Диффузия никеля и углерода в аморфных металлических сплавах типа переходный металл-неметалл тема автореферата и диссертации по физике, 01.04.07 ВАК РФ

Введение.

Глава I. Диффузия металлов и неметаллов в аморфных металлических сплавах (состояние вопроса и задачи работы)

§ 1.1. Диффузия атомов металлов в аморфных металлических сплавах.

§ 1,2. Обзор экспериментальных работ по диффузии атомов неметаллов в Ж!.

§ 1.3. Влияние процессов структурной релаксации на свойства аморфных металлических сплавов 29 Выводы и постановка задачи исследования

Глава П. Разработка радиоизотопного метода определения коэффициентов диффузии в аморфных сплавах

§ 2.1. Оценка чувствительности существующих методов определения коэффициентов диффузии

§ 2.2. Выбор метода исследования диффузии в аморфных металлических сплавах

§ 2.3. Установка для экспериментального изучения диффузии в металлах и сплавах (АШ)

§ 2.4. Экспериментальное определение линейного коэффициента поглощения £ -излучения нуклидов 63 N с и 14 С.

§ 2.5. Создание источника диффузии

§ 2.6. Контроль качества наносимых слоев. Экспрессный метод получения авторадиограмм

Глава Ш. Диффузия никеля и углерода в аморфных сплавах на основе железо-кобальт и железо-никель

§ 3.1. Диффузия никеля в аморфном сплаве

Со70 Fes Si/s и (Fe,-* ^)¿¿/S ?¡7/S

§ 3.2. Диффузия никеля в закристаллизованном сплаве железо-никель-фосфор.

§ 3.3. Диффузия углерода в аморфном сплаве на основе кобальта и железа.

§ 3.4. Влияние стабилизирующего предварительного отжига на диффузию углерода в аморфном сплаве C0lo S¿,s £>ю.

§ 3.5. Расчет коэффициентов диффузии в аморфных сплавах в случае временной зависимости.

Глава 17. Обсуждение результатов и механизма диффузии в аморфных металлических сплавах

§ 4.1. Анализ данных по диффузии и структурных изменений при отжиге аморфных сплавов

§ 4.2. Определение энергии активации процесса структурной релаксации аморфных сплавов

§ 4.3. Рекомендации по практическому использованию основных результатов работы

Аморфные металлические сплавы (АШ) представляют новый класс технических материалов, отличающихся необычным сочетанием физических, механических и технологических свойств, что обуславливает повышенный научный и практический интерес к их исследованию. Они уже нашли применение в различных областях науки и техники главным образом в качестве магнитомягких материалов, однако их широкому внедрению пока препятствует низкая термическая устойчивость.

В последнее время появился ряд публикаций, в которых сообщается об изготовлении крупногабаритных (по сравнению с получаемой лентой) деталей из аморфных и микрокристаллических гранул, получаемых методами порошковой металлургии, которые обладают повышенной износо- и коррозионностойкостью, жаропрочностью.

Ясно, что для глубокого понимания процессов происходящих в процессе получения, последующего нагрева, а также для выбора оптимального режима технологической обработки аморфных и микрокристаллических сплавов нужны данные о подвижности атомов составляющих элементов.

Трудности, с которыми встречаются исследовали при постановке экспериментов по диффузии в АМС (см. введение к первой главе), привели к тому, что за период более 15 лет интенсивного исследования этих материалов, по диффузии опубликовано очень незначительное число работ. Исследованию структурных изменений при переходе в кристаллическое состояние, а также изменению эксплуатационных свойств при нагреве АМС в различных температуряо-времен-ных режимах посвящено гораздо большее количество работ. Однако, до настоящего времени вопрос о природе этих изменений окончательно не решен. В одних работах утверждается, что структурные изменения при нагреве АМС происходят диффузионным путем, в других яе это отрицается. Приводятся результаты,согласно которым даже переход через температуру кристаллизации не приводит к изменению характера зависимости коэффщиента диффузии от температуры.

Настоящая работа посвящена изучению диффузии металлических и неметаллических атомов в аморфных сплавах типа переходный мета лл-неметалл. Чтобы обойти некоторые методические трудности (о них будет сказано ниже), была разработана оригинальная методика, обладающая повышенной чувствительностью по отношению к традиционным методам изучения диффузии в металлах. Приводятся данные по диффузии никеля и углерода в аморфных сплавах вю

0 )гг 5 А®1 свежезакаленного состояния и после различных термообработок.

Кроме основного метода - диффузии применялись такие современные высокочувствительные методы изучения структуры, как диф-фракция рентгеновских лучей, малоугловое рассеяние нейтронов, аннигиляция позитронов, диллатометрия и др.

Особое внимание уделено связи диффузионной подвижности атомов со структурными изменениями при нагреве ниже температуры основной кристаллизации.

Выводы и постановка задачи исследования

Из проведенного выше обзора литературных данных по диффузии в аморфных металлических сплавах вытекает, что, несмотря на противоречивость многих сообщаемых в литературе данных, их число явно недостаточно для выявления основных закономерностей протекания диффузии в этих материалах. По той же причине сравнение уровней подвижности в AMC, атомов, диффундирующих в кристаллических материалах по различным механизмам (замещения, внедрения) не представляется возможным. Практически отсутствуют данные по диффузии в закристаллизованных аморфных сплавах, что вызывает дискуссии о приемлемости мелкокристаллической модели для объяснения структуры ШС. Пожалуй, наиболее интересное явление - влияние структурной релаксации на диффузионную подвижность атомов, впервые обнаруженное в [5] , и влияние которой на физические свойства можно считать установленным, не подтвердилось в более поздней работе [7] , хотя диффузант, матрица и методика были сходными. Эти и другие причины привели к постановке следующих задач настоящего исследования:

1. Изучить диффузионную подвижность атомов металлов и неметаллов в аморфных металлических сплавах при температурах ниже и выше температуры основной кристаллизации. Сопоставить полученные результаты с аналогичными данными для обычных кристаллических сплавов. Сравнить характер температурной зависимости коэффициента диффузии для сплавов, находящихся в разных структурных состояниях.

2. Изучить влияние структурной релаксации на диффузионную подвижность атомов различных типов (металлов и неметаллов), а также выяснить вопрос о соотношении скоростей структурной релаксации и диффузии в АШ.

В соответствии с поставленной целью необходимо было решить следующие основные задачи: а) Разработать метод, позволяющий изучать диффузионную подвижность атомов для возможно более широкого круга элементов, который позволял бы следить за изменением коэффциента диффузии в процессе изотермического отжига. б) Проведение структурных исследований и сопоставление данных по структуре с диффузионными данными для выявления возможного механизма протекания диффузии в AMC.

ГЛАВА П. РАЗРАБОТКА РАдаШЗОТОПНОГО МЕТОДА ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ДИФФУЗИИ В АМОРФНЫХ СПЛАВАХ

Экспериментальное изучение процессов диффузии чаще всего связано с определением концентрации продиффундировавшего вещества на разных глубинах или вещества, продифундировавшего через плоскость раздела. Для качественного суждения о процессе диффузии может быть использовано изменение микротвердости, электросопротивления, оптических свойств поверхности и другие физические характеристики. На этих и других принципах к настоящему времени разработано большое число различных методов, однако их разнообразие можно свести к трем основным группам [22] : химические, металлографические и физические методы. Среди них можно также выделить методы прямые и косвенные.

Обзор литературы показывает, что из прямых методов определения коэффициентов диффузии наибольшее распространение получили методы, связанные с применением радиоактивных изотопов [23] . Применение радиоизотопных методов для изучения диффузии в металлах и сплавах имеет определенные преимущества - большая экспрес-сность, высокая чувствительность, возможность изучения как гете-родиффузии, так и самодиффузии элементов. Эти методы можно подразделять на две основные группы: методы, предусматривающие построение экспериментальной зависимости концентрации от координаты (концентрационной кривой) при заданном времени диффузионного отжига и методы, основанные на определении изменения концентрации в зависимости от времени (кинетической кривой), при фиксированной координате. Методы первой группы предполагают разделение диффузионной зоны на слои, внутри которых анализируется концентрация диффундирующего элемента. Они широко применяются при изучении диффузии в металлах и сплавах при высоких температурах, когда имеются большие глубины проникновения. Такие методы являются наглядными и позволяют с высокой точностью разделять объемную и граничную диффузии. Различные варианты этих методов приводятся в [24, 25] . Экспериментальное осуществление метода поглощения (вторая группа частных методик) сводится к определению интегральной активности образца, на который нанесен слой радиоактивного вещества, до и после диффузионного отжига. В наиболее распространенных вариантах этого метода для вычисления коэффициента диффузии необходимо знать, кроме активностей, также толщину нанесенного слоя И и коэффициент поглощения У [26] . Недавно был разработан метод, основанный на поглащении излучения в диффузионной зоне, позволяющий разделять вклад объемной и граничной диффузии [27] .

§ 2.1. Оценка чувствительности существующих методов определения коэффициентов диффузии

Под чувствительностью того или другого метода мы будем понимать минимальное значение коэффициента диффузии , которое может быть определено данным методом при разумном (душ диффузии) времени отжига ^ 10^ с (около 100 часов). Будем считать, что концентрация (или интенсивность излучения) радиоактивного вещества в первом от поверхности 0) слое приблизительно равна [28] г\Щъ а в слое на глубине X. составляет

С (х; - —1— . е) отсюда

С 00 / X2 \

- (2.1) где ^ - время диффузионного отжига, % - мощность источника.

С целью исключения ошибок из-за мертвого времени регистрирующей аппаратура, а также в целях безопасности, интенсивность с излучения на поверхность создают порядка 10 импульсов. Интенсивность последнего снятого слоя может в 1,5 раза превышать уровень фоновых импульсов, что составит ~ 100 импульсов (время счета в обоих случаях одинакова и равна 100 с). Следовательно, экспериментально можно различать слои отличающиеся по интенсивности

СЛ2. - * ю'Ъ (2.2)

С Со) У (о)

Сравнивая (2.1) с (2.2) получим

Если снимается десять слоев по 5 мкм каждый (при ручной обработке) и принять время диффузионного отжига равной 100 часов, то получим Югг^п ^ Ю-16 м^/с. Уменьшение толщины одного слоя, например, в пять раз, как это сделано в [29] путем применения анодного растворения, позволяет уверено определять Ю ^

Дальнейшее увеличение чувствительности этого метода было достигнуто за счет снятия слоев ангстремной толщины путем распыления в потоке ионов (чаще всего А г!" ). В этом случае измерялись коэффициенты диффузии ^ Ю""24 м2/с [ю] . Несмотря на трудоемкость постановки таких экспериментов, этот метод может с успехом применяться в тех случаях, когда диффузия происходит в матрице со стабильной структурой, когда глубины диффузионных зон не очень велики 0,1 мкм). Однако его надо с большой осторожностью применять в случае метастабильных систем (таких как AMC).

Чувствительность второй группы частных методик, основанных на построении кинетических кривых, можно оценить используя формулу, приведенную в [28]

Щ- = акР(Е2) -ег/с(^ ^ (2.3)

2о где Н - У4 l/®^

Здесь Р - коэффициент поглощения регистрируемого излучения. Экспериментально определяют значение /X и сопоставляют с расчетным, откуда находят величину Н . Зная С , р легко вычислить Ю . Ясно, что при фиксированном времени отжига значение ^^ будет определяться значением j4 . Из выпускающихся в настоящее время нуклидов наиболее мягким излучением (кроме Н ) обладает изотоп Ni , максимальная энергия -Р -спектра которого равна 67 кэВ [30] . Оценить значение Р для такого излучения можно из данных, приведенных в [30] , согласно которым максимальная длина пробега для этого излучения составляет 0,007 г/см^, а значит коэффициент поглощения J* ä 3,5.ю5 м-I. Зададимся теперь ошибкой в определении , равной 10$. Дяя этого надо, чтобы отношение интенсивностей до и после диффузионного отжига равнялась 0,9 при условии, что для определения У набиралось ^ I04 импульсов. В этих условиях: JCL^ ^ 10~17м2/с. Некоторое увеличение чувствительности может быть достигнуто за счет снижения точности и увеличения времени счета. Отметим, однако, что практически величина Яд^ы будет несколько больше, так как будут сказываться возможности регистрирующей аппаратуры, наличие разделительного окошка, имеющаяся у большинства типов детекторов: у газоразрядных - слюдяное окошко, у полупроводниковых - мертвый слой и т.д. Наличие перегородки между образцом и чувствительная объемом детектора приводит к поглощению наиболее мягкого излучения.

§ 2.2. Выбор метода исследования диффузии аморфных металлических сплавов

Как уже отмечалось, AMC являются термически нестабильными [3l] . Это означает,что их структура при нагреве непрерывно будет изменяться в зависимости от температуры и времени отжига. Лишь при достаточно длительных изотермических выдержках структура таких сплавов, по-видимому, будет стремиться к равновесной для данной температуры. В связи с этим возникает вопрос, какому структурному состоянию соответствует коэффициент диффузии, измеренный обычными методами для свежезакаленного образца? По-видимому, это будет какой-то эффективный коэффициент, включающий в себя как подвижность в свежезакаленном образце, так и в образце с различной степенью релаксации структуры. Причем выделять вклад каждого из процессов невозможно, поскольку неизвестна скорость и степень релаксации, а также влияние последней на диффузионную подвижность атомов.

Достоверность получаемых данных о диффузии в аморфных металлических сплавах будет зависить прежде всего от того, в какой степени при использовании метода можно учитывать изменения структуры образца в процессе исследования. В связи с этим в настоящей работе была поставлена задача разработать радиоизотопный метод, основанный на поглощении изучения, пригодный для изучения диффузии в AMC, который позволит следить непрерывно за изменением коэффициента диффузии. Такие методы, как уже отмечалось, являются неразрушаадими и, в принципе, позволяют определять не только коэффициент диффузии в зависимости от времени, но и судить об изменении структурного состояния образца, после каждого этапа отжига.

Для улучшения чувствительности и экспрессности метода впервые применялись вторичные электронные умножители (ВЭУ) [32] . Внимание к этим приборам было привлечено по следующим причинам: во-первых, ВЭУ это регистрирующий прибор открытого типа, и, следовательно, между его чувствительным объемом и образцом (источником излучения) нет никаких разделительных окошек, поглощающих (как в обычных детекторах) основную часть низкоэнергетических ß -частиц. Вследствии этого резко растет эффективность регистрации мягкоизлучающих изотопов, а это как известно, влечет за собой увеличение экспрессности и точности в определении коэффициента диффузии. Во-вторых, использование ВЭУ в качестве детектора позволяет существенно улучшить чувствительность методики определения коэффициентов диффузии. Рассмотрим этот вопрос подробно.

Допустим, что за фиксированный промежуток времени с данной площади поверхности образца на торцевом счетчике регистрируются Nor частиц, энергия которых больше некоторой Вг ( £г - граничная энергия излучения ниже которой чувствительность торцевого счетчика становится равной нулю из-за наличия входного окошка). Так как торцевые счетчики, выпускаемые промышленностью, имеют толщину слюдяного окошка ^ 1*2 мг/см^, то £г 30 кэВ [ 33J . В силу указанных выше причин, при тех же условиях на ВЭУ будет регистрироваться No& низкоэнергетических J -частиц, энергия которых лежит в пределах от 0,2 до 100 кэВ (см.таблицу 2.1). После диффузионного отжига (или, что то же самое, после установления тонкого (^ 0,1 мкм) фильтра между образцом и детектором) наиболее низкоэнергетическая часть J3 -частиц будет поглощена в диффузионной зоне (или фильтром). Обозначим число поглощенных частиц ¿Л/ и тогда (А/от-л N ) и ( Л/oe -л А/) будет означать число / -частиц, регистрированных, соответственно, торцевым счетчиком и ВЭУ. Причем, число поглощенных частиц д/V принадлежит в основном Noe и, поэтому справедливо соотношение

Not v ч NOB ~&N % . , Ут > > ---, цпи тг м

М ~>о& -Jот

N or No в

Следовательно, использование таких спектрально-чувствительных детекторв как ВЭУ (в работе использовался ВЭ7-6) может привести к значительному улучшению чувствительности методов определения коэффициентов диффузии, основанных на поглощении ^ -частиц.

Чтобы избежать грубых ошибок при постановке диффузионных опытов в настоящей работе были проведены специальные эксперименты по определению функций поглощения излучений используемых радиоизотопов ( 63 \\1с, /уС ). Как будет показано ниже основные положения, высказанные здесь, полностью подтвердились экспериментально.

§ 2.3. Установка для экспериментального изучения диффузии в металлах и сплавах (AMC)

С использованием ВЭУ-6, била создана установка, позволяющая определять коэффициента диффузии величиной ^ м^/с [34J . Блок-схема установки представлена на рисунке 2.1. Она состоит из спектрально-чувствительного детектора (собственно ВЭУ-6), предварительного усилителя ПУ, служащего для усиления первичного сигнала до величины, необходимой для срабатывания пересчетной схемы, высоковольтного выпрямителя ВВ и пересчетного прибора, включающего в себя датчик времени ДЗ и счетчик импульсов СИ. Пересчетный прибор снабжен цифропечатающим устройством -ЦПУ. Контроль прохождения импульсов и определение их параметров осуществляют электронно-лучевым осциллографом ЭО (например, CI-68).

Вторичный электронный умножитель находится в вакуумной ка-. мере. В нее вмонтировны два ввода: один для подачи высоковольтного питающего напряжения на ВЭУ, а второй для снятия и передачи сигнала на предварительный усилитель. В качестве высоковольтного выпрямителя служил прибор ВСВ-3, но он может быть заменен любым другим аналогичным прибором, напряжение на выходе которого можно регулировать в пределах от 2 до 4 кВ (например, ВС-22). Для сглаживания пульсаций выпрямленного тока, напряжение с выхода ВВ на анод ВЭУ-6 подается через Г-образный фильтр, состоящий о из дроселя индуктивностью 5-10~° Гн и конденсатора емкостью 0,1 мкф, рассчитанного на напряжение ~ 5 кВ. Пересчетный прибор обеспечивал автоматическую запись информации на ЦПУ по заданной программе.

Система вакуумирования рабочей камеры ВЭУ схематически пред

Рис. 2.1 Блок-схема установки для изучения диффузии в металлах и сплавах с использованием ВЗУ I - образец; 2 - коллиматор; 3 - детектор излучения (ВЗУ); 30 - электронный осцилограф; ПУ - предварительный усилитель; ВВ - высоковольтный выпрямитель; ЦПУ - цифропечатагощее устройство; СИ - счетчик импульсов; ДВ - датчик времени.

Рис. 2.2 Схема вакуумирования рабочей камеры радиоизотопной спектрометрической установки А,В - вакуумные вентили; §ВН - фор-вакуумный насос; ПМН -- паромаслякный насос; ВК - вакуумная камера; К - клапан ставлена на рисунке 2.2. Она состоит из насоса предварительного вакуумирования, паромасленного насоса и собственно вакуумной камера соединенных через систему вентилей. Перед началом работы вентиль "А" и "В" ставятся в положении I. В этом случае вакуумная камера сообщается с входом паромасленного насоса, а его выход с насосом предварительного вакуумирования. Для замены образца вентиль "А" устанавливается в положении 0. Тем самым вакуумная камера отсекается от вакуумирующей системы и она может быть вскрыта. Для напуска воздуха в камеру предусмотрен специальный клапан на присосе. После установления образца клапан слегка прижимается, вентиль "В" переводится в положение 2, а вентиль "А" в положение 0. При этом насос предварительного вакуумирования создает в камере давление, необходимое для работы паромас-лянного насоса. Затем оба вентиля переводятся в положении 1ии производится вакуумирование камеры до рабочего давления ВЗУ. Поскольку ВЭУ-6 имеет небольшие габариты, то объем рабочей камеры не превышал 0,2 л, поэтому весь цикл замены образца и определения интенсивности занимал 3*5 минут. Эта дополнительная по сравнению с работой на торцевом счетчике операция не сказывается на экспрессности опытов, так как она компенсируется лучшей эффективностью ВЭУ.

Определены условия, влияющие на стабильность работы ВЭУ-6, для этого проводились измерения интенсивности излучения от стандартного fi -источника в зависимости от напряжения питания ВЭУ-6 и глубины вакуума в рабочей камере. На рисунке 2.3 приведена счетная характеристика одного ВЭУ-6. Видно, что она почти горизонтально простирается около 1000 В и лишь небольшой подъем намечаюйщийся при U^^- 3500 В связан с возрастанием собствен

Рис. 2.3 Зависимость скорости счета ВЭУ-б от питающего напряжения на аноде (счетная характеристика). Регистрация от стандартного источника

Рис. 2.4 К определению функции и коэффициентов поглощения $ - излучения разными детекторами (по ) о - торцевой счетчик Т-25-БФЛ; х - ВЗУ - 6 ного фона ВЭУ. Отметим, что ширина плато счетной характеристики и крутизна начального участка, вообще говоря, будут зависеть не только от свойств самого ВЭУ, но и от параметров регистрирующей аппаратуры: плато счетной характеристики, по-видимому, начнется тогда, когда р -частицы,обладающие минимальной энергией на входе ВЭУ, будут создавать на его выходе импульсы, амплитуда которых достаточна для срабатывания пересчетного прибора.

Измерения при различных давлениях остаточных газов в рабочей камере, показали стабильность работы ВЭУ-6, начиная с давлет ния ~ 6*10 х Па. При более глубоком вакууме измерения могут проводиться как в статическом режиме, так и при непрерывном ваку-умировании камеры без существенного влияния на результаты счета. При этом во всех случаях при наборе ^ Ю4 импульсов/отсчет, отклонение результатов от среднего значения не превышает 1%. Воспроизводимость результатов сохранялась в течении нескольких месяцев работы одного ВЭУ - 6 с каждодневным вскрытием камеры не меньше 20 раз.

Представляет интерес определение эффективности счета и спектральной чувствительности ВЭУ-6 в зависимости от типа и энергии регистрируемого излучения. В таблице 2.1 приводятся данные, характеризующие эффективность ВЭУ для регистрации некоторых видов излучений \j35j . Видно, что ВЭУ достаточно эффективно регистрирует моноэнергетические электроны с энергиями до 50 кэВ, которые почти полностью поглощаются во входном окошке, например, торцевого счетчика Т-25-БФЛ. Интенсивность (а значит и эффективность) регистрируемого излучения от стандартных Р -источников с различной максимальной энергией будет определяться в основном долей £> -частиц, энергия которых Б ^ 50 кэВ.

1. Gupta D.JTu K.M., Asai K.tf. Diffusion tho Anorphouc Phas of Pd-Ï9at' Si rotallic Л11оу-гЙ phys. lîcv. Lett,, 197 5,35» pp.7 9,5-799*

2. Valcnta P., ?.!aicr IU,Kronnuller И. and Freitag К, Diffusion ofiron in the amorphous alloy Fo/j.oîji40P£4B6 ond Fc00 320* Sol,, I90Î, (a), 105, I, pp. 129-131.

3. Ijuborsky F.E. Crystallisation of So no Fo-ni Metallic Glasoos. rotor. Sei. arid Cng. 1977, 28, p. 139.

4. Грузин Il.JI. применение искуственно-рыдиойктившх индикаторов для изучения процессов диффузии и самодифц^зш! в сплавах. -ЛАН СОТ, 1952, Р6, г, C.2P9-PS2.

5. Ciion П.S., Kinorling I.C., Poato J.M., and Braun \7.L. Diffusion a Pd-Cu-Si netollie glass. -Apfil.PIiys.Lott.,I97Ö,32,pp.451-453.

6. Spaopon F. Structural imperfection in amorphous notals.-Iron. -Of ffcn crist. Solide, I97í>, 31, pp.207-221.

7. Akhtar D., Cantor В., Cahan П.ТТ. tîoasurncnt of diffusion ratos of

8. Ли in notal-notnl and notal-notalloid glaseos.- Acta notallurgica 1902, 30, pp.1571- 1577.

9. Бокштегш b.c.,Клингер JI.Î'., Разумовский И. Г, Уварова E.H.u«

10. О диффузии в аморфных сплавах. írPI,51,3, с.561- 568.

11. Eirac С., Loducf i). Diffusion atomique du îithiun dans i^aliago notalliquo du amorphe s-tí-Si. Phys. Stat.Sol.,1976 (ay,36»pp.245-25i.

12. Me 2 in G. and Toto С. Diffusion of г in amorphous Foor I3Tr. -Scripta not., 1901, 15, 739-742.

13. Грузин П.7., I-'ураль B.B. Изучение диффузии Босфора в яелезек его сплавах радиометрическим методом. Б кн. Проблемы металловедения и Физики кеталлов.Гетадлургия,Г.,с.3ÏI.

14. Valcnta I'., :.'nior П., Kronnuller II., and Froitas К. Soif-Diffusion of Phosphorus in tho Amorphous Alloy Fo,^ ^aq %• -^yc.Stat. Sol. (b) 19aI, 105, pp.337-542.

15. Calm H.v:., Evctts J.П., Pat tor son J. ct al. Direct noasarnent by Secondary ion mass spectronotry of Self-diffusion of boron in Fc,f0 BQ0 glass. -Jr. of * later» Sci.f 1930, 15, pp .702-710.

16. Harold U. and Koster U. Dapidli Quenched I.'otalc III. Vol-d,edited by Cantor D.(::<3tals society, London, 1970, p.201).

17. Ilall J.V7. and Ilranor JJ. Stoa observation of cristallication in thin filDo of amorphous Гс^0 ni,^ V^,, Bg. -Scripta not., 1982,16, pp.917-921.

18. Аморфные сплавы. Получение и свойства. К., 1С.79.(Окспресс--инфорыация/ик-т Черкетинформация,сер.Г2,вап.7, Юс.).

19. Зуснан А.И., Соснин В.Б. Кагнитиые свойства витых тороидов из аморфшх сплавов. В кн. Аморфные прецизионные сплавы. К., f-'еталлургия, ЮТ, с. 13 21.

20. Герцрикен С.Д., Дехткр И.Я. Диффузия в металлах и сплавах в твердой фазе. Оизкатгиз, Ь., 1960.

21. Грузин П.Л. Ядерно-физические методы и их применение в исследованиях металлов.-Заводская ла боратория,1982,2,с.66-73•

22. Грузин П.Л. и др. О некоторых вопросах изучения диффузиис помощьо радиоактивных изотопов. В кн. Диффузия в металлахи сплавах

23. Корисов Е.В., Грузин П.Д., венский С.В. К вопросу о диффузии некоторых элементов в тугоплавких металлах. В кн. Проблемы металловедения и физики металлов.К.»Металлургия, 1964.

24. Луховицкий Л.Л., Геодакян В.А. Определение коэффициентов диффузии на основе данных абсорбции излучения. ДАН

25. СССР, 1955, 90, 2, с. 301.

26. Бокштепн Б.С. Диффузия в металлах. Г., Г'еталлургия, 1978.2В. Голиков Б.Г., Борисов В.Т. Исследование самодиффузии-железа. В кн. Проблемы металловедения и физики металлов, !■'., 1955.

27. Риняев А.*Т. Самодиффузия никеля. -ЭДТ, 1Г63,15, Г, 1о(*-Т04.

28. Гусев П.Г. Справочник по радиоактивности излучениям и защите. Кедгиз, Г., 1956.

29. Голотилов Б.В.,Прокошин А.Ф. и др. Аморфные прецизионные сплавы.(обзорная информация), К., 1901. Обзорная информация/ ин-т "Чериетинформация", сер. КТО, вып.2, 44с.

30. Тютиков А.К. Электронные умоннители открытого тина.Успехи физических наук, 1970, 100, 3, 468-5СЗ.

31. Козлов В.^. Справочник по радиационной безопасности. Атомоиздат, 1977.

32. Грузин П.Л., Лазарев В.А., Урыту С.Г. Радиоизотоинып спектрометрический метод определения коэффициентов диффузии в металлах и сплавах.- Заводская лаборатория,1982, 5, 32-34.

33. Брагин Б.И., Келамид А.Е. В кн. Электроника и ее применена е К., ВИНИТИ, 1977, 9,с.102.

34. Бахвалов Г.Т., Биркган Л.П., Лабутин В.П. Справочник гальваностега. Геталлургиздат, 1'.,194Р.

35. Борисов В.Т., Голиков ВЛ'., Гербеди некий Г.В. Заводская лаборатория, 11959, 9, с.1070.из

36. Бакакин г.И., FoînapoB Г .В. Изучение свойств покрытий с помощью радиоактивных изотопов. В кн. Использование радиоизотопных методов в промышленности. Атомоиздат,!'.,1975.

37. Бокштепн С.З., КИшкин С.Т., Короз Л.К. Исследование строения металлов методом радиоактивных изотопов.Оборонгиз,^.,1959.

38. Adda Y., Philibert I. La diffusion dans ico solido.

39. Paris, Univ: Franco, 1966.45. .Урыту С.Г., Грузин П.Л. диффузия углерода в аморфном сплаве Co70fo5síi5bi0 .-ж, 1983,56 , i , c.zoo-zoi.

40. Криштал î-'.A. Механизм диффузии в железных сплавах. Is., Металлургия, 201с.

41. Золотарев С.Н., Колотилов Б.Н., Самарина ÏÏ.K. О начальныхстадиях распада амортного состояния coFo(bsí) при отгиге нипе точки кристаллизации.-^^, 1980, 49, 3, с.656.50