Процессы адсорбции и травление слоев SiO2 атомарным фтором и фтористым водородом тема автореферата и диссертации по химии, 02.00.04 ВАК РФ

Дульцев, Федор Николаевич АВТОР
кандидата химических наук УЧЕНАЯ СТЕПЕНЬ
Новосибирск МЕСТО ЗАЩИТЫ
1990 ГОД ЗАЩИТЫ
   
02.00.04 КОД ВАК РФ
Автореферат по химии на тему «Процессы адсорбции и травление слоев SiO2 атомарным фтором и фтористым водородом»
 
Автореферат диссертации на тему "Процессы адсорбции и травление слоев SiO2 атомарным фтором и фтористым водородом"

АКАДЕМИЯ НАУК СССР ОРДЕНА ЛЕНИНА СИБИРСКОЕ ОТДЕЛЕНИЕ ИНСТИТУТ ХИМИИ ТВЕРДОГО ТЕЛА И ПЕРЕРАБОТКИ МИНЕРАЛЬНОГО СЫРЬЯ

На правах рукописи

Дульцев Фёдор Николаевич

ПРОЦЕССЫ АДСОРБЦИИ И ТРАВЛЕНИЕ СЛОЕВ 3102 АТОМАРНЫМ ФТОРОМ И ФТОРИСТЫМ ВОДОРОДОМ

(Специальность 02.00.04 - Физическая химия)

АВТОРЕФЕРАТ диссертации на соискание учёной .степени кандидата химических наук .

Новосибирск - 1990

Работа вшолнена в Институте Физики Полупроводников

Сибирского отделения Академии наук СССР

. Научные pvw цели: доктор химических наук

профессор С.М. Репинский, кандидат химических наук с.н.с. М.Р. Бакланов.

Официальные оппоненты: доктор химических наук,

профессор Карнаухов A.D.

кандидат химических наук., вед. технолог Семенова О.И.

Ведущая- организация: Институт химической физики АН СССР им. H.H. Семенова

Защита диссертации состоится " " 1990 г.

в - . час. . мин. на заседании специализированного совета К.003.40.01 по присуждению ученой степени кандидата наук по специальности 02.00.04 (Физическая, химия) в Институте твердого тела и переработки минерального сырья СО АН СССР ( 630091, г. Новосибирск, ул. Державина, 18)

С диссертацией можно ознакомиться в библиотеке Института химии твердого тела и переработки' минерального сырья СО АН СССР.

Автореферат разослан "_" _;_ 1990 г.

Ученей секретарь Специализированного jJ^aaa^^K совета кандидат химических наук ^-жГ.Менжерес

-з-

ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ

Диэлектрические слои диоксида кремния широко используются для производства различных полупроводниковых приборов в качестве изолирующих покрытий, подзатворных диэлектриков и межслойной изоляции. Существуют два основных способа получения диоксида кремния:

1) термическое окисление кремния;

2) осавдение из газовой фазы.

В настоящее время в связи с использованием сложных полупроводников, таких, как А111В1Г (например ваЛв), возникла необходимость в низкотемпературных методах синтеза слоев диоксида кремния, которые получают осавдением из газовой фазы. Качество получаемых слоев зависит от многих факторов ( температуры синтеза, давления в.реакторе, состава газовой фазы, геометрии реактора), и к настоящему времени сложилось представление об основных закономерностях протекания таких процессов как о сложной многостадийной и многомаршрутной реакции. Этот процесс включает и стадии- взаимодействия в адсорбционном слое. Адсорбция и связанные с ней процессы важны не только для понимания процессов роста, но и для понимания процессов травления этих слоев.

Хотя в литературе имеется много данных о структуре слоев и о их составе, но недостаточно данных о пористости тонких слоев, полученных при низких температурах. Отсутствуют сведения о взаимосвязи пористости слоев с закономерностями их травления в водных растворах Ш?. Мало данных о взаимодействии газообразного НР с 3102- В данной работе решалась задача получить эти сведения. Поэтому необходимо было выяснить, как меняется состав, структура пленки, пористость в зависимости от температуры синтеза, и выявить закономерности травления слоев БЮ^ в растворах НР в зависимости от пористости слоев БК^.

Травление слоев диоксида кремния также является важной задачей в микроэлектронике. Для субмикронной технологии в последнее время широко используют различные методы сухого

травления, где в качестве газа-травителя применяются фторсо-держащие газы. Поэтому важно выяснить механизм взаимодействия В102 с одним из наиболее важных реагентов - атомарным фтором, установить природу лимитирующей стадии.'

Понимание процессов взаимодействия Б102 с газообразным НЕ важно также для объяснения явлений деградации слоев диоксида кремния , например, при химическом нанесении на нее других слоев (IV), где в качестве побочных продуктов образуются Ш? и Н20.

Целью настоящего исследования являлось изучение процессов адсорбции газов (Н20, БР, Ш3) и процессов травления слоев 3102, а также установление характера зависимости скорости травления - от пористости слоев . БЮ2 . В связи с этим были проведены исследования:

1) по изучению зависимости пористости и состава пленок 3102 от условий синтеза.

2) . по изучению закономерностей влияния пористости на скорость травления БЮ^. .■

3) по изучению процессов, происходящих при адсорбции таких газов, как Ш3, Ш1, Н20.

4) по изучению механизма взаимодействия атомарного фтора с поверхностью. ■ ' .

5)'по изучению процессов травления БИ^. газообразным НР.

Научная новизна. I) Разработан метод адсорбционной поро-

метрии, с- помощью которого дан анализ зависимости пористости. от условий синтеза. 2) Дан анализ зависимости скорости травления ЗЮ2 в водных растворах НР от пористости получаемых слоев. 3) Описан эффект перестройки приповерхностной 'области в слоях БК^• 4) Установлено, что при взаимодействии 5102 ' с газообразным -Ш? вода'играет роль катализатора. 5) При взаимодействии атомарного фтора с поверхностью основным каналом гибели атомов фтора является реакция с 3102 , а не реакция рекомбинации на поверхности.

Практическая ценность. Разработанный метод адсорбционной поромбтрии для тонких слоев может быть рекомендован для использования-в качестве технологического контроля слоев диоксида кремния .

Выработаны рекомендации для сухого травления слоев 3102.

Апробация работы . Основные результаты работы докладывались на V - семинаре по физической химии поверхности монокристаллических полупроводников ( Владивосток, 1985), на конференции "Физические проблемы МДП интегральной электроники" (Дрогобыч, 1987), на III Всесоюзном, совещании по ге-терогенно- гомогенным реакциям (Черноголовка, 1988), на совещании-семинаре " Аморфные полупроводники и диэлектрики' на основе кремния в электронике",(Одесса, 1989), на VI Всесоюзном семинаре " Физическая химия поверхности монокристаллических полупроводников",( Новосибирск, 1989), а также на научных семинарах ИФП СО АН СССР.

Публикации. По материалам диссертации опубликовано 5 статей.

Структура и объём диссертации. Диссертация состоит из введения, четырех глав, выводов, приложения и списка цитируемой литературы. Работа изложена на 137 страницах, включая 39 рисунков, 7 страниц приложения и 10 страниц списка литературы.

ОСНОВНОЕ СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ.

Во введении обосновывается актуальность выбранной теш, определяется цель работы, дается краткое содержание диссертации по главам. .

Первая глава посвящена обзору литературы по основным физико-химическим закономерностям образования слоев диоксида кремния, подробно рассмотрены свойства и механизм травления этих слоев в разнообразных травителях.

Вторая глава описывает экспериментальные установки и методику экспериментов. Для изучения пористости слоев был разработан и применен оригинальный метод адсорбционной порометрии (МАП), который'позволяет определять размеры пор от-2 т до 10 нм. Для измерения массы Ю-8 - Ю"6 г, как во время травления слоев 3102, так и в методе адсорбционной порометрии, использовали кварцевые микровесы.

Исследование кинетики поверхностных процессов проводилось

на высоковакуумной эллипсометрической установке, имеющей в своем составе быстродействующий автоматический эллипсометр (со временем считывания значений поляризационных углов д g ® не более 50 миллисекунд и рабочей длиной волны А.=6328 А), снабженной средствами безмасляной откачки с давлением остаточных газов ~ I-I0-7 Тор.

Эллипсометрический метод обладает высокой чувствительностью и позволяет фиксировать даже микроскопические изменения состояния поверхности, например, при фазовых превращениях, происходящих в приповерхностной области 10 t.

Все эллипсометрические исследования были проведены на образцах р-типа с удельным сопротивлением 10 Ом • см с ориентацией поверхности (100) и размерами 20X5X0.4 мм3. Образцы подвергались химико-механической полировке и обрабатывались в перекисно-аммиачном травителе. Нагрев образцов производили пропусканием стабилизированного тока. Температуру образцов определяли то удельному сопротивлению кремния, а также эллипсометрически, по известным зависимостям оптических констант п и й от температуры [1,2J.

Для исследования процессов при адсорбции как дополнение к эллипсометрии был использован рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ADES-500. Запись спектров осуществлялась при давлении остаточных газов ~ 2- Ю-8 Тор. Для возбуждения использовалась Ка - линия Mg (1253.6 эВ) при мощности 300 .Вт. Регистрация фотоэлектронов осуществлялась полусферическим анализатором при энергии пропускания 20 эВ. Разрешение по энергиям составляло I эВ, точность определения энергетического положения фотоэлектронных линий ~ 0.2 эВ.

Третья глава посвящена исследованию физико-химических свойств• 'слоёв - диоксида кремния. Низкотемпературные слои обладают развитой поверхностью. Эти слои хорошо адсорбируют воду. При прогреве наблюдается десорбция Н20. Десорбцию НгО наблюдали с помощью эллипсометра и масс-спектрометра. Из экспериментов видно, что интенсивность десорбции меняется при изменении температуры. Интенсивная десорбция наблюдается при откачке и при температурах 150°С, 270°С и 500°С. Оценка общего количества воды показала, что оно может превышать

-7-

¿НН 16

/2 В

4

О

ПО 200 ХО

Рис.1. Зависимость относительного объема пор (а) от температуры синтеза (Тс). 1 - плёнки полученные без НН3, 2-пленки полученные с Ш3.

15 Ю

5

О 50 W0 150

d,HM

Рис. 2. Зависимость относительного объема пор (а) от тлощины слоя (d). 1-пленки, полученные без ИН3, 2-пленки полученные с ИН3.

10%, это говорит о том, что получаемые слои имеют поры, и большая часть воды находится в порах в виде- конденсата. Поэтому с помощью"МАП были исследованы слои, полученные при температурах 100 - 300°С. Полученные слои имеют поры с. эффективным радиусом ' 3 и 7 нм. Для. расчета распределения пор по размерам пользовались методикой Робертса, в . которой предполагается, что поры цилиндрические. При увеличении температуры синтеза общее количество пор (объем) уменьшается (см. рис.1). Причем поры имеют некоторую эффективную длину, это иллюстрируется следующим графиком (рис. 2) , где показана зависимость относительного объема пор а от толщины. .При толщине 70 - 80 нм кривая выходит на насыщение; это говорит о' том, что работает- только верхний слой. Была оценена удельная поверхность, она составила 30 м2/г.

Изучение адсорбции на' дегидроксилированной поверхности проводили, используя автоматический эллипсометр. Напуск газов приводит к'изменению поляризационных'углов-А и Ф, при этом углы изменялись до некоторых максимальных значений, величины которых зависели от давления газа и температуры образца. После откачки реакционной системы поляризационные утлы редаксировали к начальным значениям, которые "соответствуют исходной поверхности 810г , .что говорит об обратимости процессов' адсорбции. • Нужно заметить, что изменение углов АиФ соответствует уменьшению толщины и увеличению показателя преломления. На рис.. з показаны зависимости предельных изменений поляризационных углов при адсорбции от температуры. В интервале температур 150-250°С наблюдается увеличение адсорбционного эффекта, на рис. 4 ' показано изменение химсдвига Б12р уровня при изменении температуры от 20 до 400°С. Важно подчеркнуть, что химсдвиг наблюдается обратимо при многократных -циклах нагрева и охлаждении образца и не обусловлен аппаратурными эффектами. Видно,-что при температуре >200°С величина химсдвига лиции Б12р (Ю4..4.эВ) возрастает и составляет 0.3 эВ. Этот факт указывает, что на атоме крещия возрастает эффективный ■отрицательный заряд. На основании этого, а также в связи- с .данными работ [3,4], где проводилось изучение структуры Б10г,

з: i 20

о <

io

200 «0 600

Рис. 3. Зависимость предельных изменений поляризационных углов при адсорбции от температуры на поверхности терми- • ческого Si02.

. 1 - NH3 , 2 - Н20, 3 - HF . Р > 2 торр.

ЕсВ^В 104.4

Ш

W.0

0 Z00 400 J OQ

Рис. 4. Энергетическое положение окисленной компоненты Sl-2p уровня в зависимости от температуры образца.

-о о ° о о о . о о о

_ I I о оо I ....I

методами рентгенографических исследований, мы пришли к выводу,, что' в данных слоях при Т>250°С происходит топологический переход. Этот переход аналогичен а-р фазовому переходу в кристобалите [5-7]. Неспецифгшость. адсорбции газов, с весьма различными химическими, свойствами при температурах'ниже 250°С дает • нам возможность видеть причину наблюдаемых закономерностей в изменении структуры .приповерхностной области 3102, ' которая стимулируется адсорбцией. Это явление известно, в катализе как изменение свойств поверхности твердых тел под воздействием реакционной среды и описано Г.К. Борёсковым [8]. Природу структурного перехода на поверхности 3102. можно объяснить, исходя из специфики силоксановой связи. Возникновение связи означает появление на атоме кремния эффективного отрицательного заряда, и это влечет за собой реконструкцию связей у ближайших тетраэдров и увеличение, йх-рт связывания, что приводит к увеличению .углов связи 81-0-31. Эти особенности мы наблюдаем как уменьшение толщины слоя и увеличение показателя преломления при адсорбции.

В четвертой главе рассмотрены процессы травления диоксида кремния.•

Кинетика Травления слоев Б10г в растворах, полученных при Т>200°С, отличается от кинетики травления слоев, полученных при Т<200°. Различия состоят в следующем:

Слои, полученные при Т>200°С травятся с постоянной скоростью, .при этом не меняется ни плотность (р) ,ни показатель преломления (п). Аналогично ведут себя и слои, полученные термическим окислением кремния, а также слои, полученные осаждением из газовой фазы с добавками аммиака.

Совершенно иная картина наблюдается при травлении низкотемпературного БЮг (Т<200°С): .меняются п и р , скорость, травления меняется во времени.

На основании полученных данных можно сказать, что изменение кинетики травления слоев 5102 при переходе от одних слоев к другим не может быть объяснено особенностями химического состава этих слоев, т.к. по ИК спектрам" не обнаружено какого-либо существенного различия, ■ даже с добавками

аммиака в газовую фазу. Различия проявляются при травлении в растворах Ш" . Развитие рельефа, образование глубоких пор говорит о том, что в основе лежит пористая структура.. Однако, как видно из рис. I, при изменении температуры синтеза пористость слоев 3102 меняется монотонно и вблизи 200°С нет особенностей. Т.о., кинетика не- может быть, объяснена на основе диффузионно-кинетических моделей. -

Особенности процессов травления, по-видимому, связаны с мезопористой структурой слоев. В середине 50-х годов Хам-мерсом С 9 ] было показано, что если число пор в твердом теле достаточно велико и они связаны друг с другом, то наблюдается проникновение адсорбата вглубь твердого тела. Эти процессы были описаны теорией протекания; в соответствии с этой теорией монотонное изменение каких — либо свойств в определенный момент приводит к критическим явлениям, а. в пористых телах существует критический объем .пор. Величина критического объема в различных-моделях решеток и пор . 15,30%. При уменьшении температуры синтеза увеличивается концентрация пор и их объем приближается к критическому. Слой,, полученные при Т<200°С, имеют объем пор 15-20 %, т.е. близкий к критическому, при' незначительном подтравливании-поры' становятся сквозными, и травление идет во всем объеме. Это приводит к уменьшению оптической плотности пленок и ускорению процесса травления. На рис. 5 показано, как меняется распределение пор по размерам во-время, травления в растворах НР.

Несколько иное поведение наблюдается при взаимодействии атомарного фтора с поверхностью.

При включении разряда в источнике происходит изменение угла ® , соответствующее образованию адсорбционного.слоя. После выключения происходит десорбция. Если после .Еыхода угла Ф на насыщение не выключать разряд, то через некоторое время угол Ф начинает меняться в обратную сторону, что соответствует уменьшению толщины.

Интересно отметить, что скорость травления имеет максимум при температуре Т = 250 --ЗС0°С . Выражение для скорости реакции для термического ЭЮд .в интервале температур 20 -

РаЗиус пор , г, ни

Рис. 5. Зависимость распределения пор по размерам от времени травления слоев 5102 (Тс = 150°С): • I - исходная пленка толщиной I мкм, 2-4 стравлено 20, 100, 800 нм соответственно.

250°С имеет вид:

Нз±о2 = (24±1)Пр ехр [ - (3000 + 300)/ ИГ ] вероятность реакции:

ер = (0.2*0.07) 10~2ехр [ - (3000±300)/ КГ ]

При взаимодействии атомарного фтора с низкотемпературными слоями скорость выше примерно в пять раз, и связано это,. в основном, с предэкспоненциальным множителем, а не с величиной энергии активации. При сравнении наших данных с литературными мы пришли к выводу, что расход атомов фтора на реакцию с 3102 является единственным каналом гибели атомов фтора. Схему процесса можно записать как:

Л

•^газ ' *адс кч

радс + %5102-^14311,4 + У4°2 ■

Вторая стадия не- является' элементарной. Механизм лимитирующей стадии не установлен, однако исходя из наблюдаемого увеличения скорости травления ЭЮ^ с увеличени ем температурило 250°С , а также из того факта,, что нам не удалось зарегистрировать хемосорбированнкй слой, можно. предполагать, что имитирующей стадией является присоединение первого атома фтора.

Увеличение скорости травления 3102 ' с увеличением температуры связано с изменением айс-ртс перекрывания; При адсорбции атомов фтора на поверхности ' Б10г происходит -реконструкция приповерхностной • области. Связь 31-Р образуется за счет смещения неподеленной пары электронов атомов фтора на вакантную 3<3 орбиталь кремния. Это является первым шагом, и поскольку образование 81-Р связи и процесс травления имеют одинаковую зависимость * от температуры,_ то можно предположить, что лимитирующей стадией является

образованив'первой Б1-Р связи.

Продуктами реакции 510г с НР является НгО и Б1РЛ. БИ^ легко десорбируется с поверхности, тогда как десорбция Н20 при низких температурах затруднена. Принимая во внимание также следующие экспериментальные данные:

• I. Процесс травления имеет период начального ускорения, величина которого зависит от концентраций НР и паров НгО в газовой фазе. Кривые имеют Б образный вид. Скорость травления в стационарном рекиме растет пропорционально давлению НР;

.2. Разбавление НР парами Н20 приводит к уменьшению периода ускорения;

. .3. Величина периода ускорения зависит от температуры синтеза слоев;

4. Зависимость кинетики процесса от температуры имеет сложный характер. При повышении температуры образца сначала происходит резкое уменьшение скорости стационарного травления (. 10 раз), а начиная с температуры 80-100°С скорость реакции меняется слабо;

.- мы сделали вывод, что процесс взаимодействия БЮг с НР катализируется выделяющейся водой, а гидроксильные группы являются адсорбционными центрами*

Рассмотрим два случая:

I. Пусть' концентрация гидроксильных груш будет близка к плотности, монослоя. Тогда:

- (М/М = й, Рнр(0о+С)

где ш-масса■БЮг, Рщ--давление НР, С0,С-концентрации Н20 на поверхности.в начальный и текущий моменты времени.Концентрация адсорбированной вода," образующейся в ходе реакции:

йс/аг = й! Рщ. с0 - йт Рнр с - с

Автокатализ возможен, если й^с^Рщ.: тогда:

Дт СоСехр^-, Р t) - 1]

Это уравнение хорошо описывает начальный участок кинетических кривых процессов травления слоев.

2. Концентрация ОН-групп на поверхности мала. ОН-группы могут находиться лишь в порах, тогда травление начнется с этих пор. Если расстояние между такими порами больше толщины пленки, то на поверхности возникают ямки травления. В этой модели ямки травления, до момента их перекрывания, представляют собой усеченные конусы с углом наклона грани а:

- (M/dt = ft, Рдр (Cö + С) 2% R d slra где R =Sr±, при (С0 + О) = const, a R = ftj R0 i

Am = fe1 Рщ. (C0 + С) йх d slna t2 Анализ экспериментальных данных подтверждает эту модель.

Рассмотрим роль воды в процессе стационарного травления. Если слои S102 достаточно толстые, то после периода ускорения происходит выход на некий стационарный режим, когда скорость травления становится постоянной и зависит от давления HF в реакторе. Посмотрим, что происходит с толщиной адсорбционного слоя в момент, предшествующий началу процесса травления. После того как завершился период индукции,. наблюдается довольно резкое увеличение толщины адсорбционного слоя, после этого начинается процесс травления. Толщина адсорбционного слоя в этот момент заметно превышает монослой. Эти факты позволяют предполагать, что в режиме стационарного травления на поверхности образуется жидкий слой. Молекулы HF из газовой фазы сорбируются и растворяются в этом слое, а взаимодействие с поверхностью SiOg происходит по такому же механизму, как и в растворах HF. Продукты реакции в виде ионов S1f|" переходят в раствор и диффундируют к внешней границе жидкого слоя,, где происходит десорбция молекул SIF4. в газовую фазу. Оценка концентраций отдельных компонент является сложной задачей, и нам решить ее не удалось. Поэтому мы оценили концентрацию

НР,' исходя из следующих предположения, что скорость травления 3102 зависит от концентрации НР в жидком слое так же, как и в водном растворе. Тогда концентрация НР в жидком слое, соответствующая скорости травления при 5 торр, равна 1.1ЧО22 см-3, при этом концентрация молекул НР в газовой фазе составляет 1.75*10^ см-3.

ВЫВОДЫ

1) Разработана методика адсорбционной порометрии для тонких слоев (<1000 А ), которая позволяет оценить средний радиус пор, распределение пор по размерам, общий объем пор, сделать оценку площади поверхности.

2) При синтезе слоев диоксида кремния окислением моносилана в реакторе пониженного давления при температурах Т= 150 300°С образуются слои ЗЮ2 с мезопорами, средний радиус которых 30 А, а концентрация 8-12%. Концентрация пор в пленках растет с понижением температуры синтеза, а добавка аммиака в газовую смесь существенно снижает пористость слоев 3102,

3) При прогреве слоев при температуре Т=600°С происходит полная дегидратация и дегидроксилирование 3102 . В

•результате слои' становятся гидрофобными и инертными по отношению к таким газам, как Н20, НР, КН3- Эти газы обратимо адсорбируются на поверхности ЗЮ2 при температурах выше Т= 150°С, причем при адсорбции происходит реконструкция поверхностного слоя 3102, которая приводит к уменьшению эффективной толщины слоя 3102. Эта реконструкция аналогична топологическому переходу в аморфных телах, который описан •в работе [4]. -Адсорбционные эффекты достигают максимума при Т=250°С.

4) .Реакция взаимодействия 3102 с газообразным фтористым водородом происходит лишь в присутствии адсорбированной воды-, которая играет роль катализатора. Поскольку при взаимодействии ' одним из продуктов является то процесс приобретает автокаталитический характер.

5) При травлении S102 в водных растворах HF решающее значение играет пористая структура слоев' S102 . При температуре синтеза около 200°С концентрация пор достигает, критического значения. В соответствии с теорией протекания в этих пленках травитель проникает вглубь пленки и в результате происходит растравливание пор, уменьшение плотности и увеличение скорости травления пленок.

6) Установлено, что при взаимодействии S102 с атомарным фтором скорость травления имеет максимум при температуре Т=250°С. Показано, что вероятность гибели атомов фтора определяется его реакцией с S102 , а не поверхностной рекомбинацией.

Цитированная литература

1. Hopper М.А., Clarke R.A., Young L. Thermal oxidation, of silicon In situ measurement of the growth rate using elllps.ometry // J. Electrochem.. Soc., 1975, v.122, No .9, p. 1216 - 1222.

2. АлгазинЮ.Б., Блюмкина Ю.А., Гребнев H.M., Свиташев К.К., Семененко Л.В., Яблонцева Т.М. Оптические постоянные атомарно-чистой поверхности германия и кремния и их температурные зависимости // Оптика и спектроскопия, т. 45, 1978, с. 330.

3. Gerber Th. and Hlmmel В. The stnacture of silica'glass. // J. Non-Cryst. Sol. v. 83, 1986, p.324-334.

4. Gerber Th., Himmel В., LorentH., Stachel D.. Phase Transitions in vitreous and Amorphous S102. // Cryst. • Res. Technol. v. 23, N 10/11, 1988, p. 1293-1302. .

5. Grimm H., Corner B. On the Mechanism of the a-(3 phase transformation of Quarts. // J. Phys. Chem. Sol., v. 36,

N 5, 1975, p. 407-413.

6. Walker R.F. The Anomalous Inversion in Cristoballte. // In Kinetics of high Temperature processes, Cambrlge, Mass., i959, p. 223 - 238.

7. Johnson W. and Andrews K.W. An X-ray Study of the Inversion and Thermal Expansion oi Cristoballte.//'.Transact.

Brit. Ceram. Soc.,1956, v. 55, N. 4, p. 227 - 236.

8. Боресков Г.К. Изменение свойств твердых катализаторов под воздействием реакционной среды., //Кинетика и катализ, том XXI, вып. I, 1980, с. 5 - 16.

9. Эфрос А.Л. Физика и геометрия беспорядка. М.: Наука, 1982.

Основное содержание диссертации изложено в следующих работах:

1. Бакланов М.Р., Дульцев Ф.Н., Могильников К.П. Кинетика растворения слоев S102 в парах HF.// Изв. Сиб. отд. АН СССР, 1987, вып.1, N2,. с. 25-29.

2. Бакланов М.Р., Дульцев Ф.Н., Репинский С.М. Адсорбционная порометрия слоев S102. // Тезисы докладов конференции "Физические проблемы МДП интегральной электроники.", Дрогобыч, 1987.

3. Бакланов М.Р., Дульцев Ф.Н., Репинский С.М. Адсорбционная порометрия слоев S102 осажденных из газовой фазы. // Поверхность , 1988, N-II, с. 145-146.

4. Бакланов М.Р., Васильева Л.Л., Дульцев Ф.Н., Могильников К.П., Ненашева Л.А. Пористая структура и травление слоев диоксида кремния. // Поверхность, 1989, N-3, с. 65-70.

5. Baklanov M.R., Vasllyeva Ь.Ь., Gavrllova Т., Dultsev F.N., Mogllnlkov К.P., Nenasheva L.A. Porous structure of S102 films syntheslted at low temperature and pressure. // Thin Solid Films, 1989, V. 171, p. 43-52.

6. Baklanov M.R., Dultsev F.N. Adsorption and consumption of atomic fluorine on S102 surface. // React. Klnet. Catal. Lett., 1989, v. 40, N-2, p. 247-251.

7. Бакланов M.P., Васильева Л.Л., Дульцев Ф.Н., Могильников К.П. Исследование слоев S102, осажденных из газовой фазы, .методом адсорбционной порометрии. // Тезисы докладов совещания-семинара "Аморфные полупроводники и диэлектрики на основе кремния в электронике", Одесса, 1989, с. 13.