Взаимодействие излучения с веществом при формировании сигнала и фона в рентгенофлуоресцентной аппаратуре тема автореферата и диссертации по физике, 01.04.07 ВАК РФ

ВВЕДЕНИЕ.

ГЛАВА 1. Физические процессы в рентгеновских флуоресцентных спектрометрах.

1.1. Структурные схемы рентгеновских спектрометров.

1.2. Источники первичного рентгеновского излучения.

1.3. Процессы взаимодействия излучения с веществом.

1.4. Процессы в образце для спектрометра с традиционной геометрией.

1.5. Параметры кристаллов-анализаторов.

1.6. Процессы в детекторе.

1.7. Регистрирующая электроника.

1.8. Цели и задачи работы.

ГЛАВА 2. Совершенствование моделей возникновения аналитического сигнала и фона.

2.1. Последовательная модель формирования сигнала и фона.

2.2. Уточнение геометрической модели источник - образец - детектор.

2.3. Влияние геометрического фактора на интенсивности процессов.

2.4. Оценка необходимости учета геометрического фактора.

2.5. Выводы.

ГЛАВА 3. Рассмотрение процессов переноса и поглощения энергии в детекторах.

3.1. Модель взаимодействия излучения с веществом детектора.

3.2. Расчет параметров функции отклика детекторов.

3.3. Экспериментальная проверка результатов расчета функции отклика детектора в области энергий до 10 кэВ.

3.4. Сопоставление результатов расчета функции отклика детектора с экспериментальными данными для энергий излучения более 10 кэВ.

3.5. Оценка пространственного разрешения координатно — чувствительных детекторов.

3.6. Выводы.

ГЛАВА 4. Аналитический сигнал и фон в энергодисперсионной рентгенофлуоресцентной аппаратуре.

4.1. Расчет геометрического фактора установки.

4.2. Расчеты спектра, возникающего в образце при моноэнергетическом первичном излучении.

4.3. Расчет аналитического спектра при использовании источников рентгеновского излучения I09Cd и 241Аш. Сравнение с экспериментальными данными.

4.4. Расчет сигнала и фона при использовании рентгеновских трубок и Si(Li) детектора.

4.5. Выводы.

ГЛАВА 5. Использование цифровой фильтрации амплитудных спектров в спектрометрах с волновой дисперсией.

5.1. Особенности прохождения сигнала в рентгенооптических схемах по Соллеру и Иоганссону.

5.2. Коррекция влияния наложения амплитудных спектров методами цифровой фильтрации.

5.3. Применение фильтрации амплитудного спектра в экспериментах по подтверждению возбуждения флуоресценции углерода фото и

Оже-электронами.

5.4. Выводы.

Актуальность проблемы и состояние вопроса

Современная рентгенофлуоресцентная аппаратура и метод анализа позволяют быстро и с высокой точностью определять элементный состав веществ и материалов. Поэтому он широко используется в исследовательских организациях и промышленности для экспрессного контроля технологических процессов. Недостатком метода является недостаточный предел обнаружения (10"3-10"5%), который существенно уступает другим методам анализа вещества (индукционно связанная плазма, атомная эмиссия и абсорбция, активационный анализ и др.).

Изменение режимов работы аппаратуры не всегда улучшает контрастность аналитического сигнала, так как с увеличением интенсивности рентгеновской флуоресценции одновременно растет интенсивность фона, основная часть которого, как считается, обусловлена рассеянным непрерывным тормозным рентгеновским излучением. Высокая интенсивность и неконтролируемые флуктуации спектральной интенсивности фонового сигнала являются главным препятствием в снижении предела обнаружения. Простое измерение интенсивности фона с длинноволновой и коротковолновой стороны от аналитической линии не всегда возможно, а главное, лишает рассматриваемый метод его главного преимущества: экспрессности.

Учету же фона на сегодняшний день мешают следующие причины. Процесс возникновения фонового сигнала является двухступенчатым. Первая ступень - фоновое излучение, связанное с самим образцом, изучена достаточно хорошо. Хотя и здесь следует обратить внимание на фрагментарность сведений о тормозном излучении фото и Оже электронов, возникающих в облучаемом материале, а также на практическое-отсутствие исследований тормозного излучения Комптоновских электронов. Кроме того, возникновение фонового излучения обычно рассматривается изолированно от формирования рентгеновской флуоресценции, что затрудняет сопоставление процессов, определяющих контрастность полезного сигнала. Вторая ступень - искажение детектором и регистрирующим блоком аппаратуры спектрального состава попавшего в него излучения. На этой ступени следует учитывать особенности энергодисперсионной и кристалл- дифракционной аппаратуры.

Энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные установки имеют компактную геометрию системы источник излучения - образец - детектор с сильно расходящимися пучками первичного и возникшего в образце излучения, что затрудняет учет неизотропности излучения, когерентно и некогерентно рассеянного образцом. Ограниченный размер полупроводникового детектора, используемого в такой аппаратуре, обусловливает возможность выхода фотона из детектора как после взаимодействия его с веществом, так и при отсутствии такового, а также возможность выхода электронов высоких энергий из детектора (под «высокой» энергией электронов мы будем понимать энергию больше 200 эВ). Если процесс выхода таких электронов изучен достаточно полно, то о дополнительном фоне, возникающем в результате комптоновского рассеяния фотона в детекторе, обычно лишь упоминается. При выборе материала и геометрических размеров для рентгеновского или гамма детектора, используемого в конкретной ситуации, является важной априорная информация о качественном и количественном составе фона.

В кристалл - дифракционной аппаратуре используются дополнительные элементы для разложения в спектр излучения образца (кристалл - анализатор) и для выделения аналитической линии (амплитудный дискриминатор). Эти элементы вносят свои искажения в интенсивность регистрируемого сигнала. Ограниченные размеры пропорциональных газонаполненных детекторов, используемых в этой аппаратуре, вносят в спектр те же искажения, что и при энергодисперсионной регистрации сигналов.

Изложенное позволяет, утверждать, что развитие представлений о физических основах формирования сигнала и фона необходимо для дальнейшего совершенствования рентгенофлуоресцентной аппаратуры и метода анализа.

Таким образом, целью работы является совершенствование физических моделей формирования сигнала и фона на основе комплексного рассмотрения процессов взаимодействия излучения с веществом на всех стадиях преобразования излучения в сигнал, регистрируемый аппаратурой. Для достижения поставленной цели необходимо решить следующие задачи:

- оценить влияние геометрии спектрометра на форму энергетического распределения пика комптоновского рассеяния;

- изучить эффекты, имеющие место при потерях энергии в процессе поглощения фотона веществом полупроводникового детектора, которые усложняют форму функции отклика;

- сопоставить расчетные и экспериментальные данные аналитических спектров сигнала и фона для энергодисперсионного рентгенофлуоресцентного анализа с радиоизотопным возбуждением;

- изучить вклады составляющих фона в каналах спектрометра, выполненных по рентгенооптическим схемам Соллера и Иоганссона; предложить приемы уменьшающие их величину; на основе полученной информации учесть влияние фона, обусловленного вторыми порядками отражения на псевдокристаллах при возбуждении рентгеновской флуоресценции элементов с малыми атомными номерами.

Научная новизна работы

1. Повышена корректность описания формы пика комптоновского рассеяния монохроматического излучения в энергодисперсионной аппаратуре в отсутствии коллимации за счет введения геометрического фактора, с учетом последнего скорректированы выражения для описания интенсивности флуоресценции, когерентного и некогерентного рассеяния, тормозного излучения электронов.

2. С помощью метода Монте-Карло впервые выполнено моделирование функции отклика полупроводниковых, сцинтилляционных и газовых пропорциональных детекторов с учетом радиационных потерь, что позволило проанализировать особенности функции отклика, связанные с потерями энергии при регистрации; с помощью моделирования показано, что процессы радиационного переноса и поглощения энергии фотона в детекторе могут существенно ограничивать пространственное разрешение координатно чувствительных детекторов.

3. Установлено, что аналитический сигнал и фон в энергодисперсионной аппаратуре могут быть описаны на основе модели, включающей взаимодействие излучения с веществом образца и последующего взаимодействия излучения с веществом детектора. Результаты расчета по предложенной модели для энергодисперсионного спектрометра (источник излучения 24|Аш, Si(Li) детектор) в области энергий 1-12 кэВ впервые согласованы с экспериментальными данными.

4. Предложен метод снижения влияния наложения линий в амплитудном спектре на результаты определения интенсивности линии, основанный на анализе амплитудного распределения импульсов детектора. На его основе предложен способ учета наложения линий при использовании псевдокристаллов для разложения излучения в спектр.

Основные защищаемые научные положения

1. Предложенная модель процессов, происходящих в детекторе, учитывающая потери энергии при регистрации фотона, позволяет описать функцию его отклика, включая «горб потерь», возникающий в результате выхода рассеянного фотона из детектора и регистрации аппаратурой электрона отдачи как фотона с соответствующей энергией и дополнительный «хвост» «горба потерь» в область высоких энергий, обусловленный выходом фотона из детектора после многократного комптоновского рассеяния.

2. Введение геометрического фактора при рассмотрении однократных процессов рассеяния в энергодисперсионном спектрометре для учета конечных площадей источника излучения, образца и детектора позволяет описать разброс углов рассеяния и форму наблюдаемого пика комптоновского рассеяния.

3. Предложенная модель процессов в энергодисперсионном рентгенофлуоресцентном спектрометре (с Si(Li) детектором), учитывающая процессы в образце и детекторе, показала, что фон в области энергий 1-12 кэВ (радиоактивный источник 24|Аш) и в области энергий 1-20 кэВ (радиоактивный источник l09Cd) в основном обусловлен рассеянием первичного излучения веществом образца и последующим его комптоновским рассеянием в детекторе с регистрацией в «горбе потерь».

4. Предложенный метод фильтрации амплитудного спектра импульсов, основанный на анализе формы снимаемого спектра, позволяет уменьшить влияние наложений пика потерь от высоких порядков отражения на основной пик исследуемой линии в ряде практически важных случаев в спектрометрах с волновой дисперсией. Применение метода на Na канале аппарата СРМ-25, позволяет примерно в три раза снизить уровень фона по сравнению со стандартным методом «амплитудного дискриминатора» при сохранении уровня сигнала. Также примерно в три раза уменьшается неопределенность фона, обусловленная изменением химического состава.

Практическая значимость

Результаты работы могут служить основой для совершенствования рентгенофлуоресцентных спектрометров в целях улучшения их метрологических параметров. Знание процессов формирования фона в энергодисперсионном флуоресцентном анализе создает условия для эффективного учета и подавления фоновой составляющей.

Представленная в работе модель процессов, происходящих в детекторе, позволяет описать форму функции отклика детектора и рассчитывать фон, обусловленный неидеальностями функции отклика детектора, а также выбирать оптимальный материал для детектирования излучения в конкретной ситуации.

Представленная в работе модель процессов в энергодисперсионном спектрометре также позволяет прогнозировать фон в низкоэнергетической рентгеновской области для конкретной ситуации и оптимизировать условия возбуждения сигнала.

Также возможно создание программного обеспечения, позволяющего восстанавливать сигналы спектра по параметрам «горба потерь» для полупроводниковых и сцинтилляционных детекторов, используемых в области энергий 100 кэВ-2 МэВ.

Связь с плановыми исследованиями ИГУ

Работа выполнена в рамках НИР «Моделирование процессов формирования рентгеновской флуоресценции и развитие методических основ рентгенофлуоресцентного анализа с целью повышения качества решения аналитических задач», per. номер 2.16.98, «Теоретическое и экспериментальное моделирование процессов формирования рентгеновских и оптических спектров с целью развития методических основ решения аналитических задач», per. номер 2.09.03.

Апробация работы

Результаты работы докладывались и обсуждались на конференции «Неразрушающий контроль в науке и индустрии — 94», Москва, 1994; «Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов», Дубна, 1997; Международном симпозиуме по радиационной физике, Прага, 2000; V, VII конференциях «Аналитика Сибири и Дальнего Востока», г. Новосибирск, 1996, 2004; XV Уральской конференции по спектроскопии, г. Заречный, 2001; IV Всероссийской конференции по рентгеноспектральному анализу, г. Иркутск, 2002; 9 международной школе - семинаре по люминесценции и лазерной физике, г. Иркутск, 2004.

Публикации

Материалы по теме диссертации опубликованы в 18 работах, в т.ч. статей в журналах - 7.

Обозначения, принятые в диссертации

Е - энергия, единица измерения - кэВ (если не указано иное).

Л=12.345/£ - длина волны, А (если не указано иное)

Z-атомный номер;

А- атомный вес;

Na - число Авогадро е - заряд электрона; те - масса покоя электрона

7 - постоянная Планка;

Г- ширина энергетического уровня, го=е2/тес2 - классический радиус электрона го2 =7.92* 10'26- квадрат классического радиуса электрона, [см2];

О о а= Г) /те - Боровский радиус электрона coq -выход флуоресценции q серии

Ptq - относительная доля / линии в q серии л = т + <Гр coh+<Jf4 comp" массовый коэффициент ослабления [см2/г] рентгеновского излучения; х- массовый коэффициент фотопоглощения рентгеновского излучения [см2/г];

Г/ - массовый коэффициент фотопоглощения / оболочкой. craih - сечение когерентного (Томсоновского) рассеяния [см2/г]; сГц cofj- массовый коэффициент когерентного (Томсоновского) рассеяния [см2/г]; а - сечение некогерентного (Комптоновского) рассеяния [см2/г];

7/ comp' массовый коэффициент некогерентного (Комптоновского) рассеяния см2/г];

Na - число Авогадро;

N- интенсивность рентгеновского излучения, выраженная числом фотонов С, - концентрация / элемента.

Результаты работы могут быть использованы как для совершенствования рентгенофлуоресцентной аппаратуры, так и методик анализа.'

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Настоящая работа представляет собой исследование, направленное на изучение процессов формирования сигнала и фона в рентгенофлуоресцентной аппаратуре и уменьшение влияние фона при регистрации измеряемого сигнала.

1. Афонин В.П., Комяк Н.И., Николаев В.П., Плотников Р.И. Рентгенофлуоресцентный анализ. Новосибирск: Наука, 1991. - 173 с.

2. Глушковский М.Е. Быстродействующие амплитудные анализаторы в современной ядерной физике. М.: Энергоатомиздат, 1986. - 128 с.

3. Плотников Р.И., Пшеничный Г.А. Флуоресцентный рентгенорадиометрический анализ. М,:Атомиздат, 1973. - 264 с.

4. Аликов Б.А. Громов К.Я., Морозов В.А., Муминов Т.М., Филиппов В.Ф., Фоминых В.И., Фоминых М.И., Цупко-Ситников В.М. Атлас спектров гамма-лучей радиоактивных изотопов. Ташкент:Узбекистан, 1973. - 115 с.

5. Джелепов Б.С., Пекер JI.K. Схемы распада радиоактивных ядер. Издательство АН СССР, М.:, Ленинград, 1958. - 820 с.

6. Павлова Л.А., Парадина Л.Ф. Ренгеноспектральный микроанализ и его применение в минералогии. Якутск: Якутский центр СО РАН, 1990. - 185 с.

7. Борходоев В.Я. Рентгенофлуоресцентный анализ горных пород способом фундаментальных параметров. Магадан: СВКНИИ ДВО РАН, 1999. - 279 с.

8. Лаврентьев Ю.Г., Королюк В.Н., Усова Л.В. Второе поколение методов коррекции в рентгеноспектральном микроанализе: аппроксимационные модели функции распределения излучения по глубине // Журнал аналитической химии. 2004. - т. 59, №7. - С. 678-696.

9. Bethe Н. Zur Teorie des durchgang schneller korpusskularstrahlen durch materie // Ann. Physik Leipz. 1930. - Bd 5. N 5. - s. 325.

10. Рид С. Электронно зондовый микроанализ. — М.:Мир, 1979. 423 с.

11. Bloh F. Bremsvermogen von atomen mit mehreren elektronen // Zeit. Phys. 1933. - Bd. 81.-s. 363-376.

12. Duncumb P. Shields-Mason P.K. Da Casa C.: Proc. 5th Int. Congr. on X-ray optics and microanalysis. Springer, Berlin, 1969. - p. 146.

13. Berger M. Seltzer S.: National academy of science, National Research council publ. 1133, Washington, D.C. 1964. p. 205.

14. Финкельштейн А.Л., Павлова Т.О. О расчете спектрального распределения излучения рентгеновских трубок в рентгенофлуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. 1996, № 12. - С. 16 - 20.

15. Kramers Н. On the theory of X-ray absorption and of the continues X-ray spectrum // Phil. Mag. 1923.-v. 46.-pp. 836-871.

16. Поташевская Т.Г. Рентгеновские трубки с анодом ирострельного типа // Аппаратура и методы рентгеновского анализа, Л.:Машиностроение, 1985. - №34. - С. 111-129.

17. Лебедь В.И., Афонин В.П. Расчет спектральной интенсивности рентгеновских трубок с анодами прострельного типа // Заводская лаборатория 1983. - т. 49, № 2. — С. 26-29.

18. Kirkpatrik P. Wiedman L.Theoretical continuous X-ray energy and polarization // Physical Review. 1945.-v. 67, № 11.-pp. 321-329.

19. Reed S.J.R. The shape of the contniuos x-ray spectrum and background correction for energy dispersive electron microprobe analysis // X-ray spectrometry. - 1975. - v.4, № 1. — pp. 14-17.

20. Statham P.J; The geberation absorption and anisotropy of thick target bremsstrahlung and implication for quantitative energy disperse analysis // X-ray spectrometry. 1976. - v.5, № 3. -pp. 154-167.

21. Philibert J. A method for calculating the absorption corrections in electron probe microanalysis. In "X-ray optics and X-ray microanalysis". N.Y.:Acad.Press, 1963. pp. 379392.

22. Claude Merlet. Accurate description of surface ionization in electron probe microanalysis: an improved formulation // X-Ray Spectrometry. 1992. - v.21, N.5. - pp.229-238.

23. Финкелынтейн А.Л., Гуничева Т.Н., Афонин В.П., Парадина Л.Ф., Пискунова Л.Ф. Расчет спектрального распределения первичного излучения при рентгенофлуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. 1981. - т. 47, № 11. - С. 28-31.

24. Green М., Cosslet V. Measurement of К- L- and M-shell production efficienties // Britt. J. Appl. Phys. 1968. - V. 1, № 4. - pp. 425-436.

25. Hoeft H., Schawaab P. Investigations towards optimizing EDS analysis by Cliff-Lorimer method in scanning transmission electron microscopy // X-ray spectrometry. 1988. -v. 17, № 5.-pp.201-208.

26. Fernandez J.E., Hubbell J.H., Hanson A.L., Spenser L.V. Polarization effects on multiple scattering gamma transport // Radiation Physics and Chemistry. 1993. - v. 41, N 4/5. - pp. 579-630.

27. Stobbe M. // Ann. D. Phys. 1930. - v.7. - p.661.

28. Nelsen J.A., McMorrow D. Elements of modern X-ray physics. Wiley, 2001.-318 p.

29. Финкелыдтейн A.JI., Фарков П.М. Аппроксимации коэффициентов ослабления рентгеновского излучения в области 0,1-100 кэВ. // Аналитика и контроль. — 2002. — т.6, №4.-С. 377-382.

30. Leroux J. Method for finding mass-absorption coefficients by empirical equation and graphs // Adv. X-ray analysis. 1961. - v. 5. — pp. 153-160.

31. Tinh T.P., Leroux J. New basic empirical equation for computing of X-ray mass attenuation coefficients // X-ray spectrometry. 1979. —v.9, № 2. - pp. 85-91.

32. Heinrich K.F.J. X-ray absorption uncertainty // The electron microprobe. Wiley, 1966. pp. 131-1.77.

33. Teisen R., Vollath D. Tabellen der massenschwashungckoeffiziienten von rountgenstrahlen verlag stahleisein. — M.B.H Dusseldorf. 1967.

34. Маренков O.C. Таблицы и формулы рентгеноспектрального анализа. Методические рекомендации. Л.:Машиностроение, 1982, Вып. 3. - 101 с.

35. Hubbell J.H. Compilation of photon cross sections: some historical remarks and current status // X-ray spectrometry. 1999. - v.28, N4. - pp. 215-223.

36. Creagh D.C., Hubbell J.H. Problems associated with measurement of X-ray attenuation coefficients. I. Silicon. Report on the international union of crystallography X-ray attenuation project. // Acta Cryst. 1987. - A43. - pp. 102-112.

37. Creagh D.C., Hubbell J.H. Problems associated with measurement of X-ray attenuation coefficients. II. Carbon. Report on the international union of crystallography X-ray attenuation project. // Acta Cryst. 1990. - A46. - pp. 402-408.

38. Bambynek W., Crasemann В., Fink R.W., Freund H.U., Mark H., Swift C.D., Price R.E., Venugopala P. X-ray fluorescence yields, Auger and Coster-Kronig transition probabilities // Reviews of modern physics. 1972.-v.44, no. 4.-pp. 716-813.

39. Beatty R.T. // Proc. Roy. Soc. (London). -1911.- A85. p.230.

40. Barkla C.C., Philport A.J.//Phil. Mag. 1913. - v.25.-p. 832.

41. Auger P. // J. Phys. Radium. 1925. - v.6. - p.205.

42. Coster D., Kronig R. de L. // Physica. 1935. - v. 2. - p. 13.

43. Leisi H.J., Brunner J.H., Perdrisat C.F., Sherrrer P. // Helv. Phys. Acta. 1961. - v. 34. -p. 161. •

44. Bearden J.A. // Rev. Mod. Phys. 1967. - v.39. - p. 78.

45. Бахтиаров А.В. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ в геологии и геохимии. Л.:Недра, 1985. - 144 с.

46. Thomson J.J. The Conduction of electricity through gases. London:Cambridge University Press, 1906. - 325 p.

47. Комптон A.X. Алисон С.К. Рентгеновские лучи. Теория и эксперимент. Л.: Гостехиздат, 1941. - 672 с.

48. Блохин М.А. Физика рентгеновских лучей. М.: Гостехиздат, 1957. - 518 с.

49. Hubbell J.H., Veigele Wm.J., Braggs E.A., Brown R.T., Cromer D.T., Howerton R.J. Atomic Form Factors, Incoherent Scattering Functions, and Photon Scattering Cross Sections // J.Phys. Chem. Ref. Data. 1975. - v.4, N.3. - pp. 471-538.

50. Cromer D.T. Mann J.B. Compton scattering factors for spherically symmetric free atoms. // J. Chem. Phys. 1967. - v.47, N 6. - pp. 1892-1896.

51. Cromer D.T. Compton Scattering factors for aspherical free atoms. // J. Chem. Phys. -1969. v. 50, N 11. - pp. 4857-4859.

52. Бахтиаров A.B., Пшеничный Г.А. Формулы для приближенного вычисления дифференциальных сечений рассеяния рентгеновского излучения малых энергий. // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Ленинград:Машиностроение. - 1972. -вып. 11.-С. 200-218.

53. Hubbell J.H. An examination of available incoherent scattering S-matrix theory, also Compton profile information, and their impact on photon attenuation coefficient compilations. //NISTIR 6358.- 1999.

54. Namito Y., Ban S., Hirayama H., Nariyama N., Nakashima H., Nakane Y., Sakamoto Y.et al. Compton scattering of 20 to 40 keV photons // Phys. Rev. 1995. - A51. - pp. 3036-3043.

55. Kahape S. Relativistic Dirak-Hartree-Fock photon incoherent scattering functions. // At. Data Nucl. Data Tables. 1998. - v. 68. - pp. 323-347.

56. Namito Y., Ban S., Hirayama H. Implementation of the Doppler broadening of a Compton scattering photon into EGS4 code. // Nuclear Instr. Meth. 1994. - A394. - pp. 489-494.

57. Fernandez J.E. Rayleigh and Compton scattering contributions to X-ray fluorescence intensity // X-ray spectrometry. 1992 - v. 21. - pp. 57-68.

58. Fano U., Spencer L.V., Berger M.J., // handbach der physik, edited by S.Flugge, vol XXXVIII/2, Springer, Berlin, 1960.

59. Pomraning G.C. The equation of radiation hydrodynamics, Pergamon press, Oxford, 1973

60. Fernandez J.E., Molinary V.G., Sumini М. // Nucl. Instr. and Meth in Phys. res. 1989. -A280.-p.212.

61. Fernandez J.E., Molinary V.G., Sumini M. // Adv. X-ray anal. 1990. - v. 33. p. 553.

62. Fernandez J.E. // X-ray spectrometry. 1989. - v. 18. - p.271.

63. Fernandez J.E., Molinary V.G. // Adv. X ray anal. 1990. - v.33. - p. 573.

64. Величко Ю.И., Махотко В.Ф., Ревенко А.Г. Исследование вкладов эффектов рассеяния рентгеновского излучения в интенсивность рентгеновской флуоресценции // Заводская лаборатория. 1976. -т.42, № 11. — С. 1338- 1341.

65. Kis-Varga М., Vegh J. Influence of in-sample scattering of fhuprescent radiation on line shapes of Si(Li) detectors in XRF studies. // X-ray spectrometry. 1993. - v. 22. - pp. 166171.

66. Fernandez J.E., Sumini M. // X-ray spectrometry. 1991. - v. 20. - p. 315.

67. X-ray spectrometry: recent technological advances / edited by Tsuji K., Injuk J., Grieken R.V., Wiley, 2004.-599 p.

68. Pavlinsky G.V. and Dukhanin A.Ju. Calculation of photo- and Auger electron contribution to X-ray excitation of elements with low atomic number // X-Ray Spectrometry. 1994. -v.23.-pp. 221-228.

69. Pavlinsky G.V. and Dukhanin A.Ju. Choose of optimum condition for X-ray excitation of elements with low atomic number// X-Ray Spectrometry. 1995. - v.24. - pp. 293-297.

70. Павлинский Г.В. Основы физики рентгеновского излучения (учебное пособие). -Иркутск:РИО ИГУ, 1999. 165 с.

71. Ревенко А.Г. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ природных материалов. Новосибирск: Наука, 1994.— 264 с.

72. V.Kozhevnikov. Analysis of X-ray scattering from rough multilayer mirror in the first order perturbation theory // Nuclear instruments and Methods in Phis. Res. 2003. - A498. -pp. 482-495.

73. Vinogradov A.V., Faschenko R.M. An approach to the theory of X-ray multilayers with graded period // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. 2000. - A448. - pp. 142-146.

74. Feng S.M., Dou X.M. Effect of the energy resolution on the reflectivity of multilayer // Physics Letters. 2003. - A309. - pp. 477-481.

75. Блохин M.A. Методы рентгеноспектральных исследований. M.: Гос. издат. физ.-мат. литературы., 1959. - 386 с.

76. Друзь В.В. Тезисы доклада 8 совещания по рентгеновской спектроскопии. -«Апатиты», 1966.

77. Лосев Н.Ф. Количественный рентгеноспектральный флуоресцентный анализ. М.: Наука, 1969.-336 с.

78. Ревенко А.Г., Павлинский Г.В., Лосев Н.Ф., Афонин В.П. О рентгеновском фоне в длинноволновой области спектра // Зав. лаборатория. — 1970. т. 36, № 2. С. 166-169.

79. Афонин В.П., Гуничева Т.Н. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ горных пород и минералов. Новосибирск:Наука, 1977. - 256 с.

80. Сухорукое Б.Л., Смагунова А.Н., Павлинский Г.В., Лосев Н.Ф. Исследование состава фона в коротковолновой области рентгеновского спектра флуоресценции // Журнал аналитической химии. 1975. - т.ЗО, № 2. - С. 372-375.

81. Лосев Н.Ф., Смагунова А.Н. Основы рентгеноспектрального флуоресцентного анализа. М.: Химия, 1982. - 282 с.

82. Павлинский Г.В., Ившев Д.В., Имешкенова Н.Н. Формирование фона в кристалл-дифракционной аппаратуре в длинноволновой области рентгеновского спектра // Журнал аналитической химии. 1991. - т.46. - С. 525-532.

83. Гуничева Т.Н., Афонин В.П., Финкелыптейн А.Л. Учет фона при анализе на многоканальных рентгенофлуоресцентных спектрометрах. // Журнал аналитической химии.- 1982.-т. 37,№.7.-С. 1157-1162.

84. Arai Т. Intensity and distribution of background x-rays in wavelength dispersive spectrometry // X-ray spectrometry. 1991. - v.20. - pp. 9-22.

85. Афонин В.П., Гуничева Т.Н., Пискунова Л.Ф. Рентгено-флуоресцентный силикатный анализ. Новосибирск, Наука, 1984. - 225 с.

86. Молчанова Е.И. Диссертация на соискание ученой степени доктора технических наук. Иркутск, 2002.

87. Павлинский Г.В., Имешкенова Н.Н., Ившев Д.В. Расчет соотношения рассеянного пробой первичного и возникшего в ней тормозного излучения фото и Оже электронов // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. 1991. — № 41. - С. 113-119.

88. Мамиконян С.В. Аппаратура и методы флуоресцентного рентгенорадиометрического анализа. М.: Атомиздат, 1976. - 280 с.

89. Hendricks R.W. Space charge effects in proportional counters // Rev. Scint. Instrum. -1969.-v.40,N9.-p. 1216.

90. Скородумов Д.В., Уланов М.В. Послеимпульсы в пропорциональном счетчике с катодами из разных материалов // Приборы и техника эксперимента. — 2ООО. — № 2. С. 33-37.

91. Ерин С.В. Влияние гасящих добавок и материала катода на работу пропорциональных трубок // Приборы и техника эксперимента. — 1998. №2. - С.26-30.

92. Гоганов Д.А., Лозинский Б.С., Сиухин А.Г. О работе проточного пропорционального счетчика мягкого рентгеновского излучения // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.:Машиностроение. - 1967. — № 2. - С. 111.

93. Медведев М.Н. Сцинтилляционные детекторы. М.: Атомиздат, 1977. - 136 с.

94. Катаев А.А. Поиск путей создания фотоэлектронных умножителей со сверхнизким уровнем собственных шумов // Приборы и техника эксперимента. 1989. - № 3. - С. 147-153.

95. Больбит Н.М., Тарабан В.Б., Шелухов И.П., Клиншпот Э.Р., Милинчук В.К. Пластмассовый сцинтиллятор нового типа с превосходной радиационной стойкостью // Приборы и техника эксперимента. 2000. - № 4. - С.31-35.

96. Бритвич Г.И., Васильченко В.Г., Лапшин В.Г., Соловьев А.С. Новые тяжелые пластмассовые сцинтилляторы // Приборы и техника эксперимента. 2000. - № 1. - С. 42-45.

97. Гурский И.Е., Кафтанов B.C., и др. Исследование свойств сцинтилляционных кристаллов CeF3 // Приборы и техника эксперимента. 2000. - № 1. - С. 36-41.

98. Акимов Ю.К., Игнатьев О.В., Калинин А.И., Кушнирук В.Ф. Полупроводниковые детекторы в экспериментальной физике. М.: Энергоатомиздат, 1989. - 344 с.

99. Keith H.D., Loomis Т.С. Calibration and use of a lithium drifted silicon detector for accurate analysis of X-ray spectra // X-ray spectrometry. 1976. - v.5. - pp. 93-103.

100. Campbell J.L., McDonald L., Hopman Т., Papp T. Simulations of Si(Li) x-ray detector response // X-ray spectrometry. 2001. - v.30, N 4. - pp. 230-241.

101. Papp Т., Campbell J.L. Size and origin of the escape peak in various Si(Li) detectors // X-ray spectrometry. 2001. - v. 30, N2. - pp. 77-82.

102. Lowe B.G. An analitical description of low-energy X-ray spectra in Si(Li) and HPGe detectors // Nucl. Instr. Meth. In Phys. Res. 2000. - A439. - pp. 247-261.

103. Kurakado M. An introduction to superconducting tunnel junction detectors // X-ray spectrometry. 2000. - v. 29. -pp.137-146.

104. Scofield J.H. Theoretical photoionization cross sections from 1 to 1500 keV. UCRL-51326,1973.

105. Iskef H., Cunningham J.W., Watt D.E. // Phys. Med. Biol. 1983. - v. 28. p. 535.

106. Джилеспи А.Б. Сигнал, шум и разрешающая способность усилителей. М: Атомиздат, 1964.

107. Гоноровский И.С. Радиотехнические цепи и сигналы, М: Советское радио, 1967.

108. Arecchi F.T., Cavalleri G., Gatti E. // Energia Nucleare. 1960. - v.7. - pp. 691-698.

109. Басиладзе С.Г. Быстродействующая ядерная электроника. М.гЭнергоиздат, 1982. -160 с.

110. Мелешко Е.А. Быстродействующие цифровые регистраторы формы сигнала // Приборы и техника эксперимента. 1997. — № 1. - С. 5-26.

111. Simoes P.C.P.S., J.M.F. dos Santos, Conde C.A.N. Driftless gas proportional scintillation counter pulse analysis using digital processing techniques // X-ray spectrometry. 2001. — v.30,N 5.-pp. 342-347.

112. Белых B.B., Смагунова A.H., Козлов В.А. Многократно рассеянное излучение при рентгенорадиометрическом анализе // Журнал аналитической химии."- 1994. — т.49, №10.-С. 1092-1096.

113. Коляда В.М., Зайченко А.К., Дмитриенко Р.В. Рентгеноспектральный анализ с ионным возбуждением. М.:Атомиздат. 1978, 248 с.

114. Hubbell J.H. Review of photon interaction cross section data in the medical and biological context // Phys. Med. Biol. 1999. - v. 44. - pp. R1-R22.

115. Горнов М.Г., Гуров Ю.В., Осипенко Б.П., Подкопаев О.И., Солдатов A.M., Юрковски Я. Планарные детекторы из особо чистого германия // Приборы и техника эксперимента. 1990. - №4. - С.83-85.

116. Власик К.Ф., Грачев В.М., Дмитренко В.В., Соколов Д.В., Улин С.Е., Утешев З.М. Методика автоматической обработки информации с гамма спектрометра на основе сжатого ксенона // Приборы и техника эксперимента. 2000. — № 6. — С. 5-10.

117. Арефьев В.А., Бугров В.П., Давиденко Н.И., Карпов Ю.М., Копылевич Н.М., Перьков А.И., Федотов С.Н., Шармак М.П. Позиционно чувствительный гамма спектрометр // Приборы и техника эксперимента. 1990. -№3. - С. 20-24.

118. Афонин В.П., Лосев Н.Ф., Шалагинов А.И. Об оптимальном варианте заземления электродов рентгеновской трубки при рентгеноспектральном анализе элементов с малыми атомными номерами // Заводская лаборатория. 1968. - т.34, №.2. - С. 169-172.

119. Arai Т., Shoji Т., Omote К. (1986) Measurement of the spectral distribution emitted from spectrographic tubes // Adv. X-Ray Anal. 1986. - v.29. - pp. 413-422.

120. Pavlinsky G.V. and Portnoi A.Ju. Calculating the spectral distribution of radiation from X-ray tube with grounded cathode // Radiation Physics and Chemistry. 2001. - v.62, N.2-3. -pp. 207-213.

121. Pavlinsky G.V. and Portnoy A.Yu. Formation features of radiation from X-ray tube with grounded cathode // X-Ray Spectrometry. 2002. - v.31, no. 3. - pp. 247-251.

122. Pavlinsky G.V., Duhanin A.Yu., Portnoy A.Yu. The excitation of x-ray fluorescence of elements with small Z by radiation from thin-window x-ray tubes // Radiation Physics and Chemistry. 2001. - v.62, N.2-3. - pp.207-213.