Теория и методика мессбауэровской спектроскопии реэмиссионного характеристического рентгеновского излучения для исследования железосодержащих твердых тел тема автореферата и диссертации по физике, 01.04.07 ВАК РФ

Введение.

1. Современное.состояние МРХИ-спектроскопии. Постановка задачи.

2. Теория мессбауэровской спектроскопии реэмиссионного характеристического рентгеновского излучения. /1'£РХИ спектроскопии.

2.1. Теория.

2.1.1. Спектр излучения источника 'Со.

2.1.2. Составляющие МРХИ-спектра.

2.1.3. Общее уравнение связи и.расчетные.формулы для.пло . . щади под МРХИ-спектром.

2.I.S.I. Случай тонкого образца.

2.1*3.2. Случай толстого образца.

2.1.4. Особенности теории послойного анализа с помощью МРХИ-спектроскопии при учете двукратных взаимодей . ствий.

2.1.5. Количественные критерии тонкого и толстого - образ-т-. . цов.

2*2. Полезные зависимости.

2.3. Номенклатура.

Краткие выводы.

3. Экспериментальная установка.

3.1. Система движения мессбауэровского источника.

3.2. Тракт регистрации на основе пропорционального счет. . чика.

3.3. Тракт регистрации на.основе полупроводникового.де . тектора.

3.4. Блок автоматического вывода спектроанализатора. .LP 4840 на рабочий режим.

3.5. Система коллимации, Фильтрация падающего.пучка, устройство поворота образца.и.детектора.

Краткие выводы.

4. Методика МРХИ-спектроскопии и ее возможности.

4.1. Связь и согласие теории МРХИ-спектроскопии с экспериментом.

4.I.I. Возможность использования в МРХИ-спектроскопии , . способа внешнего стандарта.

4.2. Определение фактора Лэмба-Мессбауэра из МРХИ-спект- . ров.

4.2.1. Принципы теоретического расчета величины фактора Лэмба-Мессбауэра /fa. /.

4.2.2. Экспериментальные результаты.

4.3. Определение относительной концентрации атомов железа . в у'-ом состоянии.

4.4. Универсальная методика определения фона. S

4.5. Усовершенствование техники послойного анализа, проводимого с помощью МРХИ-спектроскопии.

4.6. Основные метрологические.характеристики МРХИ-спектроскопии.

Краткие выводы.

Выводы.

Основанная на эффекте Мессбауэра ядерная гамма-резонансная /мессбауэровская/ спектроскопия в последние годы широко вошла в практику исследований физико-химических свойств твердых тел [ 4 ^ . Метод позволяет фиксировать изменения энергии ядерных переходов, обусловленные перераспределением электронной плотности вблизи резонансного ядра, и, следовательно, получать сведения о локальных характеристиках атомного окружения в решетке металлов, сплавов и соединений. Мессбауэровская спектроскопия высоко эффективна при решении классических металловедческих задач: определении фазового состава сталей и сплавов, изучении фазовых превращений и динамики решетки, исследовании процессов атомного и магнитного упорядочения и т.д.

Особый интерес представляют неразрушающие ме с с бауэровские методы анализа, которые реализуются в геометрии рассеяния с регистрацией того или иного вида реэмиссионного излучения / ^-излучения, характеристического рентгеновского излучения и электронов/. Наибольшее распространение получили мессбауэровская спектроскопия реэмиссионных электронов /МРЭ-спектроскопия/ и мессбауэровская спектроскопия реэмиссионного характеристического излучения /МРХИ-спектроскопия/. Комплексное использование этих методов позволяет получать разнообразную информацию о состояниях мессбауэровских атомов в приповерхностных слоях различной толщины,- т.к. в случае МРЭ-спектроскопии анализируются очень тонкие слои / ~ 0,1 мкм/, а в случае МРХИ-спектроскопии - более толстые / ~ 10 мкм/. Однако,, если первый метод имеет удовлетворительную теорию, устанавливающую связь между площадью под МРЭ-спектром и концентрацией мессбауэровских атомов как в в однородном, так и неоднородном образцах {^2-г б"] 9 ю второй метод такой теории не имеет. Поэтому возникает проблема корректной количественной интерпретации МРХИ-спектров. Кроме того,, очевидно, что для того,, чтобы теоретические прогнозы успешно оправдывали себя на практике, необходимы дальнейшее совершенствование техники выполнения мессбауэровских измерений и разработка соответствующей аппаратуры.

Данная работа посвящена созданию теории МРХИ-спектроскопии и вопросам ее практического применения для исследования железосодержащих твердых тел. Она представляет собой законченный научный труд, состоящий из четырех разделов, заключения и приложений .

В первом разделе на основе литературных данных проводится критический анализ современного состояния МРХИ-спектроскопии.

Второй раздел посвящен вопросу теории МРХИ-спектроскопии. В нем подробно изложены физические процессы взаимодействия излучения с веществом, приводящие к образованию реэмиссионного характеристического излучения. Получены аналитические выражения для площади под МРХИ-спектром в случае однородного образца с учетом однократных и двукратных взаимодействий. Проанализированы особенности случая неоднородного образца.

В третьем разделе рассмотрены вопросы разработки аппаратуры,. необходимой для выполнения прецизионных мессбауэровских измерений. Даны конкретные конструктивные и схемные решения с использованием новой элементной базы.

В четвертом разделе описана техника проведения мессбауэровских измерений. Предложены методики определения величины фактора Лэмба-Мессбауэра и относительной концентрации мессбауэровских атомов из МЕХИ- спектров. Изложена универсальная методика измерения фона в мессбауэровской спектроскопии. Введены и проанализированы основные метрологические характеристики МРХИ-спектро-скопии.

Б заключении определены области наиболее целесообразного практического использования результатов диссертационной работы.

В приложениях приведены подробные выводы основных теоретических выражений и представлен необходимый справочных! материал.

Основные результаты работы доложены на Международной конференции по применению эффекта Мессбауэра /г. Алма-Ата, 1983г./, на XXXIII совещании по ядерной спектроскопии и структуре атомного ядра /г. Москва, 1983г./, на Сессии отделения ядерной физики АН СССР /г. Москва, 1982г./, на научной конференции МИФИ /г. Москва, 1983г./ и опубликованы в работах £l2, 13, 34, 36,

I. СОВРЕМЕННОЕ СОСТОЯНИЕ МРХИ-СПЕКТРОСКОПИИ.

ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ

Первая экспериментальная работа по наблюдению эффекта Меспп сбауэра на .Ре с регистрацией реэмиссионного характеристического излучения была выполнена в 1961 г. Г.Фраунфельдером с сотрудниками [ 7"] . В. этой работе был сделан, вывод о том, что такой метод может, быть полезен при изучении мессбауэровских переходов с большим коэффициентом внутренней конверсии.

Спустя несколько лет Д.Терреллом и Д.Спикерманом предпринимается попытка количественно интерпретировать МРХИ-спектры [8] . Ими был проанализирован случай, когда на поверхность образца падает хорошо коллимированный пучок ^-излучения, а регистрация реэмиссионного характеристического излучения происходит. в 27?" -геометрии. Было получено аналитическое выражение, описывающее форму линии МРХИ-спектра. Однако формула авторов носила весьма приближенный характер /расхождение с экспериментом может достигать ~100% / и была не очень удобна для использования на практике, т.к. была применима только для случая однородного образца и имела размерность.

В 1980 г. в работе Н.С.Колпакова проводится более глубокий анализ физической картины взаимодействий излучения с веществом, приводящих к образованию реэмиссионного характеристического излучения .На основе этого анализа получены с учетом только основных видов однократных взаимодействий безразмерные аналитические выражения,, позволяющие количественно интерпретировать МРХИ-спектры для случаев как однородного, так и неоднородного образца. Обоснована возможность и описана техника проведения послойного анализа , 10~] . Установлено, что для улучшения разрешения МЕХИ-спектрометра по глубине необходимо хорошо коллимировать падающий и регистрируемый пучки излучений Тем не менее, при использовании полученных расчетных формул на практике в ряде случаев,, например, при анализе сталей со сложным химическим составом, наблюдаются значительные расхождения с экспериментом, достигающие 50%, Установление причин таких расхождений и их устранение требуют построения более строгой теории МРХИ-спектроскопии /см» раздел 2./. Для проведения точных расчетов необходимо также наличие надежных данных о значениях сечений нерезонансных взаимодействий, которые отсутствуют в литературе. Кроме того, очевидно, что объективно судить о степени согласия теории с экспериментом можно,лишь шлея прецизионный мессбауэровский универсальный спектрометр, позволяющий выполнять все необходимые виды измерений.

Вопросам создания мессбауэровской установки с использова

В этих работах дал критический анализ существующих экспериментальных установок и. на его основе разработана более совершенная конструкция мессбауэровского спектрометра. В состав последнего входит система движения мессбауэровского источника на интегральных схемах /нелинейность < 0,1%/, компактный регистрирующий тракт и многоканальный анализатор импульсов LP 4840. Регистрирующий тракт включает в себя пропорциональный счетчик СЙ-6Р и зарядочувствительный предусилитель. Общее энергетическое разрешение спектрометра ^ 1,4 кэВ для области энергий 2 4 15 кэВ. Спектрометр позволяет осуществлять анализ как однородных, так и неоднородных образцов. Для этого предусмотрена возможность варьирования углов падения и регистрации с помощью гониометрического устройства. Спектрометр может использоваться для проведения нием современной элементной базы посвящены работы экспериментов и в геометрии пропускания, и в геометрии рассеяния.

Однако, проведение прецизионных мессбауэровских измерений требует дальнейшего улучшения энергетического разрешения спектрометра, повышения его стабильности и надежности. Эти требования можно выполнить, используя при необходимости 1ВД, применяя новые конструктивные и схемные решения и принимая специальные меры защиты /см. раздел 3./.

Для проведения прецизионных мессбауэровских измерений необходимо также правильно учитывать фон. Источником количественной информации в таких измерениях /с использованием геометрий пропускания и рассеяния/ является экспериментальный спектр, форма которого, скорректированная на фон, описывается функцией <5(г/)=\ А/С[] , /1.1/ где A/(tS) и - число импульсов, зарегистрированных соответственно при некоторой резонансной скорости V движения источника и в отсутствие резонанса, т.е. при достаточно больших скоростях движения источника; -Ag - число импульсов фона, зарегистрированных в окне дискриминатора, настроенном на анализируемую область энергий. Из выражения /1.1/ видно, что точность мессбауэровских измерений существенно зависит от того, насколько правильно проводится учет фона, т.е. определяется величина Лg .

Обычно фонт состоит из следующих трех компонентов. I. Внешний, в том числе естественный фон. 2. Фон от источника излучения, возникающий за счет прямого прохождения фотонов характеристического и ^-излучений от источника к детектору, а также в результате нерезонансного взаимодействия этих фотонов с исследуемым образцом и деталями установки/ коллиматором, держателем образца и т.д./. 3. Собственный фон счетчика, который образуется вследствие вылета за пределы детектора электронов и фотонов характеристического излучения детектирующей среды, возникающих в результате фотоэффекта /в этом случае на амплитудном спектре появляются пики вылета/ и за счет того, что высокоэнергетические фотоны характеристического и ^-излучений теряют в детекторе только часть своей энергии. Очевидно, что величина не может быть вычислена аналитически, однако ее можно определить экспериментально.

Для мессбауэровских экспериментов в геометрии пропускания существует несколько методик определения фона. Б них используются те или иные поглощающие фильтры, а тленно, фильтры нерезонансного или неполного резонансного поглощения [14, 15,16] и фильтры полного резонансного поглощения [l?] . Вопрос учета фона в геометрии рассеяния практически не освещен", хотя в этом случае также можно использовать фильтры типа описанных в работах ,16] . Тем не менее, применение тех или иных поглощающих фильтров имеет, ряд существенных недостатков.

Степень поглощения различных, компонентов излучения в случае применения источника ^Со фильтрами [Ц, 15 , 1б] зависит от его достаточно быстро убывающей активности /Tj/2 = день/. Это объясняется изменением соотношений плотностей потоков отдельных компонентов первичного излучения источника, происходящими по мере его распада /или при замене его на источник другой активности/, что связано в основном с изменением степени самопоглощения и неупругого рассеяния в источнике. В результате возникает необходимость периодического определения оптимальной толщины фильтра. Но и в этом случае корректность учета фона нарушается, если в исследуемом образце содержатся элементы, характеристическое излучение которых попадает в область анализируемых энергии /эффект матрицы/. Кроме того, при использовании таких фильтров, как правило, не обеспечивается движение источника со скоростями, не попадающими в резонансную область. Следовательно, возникают дополнительные погрешности в измерении фона, достигающие достаточно больших величин /10 * 20:-$ и больше/ при исследовании обогащенных по Ее образцов и образцов, которым соответствуют сложные мессбауэровские спектры. Наконец, применение фильтров требует какого-либо дополнительного устройства для их перемещения.

Фильтры полного резонансного поглощения не пригодны для использования в геометрии рассеяния, а в геометрии пропускания хорошо работают лишь в том случае, когда аналитическая линия фильтра не перекрывается с какой-либо из линий мессбауэровского спектра исследуемого образца. На практике это условие далеко не всегда выполняется.

Указанных недостатков можно избежать, осуществив идею, предложенную Д.Мейджором в 1962 г. а затем развитую в фон: определяется из амплитудного спектра импульсов детектора путем интерполяции спектра фона в область пика резонансных фотонов. Однако в то время эта идея не была реализована, по-видимому,- из-за отсутствия компактных многоканальных анализаторов импульсов, обеспечивающих в одном устройстве амплитудный и временной режимы работы с возможностью визуального наблюдения за аналитическим пиком в процессе дифференциальной дискриминации, импульсов по амплитудам.

Осветив по литературным данным вопросы, касающиеся теории и экспериментальной базы МРХИ-спектроскопии, перейдем теперь к анализу вопроса ее практического применения. работе подраздел 4.4./. Эта идея состоит в том, что

Как известно, мессбауэровская спектроскопия может использоваться для количественного фазового анализа. Данные о количественном содержании фаз в исследуемых объектах приводятся во многих работах, однако в большинстве случаев эти оценки являются качественными, поскольку при анализе результатов мессбауэров-ских измерений, как правило,., не учитываются различия в величинах факторов Лэмба-Ме с с бауэра и содержании мессбауэровского изотопа для компонент исследуемого образца [20] .

Вопросу определения фактора Лэмба-Мессбауэра / или / уделено достаточно много внимания в литературе , т.к. величину этого параметра необходимо знать не только для проведения количественного фазового анализа, но и при изучении, динамики ; решетки. Однако, если определение /параметра мессбауэровского источника/ не представляет особого труда в настоящее время [iV] , то определение /параметра исследуемого твердого тела/ существующими методами все еще встречает, ряд трудностей, а иногда и вообще невозможно. Связано это со следующими обстоятельствами.

На практике величина ^ определяется, как известно, из мессбауэровских спектров тонких поглотителей в геометрии пропускания, что ведет к необходимости нарушения целостности исходного массивного образца. Очевидно,, что в этом случае существует, определенная вероятность внесения необратимых изменении в структуру и свойства исследуемого вещества. Кроме того, затрудняется /или вообще исключается/ возможность применения разных методов анализа для исследования одного и того же массивного образца, что приводит к уменьшению достоверности получаемых результатов. Наконец, сам по себе процесс приготовления тонкого поглотителя /причем такогог чтобы в пределах всей его поверхности обеспечивалось постоянство толщины/ является весьма сложным и трудоемким и занимает много времени.

Определение доли мессбауэровского изотопа для различных фаз, содержащихся в исследуемом образце, связано с теш же трудностями, что и при измерении величины -f^

Этих трудностей можно избежать, определяя величину или долго мессбауэровского изотопа для различных фаз с помощью какого-либо из мессбауэровских методов в геометрии рассеяния и, в частности, с помощью МРХИ-спектроскопии.

Особого внимания заслуживает послойный анализ с помощью МРХИ-спектроскопии, основы которого, как уже указывалось, были нию на практике препятствуют пока не очень хорошая разрешающая способность МРХИ-спектрометра по глубине и низкая скорость счета при анализе очень тонких приповерхностных слоев. Способ улучшения этих характеристик приводится в разделе. 4.

В заключение нашего обзора отметим следующее обстоятельство. Любая методика анализа вещества должна, как правило, характеризоваться той или иной совокупностью метрологических параметров г которая определяет ее выбор и возможности использования. Однако до настоящего времени в мессбауэровской спектроскопии практически не ставился вопрос о метрологических характеристиках, что объясняется отсутствием общего подхода к решению этого вопроса и недостаточной степенью развитости соответствующих количественных методик. Последнее прежде всего относится к теории мессбауэровской спектроскопии- в геометрии рассеяния, построение и реализация которой связаны с большими трудностями. В разделе 4. делается попытка решить указанную проблему для МРХИ-спектро-скопни. заложены в работах

Однако широкому его использова

В связи: с вышеизложенным задача данной работы состояла в следующем.

Г. Построение теории МРХИ-спектроскопии, позволяющей корректно количественно интерпретировать соответствующие спектры.

2. Дальнейшее совершенствование мессбауэровской установки.

3. Разработка прецизионных методик измерения фона, определения фактора Лэмба-Мессбауэра и относительной концентрации мессбауэровских атомов.

4. Совершенствование техники послойного анализа, проводимого с помощью МРХИ-спектроскопии.

5. Решение проблемы метрологических характеристик МРХИ-спектроскопии.

выводы

При выполнении данной работы получены следующие основные результаты.

1. Создана теория МРХИ-спектроскопии с учетом однократных и двукратных взаимодействий, позволяющая корректно количественно интерпретировать МРХИ-спектры в случаях однородного и неоднородного образцов произвольной толщины. Рассмотрены представляющие. практический интерес случаи тонкого и толстого образцов и получены соответствующие расчетные формулы. Введены количественные критерии тонкого и толстого образцов, что позволяет правильно производить выбор тех или иных расчетных формул и свести к минимуму погрешность расчетов и их трудоемкость.

2. Введены и проанализированы основные метрологические характеристики МРХИ-спектроскопии: градуировочная характеристика, предел обнаружения, коэффициент чувствительности и диапазон определяемых содержаний. Установлена существенная зависимость метрологических характеристик от углов падения и регистрации излучения. Показано,, что наилучшие характеристики соответствуют случаю, когда угол между коллимированными пучками падающего и регистрируемого излучений составляет 90°, причем излучение источника падает на образец перпендикулярно к его поверхности.

3. Существенно усовершенствован. МРХИ-спектрометр. Повышены его стабильность и надежность за счет применения современных схемных решений и специальных мер электронной защиты. Энергетическое разрешение спектрометрического тракта на основе пропорционального счетчика доведено до 1,3 кэВ для области энергий 2 * 15 кэВ. Исследована возможность применения ППД в МРХИ-спектроскопии. Установлено, что ППД целесообразно применять только в тех случаях, когда энергетическое разрешение пропорционального счетчика не позволяет надежно выделять аналитическую линию и, следовательно, проводить корректное измерение фона.

4. Для осуществления связи созданной теории с экспериментом разработана прецизионная методика определения фона, не требующая использования каких-либо фильтров и применимая также для геометрии пропускания.

5. На основе созданной теории МРХИ-спектроскопии и усовершенствованного спектрометра разработана неразрушающая методика исследования приповерхностных слоев железосодержащих твердых тел толщиной от десятых долей до десятков микрон. Методика позволяет проводить определение абсолютных значений фактора Лэмба-Мессбауэра и концентраций атомов железа в различных неэквивалентных состояниях. Усовершенствована техника послойного анализа, проводимого с помощью МРХИ-спектроскопии, за счет улучшения его разрешения по глубине.

6. Получены значения факторов Лэмба-Мессбауэра для стандартов, используемых в мессбауэровской спектроскопии, и некоторых специально приготовленных веществ.

7. Получены зависимости концентраций атомов железа в различных неэквивалентных состояниях от времени химико-термической обработки стали Р6М5.

8. Теоретически и экспериментально показана возможность использования в МРХИ-спектроскопии способа внешнего стандарта, что значительно упрощает количественную интерпретацию МРХИ-спектров.

S. Показана целесообразность использования в МРХИ-спектро-метре одновременно двух детекторов для повышения экспрессности методики при исследовании очень тонких приповерхностных слоев.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Создание удовлетворительной теории МРХИ-спектроскопии и разработка принципов ее практического применения означают появление на свет нового количественного метода анализа вещества. К основным достоинствам этого метода относятся возможность изучения приповерхностных слоев как однородных, так и неоднородных железосодержащих твердых тел без их разрушения и высокая информативность МРХИ-спектров. Например, такой параметр, как площадь под МРХИ-спектром, несет информацию о фазовом составе и динамике решетки, что обсуждалось в данной работе, а другие параметры МРХИ-спектра /ширина линии, изомерный сдвиг, температурный сдвиг, квадрупольное расщепление, эффективное магнитное, поле/ позволяют дополнить эту информацию сведениями о свойствах решетки и локальном окружении мессбауэровского атома.

Указанные достоинства и определяют перспективные области применения количественной МРХИ-спектроскопии.

Решение одной из важнейших задач материаловедения, касающейся вопросов создания сплавов с заранее заданными свойствами, способными сохранять их при воздействии различных внешних факторов /высокие температуры и давления, механические нагрузки, радиационные поля, агрессивные среды и т.д./, требует совершенствования старых и разработки новых технологий их получения. Чаще всего определенные свойства задаются в основном приповерхностным слоям, что связано с тем, что состояния атомов именно в этих слоях определяют их эксплуатационные характеристики или значительно влияют на них.

Получение---данных о состояниях атомов в таких слоях с высокой степенью достоверности возможно лишь с привлечением неразрушащих методов анализа. Одним из таких методов может стать и количественная МРХИ-спектроскопия, обладая, кроме указанных выше достоинств, тем преимуществом, что позволяет изучать не только кристаллические, но и аморфные сплавы. Большие перспективы количественная МРХИ-спектроскопия имеет также при исследовании железосодержащих материалов с покрытиями, т.к. появляется возможность анализа как основы и покрытия, так и переходного слоя между ними.

В приведенной работе практически не обсуждался вопрос о возможности применения МРХИ-спектроскопии для изучения кристаллической и магнитной текстуры твердых тел. А такая возможность имеется, т.к. площадь под МРХИ-спектром содержит информацию об ориентации доменов или кристаллитов по отношению к направлению падающего пучка ^-излучения.

Наконец, следует отметить необходимость проведения работ по дальнейшему снижению уровня фона за счет совершенствования конструкции защиты и разработки специальных электронных устройств. Это позволит, как было показано в данной работе, улучшить основные метрологические характеристики МРХИ-спектроскопии /предел обнаружения и коэффициент чувствительности/ и тем самым обеспечить получение информации с еще более тонких приповерхностных слоев.

1. Международная конференция по применению эффекта Мессбауэра. 26.09. - 01.10.83, Алма-Ата, СССР. Программа и тезисы. -Алма-Ата: Наука, 1983.

2. Krakowski /Р. А.} Msefer /?■&. /t/7 a/iafysfsсА? со /Y&fstfa с s/>e>c fr-a о//ж'л ее/ 2<st /А.л. ^ег-А а / с<?/1 гге/г efec А/-о s?s. ~~ А/и с / J~/> s {г, <ssv? сА Met A v г. /О О, /V* /, /х 93-/OS-.

3. У- С^с/алА^ёаёсие а fys/s ef //o'sstfa -uer- с/?са AAer z/ееАгя ;//-<?/n fayef

4. М/с/. J/?c{r. /Ve /A., /9 AS, r. 7- .4. /Sts/f/rxi/i (7./? Theory <z>y e/ec/r-on. /-e-e/nt'ss/'o/г /Aoss&tfef-S/>ecfrvsco/^r/V«c/'/AsYr. а/ю/АУе/А,

5. AAtyefi/csl A Ac/a A / И <?y AAe e&efro/x. A^t/iS^orA A*. oo/i rers/o/7 eft

6. S/>ec/rosco/yr/V«c/S*$/r.a»J /Yett.; /9/9, v. f>*9/-*9s.

7. Колпаков Н.С. Разработка и применение методики гамма-резонансной спектроскопии для исследования железосодержащих сплавов без их разрушения. Автореферат кандидатской диссертации. М.: Изд-во МИФИ, 1980.

8. Гамма-резонансный послойным фазовый анализ железосодержащих сплавов / Ю.Ф.Бабикова, Н.С.Колпаков, К.Е.Нилов, И.И. Штань. В кн. Тезисы докладов XXXI совещания по ядерной спектроскопии и структуре атомного ядра. - Л.: Наука, 1981, с.549.

9. Колпаков Н.С., Нилов К.Е. Универсальный гамма-резонансный спектрометр с угловым разрешением. В кн. Прикладная ядерная спектроскопия, вып.II. -М.: Энергоиздат, 1982, с.219 -224.

10. Система движения мессбауэровского источника на интегральных схемах / Ю.Ф.Бабикова, Н.С.Колпаков, К.Е.Нилов, М.Н. Успенский. ПТЭ, 1980, № I, с.163 - 165.

11. Семенкин В.A., Шевченко fO.A. Определение фона в мессбауэров-ских экспериментах по пропусканию на сплавах с З-о переходными элементами. ПТЭ, 1971, В 6, с.67 - 69.

12. Доленко А.В., Корнеев В.П., Меликьян А.А. Учет фона при гамма-резонансном фазовом анализе. ПТЭ, 1973, В2, с.62 - 64.

13. Учет фона при гамма-резонансном фазовом анализе посредством фильтра полного поглощения / А.Б.Доленко, Б.Г.Егиазаров, Б.П.Корнеев и др. ПТЭ, 1977, В 2, с.52 -53.

14. А/ау'ог У. /Г, /?ecccf ~/)~ее г^о/гал?л<?л-/~eso/b<ii ~t scof/eri'/?^ yC-o/ух. /S? , — /Yucf. My?., и. /b.323-33S.

15. Мейджор Д. Измерения методом рассеяния. I. В кн. Экспериментальная техника эффекта Мессбауэра / Под ред. И.Гру-вермана / Пер. с англ. под, ред. В.В.Скляревского. - М.: Мир, 1967, с.97 - 103.

16. Литвинов B.C., Каракишев С.Д., Овчинников В.В. Ядерная гамма резонансная спектроскопия сплавов. М.: Металлургия, 1982.21. //ousfty /Р./У. 3>/scc/s£;o*. о/ y^cj^ors <t//e

17. G&softcte я С С* го су /Voss/f<zt/er- f л» e*t s<* r&h

18. Vucf. S*s-fr. Sfe+A., fZGS-; u. л/.: Y, />. 77-&<P.22. 0 поляризационных явлениях, абсолютных вероятностях и анизотропии эффекта Мессбауэра в сидерите / В.И.Гольданский, Е.Ф.Макаров, И.П.Суздалев, И.А.Виноградов. ЖЭТФ, 1970,т.58, вып.З, с.760 765.

19. So /zVc<f ZtTvcS. Jts/r. ме/л/е*/., /979,». A/'^ />. 777-78 /,

20. Befog^cts KM, ? К/{tfsо ScsY-e /Yoss&wer с fc osb о/ ste/cfirc' cWv. A/- ? , A-7Y- /t7326. 77, ^^^^^ ^о/ -AS*с*27. TJBos-y о/ /-с-^/хг/ол

21. S/sc-frosco/y / УЬ. А ^b^Aou1. Л-. sVc fo Me//,,1. J-. J. /7 * j, A/tfcS. ^

22. Быков Г.А., Хиен Ф.З. Вычисление параметров экспериментального спектра резонансного поглощения гамма-квантов в кристаллах. ЖЭТФ, 1962, т.43, вып.З, с.909 - 918.

23. U/cf& x^s У. /У.; УАе М/с^ег? c/ey£es>t>/(?/jce с>у /Уо ss-^aсес°^ ft '^e

24. S' fb /V 2 fi&S /Z-oib/-/г&с//HsrS. J~/>s/f. /У*?//,.; 797 Sy г. л/30. , /У. 2>е<гъс/ sc/jfnsethers <с>у/ / zo-Ycy&s , —у ee/iY. . ££>*n. .

25. Бяохин M.A., Швейцер И.Г. Рентгеноспектральный справочник. -M.: Наука, 1982.

26. Tdgfe о/ t'so/o^s / гГс/s С./У.33. //&s>ry S./У.; CZ.jHec'prfe к/ъ. С/,1. Atys. fa )J л/yo. <?/3V- ,

27. Универсальная методика определения фона в количественной гамма-резонансной спектроскопии / Ю.Ф.Бабикова, Н.С.Колпаков, К.Е.Нилов, И.И.Штань. ПТЭ, 1983, ЪЬ 4, с.44 -46.

28. Лапшин В., Крылов В., Зайцев В. Стабилизаторы напряжения на операционных усилителях. Радио, 1975, Л 12, с.51 -52.

29. Нилов К.Е., Колпаков Н.С. Защита от пробоя входного полевого транзистора зарядочувствительного предусилителя. ПТЭ, 1983, В 2, с.127 - 128.

30. Негрей С.А. Простое приспособление к гамма-спектрометру СЭС2-03. ПТЭ, 1979, № 2, с.268 -269.

31. Нилов К.Е. Повышение эффективности использования спектроана-лизатора LP 4840. Заводская лаборатория, 19.84.

32. В лияние параметров процесса карбонитрации на фазовые превращения в приповерхностных слоях стали Р6М5 / Ю.Ф.Бабикова, Д.А.Прокошкин, А.М.Богомолов, Н.С.Колпаков, К.Е.Нилов. -МиТОМ, 1984.

33. Термины, определения и обозначения метрологических характеристик анализа вещества. ЖАХ, 1975, т.30, Л 10, с.2058 -2062.43. о/ Sytec/rosoo/^/, к / /ЧУ. /PO&asosz С/?С у /97$.44. /^ors^Ae /Усгесо/r? Л/.Л.^ С.&.c&^yUto/?g ~ /°s><?s> ~Лс ffj /& 7