Одновременная фотометрия и поляриметрия участков лунной поверхности тема автореферата и диссертации по астрономии, 01.03.03 ВАК РФ

ич-:* П-З'

АКАДЕМИЯ НАУК УКРАИНЫ г„ГДАВ.НАЯ АСТРОНОМИЧЕСКАЯ ОБСЕРВАТОРИЯ АН УКРАИНЫ

На правах рукописи ОПАНАСЕНКО Николай Викторович

УДК 523.3

ОДНОВРЕМЕННАЯ ФОТОМЕТРИЯ И ПОЛЯРИМЕТРИЯ УЧАСТКОВ ЛУННОЙ ПОВЕРХНОСТИ

Специальность: 01.03.03 — гелиофизика, физика Солнечной системы

ДИССЕРТАЦИЯ

на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук в виде научного доклада

КИЕВ 1993

Работа выполнена на Астрономической обсерватории Харьковского университета.

Научный руководитель: кандидат физико-математических наук,

старший научный сотрудник Ю. Г. Шкуратов

Официальные оппоненты: доктор физико-математических наук В. В. Шевченко

кандидат физико-математических паук Л. В. Колоколова

Ведущая организация: Радиоастрономический институт АН Украины.

Защита диссертации состоится 2 апреля 1993 г. на заседании специализированного совета Д 016.14.01 по защите докторских диссертаций при Главной астрономической обсерватории АН Украины по адресу: 252127, Киев-127, Голосееаский лес, ГАО АН Украины, тел. 266-47-88. Начало заседаний в 10 часов.

С диссертацией можно ознакомиться в библиотеке ГАО АН Украины.

Диссертация в форме научного доклада разослана « Н » 1993 г.

Ученый секретарь специализированного совета, кандидат физико-математических наук

Гусева Н. Г.

У X

1. ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ

1.1. АКТУАЛЬНОСТЬ ПРОБЛЕМЫ

Пауза в исследованиях ЛуЫ автоматическими станция:« и пилотируемыми кораблями продоягаэтся, поэтому наземные оптические на-Агвдейшг является сеячзс одмк пз основных источников информации о физических и шшэралого-геохштескях свойствах лункой певзрхйо-сти. Наиболее шфериативяыа ¡¿этодсм дистанционного оптического зондирования Луки является спсктрсфэтсметрия; поляржэтрип относят обычно я Еспо.чогата.тьньм кзтодзм С Head et al. 1S783. Пркчлкой ото-• го явя.сется как слабая интерпретационная база поляриметрических _ исследования, так и недостаток васоетточьг.лс наблюдательна* дэннкх. Реально, поело основопэ.чагаЕЯ.е?, работа C'ollfus and Bowel 1, 1971). было проведено линь одно значительное исследовала? в области яаб-' лодательнсЯ лупнаЯ полярикзтрзи. Око ¿ыяо гылогаепо на Айастуигн- • сксй астро^язичэскоД обсерватории под руководство« В. П. Дгзпиа-дгапля СДхапиасзгяи я Король, 1532; Кварацхелпя, 1S533. „.

К согалотя, sate в работе (Del If us and DcwalJ, 1971) т&с и з ' работе (Квгрэцхеяяя, 1S333 кзряду с пояаргмэтрявЗ Луча вараяяеяь-якэ фотоиггрйчзегам изкоренка ив проводй&гсь. Ото оялкго огрзшга-ло аозиаяюсть косокловакяя пояученвет язтгпга яяя поиска различия за2ксп:.гозтсЗ поляриметрически параметров от алыЗедо и/яла других фотскегрячосазпс характеристик. Исследоязлгеэ таких зззгегно-стеЯ представ,«,тегая очень наялкч, т. к. сия характеризуй ызру ■"самостоятельности" тэх шпг инкх 'полярикзтричгагах параметров а дяктуят целесообразность их далвнейего Езуччнпя. ЗСероиим примером, иллюстрирувагм ату кясяь. являемся суазствозаяко ейгкта Уш-ва - теской обратной корреляция мегду ашЗедо C.4J и стспеяыз поля-рязация определенной вблизи ее максимума (Рках3 (Ааракчух, 1964, Dollfus and Bov/ell, 1971). Hst скисла картографировать эту степень, коль скоро она передает-вариации апыЗедо. ЬЬжот, однако, цвести s рассмотрение некий новый параметр, который является коясяпгцяеа Рпах, и А, так, чтойн он представлял поляриметрическую информации, независимую от альбедо СИкуратов к др., 1980). Аналогичная ситуация может иметь место для Луны' й с другими поляриметрическая характеристиками , например, Ри1п я « . Для прояснения этого вопрос са нужны именно одновременные фотометрические и пояярямэтряческяэ измерения, т. к. иначе добиться приемлемой точности а сопоставимо- ' . сти данных невозможно. J

Говоря ос) актуальности представляемой работа, отметки прежде всего, что она важна как некая экспериментальная основа для проверки и стйора различных теоретических моделей поляризации света безатмосфзрньши небесными телами и,' в первую очередь, моделей отрицательной поляризация.

Новые высокоточные поляриметрические и фотсметричаскиэ измерения Луш актуальны также и с точки ¡зрения планируемых космических исследований С СМ. Япония и Еирспейсхоа космическое агенст-воЗ: запуска яукного велярного спутника и строительства лунной базы. Эти данные когут ¡)ьть использована для выбора участков, азональных с фотометрической и поляриметрической точки зрения для космической съемки с высоким разрешением, Интересно откетить, что в опубликованных программах космичэсхих 'исследований Луны использование поляриметров пока не предполагается. Так что, возможно, данные нааеетой пояяркметрии Луны еще долгое время йудут уникальны.

Т. 2. НЕЯЬ РАБОТЫ .

Главной задачей этой части райоты было выполнение одновременных фотометрических и пол;гр}яатрическик иэмерешй учг.сткоз лунной поверхности с цо.тьс получения данных, пригодных для статистического исследования взаякасв.тзей фотометрических и поляриметрических характеристик.

1.3. НАУЧНАЯ НОВИЗНА

Впервые б широком интервале фазовых углов ярогедены одновременные фотометрические й поляриметрические ггамерения йояее ста Участков лунной позеркности в синей (0,42 мкм) и красной (0,65ыкы) части спектра и 18 участков в. спектральном диапазоне 0,36-0,78 w.n с разрешением 0,01 нам. Одновременность измерений позволила резко улучшить сопоставимость фотометрических, и поляриметрических данных, т. к. исключила влияние погрешностей наведения на детали Луны . и другие источнихи ошибок. ■

Для выполнения фотометрических редукций широко использовалась - форцуяа 'Акимова (1979), которая значительно точнее описывает, распределение ' яркости по диску Луны, чем формула известных иодолей Хапке и Явымэ-Боуэлла. Это, а также использование высокоточного спеятрсфотополярикатра ГяО'АН Украина в условиях хорошего астроклимата С г. МайданакЭ, позволяло заметно выиграть в точности по сравнена» с'ямевдиюгая данными. .Благодаря этому, впервые удалось детально исследовать структуру таких корреляционных диаграмм

как Pxtn - А и Р№, п - фазовый коэффициент яркости.

Впг-рЕьгэ йяя статистического анализа фотометрических и поляриметрических измерений лунной поверхности применен мэтод главнш: компонентов .

1.4. ДОСТОВЕРНОСТЬ ДАННЫХ

Уникальная всеможнссть проведепая одновременных поляриметрических и фотолвтраческих hgwspsxvIK Луна представилась автору диссертации в 1983 г. после введения з строй высокоточного астрономического спектрофэтополйригетра ГДО АН Украины СБугаенко и Гураль-чук, 19ВЗ; Бугаенго п го. , 1В35 а, б; Гураяьчук и Др., 19863, который <3йл установлен ira 60-са 'телескс-пе на г. НаЗягзгк. Сястакати-чзскиа на&тздання, эиаояветааэ в течевю последующие я«1, позволили наорать достаточный материал для тоге,. чтоо'а провеете статг.сти-• чексий авалю различных серий кзчерэлйй « дсбптьо.я точности определена.! стег.зг;и поляризаций ко кузш 0,03% для мороки:: ;г 0,04% для , ттериковюс участков. Эта точность яодтвердяяась также в езгдааяь-во jwrouBCjmHx ксятрсяыча ишеркшх .-•«скояымх луккя яэталеЯ с поаэаьэ поляриметра Кчссттутг s¡y¡p.<Zxaz»& Ш Газ&шгстгяз С г. Сгш-гяок) 'Овш&севки и лр., 1Я903.

Точность стеосятельяоЗ ботометрии составляет около 1" . Это гначет- «л?~,уот к ::з глутрензаЗ сксдяксстл дгтк, я кэ сезсзтав-яешя а опорк« к&тыюгоя оптических саоаств Луны САкиме» я др., 1936). когорый в настогкрэ ьромя является ояззэс из сакс точвах.

Практически все лаЯлездцз корршшвхота» вэаааосаяза ыэ»ду Зотсматраческимя к яолярни^трачзегамя гаргмврас'тма Яуиа лод-таеряя?этся лгборзтортлгя угаараннжа образков как.яргродяого, тяк И jracyccTE^fiîCi'o проюпюкдеиля (йкуратов в S?.» lf:37;.Shkwratav, Gpariasenfco, Kreslavsky, 1392).

1.з. имкгящеш зкАчакз рюш

Как уте упоюгазаось, всяучавгкЯ ксокк оптачзсквЛ каталог, а tûkso пзявлашиэ яа основа его гяализз статястачехягаэ эакспсисрко-отя п&5ек?ййя гояярч:.;етрт;9скях s фзтскзтрпчссвйз язрзштров шгут бмгь ясяеяьзогаяьг даа'срсеедо тсерчачэжа кодэлеД ©тряиатгкъзоЗ шяаршшцш -я ощюззагокязго ?$$«ктя.. 3 частяоотз, юш коррг-юшяя Р , - фззовай îcosbjKïî'îe:;? ярхсата уяезнзатг, .па-8шп?с»г>", чя odsHocTb лройсхоздмия ггляеека сЗратлсго рг.сселпля я птряцз-тельпой поляр'.яздйя."

Иов:»! оптическая катгяог иогздт бить ислояьзоваа для калкйроэ-

о

- б -

ки будущих фотометрических и поляриметрических карт Луны, а также для оценки точности существующих. .

1.6. ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ, ВЫНОСИМЫЕ НА ЗАЩИТУ Автор выносит на защиту;

1. Каталог фотометрических я поляриметрических характеристик более ста участков лунной поверхности в двуя, длинах волн

0.42 и 0.65 нкм).

2. Результаты спектрофотометр«!» я спектроиоляриметрия 16 участков лунной поверхности основных морфологических типов, в интерзала 0,36-0,78 юш.

3. Исследование корреляция фотометрических и поляриметрических характеристик. В.частности, обнаружение зависимости Patп - фазовый коЗффщиент яркости в диапазоне углов фаз 3,1е- 10,3", которая, возможно, указывает на общность происхоздения опаозици-

• онного эффекта и отрицательной поляризации.

4. Статистический анализ полученных данных методом главных компонентов, показавший, что сястеиа фотометрических И волариаэтра-ческих параметров, исяользуэдаяся обычно в оптике безатмоо5ор-ных,небесных тел, имеет только два каз&виеакй »бйокеата.

1.7. АПРОБАЦИЯ

Результата работа были представяаны на VIII, XII и XIV Советско-американских совещаниях по сравнительной планетологии (Москва; иснь 1983 г., август 1930, ноябрь 1991 г.), на всесоюзном совещания "Поляриметрические мотоды в астрономии" (Ленинград, октябрь J990 г.

), па всесоюзных совещаниях рабочих групп "Луна" (Львов, Славское, сентябрь 198Э г.) и "Астероиды" СКиёв, ивнь 1S90 г.), на всвсоганои совещании по создание лунной база (Москва, январь 1991 г.), на республиканской конференции молодых астроноаов (Киев, март 19SS г.), а таххэ обсуждались на научных семинарах АО ХГУ, Абасту-манской астрофизической обсерватории АН Грузии, -ГАО АН Украины Сотдел физики планет), ГАИЗ МГУ (отдел исследований Луна). Публикации.

По результатам работы опубликована 21 статья (список работ приведен в конце диссертации). В работая (Опапасенко и яр.,1990; ShJcuratov, Opanasenko, Kreslavsky, 1992; Shkuratov, Opanasenko, 1092) подытоеэны основные результаты представляемых наблюдений.

1.8. ЛИЧНЫЙ ВКЛАД АВТОРА Все наблюдения и ик первичная обработка выполнена автором са-

мостоятельно (в отдельных случаях при наблвдениях автору оказывали помощь В. А. Кучеров и Н. С. Олифер).

Автору принадлежит идея использования метода главных компонентов для анализа полученных данных, а также ее реализация.

Постановка наблюдательных задач, а такха интерпретация результатов - равноправная с соавтором статей и руководителем работы ШкуратовШ О. Г.

1.3. СТРУКТУРА РАБОТЫ

Работа состоит из 7 основных разделов, содержит 6 таблиц и 9 рисунков. В работе дано определение исследуемых фотометрических и поляриметрических параметров, представлена методика проведения измерений и их обработка. Дано ойдее списание наблюдательного материала и изучаются некоторые корреляционные зависимости между исследуемыми параметрами. Затем представлен« результаты анализа наблюдательных данных методом главных компонентов. И, наконец, в за-кявчеиии перечислены наиболее вагные результаты.

2. СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ

2.1. ОПРЕДЕЛЕНИЕ НЕКОТОРЫХ ОПТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

Свет, отраженный лунной поверхностью, характеризуется четырмя параметрами Стокса: /, О, II, V. Параметр 1 есть интенсивность принимаемого светового потока. О я У характеризует величину линейной поляризации Р = + и полояение плоскости поляризации 0 =

= 2агс1дд , V описывает величину круговой поляризации. Исследования показывает, что с высокой степенью точности плоскость поляризации всех участкой лунного диска ориентирована либо параллельно, либо перпендикулярно экватору интенсивности Ссы. например, Кварац-хелия, 1938), поэтому достаточно измерять степень поляризации Р = и/,р/С/1+ 1Ц) где /х я 1 (Г янтенотаиоста света, пропущенного через анализатор яря ориентации его, соответственно, перпендикулярно, и параллельно экватору интенсивности;. Р при таком определения кокет быть и положительной и отрицательной.

Фазовая зависимость степени поляризации РСоО отрагеккого света могет быть описана еледуюаиш найорои параметров Сем. рис. 1а): Р , _ и Р - величиям степени полкргзацка, соответственно, в Ш1-

п ЩАХ

шшукэ й максимуме;.ав(п я аялх - утлы фазы, при которых, соответственно, Р а р я Р = Р • а, - угол инверсии (угол фазы

ЛИ Л 1 ГУ

при Р - 0); Л - параметр, характеризующий наклон поляризационной

л

- а -

кривой при а = а1пу; т.е. Л = .

Фазовую зависимость яркости будет описывать следующими двумя паракераыи: Ж а) -величина альбедо Скоэффициента отражения) участка поверхности при некотором фиксированном угле фаза а; г=ЛСа )/Жа,) - наклон этой зависимости Сфазовый коэффициент) в интервале углов фаз. а и ая. Далее будем использовать отношение г/г^, где соответствует фазовому коэффициенту стандартного участка в кра:ере Ле-монье, -Такхе испояьзуеы величины: Б ■ =

•ЖаГ"),

= /Р , /-ЛСа 3

' т! л' »11 п

Б = Р

шах - ш

пропорциональные второму параметру Сток-са, соответственно, и 0тгх ври со--огветствуювдх фазовых углах.

О

Ыч. оСг Ы

Рис.1.' Определение используемых параметров.

2.2. АППАРАТУРА, МЕТОДИКА ПРОВЕДЕНИЯ ИЗМЕРЕНИИ И ОБРАБОТКИ ПОЛУЧЕННЫХ ДАННЫХ

Одновременные фотометрические и поляриметрические наблюдения проводились в 1933 - 1990 годах в основном на астрономическом спе-ктрополяриметре ГАО АН Украина, установленном на 60-см телескопе Цейсса на г. Майданак в Узбекистане. Спзктрополяриметр позволяет регистрировать значения четырех параметров Стокса: I, С, и, одновременно в-. 2 оптических каналах: фотометра и спектрометра. В канале фотометра устанавливался интерференционный фильтр, обычно с центром пропускания на 0,417 «кн. Б канале спектрометра проводилось сканирование с шагои 0,01 «дм в спектральном диапазоне 0,36 -0,80 шш или устанавливалось значение длина волны 0,63 мкм. Размер входной диафрагмы - 10". Более подробно рехиш работы спектрополя-риметра изложеаы в работах. СБугаенко и Гуральчук, 1935; Бугаенко и др., 1983 а, б).

■ Поляриметрия и фотометрия Луны проводилась налет следующим образом.

1. Вначале наблюдений определяются параметры инструментальной поляризации СШ, Д№ по звездам-- поляриметрическим стандартам, как с малой так и с большой поляризациен с накоплением, по возможности,, около 10е импульсов, т. е. со среднокваратичной ошибкой за счет фяуктуацяй.потока около 0,02% .

• — Q ~

2. Затем проводится первая серия измерений лунных участков с накоплением 2'107импульсов, при этом величина среднеквадратичной ошибка а измерении Р около 0,03% . В начале сорта, а затем через каждые 10-15 минут измеряется два стандартных участка дм отслеживания фазовых изменений Я.

3. Затем по звезде-стандарту с малой поляризацией контролируется величина параметров инструментальной поляризации.

4. Далее проводится определение коэффициентов атмосферной эк-стинции по наблюдениям на разная зенитная расстояния;: звээя - фотометрических стандартов.

5. Проводится вторая серия кзмерапка лунных участков с экспозициями в несколько секунд с измерением череп каждые 3-3 кинут нескольких стандартных участков, оптачг-с/сйз свойства катерах пр-гдйь рительно тщательно изучены (Акимов и ;;р., 1982, jgu. .работа автора 3, а через каждые G-10 ».мнут - звезда - фотометрического стандарта на близком к Лупа зенитном расстоянии.

6. Затем проводится повторной определенно коЬффициентоз зке-тннкции.

7. После этого проводите:! третья серия измерений лунных участков, так как это было описано в пунктах 3, 2 и 1. 0

8. Результаты определения Р в первой п третьей сериях пабдг-¡ni-лЛ интерполируются на кокеит яабявяютнг второй серпа.

Распределение анергии в спектрах звезд - спектрсметрячсстсиг стандартов взято из работа Глуияевой (1982). Данные по поляриметрическим стандартам заимствованы на работа (Serko'.fski, 1974). Величина инструментальной поляргзацаа ДР = v&Q* ♦ UP ocSinraj s:a провисала 0,12% и была в гргделах :iorpcs::ocr;s 10,02% стабильной в точение одной ночи ь едкой переклада» телескопа. "Случайная погрешность поляриметрических измерений в .'основной обусловлена сшибкакя гидирования: о:*л сказалась равной 0,034% для однородных по альбедо к рельефу участков и скояо 0,045% для участков другая типов в области малых углов фаз и охоло 0,03% и 0,12'/í , соответственно'при углах фазы вблизи гмхеиыука поляризацкз. Погрешность относительной фотометрии при проведении набяпдснгЗ на зенитных расстояниям меньше 50° удается свести к величине не donee 1%.

Для независимого контроля кгкетораэ участки лунной поверхности были измерена на поляриметра Института астрофизики АН Таджикистана, установленном на 1-м телескопе ка г. Санглоя. ' Несмотря на использование различных телескопов я поляриметров, ' некоторые раз-раз литля вкодных диафрагм и эффективных длин волн, наблюдается го- .

о

роиее Св пределах среднеквадратичной погрешности) совпадение результатов, что видно из таблицы 1.

• Таблица 1.

Сравнение данных независимой поляриметрии одних и тех же лунных образований, выполненной с помощью поляриметров Г АО АН Украины и Института астрофизики АН Таджикистана

. N п/п N по табли-'це 2 Название объекта Майданак Санглок

Длина волны, «км

0.417 0.650 0.426 0.687

1 1 Лемонье 1.05 1.25 1.05 1.31

2 И Флемстия 0.77 ' 1.13 0.82 1.20

3 9 Пятно Вуда 0.99 1.34 1.0В 1.39

4 IP Гельмет 1.14 1.33 1.17 1.27

3 áS Рейнер х 1.21 1.23 1.18 •1.32

S 15 Ньвкси 1.00 1.11 1.02 1.09

7 25 Стевин А 0.74 0.77 0. 75 0.76

8 Стевин В• 0.91 1.05 0.97 1.06

9 28 Аристарх 0.65 0.63 0.62 0.67

10 ■ 23 Прокл 0.58 0.57 0.55 0.62

11 27 Берги 0.52 0.56 0.57 0.61

Для'получения фотометрических характеристик необходимо было по наблюдаемой яркости тщательно определить величину альбедо исследуемых участков. Такая процедура требует приведения измерений разных лунных участков, к единым фотометрическим условиям с учетом двух факторов. Первый из них, который хотя и мал, яо требует учета - это вариации угла фазы по лунному диску. Второй наличие долготного и широтного хода яркости по диску Луны. Вариации фазового угла а невелики Соколо 0,5°), но из-за большой крутизны фазовой кривой яркости при углах фазы < 11° их необходимо учитывать. Среднее изменение яркости в интервале наблюдений или отслеживалось по звезда;.! - фотометрическим стандартам, или приближенно считалось около 5% на 1° С Акимов и др., 1982, см. работы автора).. Распреде-. ление яркости по диску.расчитывалось по эмпирической формуле Акимова С1979):

pía \ у) = cosa/a 'cos4"1»? ícos^CA. - a/a) - sinqa/z)

cosX (1 - sinча/я) где а - угол фазы; К, р - соответственно фотометрические долгота и

широта наблюдаемого участка; q - так называемый фактор гладкости.

Для расчета абсолютной шкалы альбедо использовалось распределение энергии в, спектре Солнца (Макарова и Харитонов, 1972), которое дает наименьшие систематические расхождения между результатами . спектральных измерений мест пссадок КА серий "Луна" и "Аполлон" и

. - Ii -

соответствую« им образцов яувного грунта (Акимов и лр., 1982 см. список работ автора). •

2. 3. ОПИСАН®' ПОЛУЧЕННОГО МАТЕРИАЛА

Одновременные фотометрические и поляриметрические наблюдения лунной, поверхности проводились в равные лувацкя в широком диапазоне углов еЬаз от -122* до +155°, но чаш,е всего при углах фазы близких к«,, а , aîOici . Угол фззкг а , , при котором дссти-

min iiv инк v ni л r '

гаётся минимуме поляризация Р 1п> варьируется по лунной поверхности не более чэм на 2* (Dollfus and Eowell, 1971; Кварацяелия, 1388). -Сам этот минимум размыт, поэтому измерения проводились нами в интервал?» углез фаз 9,3°- 11,3°. Это вносило езнбку в измерения Рп1п ' . нэ более 0,03%. Ока определялась по наблглениям стандартной детали - кратера Лемояьэ. Известная огяоташкг-ть фаэовкх кривое пояяряза-зашга в сЗлпста отрицательной вотвя позволяет надеяться, что равенство Р. % f , для большинства лэтаягЗ справедливо с отклонения-

вэм cil п Г

m не болов О.СЗУ., что практически не влияет на вид полученных: зависимостей. . '

Маясикуч поляризации разя» вагаюго сильное, чем шшииум. Поэтому для хсслглоазаия корреляций меаяу параметрам отрицательной поляризации и F ^ t.st прекебрзгаем отличия.« вариаций Рпся от ВЕрчаций Р пря фйкспрсиалпс« углэ фаза вблизи а _ и предполагаем Р % PCS0") п S. >s steo*). '

тая stau

Мяишгальноз значение а, при котором возможны назеыжз наблюдения - около 1е. {»жметрячгскйо наблюдения пря калкх углах фгяы необходима опредоязгда аяьбэдо и параметров оппозиционного зф-вффэкта. Наши кзбяйденпя позволили' получать и использовать в дальнейшее А = ЛСЗ, 1*3 я гР-г 2 = ¿(3,i°)/.4Cî0,3°), a - то га для стандартного участка (кратер Лайнье). Определение всех параметров требует высокой точности вцчпеленкя угла фазы. !'я учитывали указание CGshrels, 1974) о нообгодямостя вычисления пб только по-яозэнкЯ центров Лупа а Зваля, но п лолохэния наблюдателя я лунного участка отнесятзлыго этих центров.

йаиболее полный набор фотометрических и поляримзтрячоских характеристик получен для 31 участка в красном (0,65 дам) я синем (0,417 jmmî'участках спа'г.тра. Эта данные представлена а,таблице 2 (см. Прклогение). Для каждого участка приведен номер участка, его название, селенографические координаты: долгота - I и широта - Ь, определенные по Полной карте Луны С1979),и эначешкя параметров: А, IР, а, . h,5 , . z/z, , Р , S , в синем "я красном участка*

1 si! n lnv' m! п U яа»^ max г '

спектра. •

Кроме приведенных, получено еще 3 массива данных:

1. Для более 100 участков определены параметры : Ат1 Ч; /К 10,5°), , |Яи1п|, *Ж90в), и К90°). С См. таблицу 3 Приложения)

2. Восемнадцать участков поверхности различных морфологических типов просканированы в спектральном диапазоне 0,36 - 0,78 мкм с шагом 0,01 мкм, что позволило получить спектральные зависимости следующих характеристик (см. таблицу 4 Приложения): /1(А.) |а . , , ». \рп1 схз|, , ш|. и , /гсх).

' «11 п ' ' 011 П 1 1ПУ

3. С целы> поиска слабых полос поглощения получены спектральные зависимости АСУ) и РСА) в спектральном диапазоне 0,48 - 0,58 мкм с шагом 0,002 мкм для 20 участков лунной поверхности при фазовом угле йО'ЧОралазепко, ЭЫогаЬоу. 19ЭШ.

Некоторые данные будут представлены на графиках.

2.4. НЕКОТОРЫЕ ОСОБЕННОСТИ ПОЛЯРИМЕТРИЧЕСКИХ И ФОТОМЕТРИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ЛУННОЙ ПОВЕРХНОСТИ

В этом разделе кратко изложена результаты, представленные в наших работах (Опанасенко и др., 1990; Шкуратов и Опанасенко, 1990; ЗЬкигаЮу, Орапагепко, Кгез1атеку, 1992).

При минимально возможном для иаблодения с Земли угла фазы Луни (около 1") наблюдаются отрицательные значения Р около 0,2'Л , их вариации по поверхности веська невелики: _диапазон меньше .0,1% . Спектральная зависимость Р отсутствует. Но тем не менее наблюдается интересный, так называемый лимбсвый эффект Лио (Дольфюс, 1963), В наших измфениях он проявился в увеличении |Р| вблизи экваториальной области лимба примерно на 0,1% и таком же уменьшении вблизи фотометрических полюсов (Икуратов и Опанасенко, 1990).

При увеличении утла фазы а величина Р уменьшается, ее вариации по поверхности увеличивается и при углах фазы около 11° достигается минимальное значение Р. т.е. Р, . Величина |Р . I варьиру-

М1 и яи п

. ется по лунной поверхности в интервале 0,55 - 1,4% . что подтверждает даннкэ Кварацхелия С1983), причем диапазон изменения в синей - области бпектра приблизительно на 0,15% ыеяыае, чем в красной. СОпанасенко и др., 1990).

На рис.2 представлены зависимости Р^СА.), АС к], а1л(К), ЬСК) ^тлх^' для ® участков лунной поверхности разли-

чных морфологических типов.

Рассмотрим спектральную зависимость Р 4 , представленнуп на рис.2а. Как видно яэ рисунка, представители материковых ярких кра-

Рко.2. Спрктраяьные зависимости полярииатричесйих и фотометрических характеристик участков лунной поверхности -различных морфологических типов. На всех графиках знак X показывает.величину характерного разброса экспериментальных данных.

- и -

теров (1), морских ярких кратеров С 2) С в том число Прокл и Аристарх) имеет постоянные по спектру и довольно низкие СО,53 - 0,86%) значения |Pmtnl- Светлыв татериковыэ участки поверхности СЗ) также не обладает зависимостью (Р^ ^О.)/, но диапазон .вариаций по поверхности 0,8 - 1,1%. Такие образования, как Сонное Болото или Гельмет (4) имеот довольна высокие зяачэния JP 1п1 в прэделах 1,1 - 1,4/í и показывает увеличение зтого параметра с длиной волны на 0,С5 -0,15% . Морские участки и кратеры с плоским днкцем показывают увеличение- |РП1П1 на 0,2 -.0,5%, причам более молодке синие участки, такие как Флеыстид (6) шеет более низкие величины, а красные участки (5) - более высокие значения. Координаты участков можно найти в таблице 2 (см. Приложение), имея ввиду, что номера кривых 1-6 отвечает в этой таблице номерам 27, 23, 13, 19, 9, 11, соответственно.

При дальнейшем увеличения а величина Р увеличивается и достигает точки инверсии в диапазоне углов Фаз 18,4°- 25,2". Как видно из. рис.'26, вариации ainv б красном участке спектра достигают 3,5°, а в фиолетовом - 5°. Есе.участки поверхности показывает спектральную зависимость а пу: менее выраженнув (около 2°) у материковых, поверхностей и ярких кратеров и более выраженную у морских участков - до 5? причем, "синие" образования обладают Меньшими значениями a¡nv по сравнение с "красными" на 1' - 2°. В работе Кварац-хелия (Í388) зависимость а. (Л) была найдена только у морских

i nv

участков.

На рис.^в представлена зависимость МХ). Сашки низкими значениями h и наименее выраяэяной спектральной зависимость:) обладает яркие материковые и морские кратера. Самка высокие значения h и наиболее зараженная зависимость ЛСА.) характерны для тешкх морских поверхностей.

При дальнейшем росте а величина Р быстро увеличивается, причем в синем участке спектра быстрее, чем в красном, и достигает максимальной величины (Рвг.х) при углах фазы около 105°. Максимум фазовой зависимости Р(сО сильно размыт, поэтому будем считать в некотором приближении вариациями Ртах вариации Р при a - 90°. На рис.2г представлены зависимости P^ÍX). Наиболее высокими значениям! Р Сдо 24% в синей .области спектра) и наиболее выраженной

171 АХ

спектральной зависимостью обладает темные морские- поверхности, а самыми низкими.значениями поляризации (около 5%) и наименее выраженным спектральным ходом Р(\) (всего около 1 - 2%) - яркие морские и уатеряковые кратеры.

Рассмотрим теперь поведение фотометрических характеристик. На рис. 2д представлено спектральное альбедополученное при угле фазы 3,1°. Чтойн подчеркнуть именно спектральные вариации яркости на рис. 2е приведены кривые относительной отражательной способности /¡СХЗ/^СХ) (пормиролка на отрахательнув способность хороао изученной области в кратере Дшоиье (Акимов и др. , 1982, работы автора)).

Благодаря одновременным измерениям Ж а) я PCX) зпервте удалось получить для Луна кадекякз зависимости параметров SaJr(X.) я S С\) Сем. рис.2х-э). Как к следовало ожидать, |S (А)| коно-

. max ^ 1 jnt п 1

тонно возрастает с ростом а, тогда как S^^OJ макет иметь различные наклоны.

2.3. ВЗАИМОСВЯЗИ МьЗДУ ПОЛЯРИМЕТРИЧЕСКИМИ И ШОМЕТВКВСШИ ХЛРАКТЕР1<СШАШ Одновременные измерения Рп1п и /5 позволили существенно уточнять вид корреляционной дизграмии Pffln - А. построенной ранее Ква-

рзцхелия С1988). На рис.3 представке:»« э&ь оядастк икм измерениям з синсы и красном участках спектра, на других рисунках точки соответствует морским участкам, кружки - матерлковш, крэсгикя - ярким морским . кратерам и, неконец, обведеннкз ярестикя -ярким материковый кратерам. На диаграмме, отвечающей сишм лучам, зыделгтьтся два ветзи. В области низкий альбедо Сморсх-

Р , СА) по Hani п

Здесь и далее

10 h

zt

г,.

г*

af

э Xeff =0 CS^tm * ш. Ф -в

« • » * - а i ® • • » * ^ + * А • в ** * • с; * ХеЯ.вОдг^т •г-:, . . ...

10 15 - М albedo io Ъ*>цгъ). %

' £5 5 ТО

«Кжй (042ЦШ), %

ая поверхность) п| увеличивается с ростом .4, достигает максимума в области апьбедл, характерных для границы моро -материк, и затем уменьшается с ростом А С материковая поверхность, светлые выброса'кратеров). В красных лучах наблвда-

ется практически одна ветвь, и только в области самых вязких альбедо имеется отклонение от общей якнейяай зависимости. ГЬрабояиче-скио регрессионные уравнения для этих зависимостей имеют вид: |Рв1п1 = 1,28 + 6,-4-Ю-1/« - 1,4-10-гАл 1Р1п' г 0.77 4 7.7-Ю-!£Л - 6.0-Ж*А* Здесь |Рв1(11 и А даны в '/,. Отмруиц, что двузначность зависишзсти

Рис. 3. Зависимости \Р п | к o(nv от альйедо а красном з еккен участках спектра.

СХ .. » 0,63 мкм> (X,.. = 0,42 иск)

Э9*

Рго1пСЛ) обнаруживается no измерениям лабораторных образцов CShlcu-ratov, Opanasenko, Kreslavsky, 1992).

На том же рис.3 приведены диаграмм a А в двух участках , спектра. Видно, что в красных лучах моря и материки, в среднем, имеют почти одни и те se значения et В то же время, в синих лучах зависимость пу(ЛЗ хорошо выражена в низкоальбодной части. Были получены следующие уравнения параболической регрессии а = 22,2 ^ 0,22А - 0,006Лг (X,,. = 0,65 мкм)

inv 1 S®8

а° = 14,9 + 1,37 А - 0,059^ Ol.. = 0,42 мкмЗ

inv '

Отметим, что в целом такое поведение а1пу подтверждается данным! лабораторных измерений (Shkuratov, Opanasenko, Kreslavsky, 1992).

Зависимость параметров h, Smln от альбедо показаны на рис.4. Как и ом да лось, подтвердилась тесная корреляция he/. Ее дальнейшие исследования важны, т.к. именно на существовании связи h - А основан поляриметрический ивтод определения альбедо и диаметров астероидов (Morrison,- 19753. Наш-; получены следующие уравнения параболической регрессии:

А - 47,3 - 333,6h + 357,8,V (Х,.. * 0,63 мкм)

А = 39,8 - 330.6h + 789,2h* Ol,,. = 0,42 шш)

Это неплохо согласуется с тем, ' что было получено ранее в работе С Bowel1, 19733 по измерениям Луны и лабораторных образцов. Довольно необычны диаграммы IS^GOf (или IQ^U)!, что согласно определению (см. выше} почти одно и то ¡шЗ. Здесь корские и материковые образования даст тесную прямую корреляцию, близкую к линейной. Тогда как молодые морские и материковые кратеры "портят" .. ее, отклоняясь вправо и давая при этом большой разброс значений на диаграмме. Для зависимости IS . (i431 имеют кесто

ш п

следующий уравнения, если учитывать все точки на соответствующих диаграммах (рис. 4): .

|S I = -2,87 + г, 127А - 0,057,4* (X,,. = 0,63 мкмЗ

1 mi п 1 Э({

|S , I =■ -4,62 + 2,326/1 - 0,081Л2 (X __ = 0,42 мкм)

1 ж п1 эн

ХсИ-Оббцгп * Ф 9 * + ф i ■ ■ ® ,1 7/ Xeffe042^m ® © . * © ' ® *

Л •ДвЗЙ +V 1*9 'SP Xell =0.42цт <6 • с Í?. + f. *

albedo (065)im). %

albedo (0 4¿(tml. %

Рис.4 Зависимости h и IS , I (в

1 mi ti 1

%/» и %•'/>, соответственноЗ от альбедо лунной поверхности.

В случае использования данных только для морских и материковых районов ыозшо получить следусдае линейные зависимости: • ' |SMrl * 1,27 + c\í9 = 0.65 кт)

\SaiJ - -1,93 + 1.37Л <Х,„ - 0.42 юм>

Рассмотрим зависимости между некоторыыи поляриметрическими характеристиками и пакленом фазовых кривых яркости z/2l (рис.- 6). Откэткм, что такие взаимосвязи изучались ранее по результатам лабораторных иэкер&няЗ СЕчуратов,1£35) и данным телескопических исследования некоторых с<сзатмо-сферных небесных тел СКолоко-•чоЕа, 1965). Применительно к Рис.5. R-.s!!cjí>íoct:! |Р I и а

„ ' п! п1 1 nv

Луне отот вопрос впервые изу- от z/zL для лунной поверхности.

чался в наших работах CShkuratov, Opanasonko, Kreslavsicy, 19923. Согласно рис.5, существует хорем выраженная зависимость |Pmlnl от . (z/2l) как в красных, так а в синих лучах:

IРИ1 п | « 0.68 t. 0. 12Z/Zl СХэ} = 0.65 шаО

I^J - 0,7o t 0.243/Zl CX5JÍ = 0,42 IBOÚ

Эти данные вполне согласуется с выводами работ (Шкуратов, 1S83; Колоколова, 1685), э которых существование подобных статистических зависимостей интерпретировалось как указание на общность происхождения отрицательной поляризации и оппозиционного эффекта.

Обнаруживается выраженные зависимости некоторых "цве^окат" отношений поляриметрических характеристик, например, №.. > Р. СО,63 v¡faü/PMt СО,42 юий

ira л mi n * mi n

51 Calnv- alnvC0,65 мкн)/^nvC0,42 икмЗ.

от альбедо Сем. рис. б). Зти зависимости сильно яехаш$щ ¡t хорб-

а:о описываются следующими уравнения!«:

CPnin 1,327 - 0,0914 + O.QOSoA* « Calnv = 1,374 - 0,041Л + О.ООЗОЛ*.

В силу суиествопаняя твсзоЯ корреляции между h к А следует ожидать также зависимости Ch=hC0,42 ккм)/М0,63 ю.ы.) от показателя цвета СА = ЛС0.65 мкм)/ А(0,42 мхм). Те.« не менее, согласно работе CZellner and Gradie, 1976), такая зависимость для астероидов фактически отсутствует. Это даже получило.название Я-эффекта. Наши

измерения, представленные на рис.7, показывает, что корреляция

■j

1 ' . "xeft=06C/im ' \ • ® в в + • - - 1 г-— т— ■—г Xeft,=042fim •• . * в • е Г |®|

** •••Y.3. •• Хе« =0 65 ® "i".'" *. Í^Gíf 42f>rr>* # « »

ОЭ , . 10 09 Г^ НГ

1.4 13

.£ E CL

О 1.2 l.'l

1.0 1.2

• i— ---- -

•

«•

«

_ 0 *

* 9 frt ®

•

• •

• • +

•

в с « »

+ •

« . ®

10 15 20 A (0 65fini). %

Pec. 6. Диаграммы CPmi n~ /4 и Ca - А "для поверхности Луны.

03 OS

2.5 log (AM Kern)/АЩ 42|trn)>

Рис.7. Иллсстрзцяя. яукпэго G-эдрфекта.

СП - CA существует я никакого Q-зффоята применительно к Луне не наблгдается, Это подтверждается такжа ланками лабораторных измерений (Shktiralov, Qpamsenko, Kreslavsicy, 1S92).

2.6, НЕКОТОРЫЕ 8АВИСЖ0СТИ, СВЯЗАННЫЕ С ЭФФЕКТОМ УМОБА

Bnspsi;? с достаточной точность» эффект Умог-а С обратная корреляция меаа,;/ альбедо к »ейячхаой макашука поляризации) ясоледовая-с,я в patforax Азратука, С1964) к Мрг.ьфаса (Bo-Ufsis, Bavell, 1971). Ш тазе?» изучали ату корреляцию, имзя в виду, прекде всего, оцэ-яять роалыюсть отклонений данных от средне? павпетшоета, линейной в log-log осязс. На рис. S представлена диаграмма log? - iog^, для красного учалгхя спякгра. Спаранккй точки отвечает измерениям одних и теа яе учьстксв при блкзглх фазовый, углах ь разное вреая. Этот разброс характеризует реаяьаке сшиокя дискретной фотополяриметр!;: , связанные с точность» наведения телескопа на одну к ту жэ догаяь при различных якбраетяк Луни. Кяк видна. ошибки сказывается заметно меньше ширины диаграммы logP-lcg/.. Зтот результат обосновывает возможность исследования $азяческих причин, приводящих к отк-лс-н?нк» данных от ланик регрессии. Качало исстадовгний зтих причин положено в работах СШкуратов и ¿р. , 1GQ0-, Новиков и яр. ,1932). Нижа пригедегы уравнения регрессии, полученные CColifus, Bowel1, 1971): log^ + С,724-log? = 2,262

ex.,.- = 0,ВЗ мкы) и*

о. а --о 1.г.

{ßGffitO.ö^ jum)

Ряс. г

Эгяксчкость Pnaj[ or альбедо, прэдстазяеяяая в логарифмической масштабе по обеим осла.

и нами:

1одЛ + 0,845-1сдР

= г; 734 С 0,63 ьвдмЭ

log/) + 0,793-ioqP • = 2,514 СО,42 шсм)

3 3 т«х

(<4 и Р дани соответственно в процентах а промилле). "

Как уго отмечалось,. зависимость ПСА) используется для определения альбедо и дкпкэтров астероидов. Супество-ванг'е ото Л зависимости объясняется эффектом Умоза. При атом предполагается, что параметры h и Р очень тесно связана друг с другом и взаг-мсзаченяе-ш. На нам гагляд, зто предположение недостаточно обосновано. Так, г.а рмс.9

представлена лкаграмма h - Р, , пост* * шах

роенная по данинм Допь£вса СDoilfus and Bav/oli, 1971) (точка) а нашим наблюдениям Слиния). Верхний колец линий ссот-

Рис.9. Лиаграима Р -к

г так

Ch представлено в %/<=).

- го -

ветствует измерениям в сюик лучах, вдхни2 - а красных. & видам, что зависимость Ы.Р ) нелинейна и при больших Р стремится к

шизе тех

"насыцекко". Таким образом, при больших К (т.е. низких альбедо) поляриметрический меюд определения диаметров и альбедо астероидов не может работать надежно. Это действительно имеет место (№нт15«\, 1977). Приведем уравнения регрессии зависимости Л от Р :

л = 0,024 + о.,огг-р ' - з.зО'Ю-'-р* сх.= оГбз ккю

шдк тах э$с

Л'«= 0,029 + 0,014 -Р - 3,01 -10"* •Рх СХ ,, = 0,42 мкы)

' . шах . • щах 3||

2.7, СТАТИСТИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ НАЕШАТЕЛЬНЫХ ДАННЫХ МЕТОДОМ ГЛАВНЫХ КОМПОНЕНТОВ

В предыдущей разделе мы исследовали некоторые избранные корреляция между поляриметрическими и фотометрическими характеристиками. Однако, представляет интерес кайти все возможные взаимосвязи в Представленном наборе параметров и понять, насколько эти параме-' тра независимы друг от друга в количественном отношении. Преаде всего,' нами бал выполнен линейный регрессионной анализ данных, В частности, была вычислена корреляционная матрица. Коэффициенты корреляции, определенные по всей совокупности измеренных деталей поверхности, представлены вкиэ диагонали матрицы (таблица 3 Приложения) . Данные ниае диагонали относятся к измерениям с исключенными юрскики и материковыми кратерами. Б каждой ячейке таблицы 5 верхняя позиция задает коэффициент корреляции в красных лучах г'^р, нигкяя - в синих гВ1Н. Например, если нас интересует корреляции А и Рт1п только для морских и материковых образований, следует найти пересечение колонки А и строки Рт1п. и тогда получас«, что гкр = - 0,43 и ге1Я = + 0,61. Пересечение колонки Ря1п и строки А даст гкр= -0,90.и гс£н = -0,53 для всей совокупности данных, вклвчая молодые кратеры.

Для того. ' чтобы определить информативность Свзаимнуп независимость) использующегося набора параметров, применялся катод главных компонент, ранее ут использовавшийся для анализа спектральных оптических измерений Сем.., например, СТЬо1еп, 1534)).

Скысл этогр метода состоит в слодуваеи. Пусть имеется некоторый набор измеренных параметров ХпСп. » 1, ... /О. Составим матрицу корреляционных коэффициентов: .. '

■уяЧ*--^])-

где <...> - усреднение по ансамблр измерений Хк=<Х>, сг^Лх^-Я^*. Матрица 1С]|£] может быть приведена к диагональному виду с помощь»

некоторого линейного преобразования У = I Г _Х , m = 1, ... N, где

m №п п

па

СГип] - унитарная матрица. Тогда вместо набора параметров Хп будем иметь набор У , причём, каждый член последнего набора есть линейная комбинация представителей первого набора. Параметры Ут взаимно на коррелирует. Они и называется главными компонентами. Собственные числа матрица могут быть ранжирована: 1 > I > ... I >0, пря-

N.. 1 z п

п

чем, I I = Н. Отношение I /Н может рассматриваться как "информационный" вклад того или иного компонента в представленном наборе. Степень скоррелированиости глазных.компонент с параметрами первоначального набора задается нагрузочными коэффициентами.

В этой работе для анализа использовалось восемь параметров: A, z/z,, Р , , а, , h, S ' , Р и 5 . для лунпых площадок,

L mi n inv ni п шах max J ^^

представленных в таблице 2. Результаты анализа методом главных компонентов представлены в таблице 6 Приложения. Судя по значениям собственных чисел и величин погрешностей определения 'исходных характеристик, в исследуемом наборе параметров имеется только два статистически значимых компонента.- Причем, первый из них, как видно из рис. 10а и 10в, преимущественна контролируется альбедо и альбедоаависимьми характеристиками (такими как Р , S , S , к

аазс wax mi n

ft), т.е., по-видимому, определяется составом рассеивающей поверхности. Второй главный компонент (рис. 106 и Юг) определяется в основном параметрами, предположительно связанными со структурой поверхности (Р , , а, , г/2,).

r mtn -ltiy L .

Рис. 10. Величины квадратов коэффициентов корреляции первых двух главных компонентов с исходными параметрами (так называемых нагрузочных коэффициентов) в синем (слева) и красном (справа) диапазонах спектра: а, в - 1-й главный компонент; б, г - 2 -й.

- SS -

Полученные данные были использованы для построения корреляционной диаграмма 1-го я £-го главных компонентов, представленной на рис. 11. На диаграмме влдяы кластеры, соответствующие 4 типам луннок поверхности: морям (точки), материкам (кружки), морским (крестики) и материковым кратерам СобЕедоннае крестики).

О 3 -'9 0 ')

1-ый компонент 1-кй компонент

Рис.' 11. Предлтавлекиг наших данных в пространстве первых двух главных к«£1сн?итов .в синем и красном участках спектра. •

Существование этих кластеров, а также некоторое отличкэ диа-гралат в различных длинах волн, позволяет надеяться на возможность проведения классифзкаик тапсв лунной поверхности с привлечением параметров отрицательной поляризации к оппозиционного аффекта.

3. ЗАЮГОЧЕКЙЕ

Работа представляет результаты одновременных фотометрических к поляриметрических»намерений Луны, выполненных в течение 6 лет с псмсадр прецизионного спемгропояаряЬатра ГАО АН Украини Сг. Майдана). Набладатеяьнш денные представлены ь виде таблиц-1-4, которые включают в своя каталоги фотометрических и поляриметрических характеристик -в двух участках спектра Стабл.2 и 3) и спектрополя-ркмэтричеекг! каталог в диапазоне 0,30 - 0,73 ккм. Анализ полученная данных показывает следующее:.

Спсктреполяриметричесета измерения с-бнарулкваст, что все фотометрические я пояярШ5трическЕЭ параметры (включая а1пу ) зависят от X. Лаже яркке матэрияовые кратера, имевшие относительно

, , нкеэт довольно крутой ход а, СО.

П1 Л 1 Ii V

от альбедо оказалась двузначной, что под-твврадаетея данншя лабораторных измерений образцов различного происхождения. Это говорит о тем, что применительно к Р эффекта ■Уыоаа в общем случае г.э существует: шжет наблвдаться и прямая и обратная корреляция степени поляризации и альбедо. Такое поведение РЕ1 следует обязательно учитывать при построении моделей отрицательной поляризации.

плоский спектр альбедо н Р ЗаБйсиыость Р_

- гз -

Обнаружена связь Р и параметра оппозиционного эффекта - наклона фазовой зависимости яркости при фазовых углах 3,1° и 10,О*. Это свидетельствует в пользу предположения об общности происхождения отрицательной поляризации и оппозиционного эффекта.

Зависимость поляриметрического наклона h я РМах в широком диапазоне изменения альбедо .оказывается сильно нелинейной. Это подтверждает некорректность использования Поляриметрического метода для определения альбедо и диаметра темных астероидов.

Статистический анализ наблюдательных данных, выполненный ме-' тоаом MáBHHx компонентов показывает, что в .наборе восьм фотомет- -ряческих и поляриметрических параметров: A, z/zu, Pmln. a-lnv, h, Р , IS , I, S имеется два главных компонента. Один и- них

шля ш п шах

связан с' составом реголита, второй - с его структурными свойствами. Этот результат в перспективе позволит развить известнуи спти-чесиул классификация Срайонирование) лунной поверхности CPieters, 19783 i дополнив ее "структурними" признакам!.

4. ПУБЛИКАЦИИ

1. ЕзерскиЯ В.И., Шкуратов D.Г., Опанасенко Н.3., Голъдберг Е. П. 1982; Спектроскопия участков видимого полушария Луны // Сообщения ШемаяипскоЙ астрофиз. обсерватории, -в. 3. -С. 154-162.

2. Акимов Л. А.', Гояьдберг E.t П., Омаров С. 3., Опанасенко Н. В. Псарев В. А., Шкуратов Ю. Г. 1932. Оптические исследования Луны

' я спектрофотометрячэсяие стандарты // Астрой, веста. -16, fío 3. -С. 153-153.

3. Опанасенко Н. .В., Шкуратов В. Г., Акимов' Л, А., Латынина И. И. 1983. Спектрофотометрический каталог участков лунной поверхности. //Вестн. ХГУ.-No 247.Астрономия Солнечней системы.-С.18-28.

4. Шкуратов !0. Г. , Опанасенко Н. В.- 1934. Взаимосвязь альбедо и поляризационных свойств Луна. Данные дискретной поляримэтрии // Астрон. циркуляр. Но 1330. -С/ 6-3.

3. Гуральчук А. Л., Опанасенко Н. В., Шкуратов 0. Г. 1380. Предварительные результаты спектрополяриыетричоских измерений Луны при малих углах фазы // Астрон. циркуляр. -No 1462. -С. 6-8. В. Опанасенко Н. В.; Шкуратсо С. Г. 1988. Взаимосвязь второго ' параметра Стокса с альбедо Луни в минимуме поляризации Астрон. циркуляр. -No 1331. -С. 23-24. 7. Опанасенко Н. В., Сучкова Т. И., Шкуратов Ю. Г. 1S88. Диаграмма альбедо СО,63 мкм) - спектральный поляриметрический показатель (0,42/0,63 мкм) для Луны// Астрон. циркуляр.-No 152S.-С.23-27.

8. Шкуратов Ю. Г., Опанасенко Н, В., Олифер Н.С., Кварацхелия О.И., Станкевич Н. Л., Латынина И. И, 1988. Оптическая .микрогетерогенность поверхности Яуны по измерениям спектрального хода минимума отрицательной поляризации // Тез. 8 Сов.-Амер. pad. встречи по планетологии, 22-28 авг. 1988 , г. Москва, ГЕОХИ АН СССР. -С. 117-118.

9. Опанасенко Н. В., Шкуратов Ю. Г. 1989. О корреляции величины положительной и отрицательной поляризации света, отраженного лунной поверхностью // Астрон. циркуляр.. -Ко 1536. -С. 33-34.

10. Опанасенко Н. В., Шкуратов D. Г., Кучеров В.А. 1990. .Фотометрия и поляриметркя участков лунной поверхности при малых фазовкх углах // -Кинематика и физика небес, тел. -6, No 1. -С. 3-9.

11. Шкуратов В. Г., Опанасенко Н. В., Креславский М. А. 1990. Диа--гностичность поляриметрических характеристик Луны на основе статистического анализа наблюдательных данных' // Тез. докл.-12-ой Сов. -Амер.- раб. встречи по планетологии 16-20 июля 1390 г:, Москва, ГЕОХИ АН СССР. -С. 87-88.

12. Ёкуратов D. Г.Опанасенко Н. В. 1990. О лиыйовсм поляриметрическом эффекте, открытом Лио jr Луны // Астрон. вести. -24, No 4.-С. 333-336!

13. Опанасенко Н. В., Шкуратов Ю. Г. 1990. Зависимость угла инверсии поляризаций от альбедо для Яукы и лабораторных образцов // Астрон. циркуляр.-No 1S43. -С. 25-26.

14. Shkuratov Yu. Б., Opanasenko N. V.,'■ Basilevsky А. Т., Zhukov В. S., Kreslavsky М. A., Hurchie S, 1ЙЭ1. A possible Interpretation of bright features on the surface of Phobos // Planet. Space Sci. -39, No 1/2.. -P. 341-347.

• 15. -Shkuratov Yu. в., Opanasenko N. V., Akimov L. A. 1991. Connection betvsen the slope of brightness phase curve and lunar albedo // Lunar, and Planet, Sci. Conf. XXII, Lunar and Planet. Inst. Houston, Tex. (Abstract).- -P. 1247-1248.

IB.■Opanasenko N. V. .Shkuratov Yu. G. 1991a. On correlation'of value of minimum of th^ negative polarization and phase dependence slope of lunar brightness // Lunar and Planet.< Sci. Conf. XXII, Lunar & Planet. Inst. Houston, Тех. СAbstract).-P. 1005.

17. Opanasenko N. V., Shkuratov Yu. G. lS91b. An attempt to find weak lunar absorption bands in the. visible range on the base of Umov's effect // Lunar and Planet. Sci. Conf. XXII, Lunar - and Planet. Inst. Houston, Tex. (Abstract). -P. 1003-1004.

18. Opanasenko N. V.', Shkuratov Yu. G. , Ollfer N. S., Kvaratskhe-11a 0. I. 1991. Dependence of value of minimum of the negative polarization upon albedo for the Moon and laboratory samples // Lunar and Planet. Sei. Conf. XXII, Lunar and Planet. Inst.. Houston, Тех. (Abstract). -P. 1007-1008.

19. Shkuratov Yu. G., Opanasenko N. V. , Olifer N.S. 1991. Is there Polarimetrie Q-effect for the Moon, asteroids, and laboratory artificial samples? // Lunar and Planet. Sei. Conf. XXII, Lunar & Planet. Inst. Houston. Tex. (Abstract). -P. 1249-1230.

' 20. Shkuratov Yu. G., Opanasenko N. V., Kreslavsky M. A. 1992. -Polarimetrie and photometric properties of the Moon: Telescope observation and laboratory simulation. 1. The negative polarization // Icarus. -95. -P. 283-2S9.

21. Shkuratov Yu. G. and Opanasenko N, V. 1992. Polarimetrie and photometric properties of the Moon: Telescope observation and laboratory simulation. 2. The positive polarization.// Icarus. -99. -P. 468-484.

5. СПИСОК ЦИТИРУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ

Аврамчук В. В. 1961, Многоцветная поляриметрия некоторых участков Луны // Физика Луни и планет / Ред. И. К. Коваль. -Киев: Наукова Думка. -С. 3-1S,

Акимов Л. А. 1979 0 распределении яркости по диску Луны и планет // Астрон. журя. -56. -С. 412-418.

Акимов Л. А., Латынина И. И., Олифер Н. С. 1986. Опорный каталог оптических характеристик избранных участков лунной поверхности // Деп. в УкрНИИНТИ 18.11.88. -Wo 2689. -С. 1-31.

Бугаенко Л. А., Бугаенко 0. И., Гуральчук А. Л., Делец А. С., Кесельнан И. Г. 19S5a. Астрономический спектрофотополярикетр. III.' Информационно-измерительная регистрирующая система // Фотометрические и поляриметрические исследования небесных тел / Ред. А. В. Мороженка -Киев: Наукова Думка. -1985. -С. . 169-178.

Бугаенко Л. А. , Мельников М. А., Рагозина Л. Е., Самойлов В. С. 19856. Астрономический спектрофотополяримэтр. II. Оптико-механический блок // Там же. -С. 164-169.

Бугаенко 0.И., Гураяьчта А.к. 1985. Астрономический спектрофотопо-ляриметр. I. Основные принципы работы // Там же. -С. 160-164, •

Глушнева И. Н. 1982. Спектрофотометрия ярких звезд. -М.: Наука, -255 с.

Гуральч'/к А. Я. , Кучеров В. А., Морояенко А. В. 1986. Спектрополя-риметркя планет. I. Специфика наблюдений и методика их обработки // Кинематика и физика небес, тел. -2, No 3. -С. 41-4?.

Дхапиашвили В. П., Король A.H. 1SS2. Поляриметрический атлас Луны -Тбилиси: Мэцииебера, -44 с.

Дольфюс A. 19S3. Исследование поляризации планет. Глава 9. // Планеты и спутники / Ред. 4. Койяер, М. : ИЛ. С. 306-332.

Кварацхелия 0. И. 1988. Спектрополяриметрия лунной поверхности н образцов лунного грунта // Бюллетень Абастуманской -астрофизической обсерватории. -64. -312 с.

Калокояова Л. 0. 1S8S. 0 взаимосвязи некоторых фотометрически!; и поляризационных .характеристик света, рассеянного поверхностями бесаткосфернвя небесных тел // Фотометричаские и поляриметрические исследования небесных тел / Ред. А. В. Иорояенко. -Киев: НаукоЕа Думка, -С. 38-42.

Макарова Е. 'А., Харитонов А. В. 1972. -Распределение анэргии в спектро Солнца и солнечная постоянная. -К. : Наука, -288 с.

Новиков В. В., Икуратов.Ю- Г., Попов А. Г., Горячев Н. В. 1982. Взаимосвязь альбедо я поляризационных свойств Лукн (неоднородности относительной пористости поверхности западной части видимого полушария) // Аетроя. журн, -39. -в. 1.-С. 129-136.

Полная карта Луны 1:5 ООО ООО 1979. Составлена под руководство« Ю. Н. Липскаго. М: Наука.

Шкуратов В. Г. 19S0, Апьбедо астероидов // Астроя. гурн. -57. -в. 6. -С. 1320-1322. •

Шкуратов Ю. Г., Редысш С. П., Битанова Н.-В., ИльиыскиЯ А. В. 1380.. Взаимосвязь альбедо и поляризационных свойств Луна. -I. Новый оптический параметр. С Предварительные исследования) // Астрок. циркуляр. -Ко 1112. -С. 3-5.

Екуратов В. Г., Акимов Л. А., Станкевич H. II.. Мелкумова Л. Я., Латынина И. И., Богданова Т. Б. 1Э87. Лабораторные исследоза-■ икя отрицательной поляризации света, рассеянного поверхностя-ии со слсяной структурой. Некоторые следствия для безатмосферных космических тел. II. // Кинематика и физика небес, тел. -Э, No '3. -С. 32-37.

Bowel 1 Е., Dollfus А., Zeilner. В. ,'Geake J. В. 1973. Polarimetrie properties of lunar surface and its interpretation. Part 6: Albedo determination fro® perimetric characteristics // Proc. Lunar Sei. Conf. 4-th, -P. 3126-3167.