах 10-15$. Объясняются расхождения, которые наблюдаются для трех линий: BrI 467:7hm, Znl 277.8 ны и Gel 422.8 нм.

Установлена также новая закономерность, отражающая зависимость сил осцилляторов некоторых переходов линий Н,А1, и Na от изменения главных квантовых чисел нижнего и верхнего уровней. Показано, что при одновременной изменении главных квантовых чисел нижнего и верхнего уровней значения сил осцилляторов линий описываются линейной зависимостью с высоким коэффициентом корреляции. Существование предложенных закономерностей позволяет находить неизвестные значения сил осцилляторов, критически оценивать экспериментальные данные и теоретические расчеты.

В заключении формулируются основные результаты работы:

1. Создана экспериментальная установка с оригинальным источником света для измерения штарковских параметров спектральных линий, которая позволяет получать в заданной фазе разряда одновременно спектр исследуемого элемента и водородную линию На с временным разрешением 0.15 мсек.

2. Проведено исследование профиля и сдвига водородной линии Н при электронной плотности порядка 10 см . Из сравнения экспериментального и теоретического контуров линии На сделан вывод о возможности ее использования для определения электронной концентрации при указанных плотностях электронов. Показано, что для электронной концентрации в пределах N =( 1-10)*101^см-^ экспериментально измеренные сдвиги линии Нд удовлетворительно согласуются с теоретическими расчетами.

3. Предложена новая методика определения параметра ионного /пшрения, о помощью которой впервые измерены значения этих гараметров для ряда линий свинца.

U Впервые измерены штарковские параметры уширения и сдвига линий ?Ы, РЫ1 и Cull. Показано, что полученные значения штарковских шраметров линий можно качественно объяснить на основе анализа структуры энергетических уровней исследуемых элементов.

5. Предложен новый подход к поиску закономерностей в поведении штарковских параметров линий. На основе етого подхода были получены зависимости ширины и сдвига линий от эффективного главного квантового числа для различных элементов, обладающие в отличие от известных зависимостей высокой степенью корреляции и более широкой областью применения.

6. Найдена новая закономерность в распределении сил осцилляторов спектральных линий Н, Na и AI для ряда переходов. Показано, чтс при одновременном Изменении главных квантовых чисел нижнего и верхнего уровней значения сил осцилляторов линий описываются линейной зависимостью о высоким коэффициентом корреляции (RKD.98).

Публикации. Основные результаты диссертации опубликованы i следующих работах:

1. йшшан И. С. Салахов М.Х., Сарандаев Е.В., Семин П.С. Исследование редуцированных к тонкому слою линий алюминия 1 условиях оптически плотной плазмы.// Опт. и спектр. -1981.-Т.51 Н.5- С.785-793.

2. Salakhov li.Kh., Sarandayev E.V. and Fishman I.S. The Use о: Computers In the Investigation of Optically Thick Irihomogeneouj Plasmas by ITheir Bnission and Absorption Speotra.// Compute: Enhano. Speotr.- 1983.- V.1.N.4- P.213-218.

3. Салахов M.X., Сарандаев E.B., Фишман И.С. Параметр штарковского уширения нейтрального и однократноионизованног свинца.// Опт. и спектр.- 1985.- Т.59, N.1- С.200-202.

4. Салахов М.Х., Сарандаев Е.В., Латипов Р.З., фишман И.С Определение температуры импульсного разряда по асимметричн самообращенным спектральным линиям.// ТВТ.- 1986.- Т.24, К.4 С.770-775.

5. Салахов М.Х., Сарандаев Е.В., Латипов P.S., .Фишман И.С Исследование сдвига и профиля линии водорода Н при влектроннь плотностях порядка 10 см .// Опт. и'спектр.- 1986,- T.60.N.S С.431-434.

6. Сарандаев Е. В., Салахов М.Х., Зишман И.С. Спектрометрическ£ установка с капиллярным источником света для исследован*

штарковского ушрения спектральных линий// ЖПС- 1988.- Т.48,11.3-С.513-516.

7. Салахов М.Х., Сарандаев Е.В., Фшшан И.С. Исследование штарковского уширения спектральных линий атомов и ионов тяжелых элементов.// XX Всесоюзный съезд по спектроскопии.- 1988.-Киев.-Часть 1.- С.118.

8. Салахов М.Х., Сарандаев Е.В. Параметры штарковского уширенпя линий нейтрального свинца и однократно ионизованной меди.// Опт. и спектр. -1989.- Т.66, N.2- С.463-465.

9. Salakhov li.Kh., Sarandayev E.V. and Pishman I.S. The Investigation of the Stark Broadening of Spectral Lines of Heavy Elements.// XIX 1С PIG, Belgrad- 1989.- Contr. Papers 2.- P.342-343.

10. Sarandayev E. V., Pishman I.S., Salakhov II. Kh. A New Aproach to a Search for Regularities ih the Behaviour of the Stark Parameters of Atomio and Ionic Spectral Lines. // XX ICPIG-Piza.- Italy- 1991.- Contr. Papers 1- P.115-116..

11. Салахов M. X., Сарандаев E. В., Фшшан И. С. Новый ' подход к поиску закономерностей штарковских параметров уширения ц сдвига спектральных линий атомов и ионов.// Опт. и спектр.- 1991.-Т.71, N.6- С.882-887.

12. Салахов М. X., Сарандаев Е. В., Фишман И. С. Завпсзиооти штарковских параметров спектральных линий атомов и ионов от эффективного главного квантового числа.// И Всесоюзная конференция по теории атомов и атомных систем и II семнйар по атомной спектроскопии.- Суздаль.- 1991.- Часть I- с.87-

Сдано в набор 18.09.92 г. Подписано в печать 21.09.92 г. Форы.бум. 60 х 84 I/I6. Печ.л.1. Тирах 100. Заказ 500.

Лаборатория оперативной полиграфии КГУ 420008 Казань, Ленина, 4/5