Некоторые вопросы теории экситонных состояний оптических свойств низкоразмерных полупроводниковых систем тема автореферата и диссертации по физике, 01.04.10 ВАК РФ

Саркисян, Айк Араевич АВТОР
кандидата физико-математических наук УЧЕНАЯ СТЕПЕНЬ
Ереван МЕСТО ЗАЩИТЫ
1997 ГОД ЗАЩИТЫ
   
01.04.10 КОД ВАК РФ
Автореферат по физике на тему «Некоторые вопросы теории экситонных состояний оптических свойств низкоразмерных полупроводниковых систем»
 
Автореферат диссертации на тему "Некоторые вопросы теории экситонных состояний оптических свойств низкоразмерных полупроводниковых систем"

РГ6 од

•; :< ЪР1лШЛЛ» <ПОКШ|ЦЬ <шгш.ишчгь

ПСшцр)1 |1рш4п|С[)1и1

<и)|1| Црш||1 ииф<|И|шП Й1ШР УЦФШУЬПМН.ЯГЬ ЧЫЛКиЧПРМ-УШИО, <Ш1ЩЧЦРЧ 1;РЬ

чьтипл.-рь ьч о^хьчичил.

^ЦХЧт-ЬННИЛЛЛЛМ' ПРПО <ШЧН;Р Ц..04Л0 - 1)]шш!иш1пр1)|1^Щ|р|1 Ь 11|1|.11Лрпр|11|иЬр]1 ЭДц^Цш .№ч1|11Ш-|51ирЬ1$илп|11|ш1)ши 4)|шт1р.|шШ<р|) рЫ|(ш1Йнф 11|)шш1|ши шиифбиНф

Шз'ИШЧФР

ЬГЧлЩЧ, - 1947

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РА ЕРЕВАНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

На нравах рукописи

Саркисян Айк Араенич

НЕКОТОРЫЕ ВОПРОСЫ ТЕОРИИ ЭКСИТОННЫХ СОСТОЯНИЙ И . ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ НИЗКОРАЗМЕРНЫХ ПОАУПРОВОД11ИКОВЫХ СИСТЕМ

А.04Л0 - физика полупроводников и диэлектриков

АВТОРЕФЕРАТ диссертации па соискание ученой степени кандидата физико-математических наук

ЕРЕВАН - 1997

Ц^иштшОрр 1|ШШшр1|Ь[ I ЬрЬшй]1 щЬиниЦшй ЬшйицишршС]] ифйц йифСШ|| ЗДч^и11^!1 шйр^пСпи!

Чфтш^шй цЬЦшЦшр'

п1ш2шп0шЦш[1 рОгц!]н1ш|ипиОир'

Цишушшшр ЦищЗш^ирщтр^иО'

« Q-U.ll и^шпИ^пи,

ф])Ц.-йшр. ц]1Ш. Г1111[ШПр, иит^Ьинр 1;. Ц". Ч.шцш^шЦ

ЭДщ.-йшр. цп^ишр, ицшфЬипр и. с1-. 'ПЬифпщшЦ ЭДщ.-йшр. 1(|ш1. 1]п1цппр, щрпфЬипр <. П-. и^СшщщЦ

« Ч-иЦ ^ш^тЭДцЭДшЛ) и (.(и^ифпСфЦш,)]! 1]Сиш[Ш1111Ш

0 ^ ____-|)С

'Чш^инцшвтррШр щ111\]11[шйЫ1ш 1997р. » Ьриш011 и[Ьтш11шО Ишй'ицишршС]! 049 1Гши1щц1ипшд1|и1д |ипр!фг]]1 б]штпн1 ¿.шицИГ 375049, Ь-рЬшО, Ц. Ц"шШи1ишй ф.1 иЬщ!шч11рр дт1шй 1. 1997р. « » & 6

Чшийшч^тшдфий (ипрЬрц]! ц]1шш11шй ршрштдшр

ф^ц.-йшр. рЦЦщйш 11. "1. ■Р.шциЦршр.ции

Работа выполнена на кафедре физики твердого тела Ереванского государственного университета

Научный руководитель-

Официальные оппоненты-

доктор физ,-мат. наук, профессор, академик НАН Армении Э. М. Казарян

доктор физ.-мат. наук, профессор С. Г. Петросян доктор физ.-мат. наук, профессор Г. Р. Минасян

Институт радиофизики и электроники НАН РА _0-1_ 1997 г. в

Ведущая организация-

Защита состоится "£ заседании Специализированного совета 049 при государственном университете по адресу: 375049, Ереван ул. А. Манукяна, 1.

часов на Ереванском

Автореферат разослан "

Ученый секретарь

снецнал!Iзироваиного совета

Vb

1997 г.

кандидат физ.-мат. наук В. П. Калантарян

ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ

Актуальность темы. В настоящее время, после почти двадцатилетнего периода интенсивных исследований физических свойств низкоразмерных полупроводниковых систем-тонких пленок, проволок, гетероструктур, инверсионных слоев, сверхрешеток и т.д. - нет сомнений в том, что прогресс современной микроэлектроники и оптоэлектроники в значительной степени связан с дальнейшими достижениями в этой области. Развитие прецизионных способов изготовления низкоразмерных систем сделало возможным их получение с высокой степенью точности, вызвало новый всплеск теоретических и экспериментальных исследований и привело к получению ряда фундаментальных результатов-андерсоновской локализации, квантовому эффекту Холла, высокой подвижности электронов в гетероструктурах с модулированным легированием и т.д. Успешное применение этих результатов в практике, перспективность их практичского применения, а также наличие ряда принципиальных проблем фундаментального характера продолжают стимулировать дальнейшие исследования низкоразмерных систем.

Не случайно, поэтому, что задачи, связанные с исследованием двумерных электронных систем, все еще остаются актуальными. Одной из разновидностей подобного рода задач, являются кулоновские задачи, возникающие при исследовании экситонов и примесей в низкоразмерных системах. С такими задачами также сталкиваются и при рассмотрении экситонных или примесных состояний п массивных полупроводниках, находящихся в сильных внешних полях.

Другой разновидностью задач связанных со свойствами пизкоразмерных электронных систем, являются задачи, возникающие при исследовании поглощения света полупроводниковыми пленками и проволоками. Важность этих задач заключается в том, что определив форму края поглощения полупроводника, можно получить цепную информацию об особеностях его зонной структуры. Знание же конкретной зонной структуры позволяет рассмотреть различные механизмы непрямого поглощения света: фононпого, плазменного, примесного и т.д.

Представляет самостоятельный интерес исследование характера экранирования квазидвумерного электромагнитного возмущения.

Цель работы.

1. Теортическое исследование экситонных состояний в низкоразмерных полупроводниковых системах со сложным законом дисперсии носителей заряда (закон дисперсии Кейна), а также учет влияния границ пленки на энергию связи двумерного экситона.

2. Исследование поглощения света, обусловленного непрямыми межзонными переходами при взаимодействии носителей заряда с прямолинейными дислокациями как в массивном полупроводнике, так и в размерно кванованной полупроводниковой пленке.

3. Исследование поглощения света, обусловленного непрямыми межзонными переходами в размерно квантованной полупроводниковой пленке с учетом электрон-электронного взаимодействия.

4. Нахождение функции диэлектрической проницаемости размерно квантованной полупроводниковой пленки.

Научная новизна.

1. Получено точное решение двумерной релятивистской задачи водорода в пренебрежении спином электрона. Показано, что учет релятивизма приводит к снятию вырождения по магнитному квантовому числу т, неустойчивости основного состояния и увеличению энергии связи для возбужденных состояний. Полученные результаты обобщены на случай двумерного кейновского экситона.

2. Исследовано влияние границ тонкой полупроводниковой пленки на энергию связи двумерных экситонных состояний, в рамках модели двумерной кулоновской задачи с усеченным потенциалом. Найдена зависимость энергии основного (ш = 0) и двух первых возбужденных состояний (т = ±1) в зависимости от параметра усечения р0.

3. Исследовано межзонное поглощение света с учетом дислокационного механизма рассеяния носителей заряда в непрямозонном массивном полупроводнике и тонкой полупроводниковой пленке.

4. Исследовано межзонное поглощение света размерно квантованной полупроводниковой пленкой, обусловленное электрон-электронным взаимодействием.

5. Найден аналитический вид функции диэлектрической проницаемости размерно квантованной полупроводниковой пленки и исследовано ее поведение в случае стационарного длинноволнового возмущения.

Практическая ценность. Полученные и диссертации теоретические результаты представляют самостоятельный интерес как с точки зрения теории низкоразмерных полупроводниковых систем, так и с точки зрения постановки новых экспериментов, помогающих углублению представлений о физических свойствах низкоразмерных систем. Эти результаты могут служить физической основой конструирования новых функциональных элементов и приборов твердотельной микроэлектроники и оптоэлектроники.

Основные положения выносимые на защиту:

1 .Точное решение (нахождение энергетического спектра и волновых функций) кваптомеханической задачи двумерного релятивистского атома водорода с переносом полученных результатов на случай двумерного кейновского экситона.

2.Численный расчет энергии связи двумерного атома водорода с усеченным кулоновским потенциалом взаимодействия с последующим применением полученных результатов для объяснения влияния границ полупроводниковой пленки на энергию связи квазидвумериого экситона.

3.Новый-дислокационный механизм непрямого поглощения света в массивном полупроводнике и размерно квантованной полупроводниковой пленке.

4.Новый - плазмонный механизм непрямого поглощения света в размерно квантованной полупроводниковой пленке.

5.Расчет и анализ частотной зависимости функции диэлектрической проницаемости квазидвумериого электронного газа с учетом зонной структуры.

Апробация работы. Результаты, полученные в диссертации, обсуждались на семинарах кафедры физики твердого тола ЕГУ. Часть

результатов была доложена на конференции, посвященной 75-ти летию ЕГУ (Ереван 1994), на Второй российской конференции по физике полупроводников (Зеленоград, 1996), на Первой национальной конференции по полупроводниковой микроэлектронике (Дилижан, 1997).

Публикации. По теме диссертации опубликовано 7 работ.

Структура диссертации. Диссертация состоит из введения, трех глав, выводов и списка литературы из 93 наименований. Общий объем работы 84 стр., включая 2 рисунка.

СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ

Во введении диссертационной работы обоснована актуальность исследования, сформулирована цель диссертации, приведены основные научные положения, выносимые на защиту.

В первых разделах каждой из трех глав диссертации дается тематический обзор работ, наиболее близких к вопросам, рассматриваемым в данных главах.

Первая глава посвящена точному решению задачи двумерного релятивистского атома водорода и исследованию энергии связи двумерной нерелятивистской кулоновской задачи с усеченным потенциалом. Результаты решения первой задачи обобщены на случай двумерного кейновского экситона, а второй - на случай экситона, находящегося в тонкой полупроводниковой пленке.

В разделе 1.2 методом разделения переменных решено уравнение Клейна-Гордона с двумерным кулоновским потенциалом

и(Р)=~-

Р

■И "2+У )■ Найдены энергетический спектр и волновые

функции такого атома. Для энергетического спектра получено выражение

Ек.ш =

г'а1

г V + [ к + - + л[г>

Ъ а'

1/2

1

(1.1)

е2

где ц - масса электрона, сх =— - постоянная тонкой структуры, Z

tic

- зарядовое число, гп- магнитное квантовое число, к -квантовое число. При Za<<l из (1.1) для энергии атома имеем

Ek.m = НС2

3|ш| 2|m|n51 4 п

(1.2)

где n = k + |т| + — = n0 + - (пр = к + |m¡ -аналог главного квантового числа).

2

2 р 2

Как следует из (1.2) учет релятивизма снимает вырождение по ш. Второй член в разложении (1.2) представляет собой энергию нерелятивистского двумерного атома водорода; как видно из (1.2), релятивистские поправки увеличивают энергию связи.

При ш = 0 энергия основного состояния становится комплексной величиной. Состояния с комплексными значениями энергии являются неустойчивыми-возникает падение на центр [1]. В действительности состояния с ш = 0 реализуются, так как ход потенциала на малых расстояниях отличается от кулоновского.

В разделе 1.3 проведена процедура нормировки радиальных волновых функций. Из условия нормировки для нормировочной постоянной С, радиальных волпповых функций, получено выражение

2

С а»

1

(2S + 1)---(2S + к) (0)

r(2S+2)k(l+2|y(zV+(k + sH)2)'

I

где ав - боровский радиус, Г(х) - гамма-функция Эйлера.

В разделе 1.4 обсуждается вопрос, связанный с симметрией двумерной релятивистской задачи атома водорода, и выясняется причина снятия вырождения энергетических уровней по магнитному квантовому числу при учете релятивизма.

Вырождение по ш, имеющее место в случае нерелятивистского атома водорода, обусловлено существованием двумерного аналога

вектора Рунге-Ленца [2], который вместе с генератором плоских вращений \г группы 0(2) задает скрытую или динамическую неабелеву группу симметрий О(З), коммутирующую с нерелятивистским гамильтонианом. Однако, релятивистский гамильтониан уже не коммутирует с расширенной группой симметрии О(З). Последнее обстоятельство приводит к понижению симметрии гамильтониана от О(З) к 0(2) и, соответственно, к снятию случайного вырождения по т.

В разделе 1.5 с учетом того, что закон дисперсии носителей заряда в узкозонных полупроводниках типа А'"ВУ, в двузонном приближении имеет вид, аналогичный релятивистскому (закон дисперсии Кейна).

где р.^- эффективная масса электрона, 8 - параметр имеющий размерность скорости (5~108 см/с), результаты, полученные при решении задачи двумерного релятивистского атома водорода, перенесены на слуай двумерного кейновского экситона.

Показно, что при определенном выборе системы координат, благодаря равенству эффективных масс электрона и дырки, двухчастичный экситонный гамильтониан можно свести к одночастичному. Это позволяет обобщить на случай кейновского двумерного экситона основные результаты решения двумерного релятивистского атома водорода, а именно:

1. основное состояние системы является неустойчивым,

2. вырождение энергетических уровней, имеющее место в случае экситона со стандартным законом дисперсии, снимается.

В разделе 1.6 исследована зависимость энергии связи двумерной нерелятивистской кулоновской задачи с усеченным потециалом вида

(1.4)

и(р) = - —> при Р > Ро Р

и(р) = и0 =--, при р < р0

Ро

(1.5)

от параметра р0, при различных значениях ш.

Из условия непрерывности логарифмических производных радиальных волновых функций для областей р<р„ и р>р0, в точке р = р0, численными методами найдена зависимость энергии связи от параметра задачи р„ при т = 0; ±1 (рис.1). Из представленной на рисунке 1 зависимости Ет(р„) следует, что вследствие видоизменения двумерного кулоновского потенциала снимается вырождение энергетических уровней по магнитному квантовому числу ш. При р„ кривая, соответствующая основному состоянию (ш = 0), стремится к це'

2^.2 i1 а кРивые ш = -1 и т= + 1, сливаясь, стремятся к

значению Е,=Е , =-—R Это вполне согласуется с физической i -i 9

картиной задачи, так как при р0 —> 0 данная задача сводится к задаче двумерного нерелятивистского атома водорода, спектр которого вырожден по т.

е

Заменой fJ->fJ и е->е =-р=, (ed - диэлектрическая постоянная

полупроводника) полученные результаты переносится на случай экситона, находящегося в тонкой полупроводниковой пленке, где учет влияния границ пленки на энергию связи экситона осуществляется приведением потенциала электрон-дырочного взаимодействия к виду (1.4), при этом параметр р„ -величина порядка толщины пленки.

Во второй главе диссертационной работы исследуются новые механизмы поглощения света массивным полупроводником и размерно квантованной полупроводниковой пленкой, обусловленного непрямыми межзонными переходами при взаимодействии носителей заряда с

прямолинейными дислокациями и с плазмонами. Вычислены коэффициенты поглощения света, обусловленные такими механизмами непрямого поглощения света и проведено сравнение с другими механизмами поглощения.

В разделе 2.2 приведены основные исходные формулы для вычисления коэффициента поглощения света полупроводником, а также вычислены матричные элементы электрон-дислокационного взаимодействия в массивном полупроводнике. Рассматриваются непрямые переходы из полностью заполненной валентной зоны в пустую зону проводимости, когда

при поглощении кванта энергии Йю электрон из области к ж О валентной зоны совершает прямой "оптический" переход в промежуточное состояние

в области к'® 0 зоны проводимости откуда, провзаимодействовав с дислокацией, переходит в конечное состояние к"=к0 в области минимума зоны проводимости-переходы "У-»С->С".

В случае краевой дислокации, описываемой в рамках модели экранированной нити [3], матричный элемент электрон-дислокационного взаимодействия имеет вид:

2п V

Мсс=Т|. _.°,2 (2.1.,

где у0 - постоянная потенциала электрон-дислокационного взаимодействия, Я - параметр экранирования, Б - площадь образца в направлении перпендикулярной линии дислокации, наличие символа Крокекера ^к2к'г указывает на сохранение компоненты волнового вектора электрона вдоль оси дислокации, (ось г].

В случае винтовой дислокации для Мсс получено выражение

(2.2,

где а - характерная постоянная потенциала винтовой дислокации.

В разделе 2.3 вычислен коэффициент поглощения света массивного полупроводника с дислокациями в случаях "разрешенных" и "запрещенных"

переходов. В случае "разрешенных" переходов при рассеянии носителей заряда на прямолинейных дислокациях для коэффициента поглощения получено выражение

аДш) = Dni)|V(k0J2(/to - Eg)3/2 (2.3)

где D - медленно меняющаяся у края поглощения известная функция частоты, П[, - плотность рассеивающих дислокаций, ед - ширина запрещенной зоны, V(k01) двумерный Фурье - образ энергии взаимедействия носителей заряда с дислокацией.

В случае "запрещенных" переходов для а(га) получено выражение

a,H = D1nI)|V(k01)l2(/i<a-e1I)5'2 (2.4)

где D, - медленно меняющаяся у крш! поглощения известная функция частоты.

Сравнение с фотонным механизмом поглощения света показывает, что дислокационный механизм непрямого поглощения может конкурировать

с фононным при температурах Т<Т0 = 13K^nD «107см-2 j.

В разделе 2.4 вычислены матричные элементы электронно-дислокационного взаимодействия в случае краевой дислокации в размерно квантованной полупроводниковой пленке. Рассмотрена модель пленки, согласно которой в направлении, перпендикулярном плоскости пленки, состояния электрона описываются синусоидами, а в плоскости пленки, в зоне проводимости, пормироапными на площадь пленки плоскими волнами. Рассмотрены два случая ориентации осей дислокаций: перпендикулярно плоскости пленки, и параллельно ей.

Матричный элемент электрон- дислокационного взаимодействия в первом случае имеет вид

. - 2т 1

M у5п.п. (2.5)

•s к" + ¡k"-k|

где п' и п" описывают, соответственно, промежуточное и конечное квантовые состояния электрона в направлении г.

Во втором случае матричный элемент перехода имеет вид

4л3У0Цп'п" 1-ехр(-ф+(к;~кх)2] 5к"к

где - толщина , а Ц - ширина пленки.

В разделе 2.5 вычислен коэффициент поглощения света размерно квантованной полупроводниковой пленки с краевыми дислокациями. В случае "разрешенных" переходов в зависимости от ориентации осей дислокаций. Проведено также сравнение данного механизма поглощения с другими.

В случае, когда оси дислокаций перпендикулярны плоскости пленки, коэффициент поглощения у края поглощения является линейной функцией частоты, наклон которой претерпевает скачки при значениях Йсо, соответствующих началу переходов между новыми, энергетически более удаленными уровнями размерного квантования.

В случае, когда дислокации лежат в плоскости пленки, частотная зависимость коэффициента поглощения у края поглощения является корневой и, как и в первом случае, немонотонной.

Сравнение данного механизма поглощения с фононным [4] показывает, что он может конкурировать с последним при температурах Т<Т0 =50К.

Отношение коэффициентов поглощения, соответствующих рассеянию носителей заряда на дислокациях и на поверхностных шероховатостях пленки [5], показывает, что дислокационный механизм непрямого поглощения преобладает над рассмотренным в [5] механизмом.

В разделе 2.6 приведена основная формула, с помощью которой, на основе методов функций Грина, вычисляется коэффициент поглощения света размерно квантованной полупроводниковой пленки при рассеянии носителей заряда на плазмонах", а также указаны те приближения, в рамках которых вычисляется коэффициент поглощения.

В частности использовано приближение высокой плотности:

' Подобная задача для массивного полупроводника решена Э.М.Казаряном [6].

12

rs = (тта^п12'! 1/2 « 1, (2.7)

где rs - среднее расстояние между электронами в единицах эффективного

боровского радиуса a'j, -поверхностная плотность электронов,

усредненная по толщине пленки.

В разделе 2.7 вычислен коэффициент поглощения света размерно квантованной полупроводниковой пленки, обусловленного кулоновским взаимодействием между электронами. С учетом того, что изменение энергии электронов за счет взаимодействия не учитывается, это взаимодействие не затухает и рассматривая переходы только между первыми подзонами размерно квановашшх уровней, для коэффициента поглощения получено выражние, показывающее, что частотная зависимость а"1 (со) у края поглощения является линейной. Наклон прямой а1" (со) претерпевает скачки при значениях Лоз, соотвстсвующих началу переходов между новыми, энергетически более удаленными уровнями размерного квантования. Отношение коэффициентов поглощения данного и фононного механизмов порядка 10"' при Т = 300К(п,2,~10'2 см"2).

В третьей главе диссертационной работы рассмотрена задача о нахождении функции диэлектрической проницаемости e(q,co) размерно квантованной полупроводниковой пленки и исследовано ее поведение при малых значениях волнового вектора внешнего стационарного возмущения.

В разделе 3.2 в приближении самосот-ласованного поля, обобщена формула Линдхарда на случай квазидвумерного газа свободных электронов. Показано, что в приближении стационарного длинноволнового внешнего возмущения функция диэлектрической проницаемости обусловлена такими изменениями состояний электронов, при которых энергия размерного квантования отдельно взятого электрона не меняется.

В разделе 3.3 исследован характер экранирования внешнего стационарного возмущения квазидвумерпым свободным электронным газом. Показано, что такое внешнее поле экранируется по закону 1/q (q -волновой вектор внешнего возмущения), в отличие от трехмерного газа, экранирующего по закону 1/q2.

В разделе 3.4 получено выражение для функции диэлектрической проницаемости размерно квантованной полупроводниковой пленки.

Рассматривается тонкая полупроводниковая пленка, находящаяся под воздействием некоторого нестационарного возмущения. В результате решения самосогласованной задачи получено выражение для функции диэлектрической проницаемости тонкой полупроводниковой пленки при малых значениях д. Показано, что в случае стационарного длинноволнового внешнего возмущения, е(я,0) —> 1,1 бё q —>■ 0 . Это объясняется тем, что при ц—>0 период плазменных колебаний квазидвумерного электронного газа стремится к бесконечности и, поэтому, имеет место несущественное изменение локальной плотности электронов. Из-за этого результирующее поле мало отличается от приложенного.

выводы

Основные результаты диссертации следующие: В пренебрежении спином электрона найдено точное квантомеханическое решение двумерной релятивистской задачи атома водорода.

Показано, что учет релятивизма приводит к увеличению энергии связи и снятию вырождения по магнитному квантовому числу ш, последнее связано с потерей повышенной симметрии гамильтониана данной задачи относительно группы О(З). Подробно обсужден вопрос неустойчивости состояний с ш = 0.

Результаты .полученные для двумерного релятивистского атома водорода .использованы для объяснения особенностей энергетического спектра двумерного кейновского экситона, реализующегося в полупроводниковых соединениях А"'ВУ с узкой запрещенной зоной.

1. Рассмотрена двумерная кулоновская задача с усеченным потенциалом вида

с2

и(р)=- —, при |р|>|р„|,

|Р|

и(р)=и„, при |р|<|ро1 где |р0|- параметр задачи (порядка толщины пленки в случае экситона).

В результате численного решения трансцедентного уравнения, определяющего условие равенства логарифмических производных волновых функций в точке |ри|, получена графическая зависимость энергии связи данной задачи от параметра. Показано, что в результате усечения потенциала взаимодействии снимается случайное вырожденно энергетических уровней по т. При ¡р„|-»0 кривая .соответствующая основному состоянию системы, стремится к

значению Е=Е0=-4Я = а кривые, описывающие первые два

возбужденных состояния (ш = 1 и ш = -1), сливаясь, стремятся к

4

значению Е == Е, = Е., = - — Я, что и следовало ожидать, так как в этом

случае имеет место предельный переход к двумерной кулоновской задаче.

С помощью полученных результатов сделана попытка качественно объяснить влияние границ пленки на энергию связи экситона в тонкой полупроводниковой пленке.

3. Предложен и исследован новый механизм поглощения света, обусловленного непрямыми межзонными переходами при взаимодействии носителей заряда с прямолинейными дислокациями в массивном полупроводнике. Во втором порядке теории возмущений вычислены коэффициенты поглощения света ддя "разрешенных" и "запрещенных" переходов. В случае "разрешенных" переходов частотная зависимость коэффициента поглощения у края поглощения определяется множителем а в случае "запрещенных" (Йш-Ег)5/2. Зависимость коэффициента поглощения от концентрации дислокаций в обоих случаях линейная.

Сравнение коэффициентов поглощения при рассеянии носителей заряда на краевых дислокациях и на фононах показывает, что дислокационный механизм непрямого поглощения может конкурировать с фононным только при температурах Т<Т0 (Т0 »12,9К,п0 = 1013см~2).

4. Предложен и исследован новый механизм поглощения света, обусловленного непрямыми межзонными переходами в тонкой полупроводниковой пленке с краевыми дислокациями. Во втором порядке теории возмущений вычислены коэффициенты

поглощения света в двух случаях ориентации осей дислокаций -ось дислокации перпендикулярна плоскости пленки, ось дислокации лежит в этой плоскости. Частотные зависимости коэффициентов поглощения у края поглощения даются

множителями Лю-к8-|есДк^-Еу,(0)| в первом случае и

/"¡(о - -^есДк0)-е„ во втором. Зависимость коэффициента

поглощения от концентрации дислокаций в обоих случаях линейная.

Численная оценка для параметров пи= 10'2см"2, Ь»10'6см показывает, что дислокационный механизм поглощения конкурирует с фононным при Т<Т0 (То=50К).

5. На основе методов функций Грина рассмотрены непрямые переходы в размерно квантованных полупроводниковых пленках, когда роль "третьего" тела играет плазмон. Вычисление коэффициента поглощения проводится в случае больших плотностей электронов, так как именно при таких плотностях вклад плазмонного механизма поглощения света в коэффициент поглощения может быть значительным. Показано, что частотная зависимость коэффициента поглощения у края поглощения линейная, а именно, пропорциональна Лео - Ыа(ча)~ е'1 -(Ег, - Ес<) (Щ0- максимальный импульс передачи). Зависимость коэффициента поглощения от поверхностной плотности электронов, усредненной по толщине пленки, п,2) корневая. Отношение коэффициентов поглощения плазмонного механизма с фононным, например, для фосфита

галлия (СаР) порядка 10' при п1'*'1 ~10псм", 310 7см, Т = 300К.

6, В приближении самосогласованного поля проведено обобщение формулы Линдхарда для функции диэлектрической проницаемости на случай размерно квантованной

полупроводниковой пленки (квазидвумерный электронный газ). Показано, что функция диэлектрической проницаемости в случае пленки, при стремлении волнового вектора q внешнего стационарного возмущения, к нулю стремится к единице. Такое существенное различие в поведениях функций диэлектрической проницаемости в случае пленки и массивного образца обусловлено тем, что в квазидвумерном случае плазменная частота сор~л/я, в отличие от трехмерного случая, где cop(q = 0) = const.

рис.1

ЛИТЕРАТУРА

1. Бете Г. "Квантовая механика" М.Мир 1983.

2. Арутюнян Г.М., Арутюнян М.Г., Погосян Г.С., Тер-Антонян В.М. -Препринт ПРЛФ-77-10 (1977).

3. Бонч-Бруевич В.Л., Гласко В.Б.-ФТТ, т.З, вып.1, с.36 (1961).

4. Казарян Э.М., Маилян Г.Л., Энфиаджян Р.Л.-Изв. АН Арм.ССР, Физика, т.7, вып.5, с.361 (1972).

5. Киракосян A.A., Саркисян Э.А. - ФТП, т.11, вып.8, с.1629 (1977).

6. Kazarian Е.М. -Phys.Lett., v.19, р.417 (1965).

СПИСОК ОПУБЛИКОВАННЫХ РАБОТ

1.Джотян А.П., Казарян Э.М., Саркисян A.A., Релятивистский двумерный атом водорода. - Изв. HAH Армении, Физика, т.29, №3, с.90(1994).

2. Киракосян A.A., Кумашян М.К., Мхоян К.А. Саркисян A.A., Поглощение света в полупроводнике с дислокациями при непрямых межзонных переходах. - Изв. HAH Армении, Физика, т.ЗО, №5, с.208(1995).

3. Киракосян A.A., Мхоян К.А. Саркисян A.A., Непрямое межзонное поглощение света в полупроводниках с дислокациями. - 2-ая Российская конференция по физике полупроводников. Тезисы докладов -r.il, с.96. Зеленогорск, 26 февраля - 1 марта) 1996).

4. Мхоян К.А. Саркисян A.A., Функция диэлектрической проницаемости размерно квантованной полупроводниковой пленки. -Уч. записки ЕГУ, №2(185), с.39(1996).

5. Kazaryan E.M., Mkhoyan К.A., Sarkisyan H.A., Indirect transitions causcd by clectron-dislocation interaction in size-quantized semiconductor films. - Thin Solid Films, C***9572, p.l(1997).

6. Джотян А.П., Казарян Э.М., Саркисян A.A., Энергия связи экситонов в тонких полупродниковых пленках. Полупроводниковая микроэлектроника. Материалы первой национальной конференции с.6. Дилижан, май 22-23(1997).

7. Казарян Э.М., Мхоян К.А. Саркисян А.А. Непрямые переходы в тонких пленках, связанные с кулоновским взаимодействием между электронами. - Полупроводниковая микроэлектроника. Материалы первой национальной конференции с.9. Дилижан, май 22-23(1997).

ШГФПФЦЛ-ЬР

U^luimnuiGpp lii||ipi|uiÖ t guiôp ¿uii[iuijünipjuiG lilluuihuiqiipt^mjjiCi huiiSualjiupqUpti tputimnGuijjiG i(jiSmljûlipli b иирп^ЦшЦшО liuiinlpnpjniGGtip|i mttumpjuiG npn¿ limpgbpfi muniú'GujuJipntpjuiGg: Umuigi{Li Uli hbuilijiui (фСШиДций lupqjntGgGtipp.

1. Uuiuigijuió t ppuiöüji uiwniSji Ьр1)^шф nbumuiJiilJiuinmliuiG )uGiiji]i ß^qpjiui imönitSp, Ьрр uiüinUuiJiuü 1. t.itilpiipnüji uujjiüp: Smjg t inpijuib, np nli|jmin]ii)]iqû]i liiu^ijummûp pUpniiS t шдшиЬрйшй iJUpuigiSuiG puin m (iSiuqG]iuailiujG) рЦиШинифй pi[]i, 1фСШш1{шй ijliámliji uiúljuijmümpjujüp U фииф tGbpqliuij[i ui6[i qpqn^uiö iHiCuutjGbpli hiuiíuip:

U uiujyijmà шрщтйрОЬрц l[lipumi|ujö ti (i -/ítijíiji Ьр^щф LpuJimnGli ú'ni¡b||i liajii'ujjt:

2. <bmuiqnim}uiö t Ijmpiiuid IjniinGjmG iqninhfigliuiimj Ьр1цшф {ийщф tGbpqJiuJjl] ljmlunníp liiuuiiíuiG p0 iqmpmiSbinp]ig U m il'ujqGjiuuiljujû pi|mGinmj)iG pi]]ig: önijg t. uipijuiô, np ujnmbGgliuii|i liuimiiiuG ¿GnphJiiJ ijbpiuGniiS 1. mjpuubpnitfp pum m -}i: Uinuigijiuö mpijjmGpGUpp oquiuiqnpövluiö Ьй puipuili ршцтйртй quiQijui) tpuJimnGji i]]i6iuliübpp mumiSGmuJipbini huiiíuip:

3. Unuiyuipl¡i¡iud 1. piijuji Ijpuüúiuü ünp úl¡uuiütiqii, uiuijüuiümijnpi|mö n¿ nuiliq СфздпифшЦшС uiûgnuîGtipli цЬицшй qômjjiû qJiuinliuigliuiGbpji hUui [|igpuiti{ip(ibp|i фп1иш(1цЬдтр]ш11р, l[[iuuuhuiqnpq;.iuj|iG Giinymii: ^ш^фиО 1; 1цшйй"шй qnpàuil||iq[i iquijiiuiGiui^uiô uijr¡u-i|iu|i шйдпнШЬрпф

4. Цпш?шр1р|ш<> t inijuji IjimGiímG ßnp tfbJuiuGJiqiS ujuijü'uiGiiiilnpijiuö пнфг) i5[igqmn[iui[{iuü uiDgmiíGbp¡i rçbiqpnuS bqpiujliG ii[iuinl[mg[)ujGUp¡) liUui фдршЩфОЦф ф^иищцЬдпвдшйр, puipuilj tjJiuujhuiiinpi]¿iujliG ршцшйртй: <ui2i|ilmà 1. l]pjiGi5ujG qnpöiul)J\gp vquijüuiümnpvlmö mjqujjiuli шйдпчШирпф

5. <Ш211фи0 t pnjuji IjiiuQtfiuG qnpôuiljligp, iquijiSiuGuiili^uiô l|igpuiliIipGLip]i n¿ пифц иШдшСШЬрпф puipuili ¿u^iuijliG-piJuiGmiugiluid yiuuihmqnpqjmjJiG piuiiiuGpiuiî, Ьрр bppnpq iïuipiîG|i qbpp (ишцпи! t uj|UiqiîiiG[i:

6. Uwuigijiud t [.JiGqlimpiili puiGuiâU]i gGqhuiGpuigimîp 1фЦЫ)шр|11; ршфшСдЬфшр^О .1niiGl¡g[)uij|i huiú'uip puipmlj lj|mujl)ujrinpi¡¿iuj¡]ü puii]ui(ipli rçbujpmiS: önijg 1. uipijuiö, np e(q,0) -» 1, Ьрр q —> 0 (q-iupwmpjiû циуиф шф}>1иф0 i)UljinnpG t):