Исследование термодинамически стабильных состояний в тонких пленках нематического жидкого кристалла методом атомно-силовой микроскопии тема автореферата и диссертации по физике, 01.04.14 ВАК РФ

Гирфанова, Флюза Марсовна АВТОР
кандидата физико-математических наук УЧЕНАЯ СТЕПЕНЬ
Уфа МЕСТО ЗАЩИТЫ
2007 ГОД ЗАЩИТЫ
   
01.04.14 КОД ВАК РФ
Автореферат по физике на тему «Исследование термодинамически стабильных состояний в тонких пленках нематического жидкого кристалла методом атомно-силовой микроскопии»
 
Автореферат диссертации на тему "Исследование термодинамически стабильных состояний в тонких пленках нематического жидкого кристалла методом атомно-силовой микроскопии"

На правах рукописи

Гирфанова Флюза Марсовна

ИССЛЕДОВАНИЕ ТЕРМОДИНАМИЧЕСКИ СТАБИЛЬНЫХ СОСТОЯНИЙ В ТОНКИХ ПЛЕНКАХ НЕМАТИЧЕСКОГО ЖИДКОГО КРИСТАЛЛА МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Специальности 01 04 14-теплофизика и теоретическая теплотехника 01 04 07 - физика конденсированного состояния

О.

Автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук

■И

□0305Э0Э2

Уфа -2007

003059092

Работа выполнена на кафедре общей физики в ГОУ ВПО «Башкирский государственный университет»

Научный руководитель доктор физико-математических наук,

профессор Чувыров Александр Николаевич

Официальные оппоненты доктор физико-математических наук,

профессор Фатыхов Миннихан Абузарович

доктор физико-математических наук, профессор Биккулова Нурня Нагимьяновна

Ведущая организация Институт физики молекул и

кристаллов УНЦ РАН (г Уфа)

Защита состоится «30» мая 2007 года в 16°° ч на заседании диссертационного совета Д 212013 04 в Башкирском государственном университете по адресу 450074, г Уфа, ул Фрунзе, 32, физический факультет, ауд 216

С диссертацией можно ознакомиться в научной библиотеке Башкирского государственного университета

Автореферат разослан 28 апреля 2007 г

Ученый секретарь диссертационного совета доктор физико-математических наук,

профессор Шарафутдинов Р Ф

ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ

Актуальность темы. История открытия жидких кристаллов начинается с чешского химика Ф Рейнитцера и немецкого физика О Лсмана в 1 888 году, а основы физики жидких кристаллов были заложены только в 20-х годах нашего столетия В настоящее время это бурно развивающийся раздел физики конденсированных сред Мировое производство ЖК-индикаторов и дисплеев исчисляется миллиардами и, по прогнозам, будет увеличиваться и дальше Уже сейчас без преувеличения можно сказать, что прогресс и развитие ряда отраслей науки и техники немыслимы без развития исследований в области жидких кристаллов Не меньший интерес представляют собой жидкие кристаллы с точки зрения биологии и процессов жизнедеятельности Функционирование клеточных мембран и ДНК, передача нервных импульсов, работа мышц, формирование атеросклеротических бляшек - вот далеко не полный перечень процессов, протекающих в жидкокристаллической фазе, с присущими этой фазе особенностями - склонностью к самоорганизации при сохранении высокой молекулярной подвижности

Представление о структурных особенностях жидких кристаллов, в основном получены из исследований при помощи поляризационного микроскопа, до последнего времени это устраивало ученых, занимающихся жидкими кристаллами, но стали возникать вопросы, связанные со структурными особенностями жидких кристаллов и изучение этих особенностей требуется на более глубоком уровне, то есть на уровне наноразмеров Работы по этому направлению ведутся во многих странах, например в США, в Японии, Германии, в Польше А на уровне

наноразмеров исследовать структурные особенности позволяет сканирующая зондовая микроскопия

В последние годы методы сканирующей зондовой микроскопии позволили достичь уникальных научных результатов в различных областях физики, химии и биологии Новые экспериментальные возможности данного направления — неразрушающий характер исследований, высокое пространственное разрешение и возможность проведения экспериментов в жидких средах — делают особенно перспективным применение СЗМ (в частности, атомно-силовой микроскопии) для изучения структуры и свойств жидких кристаллов В то же время СЗМ-исследование этих объектов остается более сложной задачей в сравнении с аналогичными исследованиями поверхностей твердых (кристаллических) тел Действительно, прошло более десяти лет с момента возникновения зондовой микроскопии (в 1981 г), прежде чем в 1992 г была убедительно продемонстрирована адекватность этого метода для исследований биополимеров на примере АСМ-визуализации молекулы ДНК Для исследований жидких кристаллов АСМ-метод начал применяться с 1996-98 годов

За эти годы возникло понимание, что определяющей задачей успешности подобных исследований, требующей экспериментального решения в каждом конкретном случае, является получение наномолекулярных слоев на поверхностях твердых подложек в таком состоянии, чтобы было возможным исследовать их структурные особенности

Целью работы являлась разработка методик исследования жидких кристаллов с использованием атомно-силового микроскопа, и в частности,

структурных особенностей наиомопекулярных слоев тематических жидких кристаллов

Научная новизна Впервые для применения атомно-силового микроскопа к исследованию наномолекулярных слоев НЖК был применен метод «сдувания» сжатым воздухом капли НЖК нанесенной на свежесколотую поверхность слюды Для обработки и анализа АСМ-изображений был применен вейвлет-анализ В результате применения АСМ-метода и вейвлет-анализа выяснилось, что происходит самоорганизация гомеотропно ориентированного слоя НЖК, и что при формировании такого слоя реализуется ситуация в которой первый монослой - двумерный смектический жидкий кристалл, далее реализуется фазовый переход СЖК—>НЖК, а выше формируется ПЖК Обнаружены нанокластеры в наномолекулярных слоях жидких кристаллов

Достоверность результатов обеспечена использованием апробированных методов исследований, соответствием

экспериментального оборудования целям и задачам исследований и апробированием математических методов обработки АСМ-изображений

Научная и практическая значимость. Полученные в ходе работы результаты представляют интерес для специалистов работающих в области исследования жидких кристаллов А также

1 Обоснована разработка новых теоретических и экспериментальных подходов к анализу гомеотропной ориентации жидких кристаллов, которые реализуются в индикаторах приборов и ЖК-дисплеях

2 Обосновано, что в наномолекулярных слоях ЖК возможна реализация различных нанокластеров, которые определяют структуру и свойства макромодуляриых слоев

Апробация работы Основные результаты исследований докладывались и обсуждались на Всероссийской научной конференции Современные проблемы физики и математики (г Стерлитамак, 16-18 сентября 2004 г) Региональной школе-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых по математике и физике (г Уфа, 2003 и 2004 гг), Научно-практической конференции, посвященной 95-летию основания БашГУ, (Уфа, 2004 г), Международной Уфимской зимней школе-конференции по математике и физике для студентов, аспирантов и молодых ученых (Уфа, 2005), на Студенческой конференции студентов (Уфа, 2007 г )

Основные положения выносимые на защиту.

1 Обоснование нового метода вейвлет-анализа АСМ-изображений

2 Самоорганизация и образование нанокластеров в наномолекулярных слоях НЖК

Публикации. По теме диссертации опубликовано 8 работ (1 статья в центральном журнале, 7 публикаций в сборниках трудов и тезисов конференций)

Структура и объем работы. Диссертация состоит из введения, 4 глав, заключения приложения, списка литературы, содержащего 105 наименования Работа изложена на 122 страницах машинописного текста, включая 10 АСМ-изображений и 25 иллюстраций с данными после применения вейвлет-анализа

ОСНОВНОЕ СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ

Во введении обоснована актуальность темы диссертационной работы, сформулированы цели и задачи исследования, показана научная новизна полученных результатов, обосновано научное и практическое значение работы, изложены защищаемые положения, а также кратко изложена сгруктура диссертации

Первая глава посвящена обзору теоретических и экспериментальных работ, связанных с физико-химическими свойствами жидких кристаллов, с физикой дефектов, описаны процессы самоорганизации в твердых кристаллах

Во второй главе дан аналитический обзор основных методов и способов измерений зондовой микроскопии, ее возможностей и ограничений Проанализировано место АСМ в ряду других физических методов исследований поверхности Рассмотрены общие подходы к подготовке образцов, выбору подложки и метода сканирования

В третьей главе представлены результаты исследований методом атомно-силовой микроскопии морфологии поверхности холестерического жидкого кристалла в застеклованном виде

Результатом работы атомно-силовой микроскопии является АСМ-изображение Для получения качественных АСМ-изображений, важно правильно подобрать и подготовить образец к исследованиям А также выбрать подложку и мегод сканирования

В качестве исследуемого образца была выбрана гомогенная двухкомпонентная смесь (холестерилолеат-холестерилхлорид), мезофаза этой смеси относится к компенсирующимся системам В таких системах при определенных соотношениях компонентов, в зависимости от

температуры происходит инверсия знака оптического вращения Температура инверсии соответствует состоянию с бесконечным шагом спирали, то есть структуре нематического жидкого кристалла (НЖК)

Методика подготовки образца Выбранная смесь помещалась между плоскими стеклянными пластинами, далее эта ячейка со смесью нагревалась до температуры Т превышающей на несколько градусов, температуру просветления Тс, после чего, температура уменьшалась до комнатной Толщина плоскопараллельного слоя смеси составляла 15 мкм Далее, верхняя пластинка убиралась и снова нагревалась до температуры Т и снова охлаждалась до наступления мезофазы Таким образом, были подготовлены образцы с разными скоростями охлаждения

Сканирование проводилось атомно-силовым микроскопом Solver Р 47 бесконтактным методом, резонансная частота составляла 260 Гц

На рис 1 приведено ЛСМ-изображение поверхности образца полученного путем перевода холестерической фазы в стеклообразное состояние при охлаждении со скоростью 10 К мин"1 Па АСМ-изображении наблюдаются конфокальные домены, которые представляют собой структурные дефекты с двумя сингулярными линиями в центре каждого домена с большим соотношением осей Центр сингулярностей лежит между двумя соседними «холмиками» Проведены линейные исследования вдоль линий поперечного сечения 1 и 2 Результаты показывают периодичность распределения конфокальных доменов, равную 250 им (рис 2) При охлаждении образца от жидкокристаллической фазы со скоростью 20 К мин"' образовывался стеклообразный образец, имеющий участки

KKi :ira кт jo« -*rni íiint "ími sufl *tmi им

Рис 1 АСМ-изображеиие участка образца,

полученного при охлаждении мезофазы со скоростью 10 К мин"1 Наблюдается периодичность конфокальных доменов

1ГЛЦ

2Й8 408

БВв пМ

Рис 2 Результаты линейных измерений вдоль попереч! сечения 1 Периодичность конфокальных доме составляет160 нм, высота 13 нм

я . ^

Н)Й ( I ...... -у» чип 'и- 1Л1

РИС. I. АС М-изображение участка образца.

по пученного при охлаждении мезофазы со скоростью ШКмии"1. Наблюдается периодичность конфокальных доменов.

Рис.2.Результаты линейных измерений вдоль попереи еечеиия I. Периодичность конфокальных дом< составляет!60 им, высота 15 им.

0 0

Рис.4. Увеличенное АСМ изображение участка с

одномерной модуляцией. Образец получен при охлаждении мезофмы со скоростью 20 К-мим '.

Таким образом можно утверждать, чтр структура жидкого кристалла в стеклообразном состоянии, не всегда является адекватной структуре исходного жидкого кристалла. При этом наблюдается Проявление условий перехода. Режим охлаждения, в результате которого происходит переход мсзофазы В стеклообразное состояние, влияет на дефектную структуру образца. Результат связан с тем, что стеклообразное состояние не является равновесным. Можно утверждать, что надмолекулярный геликоидальный порядок не сохраняется при малых скоростях охлаждения.

Выбор образца для сканирования в застекяовакнОм виде был сделан в связи с тем, что не было возможности для применения атомно-силовой микроскопии к исследованию жидких кристаллов в обычном

состоянии В основном метод сканирующей микроскопии применялся только к твердым телам, но стремительное развитие наноиндустрии, нанотехнологий, создание более совершенных сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ), в настоящее время позволяет применять методы СЗМ для исследований различных объектов, в том числе жидких кристаллов

В четвертой главе представлены результаты экспериментальных исследований наномолекулярных слоев нематических жидких кристаллов (НЖК) методом атомно-силовой микроскопии

Применение атомно-силовой микроскопии к исследованию жидких кристаллов, по-прежнему, остается сложной задачей Ниже приведены результаты исследований методом атомно-силовой микроскопии нематического жидкого кристалла Ы-(п-метоксибепзилиден)-п-бутиланилин (МББА) Нематический жидкий кристалл МББА является очень удобным объектом для исследований, так как в жидкокристаллическом состоянии находится в интервале температур 294320 К Размер молекулы составляет примерно 2,0 им

Экспериментальные исследования наномолекулярных слоев НЖК проводились атомно-силовым микроскопом Solver PRO в г Зеленограде в лаборатории ЗАО НТ-МДТ Для измерений использовалась полу контактная мода, которая наиболее подходит для исследований нежестких поверхностей Измерения проводились при температуре 300 К Использовался кантилевер NSG01 с резонансной частотой 156 кГц Шаг сканирования составлял 8,6 нм, амплитуда колебания зонда составляла порядка 30-50 нм

Методика подготовки образца. Подложкой служила слюда, которая имеет слоистую структуру, причем перед проведением исследований

верхний слой подложки снимал и для получения атомарно гладкой поверхности (скола). На совершенно чистую поверхность подложки наносили каплю жидкого кристалла, а затем сдували сжатым воздухом, в течение часа. Контроль на АСМ показал, что этого времени достаточно для получения на поверхности слюды на н о м о л е к у л яр н о го слоя жидкого кристалла.

АСМ-изображения (рис.5а, 56) показали, что относительно подложки, молекулы НЖК гомеотрошю ориентированы и на самой подложке образуется смектический монослой толщиной равной длине молекулы (-2,2 нм), а выше формируется на но молекулярный слой НЖК.

Рис5 АСМ-изображение: а)в плоскости X02; фв пространстве XYZ.

\ ItJMH l.j ,lt >J 1

Жи i tt t Крис! [

* l 4\f

0)

Рис 6 Исследуемые объекты и ожидаемая общепринятая ориентация молекул в ни\ (молекулы НЖК обозначены штрихами)

На рис 6,а) приведена реальная ориентация молекул НЖК в первых двух слоях, а на рис 6,6) общепринятая гипотетическая ситуация ориентации молекул НЖК около положки На АСМ-изображениях видно, что в таких практически двумерных слоях образуются фигуры, имеющие правильную геометрию близкую к геометрии твердых кристаллов Природа образования таких фигур была выяснена только после применения вейвлет-анализа Эффективность его оказалась впечатляющей, и он позволил даже различить статические и динамические состояния дефектов НЖК и достоверно выяснить их геометрию

Основой данного подхода является теория, разработанная Грассманом и Морле в середине 80-х годов в связи с анализом сейсмических и акустических сигналов, представляющих собой разложение по базису, сконструированному из обладающей определенными свойствами солитонообразной функции (Wavelet) посредством масштабных изменений и переносов

a f а Л 9 9

(ра ^ (х) = 2 (р х-Ь , где а - параметр масштаба, b - параметр сдвига,

х - координата Вейвлет-преобразование не так широко хорошо известно, как преобразование Фурье, поскольку применяется сравнительно недавно, и математический аппарат находится в стадии активной разработки Ниже был использован базовый вейвлеттипа Гауссиана

2 2 _х_ _х

1 о

<р{х) = е - е °

2

Для анализа АСМ-изображений использовалось следующее вейвлет-преобразование

1 О, гх_ь\

IV(а, Ь) = Ы 2 / /(Х)ср

Л,

-<Х) V а У

где /(х) - исследуемый сигнал

Вейвлет-анализ показал, что в наномолекулярных слоях НЖК образуются множество разнообразных нанокластеров, объясняющие фигуры с правильной геометрией В результате 20 вейвлет-преобразования удалось выявить образование нанокластеров с топологическим дефектом в центре, имеющих форму правильных геометрических тел Как правило, нанокластеры представлены правильными геометрическими фигурами в виде трехгранных призм - хат-кластеры (хат-шалаш, хижина), которые чаще наблюдаются в виде двойников хат-кластеров, пирамид, имеющих поворотную ось четвертого и шестого порядков и соответственно четыре и шесть плоскостей симметрии, а их симметрия описывается группами С2га, С4т, С6т(рис 7)

Фигуры с поворотной осыо третьего порядка, по какой-то причине, запрещены при образовании нанокластеров в НЖК Хат-кластеры представляют собой тригональнуго пирамиду, лежащую одной гранью на

подложке, или ту же пирамиду с двумя криволинейными гранями. Симметрия этой пирамиды Сгт, так как в Основании лежит неравнобедренный треугольник. Хат-кластеры чаще всего образуют полисинтетические двойники в виде замкнутых фигур - рафт-кластеров.

Рис.7. Примеры 2 П вей влет-преобразования :а)хат-кластер; б)октоэдри чесйь й пирамиды; в)копуса: г)усеченного конуса и д)мисленовых структур в пулах.

Симметрия рафт-кластеров (плотов) гораздо разнообразнее, так как они имеют форму неизометрических фигур содержащих любую поворотную ось выше второго порядка, но кроме оси третьего порядка. Их симметрия описывается группами С„т, где п=2,4,5,6,7,8,<ю, то есть они описываются, в отличии от пирамидальных йЦаюкластеров, не кристалл о графически ми группами симметрии. Борга рафт-кластеров образуют линейные хат-кластеры, тс? есть происходит самоорганизация хат-кластеров, образующих рафты правильной геометрии. Рафт-кластеры

могут быть частично залиты МЖК толщина которого меньше высоты боргои. Также из 21) вейвлет-преобразования видно, что у угловых форм в центре имеется топологическая особенность. Природу этой особенности удалось выявить через Ш вейвлет-преобразования. Анализируя данные спектры и сравнивая их с представленными спектрами можно сделать заключение, которое указывает на конкретную функцию, описывающую форму граней пирамид от координаты х. Грани бортов рафт-кластеров

хорошо описываются степенными функциями типа х", при этом чаще всего п=-1/3, отсюда следует, что борта рафт-кластеров и хат-кластеров ограничены чаще вогнутыми плоскостями (Рис.8).

Рис,8. Примеры нано кластеров, наблюдаемы?; в нанося о их НЖК: а)хат-кластер и его ралрс! (слева); б)лиухмериое изображение рафт-, хат- и Конусообразных кластеров и паи о и и рам и л; в)реальн$й ориентация различных кластеров на подложке.

Рассмотрим, более подробнее возможный механизм образования наиболее интересных пирамидальных кластеров с топологическими дефектами в центре и имеющих правильную пирамидальную геометрическую форму, либо форму этих же пирамид усеченных пинакоидальной плоскостью, описываемых группами симметрии типа С4т. С6т и хат- кластеров Отметим, что последняя форма кластера в традиционных кристаллографических системах также не наблюдается Не менее важным для выяснения их природы является отсутствие пирамидальных нанокластеров и рафт-кластеров с симметрией С3т и сравнительно небольшое количество рафт-кластеров с симметрией С5т (их около 0,1 %) и С7т (их около 0,02 %) Также необходимо, отметить, что вообще говоря формирование подобных пирамидальных структур и рафт-кластеров в НЖК невозможно из-за наличия оси бесконечного порядка, описывающей симметрию НЖК

Наиболее подходящей моделью, объясняющей образование таких фигур, нам представляется модель, основанная на работах Цванцига, выполненная еще в 1963 году, хотя в последующем была признана недостаточно хорошо описывающей фазовые переходы нематический жидкий кристалл - изотропная фаза, но по-видимому, в двумерных системах она кажется достаточно эффективной За основу описания механизма образования хат-кластеров и топологических дефектов с симметрией типа С2т в нанослоях НЖК может быть взята система двух молекул в стационарном ортогональном положении Тогда достаточно просто сконструировать «ядро нанокластеров» с топологическим дефектом в центре имеющих четную симметрию Из них можно сконструировать стенки и точечные дефекты, но без внешних моментов сил,

стабилизирующих положение молекул, они будут исчезать Стабильную ортогональную ориентацию молекул, видимо, поддерживает электрическое поле поверхностной поляризации Так как диэлектрическая анизотропия МББА отрицательная, то электрическое поле при ортогональной ориентации молекул не дает им организовать гомеотропную ориентацию В этом случае стенка будет стабильной и возможно образование хат-кластеров При отсутствии ортогональной ориентации образуются куполообразные или конусообразные кластеры с особенностью в центре, предсказанные еще Мейером Положение ортогональных пар молекул в ядре не позволяет образованию топологических дефектов с нечетной поворотной осыо симметрии Итак, в панослоях НЖК встречаются в основном два типа профилей граней, высота (Ь) которых меняется в разрезе

_1

от координаты х как Ь=ах и к ~ Ьх 3 Причем, первая характерна для высоких пирамид у которых Ьт1х--5,0-7,0 им, а вторая для хат-кластеров и пирамид Ьтах=2,5-3,0 им

Нанопулы всегда ограничены бордюром в виде ленточной пилы, отдельный «зуб» которой образуют два хаг-кластера, каждый длиной 120 им и шириной 20 им Если бордюр прямолинеен и если провести его компьютерную развертку и спрямление, то углы между хат-кластерами («зуба») составляют 120° В идеальном случае нанопулы должны иметь форму круга, ограненного зубчаткой, то есть иметь вид зубчатого колеса При этом симметрия нанопула будет зависеть от числа «зубов» п и иметь поворотную симметрию кратную п и п-плоскостей симметрии т, описываемую группой Спт, где число п и угол «зуба» зависят от радиуса нанопула

Остановимся на рассмотрении топологических дефектов в нанопулах, которые, как правило имеют вид полосчатых структур, типа миеленовых структур в холестсрических жидких кристаллах или вид замкнутых колец 1 Э- вейвлет-анализ показал, что эти дефекты имеют

также высоту граней, описываемую функцией х 3 как и в дефектах нанослоев НЖК с юлщиной ~ 6,0 нм и которые были описаны выше

Отметим, что все описанное выше точно соответствует предсказанию Л Д Ландау и Е М Лифшицем о возможном образовании структур аналогичных твердым кристаллам в сверхтонких жидких пленках Кластеры в нанослоях НЖК имени геометрическую форму, полностью совпадающую с формой нанокластеров, образующихся например, при напылении германия на плоскость монокристалла кремния Там наблюдаются хат-кластеры и пирамиды

ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ

Из полученных в работе данных можно сделать следующие основные выводы

1 Что струнтура жидкого кристалла в стеклообразном состоянии, не всегда является адекватной структуре исходного жидкого кристалла При этом наблюдается проявление условий фазовою перехода Режим охлаждения, в результате которого происходит переход мезофазы в стеклообразное состояние, влияет на дефектную структуру образца, в связи с чем можно утверждать, что стеклообразное состояние не является равновесным

2 Применение АСМ-мстода к исследованию жидких кристаллов в воздухе возможно Метод атомно-силовой микроскопии позволяет наиболее

глубоко изучить физико-химические свойства жидких кристаллов, структуру, поверхностное строение дефектов и нанокластеров

3 Применение вейвлет-анализа к обработке АСМ-изображсний дает качественную объективную информацию о структурных особенностях наномолекулярных слоев

4 Применение АСМ-метода и вейвлет-анализа демонстрирует, что происходит самоорганизация гомеотропно ориентированного слоя НЖК При формировании такого слоя реализуется ситуация в которой первый монослой — двумерный смектический жидкий кристалл, далее реализуется фазовый переход СЖК^НЖК, а выше формируется НЖК Все это меняет установившееся представление о взаимодействии НЖК с подложкой, а также ситуацию при определении поверхностной энергии и теплового равновесия системы С другой стороны, открываются принципиально новые направления в исследовании таких систем

5 Подтверждено предсказание Л Д Ландау и ЕМ Лифшиц, что в таких, практически двумерных слоях, образуется множество разнообразных нанокластеров, имеющих правильную [еометрию близкую к геометрии твердых кристаллов хат-структуры, пирамиды и рафт-структуры с симметрией Спт, где п= 1,2,4,5,6,7,8 оо, конусы и пулы В пулах и рафт-структурах спонтанно возникают модулированные с грайп-структуры и точечные топологические дефекты

СПИСОК ПУБЛИКАЦИЙ

1 Куватов 3 X , Гирфанова Ф М АСМ - исследования холестерическот жидкого кристалла в стеклообразном состоянии //Вестник БашГУ, Уфа, 2005, № 2, с 27-29

2 Куватов 3 X, Гирфанова Ф М Применение атомно-силовой микроскопии при исследованиях жидких крисгаллов Сб трудов Международной Уфимской зимней школы-конференции по математике и физике для студентов, аспирантов и молодых ученых, т 4 Физика, Уфа, 2005, с 26-30

3 Куватов 3 X , Гирфанова Ф М АСМ - исследования холестерического жидкого кристалла в стеклообразном состоянии Университетская наука -Республике Башкортостан т I, Естественные науки Материалы научно-практической конференции, посвященной 95-летию основания Башкирского государственного университета - Уфа РИО БашГУ, 2004 г, с 15

4 Куватов 3 X , Гирфанова Ф М Исследование диэлектрических свойств компенсированных холестерических жидких кристаллов Сб трудов региональной школы-конференции для студентов, аспирантов и молодых ученых по математике и физике, т II -Уфа РИО БашГУ, 2003 г, с 89

5 Куватов 3 X, Гирфанова Ф М Влияние магнитного поля на диэлектрические свойства компенсирующихся холестерических жидких кристаллов Сб трудов Всероссийской научной конференции Современные проблемы физики и математики Стерлитамак, т2, 16-18 сентября 2004, с 179-181

6 Куватов 3 X, Гирфанова Ф М Анизотропия диэлектрической проницаемости компенсирующихся холестерических жидких кристаллов

Сб тез IV региональной школы-конференции для студентов, аспирантов и молодых ученых по математике и физике, Уфа РИО БашГУ, 2004 г, с 37

7 Гирфанова Ф М , Мальцев И С , Чувыров А Н Топологические дефекты в наномолекулярных слоях НЖК Сб тез Студенческой научной конференции, Уфа РИО БашГУ. 2007 г, с 40

8 Гирфанова Ф М , Мальцев И С , Чувыров А Н Топологические дефекты в нанопулах НЖК Сб тез Студенческой научной конференции Уфа РИО БашГУ, 2007 г, с 43

Гирфанова Флюза Марсовна

ИССЛЕДОВАНИЕ ТЕРМОДИНАМИЧЕСКИ СТАБИЛЬНЫХ СОСТОЯНИЙ В ТОНКИХ ПЛЕНКАХ НЕМАТИЧЕСКОГО ЖИДКОГО КРИСТАЛЛА МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук

Лицензия на издательскую деятельность ЛРКе 02 1319 от 05 01 99 г

Подписано в печать 27 04 2007 г Бумага офсетная Формат 60x84/16 Гарнитура Times Отпечатано на ризографе Уел печ л 1,38 Уч-изд л 1,01 Тираж 100 экз Заказ 234

Редакционно-издательский центр Башкирского государственного университета 450074, РБ, г Уфа, ул Фрунзе, 32

Отпечатано на множительном участке Башкирского государственного университета 450074, РБ, г Уфа, ул Фрунзе, 32