Низкопороговое плазмообразование у поверхности, облучаемой жестким рентгеновским излучением тема автореферата и диссертации по физике, 01.04.14 ВАК РФ

Нечинская, Лариса Ивановна АВТОР
кандидата технических наук УЧЕНАЯ СТЕПЕНЬ
Москва МЕСТО ЗАЩИТЫ
1997 ГОД ЗАЩИТЫ
   
01.04.14 КОД ВАК РФ
Автореферат по физике на тему «Низкопороговое плазмообразование у поверхности, облучаемой жестким рентгеновским излучением»
 
Автореферат диссертации на тему "Низкопороговое плазмообразование у поверхности, облучаемой жестким рентгеновским излучением"

N

¿>"4 О"

£

^Министерство общего и профессионального образования

-Г" °°

с\, Российской Федерации

Московский государственный университет леса

На правах рукописи

НЕЧИНСКАЯ Лариса Ивановна

НИЗКОПОРОГОВОЕ ПЛЛЗМООБРАЗОВАНИЕ У ПОВЕРХНОСТИ, ОБЛУЧАЕМОЙ ЖЕСТКИМ РЕНТГЕНОВСКИМ ИЗЛУЧЕНИЕМ

01.04.14 - теплофизика и молекулярная физика

АВТОРЕФЕРАТ диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук

Москва -1997

Работа выполнена на кафедре физики Московского государственного университета леса.

Научные руководители:

заслуженный деятель науки РФ,

доктор технических наук,

профессор В. Н. ХАРЧЕНКО;

доктор технических наук, с.н.с. А. Ю. СИЛАНТЬЕВ

Официальные оппоненты:

доктор технических наук, профессор В.И.АРЕФЬЕВ; доктор технических наук,

профессор Ю. А.ПОЛЯКОВ.

Ведущая организация - 50-й Центральный научно-исследовательский институт им. М. К. Тихонравова .

на заседании специализированного совета К 053.31.06 по защите диссертаций на соискание ученой степени кандидата технических наук по адресу: 141005, г. Мытищи, Московская область, МГУЛ.

С диссертацией можно ознакомиться в научной библиотеке университета.

Автореферат разослан " 9__ " СеитЯВря 1997 г.

Ученый секретарь специализированного совета, кандидат технических наук, доцент БУЛГАКОВ В.И.

Защита состоится " № " Октября 1997 г. в Ю

оо

часов

ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ

Актуальность темы. Образование плазмы в разреженном газе у поверхности под воздействием жесткого рентгеновского излучения представляет собой малоизученную область физики газоразрядных процессов. Существующие в настоящее время представления о механизмах установления барьерного эффекта в вакууме и разрушения электронного барьера в присутствии газа не дают полной картины этого явления. Вместе с тем, исследования такого рода важны для общего понимания физики газового разряда и открывают перспективы создания плазменно-разрядных устройств нового типа с динамическим управлением посредством изменения параметров ионизирующих излучений.

Цель работы - теоретическое изучение и моделирование явления приповерхностного плазмообразования в разреженном газе в условиях воздействия жесткого рентгеновского излучения. Для достижения этой цели были поставлены следующие задачи:

1 - исследовать механизмы формирования и распространения приповерхностной плазмы ;

2 - разработать математическую модель исследуемого явления;

3 - исследовать диапазон значений определяющих параметров, при которых устанавливается и разрушается барьерный эффект;

4 - промоделировать динамику плазмообразования и определить зависимость скорости распространения плазменного фронта от интенсивности облучения.

Научная новизна работы заключается в том, что впервые разработана модель приповерхностного плазмообразования в условиях облучения, дающая возможность устанавливать пространственные профили электрических полей, скоростей и концентраций электронов и

ионов в приповерхностной зоне на различных стадиях плазмообразования. Получена зависимость начальной скорости плазменного фронта от интенсивности ионизационных процессов в объеме газа. Выделено три скоростных режима распространения плазменного фронта . Предложен критерий существования приповерхностной плазмы по соотношению давления газа и длительности импульса облучения.

Практическая ценность работы. Использование предложенной модели дает возможность исследовать динамику прорастания инициированной облучением приповерхностной плазмы в разреженном газе . Полученные результаты являются существенным звеном в решении многопараметрических задач о функционировании космических объектов в изменяющихся условиях.

Достоверность полученных результатов обеспечивается выбором обоснованных допущений ( исходя из целей исследования), использованием адекватных уравнений зарядового равновесия и закона сохранения импульса при разработке математической модели исследуемого явления, надежной методикой численного расчета (используемая схема и особенности конечно-разностной реализации прошли проверку практикой).

На защиту выносятся:

1. Математическая модель приповерхностного плазмообразования в разреженном газе в условиях облучения,

2. Результаты численного моделирования в диапазоне давлений 2.7*10-3 Па + 1.33 Па (2*105тор -НО-- тор).

3. Типовая зависимость скорости распространения плазменного фронта от интенсивности новообразования .

Апробация . Результаты работы докладывались на научно-технических

конференциях МГУЛ в 1995 и 1996 гг., на конференции "Влияние низкоинтенсивных излучений космического пространства на элементы и устройства радиоэлектроники и электротехники" (г.Лыткарино, 1995 г.).

Публикации. Основные результаты диссертационной работы опубликованы в 5 научных статьях.

Структура и объем диссертации. Объем работы 78 машинописных листов, состоит из трех глав, содержит 24 рисунка , 6 таблиц, библиографию из 51 наименования, приложения на 8 страницах.

СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ

Во введении обоснована актуальность темы, сформулирована цель исследования, представлена структура и общее содержание диссертации, а также основные положения, выносимые на защиту.

В обзорной части представлен краткий обзор ряда теоретических и экспериментальных работ, проводившихся Ю.П.Райзером, Ю.Р.Аланакяном, К.В.Ходатаевым и другими авторами в рамках исследования близких по этиологии разрядных процессов, таких как: тлеющий разряд, высокоскоростная волна ионизации, разряд, поддерживаемый электронным пучком. По совокупности определяющих физических процессов явление приповерхностного плазмообразования в условиях облучения жестким рентгеном становится в один ряд с этими разрядными явлениями . Анализ ряда работ, посвященных исследованию данного явления (авторы - Е.П.Де Пломб, Дж.Клеберс, А.Бромборски, А.Вудс, Р.Стахл) показывает, что существующие представления недостаточно полно характеризуют

особенности формирования вакуумного электронного барьера и его разрушения при наличии разреженного газа, и приповерхностное плазмообразование нуждается в подробном исследовании с применением методов физики газоразрядных процессов.

Первая глава посвящена постановке задачи, ее математической формулировке, разработке алгоритма решения.

Формирование вакуумного барьерного эффекта становится возможным в результате фотоэффекта и комптоновского рассеяния гамма-квантов, когда поверхность эмиттирует потоки быстрых электронов. Электрическое поле образуется между уносимым электронным облаком отрицательным зарядом и оставшимся в поверхностном слое тела положительным зарядом. Электронный барьер фиксируется на расстоянии с!0 от поверхности, когда достигается равновесие между прямым и обратным потоками электронов. Аналитическое решение уравнения Пуассона (при условии постоянства потока электронов) дает следующие распределения напряженности электрического поля £, потенциала <р и плотности электронов п в установившемся состоянии (при 0 < х < й0 ):

Е =

4еп

3 г d

1-

<Р =-

о V

-1+

л0'

Ео =

4 ¿'о

Ъгйл

4. Л

•'3

2 Г(. х п=-1 1--

d0 у

vo v

где е0 - начальная энергия вылетающих электронов, е - заряд электрона, Г = пх = Const - односторонний поток электронов, v0 -начальная скорость вылетающих с поверхности электронов. Распределения показаны на рис. 1.

о

е

к

Рис.1. Распределения поля, потенциала и плотности электронов в вакууме

При наличии у поверхности некоторого количества нейтрального газа электронный барьер приходит в движение. Ионизация молекул газа электронами обратного потока (т.н. медленными электронами) создает два новых потока - ток вторичных электронов и ток ионов, которые изменяют суммарное электрическое поле. Вторичные электроны ускоряются к поверхности, а ионы вовлекаются в движение вслед за быстрыми электронами в возникающих электрических полях. Эффективное поле Е:, созданное разделением вторичных электронов и ионов, направлено противоположно самосогласованному вакуумному

полю первичных фотоэлектронов Е1, и результирующее поле Е оказывается значительно меньше Е1:

\~Е\= \Ж, + Ег 1= \Е,\- \% 1< 1^1.

Вследствие этого фотоэлектроны затрачивают меньше энергии на работу против сил электрического поля, чем в вакууме, и точка их возврата удаляется от облучаемой поверхности: й > й0 . Электронный барьер приходит в движение.

При разработке математической модели приповерхностного плазмообразования использовалось одномерное гидродинамическое приближение и двухгрупповая модель для электронной компоненты (быстрые фотоэлектроны и фоновые электроны). Электроны считались классическими частицами, уравнения Максвелла заменялись уравнениями электростатики. Решалась следующая система уравнений: с1Е

1.

ах

= -4л-е( и,.-«;-<);

V,, V.

2 дх

еЕ

те 2 Л(£,р) дх

дх

3.

4.

5.

дпе _ д

с1 дх дх

й:

дп„

дх ,

^ , 1 ё«)1 = еЕ г у; < д (+ ^ ¿^ 2 дх те тец(8,р) дх V " дх

дп+ д

(V; п; )^8{пеХ ,Е)+а{Е,р)(п~ г; +< п, +

г

+

дх

О

дх

6.

7.

еЕ

еу.

д

д1 2 дх т1 лт1у//,. (р)

л г

п, ) = а(Е,р)(п~ х>;+п:хС)-Рп: п, + А д1 дх дх

И

, дп: дх )

где Е - амплитуда электрического поля, Ц, п*, пе ,У(,У*,Уе -концентрации и скорости ионов, фоновых электронов и быстрых электронов, е, Л(е,р) - средняя энергия и длина свободного пробега фотоэлектронов, це{р), щ{р) - подвижность фоновых электронов и ионов, Р - коэффициент диссоциативной рекомбинации, функция моделирует переход быстрых фотоэлектронов в фоновые электроны, если фотоэлектроны не обладают достаточной энергией, чтобы совершать

работу против сил электрического поля, Д, = Д, =3Ну, - диффузные члены, введенные для моделирования диссипации плазменных неустойчивостей,

а ( Е, р ) - ионизационный коэффициент Таунсенда, который выбирался как минимальный между случаями дрейфового приближения и пробоя в сильных полях.

Начальные и граничные условия:

у те у0 ах ох

дх дх дх вх

Расчеты выполнялись по неявным разностным схемам с шагом по времени, позволяющим разрешать движение фотоэлектронов. Уравнения для расчета скоростей и концентраций ионов и электронов были преобразованы в трехточечные разностные уравнения с трехдиагональной матрицей и решались методом прогонки.

Во второй главе приводятся результаты тестирования модели для вакуумного случая и сравнение их с результатами аналитических расчетов .Тестовые расчеты показали применимость данной расчетной модели (см. рис.2, 3).

Рис. 2. Динамика формирования запирающею электронного облака при облучении поверхности. ЕВ(а),ЕМ(с) - концентрации фотоэлектронов и фоновых электронов, УЕВ(Ь),УЕМ(с1) - соответствующие скорости; 1 - 0.12 не, 2 - 0.36 не, 3 - 0.6 не, 4-1.2 не, 5 - 2.4 не; давление р = 0.00002 тор.

Рис. 3. Продолжение рис.10. Е1(а), УЕ1(Ь) - концентрация и скорость ионов, ( ЕВ+ЕМ-Е1) (с) - суммарная плотность отрицательных зарядов, Е(с1) - амплитуда напряженности электрического поля; I - 0.12 не. 2 - 0.36 не. 3 - 0.6 не, 4-1.2 не, 5 - 2.4 не; давление р = 0.00002 тор.

Рис.4. Распределение скорости и концентрации быстрых фотоэлектронов (УЕВ, ЕВ) и фоновых электронов (УЕМ,ЕМ) при давлении р = 0.00002 тор: 1 - 10"6 с, 2 - 2*Ю~6 с, 3 - 3*10-6 с> д . Ю"5 с.

х:1.0 -'' ЕI, _:1./СР'Н»*3

Л 7 1

■/у УУ л —

' /ЛУ 1 4

V

■::> , СИ/СЕК

О 5 0

й X, С 1'1

Рис.5. Распределение скорости и концентрации ионов (УЕ1, Е1), суммарного заряда (ЕВ+ЕМ-Е1) и напряженности электрического поля (Е) при давлении р = 0.00002 тор: 1 - 10_б с, 2 - 2*10_б с, 3 - 3*10"6 с, 4 - 10"5 с.

Рис.5. Распределение скорости И концентрации быстрых фотоэлектронов (УЕВ, ЕВ) и фоновых электронов (УЕМ,ЕМ) при давлении р = 0.0002 тор: 1 - 70 не, 2 - 210 не, 3 - 350 не, 4 - 490 не, 5 - 700 не.

Рис.7. Распределение скорости и концентрации ионов (УЕ1, Е1), суммарного заряда (ЕВ+ЕМ-Е1) и напряженности электрического поля (Е) при давлении р = 0.0002 тор: 1 - 70 не, 2 - 210 не, 3 - 350 не, 4 - 490 не, 5 - 700 не.

Наиболее подробная картина динамики плазмообразовательных процессов около облучаемой поверхности была получена в диапазоне давлений р = 2.7*1 (И Па -г 1.33 Па (2*10 5 тор + 0.01 тор) для следующих условий расчета: / = 0.5 м, е= 5 кэВ, Г = 3*1018 эл/м*с, Н = 0.005 м.

При р = 2.7*10'3 Па (2*10"5 тор) ( рис. 4, 5 ) после образования виртуального катода быстрыми фотоэлектронами в области сильных полей происходит медленная вторичная ионизация (кривые 1,2 ). Затем в газ инжектируется плазменный поток, состоящий из ускоренных ионов и части фотоэлектронов, компенсирующих ионный заряд (кривая 3). После достижения правой поглощающей границы расчетной области решение устанавливается. При отсутствии второй поверхности плазменный поток останавливается газом. Толщина виртуального катода й0 — 0.1 м и перепад потенциала V - 4.5 кВ. Аналитическая оценка напряженности электрического поля в этом случае дает Е0 »56 кВ/м. Из рис.5 видно, что поле у поверхности Ед к 63 кВ/м.

При р - 2.7* [О-2 Па (2*10"1 тор) ( рис.6, 7 ) необходимая для разрушения барьера концентрация ионов набирается за 5* 10-7 с (кривая 4 ). фронт движется с постоянно возрастающей скоростью. Перепад потенциала во фронте близок к энергии фотоэлектронов.

Увеличение давления до р - 1.33 Па (Ю-2 тор) создает условия для развития плазменных неустойчивостей при интенсивном поглощении энергии фотоэлектронов через ионизацию во вторичных электрических полях.

Скорость движения плазменного фронта зависит от интенсивности ценообразования в области сильных полей. Этот фактор учитывает значение безразмерного показателя у = а ( Е, р ) с/ ( £„ ), характеризующего вторичную ионизацию в голове стримера. При у> 1 барьер разрушается за один пролет электрона, и фронт движется со скоростью фотоэлектронов. При у<1 необходимый ионный заряд

набирается за у'1 пролетов электрона. Фронт движется соответственно в у

Ш7

раз медленнее. При X <у т распространение плазмы определяется

V I

движением ионов. Таким образом, скорость фронта на начальных стадиях плазмообразования:

V, =

т. т.

4= у„ . |—Ч ,/—

Vo

1 т. и т т

т,. у> 1,

<

где у = а ( Е, р ) с! ( еи тi - масса ионов.

На рис.8 показаны начальные скорости распространения плазменного фронта, полученные аналитически и при численном моделировании.

е^М)

-2

III

- II. '*

I ^ / *

* . 1 _..

О [отн.ед])

8

3

Рис.8. Зависимость начальной скорости распространения плазменного фронта от безразмерного параметра ионизации у. Непрерывная линия - оценка, * - расчет.

Левая ветвь I зависимости скорости фронта от показателя / отражает

К

ионный режим распространения плазмы, когда ■ Средняя часть

II зависимости показывает режим линейного роста скорости фронта, когда область отрицательного заряда подобна барьеру в вакууме с близкой по значению протяженностью и амлитудой электрического поля. Правая часть III отражает электронный режим: барьер разрушается за один пролет электрона, и фронт движется со скоростью, близкой к скорости фотоэлектронов.

Предложен критерий смены режимов для соотношения давления газа и времени пролета промежутка электронами. В воздухе при

£у = 5 кэВ критерий смены режима I на режим II (■/ > л| т ):

р * г > 9.3 * Ю-12 Па*с (7 * 10 5тор*нс). Режим II сменяется режимом III при у-1, то есть р*т- 2.1 * Ю-10 Па*с (1.6 * Ю-3 тор*нс).

В третьей главе проводится сравнение полученных результатов с результатами экспериментальных исследований, проводившихся за рубежом. В 1982 г. А.Вудсом, М.Трейдевеем и Д.Хиггинсом был поставлен эксперимент по облучению рентгеновскими лучами камеры, заполненной разреженным аргоном. Доступные измерениям магнитные поля в полости возникают при появлении круговых токов, складывающихся из тока фотоэлектронов и обратного тока вторичных электронов, достигающих боковых стенок облучаемого цилиндра, что является аналогом режима II в нашей модели. Результаты эксперимента показывают усиление магнитных полей в области давлений 13.3 +133 Па, подтверждая модельную зависимость, соответствующую режиму линейного роста скорости прорастания плазмы; возможность же

получить данные при более низких давлениях ограничивалась высоким уровнем шумов в экспериментальной установке.

Эксперимент по изучению влияния давления газа на токи пропускания в облучаемой рентгеновскими лучами цилиндрической полости, заполненной разреженным воздухом, проводился в 1973 г. Р. Стахлом, Е. Д. Пломбом и Е. Венаасом. Получено экспериментальное подтверждение существования различных скоростных режимов плазмообразования - зависимость тока пропускания J„ в камере длиной

0.1.м от давления воздуха, имеющая немонотонный характер: J„, * Const, = 0.1 kA при р = 1.3* 10-2+ 1.3 Па (Ю-Ч-Ю-* тор);

J„: * Const:*(p\m\), Const, > 1 при р = 1.3 -г 6.5 Па (10-^5*10-2 тор); J,r3 ~ Const, = 1 kA при р> 6.5 Па (5*10-'- тор).

ВЫВОДЫ

1. Проведено исследование явления приповерхностного плазмообразования в разреженном газе в условиях облучения жестким рентгеновским излучением.

2. Проведен обзор наиболее близких по этиологии разрядных явлений с выделением ключевых физических процессов, лежащих в основе исследуемого явления.

3. На основе общефизических представлений и путем аналитического решения уравнения Пуассона показана возможность формирования электронного барьера в вакууме у облучаемой жестким рентгеном поверхности и установлены пространственные распределения:

а) напряженности электрического поля;

б) электростатического потенциала;

в) плотности электронов в приповерхностной области.

4. Показано, что при наличии газа у облучаемой поверхности электронный барьер приходит в движение, обусловленное ослаблением удерживающего электрического поля вследствие разделения вторичных

электронов и ионов газа, появившихся при ионизации молекул газа вторичными (фоновыми) электронами.

5. Разработана математическая модель приповерхностного плазмообразования, представляющая собой замкнутую систему из семи уравнений, включающую в себя: уравнение электростатики для расчета напряженности электрического поля, уравнения движения электронов и ионов в гидродинамическом приближении и уравнения сохранения числа электронов и ионов.

6. При проведении численного моделирования для различных давлений газа получены пространственные и временные распределения электрического поля, а также концентраций и скоростей фотоэлектронов, ионов и вторичных электронов в приповерхностной плазме.

7. Установлена зависимость начальной скорости плазменного фронта от интенсивности ионизационных процессов в объеме газа.

8. Выделено три скоростных режима распространения плазменного фронта: ионный, режим линейного роста скорости фронта и электронный.

9. Проведено сравнение полученных результатов с результатами экспериментальных работ по приповерхностному плазмообразованию в условиях облучения.

По теме диссертации опубликованы следующие работы:

1. Райзер Ю.П..Силантьев А.Ю., Нечинская Л.И. Стационарное электронное облако над поверхностью в вакууме при облучении жестким рентгеновским излучением. II Труды МГУЛ. - 1995. -вып.282.

2. Силантьев А. Ю., Нечинская Л. И. Связь приповерхностного плазмообразования с разрядными явлениями и ключевые вопросы его исследования // Вопросы атомной науки и техники. - 1996. - вып.1.

3. Силантьев АЛО., Нечинская Л. И. Одномерное численное моделирование низкопорогового плазмообразования у поверхности, облучаемой жестким рентгеновским излучением. // Труды МГУЛ. -1995. - вып.282.

4. Силантьев А.Ю., Нечинская Л.И. Разрушение барьерного эффекта при низкопороговом плазмообразовании у поверхности, облучаемой жестким рентгеновским излучением. // Труды МГУЛ. - 1995. -вып.282.

5. Силантьев А.Ю., Нечинская Л.И. Динамическая модель низкопорогового плазмообразования у поверхности, облучаемой жестким рентгеновским излучением. // Вопросы атомной науки и техники. - 1995. -вып.1.