Инструментальная коррекция матричных эффектов при использовании рентгеноспектрального метода для количественного анализа химического состава и идентификации компонентов вещества тема автореферата и диссертации по химии, 02.00.02 ВАК РФ

Введение

Глава 1. КОРРЕКЦИЯ МАТРИЧНЫХ ЭФФЕКТОВ

1.1. Физическая модель процесса возбуждения рентгеновской флуоресценции

1.2. Фундаментальные параметры физической модели

1.3. Инструментальные параметры физической модели

1.3.1. Спектральные характеристики рентгеновской трубки. Монохроматический эквивалент спектра.

1.3.2. Геометрические параметры рентгенооптической схемы

1.4. Математический учет взаимных влияний элементов

1.4.1. Статистические уравнения

1.4.2. Теоретические уравнения связи

1.5. Инструментальные факторы при количественном РФА

1.5.1. Тенденции в развитии рентгенооптической схемы и источников возбуждения

1.5.2. Инструментальная коррекция матричных эффектов при РФА

1.6. Инструментальная коррекция матричных эффектов при идентификации вещества рентгеноспектральным методом

1.7. Выводы и постановка задачи

Глава 2. СПОСОБЫ УСТРАНЕНИЯ НЕОПРЕДЕЛЕННОСТИ ИНСТРУМЕНТАЛЬНЫХ ПАРАМЕТРОВ 73 2.1. Расчет геометрических параметров рентгенооптической схемы

2.1.1. Математическая модель процесса возбуждения флуоресценции при расходящемся потоке первичного рентгеновского излучения

2.1.2. Эффективные углы падения излучения от кольцевого источника

2.1.3. Эффективные углы падения излучения от точечного источника, расположенного над центром пробы

2.1.4. Эффективные углы падения излучения от протяженного источника

2.1.5. Согласие расчетного и экспериментального эффективного

2.1.6. Эффективные углы падения первичного излучения серийных рентгеновских спектрометров

2.2. Расчет спектральных характеристик рентгеновской трубки

2.2.1. Согласование теоретического и экспериментального спектров рентгеновской трубки с массивным анодом

2.2.2. Способ введения монохроматического аналога спектра рентгеновской трубки с массивным анодом

2.2.3. Усредненные эквивалентные характеристики тормозного излучения

2.2.4. Эквивалентные характеристики смешанного излучения

2.2.5. Способ введения монохроматического приближения с помощью полуэмпирических моделей

2.2.6. Спектр импульсной рентгеновской трубки с анодом прострельно-го типа

2.3. Учет неоднозначности инструментальных параметров с помощью регуляризируюгцей процедуры

2.3.1. Вычислительные особенности СФП

2.3.2. Корректность задачи . Существование решения

2.3.3. Единственность решения

2.3.4. Гиперповерхность интенсивностей

2.3.5. Сходимость решения. Минимизирующая последовательность

2.3.6. Коррекция измеренной интенсивности с помощью регуляризирующей процедуры

2.4. Выводы

Глава 3. ИНСТРУМЕНТАЛЬНАЯ КОРРЕКЦИЯ МАТРИЧНЫХ ЭФФЕКТОВ ПРИ КОЛИЧЕСТВЕННОМ РФА

3.1. Компенсационный эффект

3.1.1. Правильность математической модели процесса избирательного возбуждения спектра флуоресценции

3.1.2. Суммарный вклад избирательных эффектов в интенсивность рентгеновской флуоресценции

3.1.3. Взаимная компенсация избирательных эффектов

3.1.4. Устойчивость условий компенсации к изменению химического состава

3.2. Фактор микрогеометрии поверхности излучателя

3.2.1. Математическая модель процесса возбуждения флуоресценции в образцах с шероховатой поверхностью

3.2.2. Влияния микрогеометрии поверхности излучателя на интенсивность аналитической линии

3.3. Спектральные условия для возбуждения каскадных переходов в атоме

3.3.1. Возбуждение флуоресценции Ьос.]-линии излучением собственной К-серией (самовозбуждение)

3.3.2 Возбуждение Ьсц 2-линии вследствие каскадных переходов в атоме

3.4. Влияние условий возбуждения на воспроизводимость определения высоких содержаний элементов

3.4.1 Оптимизация для случая монохроматичного источника излучения

3.4.2 Оптимизация для случая полихроматичного источника излучения

3.5. Выводы

Глава 4. КОРРЕКЦИЯ МАТРИЧНЫХ ЭФФЕКТОВ ПРИ

ИДЕНТИФИКАЦИИ ВЕЩЕСТВА

4.1. Параметры оптимизации

4.2. Рентгеноабсорбционный метод

4.2.1. Контрастность при отсутствии засветки детектора

4.2.2. Контрастность при частичной засветке детектора

4.3. Рассеяние от облучаемой поверхности

4.4. Малоугловое рассеяние

4.4.1. Рентгенооптическая схема спектрометра с непрозрачным экраном

4.4.2. Рентгенооптическая схема спектрометра с полупрозрачным экраном

4.5. Математическая модель спектрометра малоуглового рассеяния

4.6. Сепаратор алмазосодержащих материалов, использующий рентгеновский спектрометр малоуглового рассеяния 271 4.7 Выводы 282 Заключение 284 Список литературы 287 Публикации по теме диссертации 324 Приложение

Актуальность те1мы.

Ренгеноспектральный флуоресцентный метод анализа химического состава вещества (РФА). обладающий абсолютной избирательностью, высокой производительностью и экспрессностью, доступностью почти всех химических элементов, стабильностью измерений, недеструктивностью, всегда был востребован промышленностью и наукой и одним из первых вступил в этап автоматизации. Сегодня рентгеновские флуоресцентные спектрометры ведущих фирм мира уже являются полноценными автоматами, полностью управляемыми ПЭВМ. Эти замечательные технические достижения РФА подкреплены хорошо развитой теорией, объясняющей и моделирующей большинство аналитических ситуаций.

От теории РФА требуется, по существу, решение единственной, но определяющей проблемы - наиболее точного учета матричных эффектов. При разработке рентгенофлуоресцентной аппаратуры, способной обеспечить решение этой проблемы, выбор был сделан в пользу многоканальных рентгеновских спектрометров, позволяющих получить информацию об ин-тенсивностях флуоресценции всех доступных измерению элементов анализируемого образца для ее последующей математической обработки. Как следствие этого, рентгенооптическая схема прибора определялась, в первую очередь, чисто конструкционными требованиями по размещению в рабочей зоне прибора возможно большего числа спектрометрических каналов. Такая стратегия позволила повысить производительность анализа и, в большинстве случаев, решить задачу учета влияния матрицы на аналитические сигналы, но отвергла или ограничила возможность изменять условия эксперимента и инструментальными средствами воздействовать на физические процессы, мешающие проведению РФА.

В то же время, в развитии современной аппаратурной базы РФД имеется устойчивая тенденция к созданию приборов, которые не связаны жесткими конструкционными условиями и позволяют измерять вторичный спектр образца единым полупроводниковым детектором высокого разрешения. Кроме того, актуальной остается и задача одноэлементного анализа, выполняемого на одноканальных рентгенофлуоресцентных или рентгено-радиометрических спектрометрах простой конструкции. Это создает благоприятные условия для оптимизации их рентгенооптической схемы.

На момент начала выполнения данной работы уже существовали разрозненные свидетельства того, что надлежащим выбором инструментальных параметров спектрометра достигается повышение правильности определений вследствие целенаправленного угнетения процессов, затрудняющих корректный учет матричных эффектов при проведении РФА. Имеются в виду эффект избирательного возбуждения флуоресценции, который возможно компенсировать эффектом избирательного поглощения первичного излучения, и эффект качества поверхности, степень проявления которого зависит от условий проведения эксперимента.

Повысить концентрационную чувствительность метода возможно оптимизацией энергии квантов первичного излучения и углов падения и отбора флуоресценции. Увеличением энергии квантов первичного излучения можно вызвать появление каскадных переходов в атоме, усиливающих излучение линий Ь и М -спектров, и повысить контрастность аналитической линии.

Подобная проблема возникает и при проведении качественного рентгеноспектрального анализа с целью идентификации объектов произвольной формы, где мешающими факторами являются неконтролируемые изменения размера и пространственного положения образца в зоне облучения. Как и в количественном анализе, решение этой проблемы связано с поиском процессов, компенсирующих действие мешающего фактора, и инициализации этих процессов через установление особых условий эксперимента. Потребность в таком аналитическом приборе существует в горной. в частности в алмазодобывающей промышленности, где при обнаружении алмазов среди других минералов уникальность химического состава распознаваемого объекта пока не применяется в качестве отличительного признака.

Таким образом, является актуальным проведение комплексных исследований по изучению влияния инструментальных факторов на процессы формирования аналитического сигнала при взаимодействии рентгеновского излучения с веществом.

Исследования проводились в рамках госбюджетных тем НИР: «Создание библиотеки стандартных программ обработки данных рентгеноспек-трального анализа для комплекса квантометр-кодовый преобразователь ЭВМ БЭСМ-4», выполненной в 1973 году по постановлению Госкомитета по науке и технике при Совмине СССР от 28.06.1971 № 274, «Автоматизация процесса проведения рентгеноспектрального анализа», № гос.рег.76042384, выполненной в 1980 г., «Разработка и совершенс твование теоретических и методических приемов рентгеноспектрального флуоресцентного анализа», № гос.рег.76042383, выполненной в 1980 г., «Совершенствование теории и моделирование процесса возбуждения рентгеновской флуоресценции с целью создания правильных, чувствительных и экспрессных способов рентгеноспектрального анализа и его эффективного использования в автомагических системах управления технологией производства», № гос.рег.8 1 1 00577, выполненной в 1985 г., «Развитие модельных представлений о процессе возбуждения рентгеновской флуоресценции с целью улучшения метрологических характеристик рентгеноспектрального анализа и его эффективного использования в системах контроля технологических процессов»,№ гос.рег.01 860073567, выполненной в 1990 г., «Развитие методических основ рентгенофлуоресцентного анализа и созданис методико-метрологического обеспечения контроля элементного состава объектов окружающей среды и технологических материалов», № гос.per. 0190020120, выполненной в 1991 г. , «Развитие теоретических основ и реализация вычислительного эксперимента в рентгенофлуоресцент-ном анализе с целью автоматизации методических разработок и повышения качества аналитического контроля производственных процессов», № 26004, выполненной в 1997 г., «Разработка теоретических основ новых методов сортировки природных алмазов по качеству и макродефектности, исследование и разработка новых методов извлечения алмазов из продуктов алмазодобывающих фабрик», № roc .per. 01.9.80 008020, выполненной в 2000 г., «Моделирование процессов формирования рентгеновской флуоресценции и развитие методических основ рентгенофлуоресцентного анализа с целью повышения качества решения аналитических задач», № гос.рег.01.9.80.009883, выполняемой с 1998 г. по настоящее время. Кроме того исследования поддержаны в 1998 г. грантом РФФИ № 97-05-96542 «Разработка методов атомноэмиссионного и рентгенофлуоресцентного анализа природных материалов для обеспечения мониторинга экосистемы озера Байкал» и в 2001 г. грантом Минобразования РФ «Развитие теоретических основ РФА с целью создания методического обеспечения для контроля загрязнения окружающей среды », шифр Е001-12.0-94.

Цель исследований заключается в теоретическом установлении инструментальных условий рентгеноспектрального анализа, при которых минимизируется действие процессов, нарушающих однозначную зависимость интенсивности аналитического сигнала от химического состава проб.

На пути к поставленной цели необходимо было решить следующие задачи :

1) Найти способы снятия или учета неопределенности в задании параметров, характеризующих геометрию прибора и спектральную функцию первичного рентгеновского излучения.

2) Найти способы коррекции матричных эффектов инструментальными средствами при проведении количественного РФА вещества.

3) Разработать рентгенооптическую схему спектрометра, предназначенного для идентификации вещества, которая способна обеспечить минимальное влияние на аналитический сигнал формы, размеров и пространственного положения исследуемого образца.

Для решения этих задач проведено уточнение физически обоснованной математической модели процесса взаимодействия рентгеновского излучения с веществом, позволившее выявить инструментальные факторы, ослабляющие или компенсирующие мешающие эффекты при количественном анализе химического состава вещества и при идентификации его компонентов. Для проведения экспериментальных исследований были созданы лабораторные макеты :

1) рентгенофлуоресцентного спектрометра с изменяемой геометрией;

2) спектрометра с полупроводниковым детектором;

3) устройства для выделения полезного компонента из алмазосодержащего материала, включающее в качестве аналитического инструмента рентгеновский спектрометр, регистрирующий под малыми углами рассеянное образцом излучение импульсной рентгеновской трубки с анодом прострельного типа.

Получены следующие теоретические и экспериментальные результаты, определяющие научную новизну исследований: создан математический аппарат для вычисления утла падения на образец расходящегося потока первичного рентгеновского излучения и параметров монохроматиче кого аналога смешанного излучения рентгеновской трубки; создан вариант способа фундаментальных параметров с регуляризи-рующей процедурой, позволяющей учесть погрешность задания инструментальных параметров; экспериментально подтверждена возможность компенсации избирательного возбуждения флуоресценции избирательным поглощением первичного излучения; получена математическая модель, позволяющая рассчитать компенсационные условия проведения анализа; экспериментально установлен факт усиления Ь-спектра флуоресценции вследствие каскадных переходов в атоме при использовании для возбуждения жесткого первичного излучения. найдены условия повышения концентрационной чувствительности при определении высоких содержаний тяжелых элементов в легкой матрице; создана математическая модель процесса возбуждения флуоресценции в образцах с шероховатой поверхностью; найдены условия, при которых эффект качества поверхности становится незначимым; теоретически обоснована и экспериментально подтверждена возможность идентификации компонентов вещества по измерению интенсивности малоуглового рассеяния рентгеновского излучения; найдены условия, при которых минимизируется искажение аналитического сигнала, вызванное изменением формы, размеров и ориентации анализируемого образца в зоне облучения.

Практическая значимость работы :

1) Выработаны рекомендации для конструирования схем рентгенофлуо-ресцентных спектрометров, обеспечивающих инструментальную коррекцию матричных эффектов .

2) Создан рентгеновский спектрометр малоуглового рассеяния, который, как датчик обнаружения алмазов, включен в схему действующего макета сепаратора алмазосодержащего сырья. Лабораторные и промышленные испытания показали, что такое устройство обеспечивает 98-100% извлечение алмазов из их смеси с зернами сопутствующих минералов.

3) Создано программное обеспечение РФА, осуществляющее теоретический учет матричных эффектов и моделирование ренггеноспектрально-го эксперимента. Программное обеспечение внедрено в НИИ прикладной физики ИГУ г.Иркутск, Институт земной коры СО РАН г.Иркутск. ЛНПО Буревестник г.Ленинград , Прометей г.Ленинград , НГМК им. Завенягина г.Норильск, Институт биологии Коми НЦ УрО РАН г.Сыктывкар, Институт общей и неорганической химии им. И.С. Курна-кова РАН г.Москва .

Личный вклад автора в исследования заключается в разработке и обосновании научных основ построения математических моделей и детализации применяемых методов исследования, в создании спектрометров с переменной рентгенооптической схемой и выполнении на них экспериментов. Некоторые из математических моделей, касающиеся уточнения теоретических основ РФА, были получены и интерпретированы совместно с Г.В.Павлипским. Все теоретические расчеты выполнены автором лично по собственным вычислительным программам. Исследования по разработке рентгеновского спектрометра малоуглового рассеяния и построению на его основе сепаратора алмазосодержащего материала проводились совмес тно с Ю.С.Мухачевым .

На защиту выносится систематизированное обобщение теоретических и экспериментальных основ инструментальной коррекции матричных эффектов при использовании рентгеноспектрального метода для количественного анализа химического состава и идентификации компонентов вещества, в том числе :

1. Математическая модель процесса возбуждения флуоресценции при пространственно расходящемся потоке квантов первичного излучения. Алгоритм расчета эффективного угла падения первичного излучения;

2. Математическая модель, позволившая рассчитать условия взаимной компенсации избирательных эффектов ;

3. Математическая модель процесса возбуждения флуоресценции в образцах с шероховатой поверхностью;

4. Математическая модель спектрального распределения импульсных рентгеновских трубок с прострельным анодом. Алгоритм расчета эквивалентной длины волны их первичного излучения при отсутствии в образцах избирательно влияющих элементов;

5. Результаты исследования каскадных переходов в атоме.

6. Результаты исследований влияния инструментальных факторов на воспроизводимость анализа при определении высоких содержаний тяжелых элементов в легкой матрице.

7. Регуляризирующая процедура в способе фундаментальных параметров.

8. Способ идентификации вещества по малоугловому рассеянию рентгеновского излучения и конструкция рентгеновского спектрометра для его осуществления.

Публикации и апробация работы

Тема диссертации освещена в 5 I публикации.

Материалы работы представлялись на X Всесоюзном совещании по рентгеновской спектроскопии и рентгеноспектральному анализу (Алма-Ата, 1973 г.), V Всесоюзном совещании по физическим и математическим методам в координационной химии (Кишинев, 1974 г.), Второй

Всесоюзной научно-технической конференции по проблеме выпуска стандартных образцов для спектрального и химического анализа цветных металлов и сплавов (Мценск, 1975 г.), XI Всесоюзном совещании по рентгеновской спектроскопии (Ростов-на-Дону, 1975 г.), Всесоюзной научно-технической конференции по применению рентгеноспектральной аппаратуры для решения аналитических задач в черной и цветной металлургии (Череповец, 1977 г.), Всесоюзном совещании "50 лет отечественного рентгеновского приборостроения" и ХП Всесоюзном совещании по рентгеновской спектроскопии (Ленинград, 1978 г.); ХШ Всесоюзном совещании по рентгеновской и электронной спектроскопии (Львов, 1981), Втором сибирском семинаре по рентгеноспектральным методам анализа (Иркутск, 1981), Третьем сибирском семинаре по рентгеноспектральным методам анализа (Новосибирск, 1982 г.), Зональном семинаре «Рентгеновские методы анализа в научных исследованиях и контроле производственных процессов» (Красноярск, 1983 г.), XIV Всесоюзном совещании по рентгеновской и электронной спектроскопии (Иркутск, 1984 г.), Уральской конференции «Современные методы анализа и исследования химического состава материалов металлургии, машиностроения, объектов окружающей среды» (Устинов, 1985 г.), I Всесоюзном совещании по рентгеноспектральному анализу (Орел, 1 986), XV Всесоюзном совещании по рентгеновской и электронной спектроскопии (Ленинград, 1988 г.) II Всесоюзном совещании по рентгеноспектральному анализу (Иркутск, 1989г.), XI Конференции по атомной спектроскопии с международным участием (СА1\'А8) (Москва, 1990), 2-й Всесоюзной конференции "Математические методы и ЭВМ в аналитической химии " (Москва,1991 г.), III Всероссийской и IV Сибирской конференции по рентгеноспектральному анализу (Иркутск, 1998 г.), XIV Уральской конференции по спектроскопии (Заречный, 1999 г.), Международной конференции по рентгеновской и нейтронной капиллярной оптике (Звенигород, 2001 г.).

4.7. Выводы

1. Предложен новый тип рентгеновских спектрометров для проведения идентификации вещества, разработаны критерии оценки качества обнаружения полезного минерала, не зависящие от абсолютной величины интенсивности источника излучения, и разработана физическая теория, позволяющая оптимизировать инструментальные параметры спектрометра.

2. Установлено, что могут быть достигнуты условия эксперимента, при которых в результате частичной компенсации эффектов рассеяния и абсорбции зависимость аналитического сигнала от размера и формы зерен алмаза становится слабой.

3. При включении рентгеновского спектрометра малоуглового рассеяния в сепаратор алмазосодержащего материала впервые химический состав минерала был привлечен в качестве разделительного признака. Экспериментальный образец прибора алмазов обеспечил высокое извлечение алмазов (98-100%).

Созданный рентгеновский спектрометр малоуглового рассеяния, позволяющий идентифицировать вещество по его основному компоненту, не ограничивается возможностью применения только в алмазодобывающей промышленности, где ему открыта на ближайшие годы перспектива со

283 вершенствования в направлении увеличения производительности анализа. Рентгенооптическая схема спектрометра позволяет инструментальными средствами производить коррекцию аналитического сигнала, связанную с его искажением матричным эффектом обусловленным изменением формы, размеров и пространственного положения анализируемого объекта.

Теоретическое обоснование предложенного способа идентификации вещества указывает на возможность его применения в областях, где существует проблема разделения кускового материала, представленного фракциями с резко различающимися поглощающими характеристиками. Прибор может быть востребован в геологии, горнодобывающей, угольной, пищевой, сельскохозяйственной и ювелирной отраслях.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Итогом диссертационной работы является решение трех взаимосвязанных научных проблем, расширяющее область использования рентге-носпектрального метода для анализа и идентификации компонентов вещества: конкретизированы инструментальные парамелры рентгеновского спектрометра, разработаны способы коррекции матричных эффектов инструментальными средствами при проведении количественного РФА вещества, разработаны новый способ качественного анализа и конструкция рентгеновского спектрометра для выполнения экспрессной идентификации компонентов вещества

1. Создана математическая модель процесса возбуждения рентгеновской флуоресценции при расходящемся потоке квантов первичного излучения. Проведен расчет эффективных углов падения излучения на образец для ряда серийных спектрометров. Показано, что влияние расходимости излучения на результаты анализа значимо при близком расположении источника излучения к анализируемому образцу.

2. Установлена форма спектральной функции излучения импульсных рентгеновских трубок с прострельным анодом. Услановлено, что увеличение толщины мишени трубки приводит к увеличению степени монохрома-тизации излучения.

3. Предложен способ задания монохроматического эквивалента смешанного излучения рентгеновской трубки с массивным анодом с помощью теоретической и полуэмпирических математических моделей. В отличие от известного способа задания монохроматического приближения с помощью теоремы о среднем значении функции, он обеспечивает более высокую точностью аппроксимации градуировочной функции, а его парамелры обладают стабильностью к изменению химического состава проб.

4. Разработана регуляризирующая процедура, позволяющая уменьшить систематическую погрешность СФП, обусловленную неопределенностью в задании значений инструментальных параметров спектрометра или невозможностью адекватно описать физической моделью действие какого-либо фактора. Для расчета компонентов вектора регуляризации разработана программа нелинейного регрессионного анализа. Для обеспечения вычислительного эксперимента, явившегося одним из главных методов исследований в работе, была создана программа моделирования процесса возбуждения флуоресценции. Вариант СФП практически реализован в программном обеспечении всеволнового рентгеновского спектрометра УИА-30.

5. Создан алгоритм для расчета условий взаимной компенсации избирательных эффектов . Установлено, что предпочтительной областью применения эффекта на практике является одноэлементный РФА при избирательном возбуждении, вызванном яркими а-линиями.

6. Разработана математическая модель процесса возбуждения флуоресценции в образцах с шероховатой поверхностью, с помощью которой исследовано влияние размеров и формы микронеровностей на интенсивность аналитической линии при различных условиях ее возбуждения . Р1оказано, что причиной искажения матричных эффектов при анализе проб с шероховатой поверхностью является не только затенение вторичного излучения микронеровностями поверхности образца при малых углах отбора, но и экранировка покидающего образец вторичного излучения .

7. Исследован процесс каскадных переходов в атоме, приводящий к дополнительному, опосредованному возбуждению Р-спектра флуоресценции. Получена математическая модель для расчета вклада эффекта каскадных переходов в интенсивность линий Р-спектра флуоресценции, которая уточняет расчет величины матричных эффектов при проведении РФА.

8. Получена функция оптимизации , позволяющая повысить правильность рептгеноспектральных определений тяжелых элементов в легких средах путем расчета наиболее благоприятных инструментальных условий проведения анализа. Показано, что оптимизация величины напряжения на рентгеновской трубке и угла отбора флуоресценции позволяет в 3-5 раз снизить погрешность воспроизводимости измерений.

9. Разработан новый способ качественного рентгеносгтектрального анализа, основанный на регистрации рассеянного под малыми углами рентгеновского излучения. Построена математическая модель рентгеновского спектрометра, позволившая оптимизировать его параметры. Теоретически установлена и экспериментально подтверждена возможность выбором инструментальных условий добиться ослабления зависимости аналитического сигнала от размера, формы и пространственного положения в зоне облучения анализируемого объекта, что позволило применить разработанный способ для идентификации вещества кускового материала.

10. Созданы экспериментальный макет рентгеновского спектрометра малоуглового рассеяния и сепаратор алмазосодержащего материала, использующий спектрометр в качестве оперативного датчика аналитической информации. Испытание сепаратора в лабораторных и промышленных условиях показало, что данный способ автоматического, экспрессного, качественного анализа обеспечивает 98-100%-ное обнаружение алмазов среди зерен сопутствующих минералов и 100% -пое отделение зерен циркона от зерен алмаза. Эти результаты указывает на большую перспективность данного направления и на необходимость его дальнейшего развития.

1. Ebel П., Hillbrand Е. Uber der Einfluss der Sekundäranregung und der Stre-nun auf die Röntgenfluoreszenzintensitäten bei der Lösung RFA // Spectro-chimica Acta. -1972. -Bd. 27B. -S.462-469.

2. Величко Ю.И., Махотко В.Ф., Ревенко А.Г. Исследование вкладов эффектов рассеяния рентгеновского излучения в интенсивность спектров флуоресценции // Заводская лаборатория. -1976.-Т. 42, №11. -С. 13381341.

3. Ebel Н., Lander Е., DirschmidН. Zur Anregung charakteristischer Röntgenstrahlung durch Photoelektronen // Zeitchrift für Naturforschlungen. -1971. Bd.26A. -S.927-929.

4. Павлинский Г.В., Гуляев В. Т. Оценка вклада фото и оже-электронов в возбуждение флуоресцентного рентгеновского излучения // В кн.: Исследование в области физики твердого тела. -Иркутск. Изд-во Р1ркут-ского госуниверситета. -1974. -Вып.2. -С.230-233.

5. Афонин В.П. Пискунова Л.Ф. Расчет интенсивности рентгеновского характеристического излучения, возбужденного фотоэлектронами анализируемого образца // Заводская лаборатория. -1978.-Т.44, №9. -С. 10831086.

6. Харченко А.М., Афонин В.П. Оценка эффекта дополнительного возбуж-ддения при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе по L -спектрам // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.: Машиностроение. -1977. -Вып. 19. -С. 50-56.

7. Афония В.П., Ко мяк H.H., Николаев В.П., Плотников Р.И. Рентгено-флуоресцентный анализ. -Новосибирск: Наука. Сиб.отд. -1991. -173 с.

8. Oliver G.J., Bennet Н. XRP Analysis of Ceramic Materials // John Wiley &1. Sons Inc. -1992. -314 p.

9. Jenkins R., Gould R. W., Gedcke D. Quantitative X-Ray Spectrometry. Marcel, Dekker, Inc., New York, Basel, Hong Kong. -1995. 2 nd ed. - 485 p.

10. Lachance G.R., Claisse F., Chessin H. Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis: Theory and Application. New York : Wiley. -1995. -400 p.

11. Johansson S.A.E., Campbell J.L., Malmqvist K.G. Particle-Induced X-Ray Emission Spectrometry (PIXE). NY : Wiley-Interscience,-1995. -434 p.

12. Борходоев В.Я. Рентгенофлуоресцентный анализ горных пород способом фундаментальных параметров,- Магадан: СВКНИИ ДВО РАН . -1999. -279 с.

13. Лосев II. Ф., Смагунова А. Н. Основы рентгеноспектрального флуоресцентного анализа. -М.: Химия. -1982. -207 с.

14. Пшеничный Г.А., Жуковский А. Н., Мейер Л.В. Высокочувствительный рентгенофлуоресцентный анализ на базе полупроводникового детектора. -М.: Энергоатомиздат. -1991. -254 с.

15. Gillcim Е., Heal Н. Т. Some problems in the analysis of steels by X-ray fluorescence // Brit. J. of Appl. Phys. -1952.-V.3. -P. 353-358.

16. Блохин M.A. Физика рентгеновских лучей. -M.: ЖГЛ. -1 957. 5 18 с.7 7. Блохин М.А. Методы рентгеноспектральных исследований. -М.: Государственное издательство физико-математической литературы. -1959. -386 с.

17. Sherman J. The theoretical derivation of X-ray intensities in mixtures //

18. Spectrochimica Acta. -1955.-V.7. -P.283-306.

19. Павлинский Г.В., Лосев Н.Ф. К вопросу возбуждения вторичного рентгеновского спектра смешанным первичным излучением // Заводская лаборатория. -1963.-Т. 29, № 9. -С. 1067-1070.

20. Shiraiwa T., Fuji no N. Theoretical calculation of fluorescent X-ray intensities in fluorescent X-ray spectrochemical analysis // Jap. J. of Appl. Phys. -1966.-V.5, № 10. -P.886-899.

21. Смагунова A.H., Лосев Н.Ф., Ревепко А.Г.и др. Обобщенная схема разработки методики рентгеноспектрального анализа /У Заводская лаборатория. -1974.-Т.40, №12. -С.1461-1465.

22. Ревепко A.F., Храмченко З.А., Величко Ю.И. и др. П В кн.: Исследования в области физики твердого тела.- Иркутск, 1974. -Вып.2. С.204-211.

23. Ревепко A.F., Величко Ю.И. Использование теоретических интенсив-ностей в количественном рентгеноспектральном анализе // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.: Машиностроение. -1979. -Вып. 22. -С.146-161.

24. Парамонов Ф.П. Определение концентраций элементов способом подбора теоретического стандарта И Извест. АН Каз.ССР.Сер. хим. -1966. .№3. -С.97-98.

25. Величко Ю.И., Мясникова В.И. и др. Рентгенофлуоресцентное определение меди в латунях // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.: Машиностроение.-1975. -Вып. 16. -С.46-50.

26. Criss J.W., Birks L.S. Calculation methods for fluorescent X-Ray spectrometry. Empirical coefficients v.s. fundamental parameters // Analytical Chemistry. -1968.-V.40, №7. -P. 1080-1086.

27. Павлинский Г.В., Лосев Н.Ф. К оценке избирательного возбуждения рентгеновской флуоресценции в случае смешанного первичного излучения /7 Журнал технической физики. -1969.-Т.39, № 9. -С.1664-1675.

28. Карманов В.И., Походня И.К., Марченко А.Е. Рентгеноспектральный анализ с одним эталоном и корректировкой интенсивностей на ЭВМ // Заводская лаборатория. -1972. -Т.38, №2. -С.167-169.

29. Tertian R. A new approach to the study and control of interelement effect in the X-Ray fluorescence analysis of metal alloys and other multi-component systems // X-Ray Spectrometry. -1973.-V.2, № 3. -P.95-105.

30. Dahl M., Kallsson A. A sample calculation model with great versatility for interelement effects in steel by X-Ray fluorescence analysis // X-Ray Spectrometry. -1973.-V.2, № 2. -P.75-83.

31. Jongh W.K. X-Ray fluorescence analysis applying theoretical matrix corrections. Stainless steel // X-Ray Spectrometry. -1973.-Y.2, № 3. -P.151-158.

32. Харченко A.M., Афонин В.П. Программа для расчета результатов рент-геноспектрального флуоресцентного анализа многокомпонентных образцов // Аппаратура и методы рентгеновского анализа: -Л.: Машиностроение. -1974. -Вып. 15, -С. 160-164.

33. Rousseau R., Claisse F. Theoretical alpha coefficients for the Claisse-Quintin relation for 1-Ray spectrochemical analysis, // X-Ray Spectrometry. -1974. -V.3, № 1. -P.31-36.

34. Austen С.E., Steele T.W. The computer calculation from fundamental parameters, of influence coefficients for X-Ray spectrometry // Advances in X-Ray Analysis. -1975.-V.18. -P.362-371.

35. Кузнецова А.И., Лаврентьев Ю.Г. Оценка дополнительного возбуждения при рентгенофлуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. -1976.-Т. 42, № 6. -С.674-680.

36. Лаврентьев Ю.Г., Кузнецова А.И. Программа для вычисления относительных интенсивностей линий при рентгенофлуоресцентном анализе // В кн.: Труды Института геологии и геофизики Сибирского отделения АН СССР.-Новосибирск.:Наука. -1977. -Вып. 315. -С. 60-70.

37. Павлинский Г.В., Величко Ю.И. Ревенко А.Г. Программа расчета интенсивности рентгеновской флуоресценции // Заводская лаборатория. -1 977.-Р. 43,. № 4. -С.433-435.

38. Бондаренко Б.Ю., Павлинский Г.В. Автоматизация методических исследований в рентгеноспектральном флуоресцентном анализе с помощью ЭВМ // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -JP: Машиностроение. -1981. -Вып. 25. -С.43-45.

39. Калинин Б.Д., Плотников Р.И., Савельев С.К., Федоров С.И. Вычислительная среда для рентгенофлуоресцентного анализа X-ENERGO // Тезисы докл.: «III Всероссийская и IV Сибирская конференция по рентге-носпектральному анализу » -Иркутск, -1998 .-С.49.

40. Залесский В.Ю. К расчету избирательного возбуждения при использовании вторичных рентгеновских спектров // Оптика и спектроскопия. -1964.-Т.17, №4. -С.576-582.

41. Лосев Н.Ф. Количественный рентгеноспектральный флуоресцентный анализ. -М.: Наука. -1969. -336 с.

42. Ревенко А.Г. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ природных материалов. -Новосибирск: ВО "Наука". -1994. -264 с.

43. Бахтиаров A.B. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ в геологии -JL: Недра,-1985. -144 с.

44. Ревенко А.Г., Павлинский Г.В., Лосев Н.Ф. Исследование связи интенсивности флуоресценции с концентрациями анализируемых элементов в многокомпонентных пробах // Заводская лаборатория. -1972. -Т.38, № 12. -С.1451-1458.

45. Афонин В. П., Гуничева Т. П., Пискунова Л. Ф. Рентгенофлуоресцент-ный силикатный анализ. -Новосибирск: Наука. -1984. -227 с.

46. Павлинский Г.В., Имешкенова Н.И. Об оценке величин эффектов второго и третьего порядков и их учете при вычислениях интенсивностирентгеновской флуоресценции // Методы рентгеноспектрального анализа. -Новосибирск: Наука. -1986. -С. 12-17.

47. Keith H.D., Loomis T. S. Corrections for scattering in X-ray fluorescence experiments // X-Ray Spectrometry. -1978.-V.7, № 4. -P.225-239.

48. Финкелыитейн A.П., Афонин В.П. Расчет интенсивности рентгеновской флуоресценции // Методы рентгеноспектрального анализа. -Новосибирск: Наука, -1986. -С. 5-11.

49. Павлинский Г.В. Повышение точности учета матричных эффектов в рентгенофлуоресцентном анализе многокомпонентных материалов: Ав-тореф. дис. д-ра физ.-мат. наук. -М. -1989. -3 1 с.

50. Pavlinsky G. V., Dukhanin A.Yu. Calculation of photo- and Auger electron contribution to X-ray fluorescence exitation of elements with low atomic number // X-Ray Spectrometry. -1994.-V. 23. -P. 221-228.

51. Leroux J. Method for finding mass absorption coefficients by empirical equations and graphs /7 Advances in X-Ray Analysis. -1962.-V.5. -P. 153-160.

52. Thinh Т.К., Leroux J. New basis empirical expression for computing tables of X-Ray mass attenuation coefficients И X-Ray Spectrometry. -1979.-V.8, № 2. -P.85-91.

53. Bearden J.A. X-ray wavelengths // Rev. Mod. Phys. -1967.-V.39, № 1. -P. 78-124.

54. Norrish K., Tao G. Y. Empirical equations for calculating wavelengths of X-ray characteristic lines and absorption edges // X-Ray Spectrometry. -1993.-V. 22. № 6. -P.410-412.

55. Гуничева Т.Н., Афонин В.П., Пискунова Л.Ф. и др. О влиянии неопределенности массовых коэффициентов ослабления рентгеновских лучей на правильность результатов анализа // Заводская лаборатория. -1975.Т. 41, № 11. -С.1325-1328.

56. Афонин В.П., Гуничева Т.Н. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ горных пород и минералов. -Новосибирск: Наука. -1977. -256 с.

57. Борходоее В.Я. Влияние массовых коэффициентов ослабления на точность расчета интенсивности рентгеновской флуоресценции петроген-ных элементов //Журн.анал.химии. -1998.-Y.53, №6. -С.571-577.

58. Storm Е., Israel Н. Photon cross-section from 1 keY to 100 MeV for elements Z = 1 to Z = 100 // Nuclear Data Tables. -1970. A7. № 6. -P. 565-681.

59. Таблицы и формулы рентгеносиектрального анализа: Методические рекомендации. Составитель Маренков О.С. -Л.: Машиностроение. -1982. -Вып.З. -101 с.

60. Boer D.K.G. Fundamental parameters for X-ray fluorescence analysis // Spectrochimica Acta. -1989.-V. 44B, № 11. -P. 1171-1190.

61. Блохин M.A., Швейцер ИТ. Рентгеноспектральный справочник. -М.: Наука. -1982.-376 с.

62. The electron microprobe. Eds. McKinely T.D., Heinrich K.F.J., Wittry D.B. -New York. -1966. -1035 p.

63. Gilfrich J.V., Burkhalter P.G., Witloch R.R. Spectral distribution of a thin window rhodium target X-Ray spectrographie tube // Analytical Chemistry. -1971.-V.43, №7. -P. 934-936.

64. Kramers H. A. On the theory of X-ray absorption and of the continues X-ray spectrum // Phyl. Mag. -1923. -V. 46, № 275. P. 836—871.

65. Рид С. Электронно-зондовый микроанализ. -M.: Мир. -1979. -424 с.

66. Боровский И.Б., Рыдник В.И. Распределение интенсивности рентгеновского излучения в массивном аноде // Известия АН СССР. Серия физическая. -1967. -Т.31, №6. -С.1009-1015.

67. Афонии В.П. К оценке интенсивности L-и М-первичных спектров тяжелых элементов // Известия АН СССР. Серия физическая. -1967. -Т.З 1, №6. -С.1006-1008.

68. Афонии В.П., Лосев Н.Ф., Павлинский Г.В.и др. Расчет интенсивное™ тормозного излучения рентгеновских трубок // Заводская лаборатория. -1 970.-Т.36, № 9. -С.431-434.

69. Егоров А. И. Исследование спектральной интенсивности непрерывного рентгеновского излучения в длинноволновой области // Автореф. дис.на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук. -Иркутск. -1975. -25 с.

70. Еритеико Л.Н., Волков В.Ф. Спектральное распределение рентгеновского тормозного излучения при прохождении электронов через вещество // Заводская лаборатория. -1977. -Т. 43, №6. -С.673-675.

71. Лебедь В.И., Афонин В.П. Расчет пространственного распределения первичного характеристического рентгеновского спектра в пробе методом Монте-Карло // В кн.: Ежегодник -1971 СибГЕОХИ. -Новосибирск: Наука. -1972. -С.386-392.

72. Соломонова Л.А., Афонин В.П. -Расчет методом Монте-Карло распределения спектральной плотности непрерывного излучения по глубине мишени // В кн.: Геохимические методы поисков. Методы анализа. -Иркутск. -1979. -С.80-83.

73. Парадина Л.Ф., Соломонова Л.А. Романенко И.М. Уточнение зависимости интенсивности характеристического рентгеновского излучения от энергии электронов //В кн.: Геохимические методы поисков. Методы анализа. Иркутск. -1979. -С.84-87.

74. Финкелыатейн А. Л., Гупичееа Т. Н., Афонии В. П. и др. Расчет спектрального распределения первичного излучения при рентгенофлуорес-центном анализе // Заводская лаборатория. -1981.-Р. 47, № 11. -С. 28— 31.

75. Pella P.A., Feng L., Small J.A. An analytical algorithm for calculation of spectral distribution of X-ray tubes for quantitative X-ray fluorescence analysis // X-Ray Spectromttry. -1985.-V. 14. № 3. -P. 125-135.

76. Финкелыатейн А.Л., Павлова Т.О. О расчете спектрального распределения излучения рентгеновских трубок в рентгенофлуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. -1996.-Т. 62, № 12. -С.16-20.

77. Tertian R., Broil N. Spectral intensity distributions from X-ray tubes. Calculated versus experimental evaluations // X-Ray Spectrometry. -1984.-V.13, № 3. -P.134-141.

78. Парадииа 77. Ф. Интенсивность характеристического излучения рентгеновского спектра, возбужденного в твердом теле // Автореф. канд. диссертации. -Ростов-на-Дону. -1981. -24 с.

79. Павлинский Г.В., Лосев Н.Ф. К вопросу возбуждения вторичного рентгеновского спектра смешанным первичным излучением // Заводская лаборатория.-1963.-Т.29. №9. -С.1067-1070.

80. Loomis T.S., Keith H.D. Spectral distribution of X-ray produced by a General Electric EA 75 Cr/W tube at various applied constant voltages // X-Ray Spectrometry. -1976. -V.5, №2. -P. 104-114.

81. Павлинский Г.В., Лосев Н.Ф., Маков В.M. Влияние спектрального состава первичного излучения на точность способа калибровки в рентге-нослектральном флуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. -1965.-Т.40, №9. -С. 1077-1081.

82. Tertian R. Quantitative X-Ray fluorescence analysis using solid solution specimens a theoretical study of the influence of the quality of primary radiation // Spectrochimica Acta. -1971. -V.26 В., № 2. -P.71-94.

83. Tertian R. Discussion of "Quantitative X-Ray fluorescence analysis usingsolid solution specimens a theoretical study of the influence of the quality of primary radiation" A reply // Spectrochimica Acta. -1972.-V.27 B, №4. -P. 155-157.

84. Stephenson D.A. Discussion of "Quantitative X-Ray fluorescence analysis using solid solution specimens a theoretical study of the influence of the quality of primary radiation" // Spectrochimica Acta. -V.27 В., № 4. -1972. -P.153-154.

85. Быков В.И., Швейцер И.Г. Монохроматическое приближение при рентгенофлуоресцентном анализе многокомпонентых ненасыщенных слоев способом теоретических поправок // Депон. рукопись в ВИНИТИ. -1985. -Ростов-на-Дону. -№4919-85. -37 с.

86. Авдеенко Л.И., Цукерман В.А. Получение рентгеновских снимков с микросекундными экспозициями // Ж. теор. физики . -1942.-Т.12, Вып.4-5 . -С. 185-194.

87. Цукерман В.А. Развитие импульсной рентгенотехники в СССР // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение . -1980. -Вып. 24 . -С.22-32.

88. Читак Ф.Ф. Рентгеновские трубки с мишенями «прострельного» типа и их применение // -Л.: Изв. ЛЭТИ. -1974. -Вып. 140. -С.25-29.

89. Быстрое Ю.А., Иванов С.А. Ускорители и рентгеновские приборы. -М.: Высшая школа. -1976. -208 с.

90. Иванов С.А., Максимов В.М., Николаенко Г.М., Щукин Г.А. Рентгеновские трубки для флуоресцентного спектрального анализа // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л: Машиностроение. -1980. -Вып.23. -С.139-141.

91. Поташевская Т.Г. Рентгеновские трубки с анодами прострельного типа // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.: Машиностроение . -1985. Вып 34 . -С.1 11-129.

92. Starzec A, Zaraska W. Characteristics of low-power X-ray tubes // Isotopenpraxis. -1980.-V.16, №1. -P.4-9.

93. Zulliger H.R., Stewart J.E. X-Ray fluorescence analysis with transmission target tubes //Advances in X-Ray Analysis. -1975.-V.18. -P.278-287.

94. Ebel H. Gedanken zu einer eichprobenfreien Rontgenfluoreszenzanalyse // Mikrochimica Acta. -1977. № 7. -S.545-553.

95. Анисович К.В. Угол максимального отбора флуоресценции // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.: Машиностроение. -1970. Вып.6. -С. 117-122.

96. Анисович К.В., Жижин ИЛ., Крекнин Ю.С. "C1TEKTPOCKAP1-V" -современная модель вакуумного сканирующего кристалл-дифракционного спектрометра для количественного анализа состава вещества // Заводская лаборатория. -1996.-Т.62, № 10. -С. 58-62.

97. Горохов К.И., Юкса Л.К. Исследование геометрических условий при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе в широких пучках // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.: Машиностроение. -1972. -Вып. 10. -С.139-142.

98. Верховодов П.А. Рентгеноспектральный анализ. Вопросы теории и способы унификации. : Киев.: Р1аукова Думка. -1984. -160 с.

99. Hawthore A.R., Gardner R.P. Fundamental parameters' solution to the x-ray fluorescence analysis of nickel-iron-chromium alloys including tertiary corrections // Anal. Chim. -1976.-V.48. №14. -P.2130-2135.

100. ПО. Венер В., Клайнштюк К., Морас К. Улучшение модели для расчета интенсивностей рентгеновской флуоресценции в области длин волн до 3 А // Заводская лаборатория. -1977. Т.43, № 6. -С.675-680.

101. Константинов Н.Я., Кочмола Н.М. К вопросу энергодисперсного рентгенофлуоресцентного определения легких элементов в воздухе // Заводская лаборатория. -1980. -Т.46, № 4. . -С.310-31 3.

102. Очкур А.П. К теории гамма-методов ядерной геофизики в приближении однократного взаимодействия // Методы разведочной геофизики. -Л.: Изд-во Ленинградского госуниверситета. -1972. -Вып. 19. -С. 114122.

103. Вознесенский Л. И. Выбор условий проведения рентгенорадиометри-ческого анализа руд черных металлов // Аппаратура и методы рентгеновского анализа.-Л.: Машиностроение. -1977. -Вып.19. -С.44-49.

104. Lubecki A. The enhancement effect in non-dispersive X-Ray analysis // J.l of Radioanal. Chem. -1970. -V.6. -P.193-205.

105. Якубович А.Л., Зайцев Е.И., Пржиялговский C.M. Ядернофизические методы анализа минерального сырья. -М.: Атомиз-дат. -1973. -392 с.

106. Лосев Н.Ф., Павлинский Г.В., Смагунова А.Н., Цыценков Ю.А. О погрешностях способа внутреннего стандарта в рентгеноспектральном флуоресцентном анализе /7 Заводская лаборатория. -1968. -Т. 34, № 12. -С. 1454-1458.

107. Оболъянинова В.Г. Исследование условий рентгеноспектрального флуоресцентного анализа материалов с помощью способа внутреннего стандарта и использование его при аттестации стандартных образцов // Автореферат канд. дис. Иркутск. -1980. -25 с.

108. Andermann G., Kemp J.W. Scattered X-rays as internal standard in X-ray emission spectroscopy // Analytical Chemistry. -1958. -V.20, №8. -P. 1306-1309.

109. Пшеничный Г.А., Очкур А.П., Плотников P.И. К выбору оптимальной геометрии измерений в бескристальном рентгеноспектральном анализе // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -JL: Машиностроение. -1969. -Вып.4. -С. 130-136.

110. Рубанов И.А., Пивоваров A.B. Графический прием анализа веществ способом двусторонней регистрации рентгеновской флуоресценции // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -JL: Машиностроение. -1974. -Вып.13. -С.153-157.

111. Блохин М.А., Дуймакаев Ш.И., Демехин В.Ф. Влияние углов падения и выхода излучения на степень вырождения в рентгеновском флуоресцентном анализе // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.Машиностроение. -1968. -Вып.З. -С.27-31.

112. Лосев Н.Ф., Павлинский Г.В. Изучение условий компенсации избирательного возбуждения рентгеновской флуоресценции // Журнал технической физики. -1968. -Т.38. -Вып.10. -С.1803-1809.

113. A.c. 1658427/26-25 (СССР) Способ рентгеноспектрального флуоресцентного анализа / Г.В.Павлинский. Б. И. -1974. -№ 8. -С. 125

114. Лосев Н.Ф. Способ внешнего стандарта в рентгеновском спектральном флуоресцентном анализе // Известия АН СССР, серия физическая. -1960. Т. 24. № 4, -С. 476-486.

115. Jenkins R., De Vries J.L. X-Ray Spectrometry // Metallurgical Reviews. Metals and Materials. -1971 .Vol.5, № 8. -P. 125-141.

116. Васильева E.Г., Горский Ю.И., Межевич А.Н. и др. Работа рентгеновских многоканальных спектрометров в комплекте с управляющей ЭВМ // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.: Машиностроение. -1975. -Вып. 16. -С.13-19.

117. Лосев Н.Ф., Смагунова А.Н., Ревенко А.Г. и др. Современное состояние рентгеноспектрального анализа // Заводская лаборатория. -1977.Т. 43, №2 .-С. 160-178.

118. Ревенко А.Г. Рентгенофлуоресцентный анализ: состояние и тенденции развития (обзор) // Заводская лаборатория. 2000.-Т.66, №10. -С.З-19.

119. Комиссия по терминологии Научного совета РАН по аналитической химии Представление результатов химического анализа (рекомендации IUPAC -1994 г.) // Журнал аналит. химии. -1998. -Т.53, №9. -С.999-1008.

120. Блохин М.А., Белов В.Т., Дуймакаев Ш.И., Цопова-Гречиишна Л.И. Феноменологические уравнения связи в рентгеноспектральном анализе//Заводская лаборатория.-1973.-Т.39, № 9. -С. 1081-1085.

121. Белов В Л. Феноменологические методы рентгеновского флуоресцентного анализа.: Автореф. канд. дис. -Ростов-на-Дону. -1975. -19 с.

122. Котляров Я.Б., Плотников Р.И., Сербии А.Я. Построение и использование статистических уравнений связи в рентгеноспектральном флуоресцентном анализе // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -JL: Машиностроение, -1978, -Вып. 21. -С.191-211.

123. Лаврентьев Ю.Г., Кузнецова А.И. Уравнения связи в рентгенофлуо-ресцентном анализе // Заводская лаборатория. -1979. -Р.45, № 4. -С. 315-326.

124. Lucas-Tooth H.J., Price B.J. A mathematical method for the investigation of inter-element effects in X-ray fluorescent analysis // Metallurgia. -1 961. Vol.64, № 383.-P. 149-152.

125. Alley B.J., Myers R.H. Corrections for matrix effects in X-Ray fluorescence analysis using multiple regression methods // Analytical Chemistry, -1965. -V.37. IP 13. p.1685-1690.

126. Stephenson D.A. Multivariable analysis of quantitative X-Ray emission data. Phe system of zirconium oxide-silicon oxide-calcium oxide-cerium oxide//Analytical Chemistry. -1971 .-V. 43, № 3. -P.310-318.

127. Дуймакаев Ш.И., Вершинин А.С., Шильман B.X. Получение уравнений связи в рентгеноспектральном анализе для условий низкой стабилизации возбуждения спектра // В кн.: Рентгеновские и эмиссионные спектральные методы анализа: -М.: Знание. -1975. -С.54-58.

128. Plesch R. Absolute Auswertemethode in der Rontgenspektrometrie // Zeitschrift fur Analytische Chemical. -1975. № 275. -S.97-102.

129. Wheeler B.D., Jacobus N. Quantitative analysis of 300 and 400 series stainless steels by energy dispersive X-Ray fluorescence // Advances in X-Ray Analysis. -1979.-V.22. -P. 395-400.

130. Смагунова А.Н., Паньков С.Д., Лосев Н.Ф. и др. Влияние и учет химического состава при рентгеноспектральном анализе продуктов производства // Журнал аналитической химии. -1974.-Т. 29, №12. -С.2335-2339.

131. Jenkins R. Application of the solution of matrix effect arising in X-Ray fluorescence spectrometry. Phillips Bulletin Scientific and Analytical Equipment, -1967.-V.79, №177/FS15.

132. Shenberg G., Amiel S. Critical evaluation of correction methods for interelement effect in X-Ray fluorescence analysis applied to binary mixtures //Analytical Chemistry. -1974. -V.46, №1 1. -P. 151 2-1516.

133. Мошкина Т.П., Нахмансон M.C., Сербии А.Я., Плотников Р. И. Математическое обеспечение рентгеновских флуоресцентных квантомет-ров. II. Программа обработки экспериментальной информации

134. КВАНТ-В" // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -JL: Машиностроение. -1977. -Вып. 18. -С. 149-153.

135. Dziunikowski В., Kirchmayer М. Mathematical matrix correction in isotope-induced low-resolution X-Ray fluorescence analysis // X-Ray Spectrometry. -1978. -V.7, № 3. -P. 170-173.

136. Опыт эксплуатации рентгеновского спектрометра, управляемого ЭВМ / В.И.Мосичев, Н.В.Першин, А.А.Баранов и др. -Л.: Знание. -1978. -25 с.

137. Plesch R. Leistungsfähige Matrixkorrektur in der Rontgenspektrometrie // Analytica chimica Acta. -1979. №112. -S.75-82.

138. Schreiner W.N., Jenkins R. Use of a new versatile interactive regression analysis program for X-Ray fluorescence analysis // Advances in X-Ray Analysis. -1979.-V.22. -P. 375-384.

139. Dixon W.J. BMD02R-Stepvvise regression. Biomedical computer programs // University California Press. -1967. №2. -P. 10-18.

140. Сербии А.Я., Плотников Р.И. Применение ступенчатого метода поиска оптимальных форм регрессионных уравнений в рентгеноспек-тральном анализе // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.: Машиностроение. -1975. -Вып. 17. -С. 151-155.

141. Lachance G.R., Traill R.J. Practical Solution to the Matrix Problem in X-Ray Analysis // Canadian J. of Spectroscopy. -1966. -V.l 1, № 2. -P.43-48.

142. Ваньков С.Д., Смагунова A.M., Хабеев И.А., Бобров С.Д. Построение регрессионной модели при рентгеноспектральном анализе // Журн. аналит. химии.-1981. -Т.36, № 1.-С 54-63.

143. Молчанова Е.И., Смагунова А.Н., Козлов В. А. и др. Уравнения связи в рентгенофлуоресцентном анализе (Обзор) // Заводская лаборатория. -1994. -Т.60, №2. -С. 12-21.

144. Claisse Е., Quintin М. Generalization of the Lachance-Traill method for the correction of the matrix effect in X-Ray fluorescence analysis // Canadian J. of Spectroscopy. -1967.-V.12. -P. 129-132.

145. Rasberiy S.D., Heinrich K.P.J. Calibration for interelement effects in X-Ray fluorescence analysis // Analytical Chemistry. -1974.-V.46, №1. -P.81 -89.

146. Franzini M., Leoni L., Saitta M. Enchancement effects in X-Ray fluorescence analysis of rocks // X-Ray Spectrometry. -1976. -V.5, № 2. -P.208-211.

147. Jenkins R. A review of empirical influence coefficient methods in X-Ray spectrometry //Advances in X-Ray Analysis. -1979. -V.22. -P.281-292.

148. Plesch R. X-Ray fluorescence in matrix correction // X-Ray Spectrometry. -1979. -V.18, №3. -P.l 14-116.

149. Jenkins R., Vnee J.L. Practical X-Ray spectrometry. -London: London Macmillan and Co. -1970. -53 p.

150. Донец Ю.Т. Способ градуировки при рентгеноспектральном анализе продуктов обогащения // Заводская лаборатория. -1978.-Т. 44? № 6. -С. 674-678.

151. Van den Enk J.E., Jansen J. J., Jongh W.K. Potassium and calcium deiec-tion in X-Ray fluorescence spectrometry applying theoretical matrix corrections // X-Ray spectrometry. -1978. -V.7, № 1. -P. 68-72.

152. Kawamura К. On the correction method by common correction factors for X-Ray fluorescence analysis of steels // Transactions of the Iron and Steels Institute of Japan, -1975. -V. 15, № 9. -P.470-478.

153. Применение метода множественной регрессии в рентгеноспектраль-ном анализе Гурвич Ю.М.,.Калинин Б.Д., Межевич А.Н. и др. // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -JL: Машиностроение.-1974. -Вып. 13. -С.122-128.

154. Tertian R. Unification of fundamental matrix correction method in X-Ray fluorescence analysis. Arguments for a new binary coefficient approach // X-Ray Spectrometry. -1988.-V.17, №1. -P.89.

155. Карманов В.И., Войткевич В.Г., Трикоз В.П., Походня И. К. Рентге-носпектральный анализ сварочных шлаков // Журнал аналитической химии, -1979. -Т.34, №7. -С. 1329-1333.

156. Shiraiwa Т., Fujino Н. Theoretical correction for existent of alloys and steel // Advances in X-Ray Analysis. -1968.-V.2. -P.63-94.

157. Величко Ю.И., Калинин Б.Д., Навлинский Г.В. и др. Учет взаимных влияний элементов при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе легированных сталей // Заводская лаборатория. -1974.-Т. 40, № 6. -С.668-671.

158. Ito М., Sato S., Narita М. The estimated binary calibration curve method in the JIS X-ray fluorescence analysis of steel and standard samples necessary for the method // X-Ray Spectrometry. -1983. -V.12, №1. -P.23-29.

159. Калинин Б.Д., Плотников Р.И. Рентгеноспектральный анализ сталей и его промышленное внедрение // Заводская лаборатория. -1986.-Т. 52, №2. -С. 1043-1048.

160. Рощина H.A., Шевалеевский И.Д., Коровкина H.A. и др. Рентгеноф-луоресцентный анализ образцов горных пород переменного состава /7 Журн. аналит. химии. -1982.-Т.38, № 9. -С. 1611-1618.

161. Ревенко А.Г., Павлинский Г.В., Лосев Н.Ф. Новый вариант способа калибровки в рентгеноспектральном флуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. -1970.-Т. 36, № 6. -С.675-680.

162. Павлинский Г.В., Лосев Н.Ф, Гуничева Т.Н. и др. О методе рентгенос-пектрального анализа способом последовательных поправок с помощью стандартов-бинаров /7 Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Д.: Машиностроение. -1969. -С. 184-190.

163. Павлинский Г.В., Бондаренко Б.Ю., Лосев Н.Ф. Способ стандартов-функций в рентгеноспектральном флуоресцентном анализе /7 Заводская лаборатория. -1978.-Т. 44, № 2. -С. 160-163.

164. Павлинский Г.В., Афонин В.П., Ревенко А.Г. и др. Принципиальная схема и оптимальные условия рентгеноспектрального флуоресцентного силикатного анализа горных пород и минералов // В кн.: Ежегодник 1969 СибГЕОХИ. -1969. -Иркутск. -С.285-292.

165. Карманов В.И., Походил И.К., Марченко А.Е., Демченко В.Ф. Рентге-носпектральный анализ рудо-минерало-металлических композиций // Заводская лаборатория. -1970. -Т.36, № 6. -С.680-682.

166. Broil N. Quantitative X-ray fluorescence analysis. Theory and practice of the fundamental coefficient method // X-Ray Spectrometry. -1986. -V.15, №4. -P. 271-286.

167. Rousseau R.M., Bouchard M. Fundamental algorithm between concentration and intensity in XRF analysis. 3 Experimental verification // X-Ray Spectrometry. -1986. -V. 15, №3 -P.207-2 1 5.

168. Tertian R. Mathematical matrix correction procedures for X-ray fluorescence analysis. A critical survey // X-Ray Spectrometry. -1986.-V.15, № 3. -P. 177-190.

169. Кузнецова А.П., Лаврентьев Ю.Г. Полиномиальная аппроксимация коэффициентов динамических уравнений связи при рентгенофлуо-ресцентном анализе // Заводская лаборатория. -1984.-Т. 50. N 4. -С. 21-24.

170. Мосичев В.И., Першин Н.В., Ковалева Н.Б. и др. Теоретический учет межэлементных влияний на основе нового градуировочного уравнения связи //Заводская лаборатория. -1981.-Т. 47, № 1. -С. 41-48.

171. Pavlinsky G. V., Vladimirova L.I. Approximate model for calculation of X-Ray fluorescence intensity and its use in XRF Spectrometry // X-Ray

172. Spectrometry. -1999,-V. 15 -P. 183-193.

173. Дуймакаев Ш.И., Шполянский А.Я., Тимошевская В.В. К оценке "чистого" относительного вклада избирательного возбуждения при рент-геноспектральном флуоресцентном анализе // Депон. рукопись в ВИНИТИ. -1980. -Ростов-на-Дону. №4854-80.

174. Himmelblau D.M. Applied nonlinear programming. -Texas: The University of Texas.-1972. -576 p.

175. Criss J.W., В irks L.S., Gilfrich J.V. Versatile X-Ray analysis program combining fundamental parameters and empirical coefficients // Analytical Chemistry. -1978. -V.50, № 1. -P.33-38.

176. Друзь В.В., Аллель Т.Г., Блохин М.А. Исследование способа рентге-нофлуоресцентного анализа с введением в пробу элементов сравнения // В кн.: Тезисы докладов XI Всесоюзного совещания по рентгеновской спектроскопии. -Ростов-на-Дону. -1975. -С.43-44.

177. Criss J.W. Fundamental parameters' calculations on a laboratory microcomputer // Advances in X-Ray Analysis. -1980.-V.23. -P.93-97.

178. Першин H.B., Голубев А.А., Мосичев В.И. О возможности повышения точности метода фундаментальных параметров // Заводская лаборатория -1990.-Т.56, №11. -С.5 1-55.

179. Otvos J.W., Wyld G.E., Yao Т. С, Fundamental parameter method for quantitative elemental analysis with monochromatic X-Ray sources // 4-eme

180. Colloque international sur les méthodes analytiques par rayonnements X. -Strasbourg. -1977. -P. 137-142.

181. Harmon J.C., Wyld G.E., Yao T.C. X-Ray fluorescence analysis of stainless steels and low alloy steels using secondary targets and the exact program // Advances in X-Ray Analysis. -1979.-V.22. -P.325-335.

182. Verbeke P., Nullens H., Adams F. Analysis of metals by means ofen-energydispersive X-ray fluorescence // Proc. anal. div. Chem. soc.-1978. № 1. -P. 18-21.

183. Kis-Varga M. A fundamental parameter method for analysis of alloys by isotope-exited X-Ray fluorescence // X-Ray Spectrometry. -1979.-V.8, № 2 -P.73-75.

184. Макаренко В.Г., Маренков О.С. Банк данных для автоматизации методических исследований в количественном рентгеноспектральном флуоресцентном анализе // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -1983. -JI.Машиностроение. -Вып.30. -С.152-155.

185. Борходоев В.Я. Оптимизация численного интегрирования при рентгеноспектральном анализе по способу фундаментальных параметров // Журн. аналит. химии. -1988. -Т. 43, № 9. -С.544-590.

186. Афонин В.П., Ложкин В.И., Гуничева Т.Н. и др. Автоматизация расчета концентраций при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе // В кн.: Ежегодник -1973 Института Геохимии СО АН СССР. -Новосибирск: Наука. -1974. -С.443-445.

187. Афонин В.П., Нискунова Л.Ф., Гуничева Т.Н. Методика количественного рентгеноспектрального флуоресцентного анализа многокомпонентных образцов // В кн.: Ежегодник -1974 Института Геохимии СО АН СССР. -Новосибирск: Наука. -1975. -С.322-324.

188. Афонин В.П., Пискунова Л.Ф., Гуничева Т.Н. и др. Теоретические поправки на матричные эффекты при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. -1976. -TAI, № 6. -С.670-674.

189. Афонин В.П., Гуничева Т.Н., Харченко A.M. и др. Расчет поправок на поглощение и возбуждение при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе горных пород // Заводская лаборатория. -1974. -Т. 40, № 6. -С.655-657.

190. Ciccarelli М.А. Quan-a Computer program for quantitative X-ray fluorescence analysis // Analytical Chemistry. -1977. -V.49, № 2. -P.345-346.

191. Vrebos В., Helsen J.A. Inverse formulations of the Sherman equation for X-ray spectrometry. A review of existing algoriths // X-Ray Spectrometry. -1985.-V.14, №1. -P. 27-35.

192. Manlier M. Advances in fundamental-parameter methods for quantitative XRFA /7 Advances in X-Ray Analysis. -1987. -V.30. -P.97-104.

193. Bilbrey D.B., Bogart GR., Leyden D.E. et al. Comparison of fundamental parameters' programs for quantitative X-ray fluorescence spectrometry // X-Ray Spectrometry. -1988.-V.17, №2. -P.63-73.

194. Йеллепедди P. Комплексный анализ материалов чугунолитейного и сталеплавильного производства с использованием рентгенофлуорес-центного (XRP/XRD) спектрометра // Заводская лаборатория.- 1997. -Т.63, №9. -С.58-63.

195. Nielson K.K, Sander R.W. Multielement analysis of unweighed biological and geological samples using backscatter and fundamental parameters // Advances in X-Ray Analysis. -1983. -V.26. -P.385-390.

196. Tertian R. Mathematical matrix correction procedures for X-ray fluorescence analysis. A critical survey // X-Ray Spectrometry. -1986. -V. 15,3. -P. 177-190.

197. Молчанова Е.И., Смагунова A.H., Розова О.Ф. Сопоставление различных вариантов уравнений связи при рент.спект. анализе материалов широкопеременного состава//ЖАХ . -1986.-Т.41, № 7. -С.1 183-1195.

198. Перьиин Н.В., Голубев A.A., Мосичев В.И. О возможности повышения точности метода фундаментальных параметров II Заводская лаборатория -1990.-Т.56. №11. -С.5 1-55.

199. Афонин В.П., Ревенко А.Г., Лосев Н.Ф., Харченко A.M. К выбору первичного излучения при рентгеноспектральном флуоресцентном определении элементов с малыми атомными номерами // Заводская лаборатория. -1969. -Т.35, №8. -С. 929-933.

200. Поярков В.А., Акимов A.M. Некоторые возможности уменьшения фона при РФА содержаний тяжелых элементов // Прикладная ядерная спектроскопия. -1981. -Вып. 10. -С. 159-162.

201. Рентгенотехника. Справочник в 2-х кн. под ред. В.В.Клюева. М.: Машиностроение. -1980. Книга. 2. -383 с.

202. Гоганов Д.А., Комяк НИ., Лозинский B.C. Новые пропорциональные счетчики рентгеновского излучения // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -JL: Машиностроение. -1972. -Вып.11. -С.136-145.

203. Loch G. Ein Beitrag zur Optimierung der Röntgenspectranalyse durch Verwendung spezifischer Zahlrohrgase // X-Ray Spectrometry. -1973. -V.2, № 2. -P. 125-128.

204. Ebel H., Mayer M. Practische Anwendung der RFA mit variabler Strahlengeometrie II Spectrochimica Acta. -1971. -Bd.26 B. -S.291-299.

205. Ancey M., Bastenaire P., Tixier R. Statistical control and optimization of X-Ray intensity measurements II Journal Physics D:Applied Physics. -1977,-V.10, №6. -P.817-830.

206. Акимов В.К. Определение мертвого времени рентгеновских счетчиков // В кн.: Седьмая Всесоюзная конференция по локальным рентге-носпектральным исследованиям и их применению. Тезисы докладов. -Черноголовка.-1979. -С.30-31.

207. Spatz R., Lieser К.Н. Optimization of a spectrometer for energy-dispersive X-Ray fluorescence analysis by X-Ray tubes in combination with secondary targets for multielement determination // X-Ray Spectrometry. -1979.-V.8, № 3 -P.l 10-113.

208. Павлииский Г.В., Лосев Н.Ф. К выбору первичного излучения при возбуждении спектра флуоресценции // Заводская лаборатория. -1964. -Т.30, №6. 165-168.

209. Гурвыч Ю.М., Николаев В. Н., Плотников Р.И., Раке и на П. И. К выбору условий возбуждения при рентгеноспектральном анализе малых концентраций // В кн.: Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.: Машиностроение. -1971. -Вып. 8. -С. 86-91.

210. Brown D., Gilfrich J. К, Peckerar M.C. Measurement and calculation of absolute intensities of X-Ray spectra // J. of Appl. Phys. -1975.-V.46, №10. -P.4537-4540*

211. Афонин В.П., Егоров A.M. Исследование тормозного компонента излучения рентгеновских трубок БХВ-7 и БХВ-9 // Заводская лаборатория. -1976.-Т.42, № 9. -С.1075-1076.

212. Бе тин Ю.П., Крампит И.А., Пельц С.А. Определение оптимальных условий возбуждения и регистрации при бездисперсионном рентге-носпектральном анализе // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -JL: Машиностроение. -1973. -Вып. 12. -С.47-55.

213. Oberauer Т. Feinstreinigung von Röntgenröhren // Galvanotechnik. -1997. -Bd.88, №11. -S. 3670-3672.

214. Peters son R.P., Wobrauschek P. Total reflection X-ray fluorescence analysis with an 18 kW rotating anode source First results // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. -1995. № A355. - -P. 665-667.

215. Нарбутт К.И. Возбуждение спектра монохроматическим пучком рентгеновских лучей при локальном флуоресцентном анализе // Изв.АН СССР. Сер физ. -1964.-Т.28. -С.857-861.

216. Jelen Т., Krasodomski М., Marchut A. Energy-dispersive x-ray fluores' cence (EDXRF) spectroscopy //Nafta-Gaz. -1996.-V.52, №8. -P. 353356.

217. Klockenkamper R., von Bohlen A. Elemental analysis of environmental samples by total reflection x-ray fluorescence: a review // X-Ray Spectrometry. -1996.-V.25, №4. -P. 156-162.

218. Castellano A., Cesarю R. A portable instrument for energy-dispersive X-ray fluorescence analysis of suithur // Nucl. Instrum. And Meth. Phys. Res. B. -1997. -V.129, №2. -P.281-283.

219. Волков В.Ф., Лосев В.H., Лосев Н.Ф., Синщын В.Н. Оценка возможностей и условий определения микроколичеств элементов по их третичным рентгеновским спектрам флуоресценции // Изв. СКНЦ. Ес-теств. науки. -Ростов-на-Дону -1980. №4. -С.38-45.

220. Ryon R. W., ZartJ.D. Improved X-Ray fluorescence capabilities by excitation with high intensity polarized X-rays // Advances in X-Ray Analysis. -1978. -V.22. -P.453-460.

221. Haller M., Knoechel A. X-ray fluorescence analysis using synchrotron radiation (SYXRF) // J.Trace Microprobe Tech. -1996.-V. 14, № 3. -P. 461488.

222. Кулипанов Г.H. Синхротронное излучение в комплексе международных исследований // В сб.: Интеграционные программы фундаментальных исследований. -Новосибирск: Изд-во СО РАН. -1998. -С. 505-517.

223. Жалсораев Б.Ж. Поляризационный спектрометр с новой рентгенооп-тической схемой // Тезисы докл.: «III Всероссийская и IV Сибирская конференция по рентгеноспектральному анализу -Иркутск. -1998. С .22.

224. Egorov V.K., Kondratiev O.S., ZuevA.P., Egorov E.V. The modification of TXRF-Methods using X-Ray slitless collimator // Advances in X-Ray Analysis.-2000. -V.43. -P.406-417.

225. Kumakhov M.A. Capillary optics and their use in X-Ray analysis // X-Ray Spectrometry. -2000. -V.29, №5. -P.343-348

226. Пшеничный E.A. Резонансное комбинационное (рамановское) рассеяние рентгеновского излучения и элементно-фазовый анализ // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -1988.

227. JI.Машиностроение. -Вып.37. -С.24-55.

228. Sparks С.J., Jr. Anomalous scattering proc. intev. // Congress conf. organized by the Commission on cristalogr. Apparatus of the Intern. Union of cristallography held 22-26 April 1974. -Madrid.-1976. -P.175-191.

229. Анисович К.В., Сафонов Л.А., Татьян Б.Б. Возможность анализа на элементы с Z<10 по линиям комбинационного рассеяния // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -1983. -JI.¡Машиностроение -Вып.30. -С.137-139.

230. Плотников Р.П., Маренков О.С., Николаев В.П., Сингариева Т.В. Математическое моделирование рентгенооптических схем методом Монте-Карло // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -1980. -JI.¡Машиностроение -Вып.23. -С.27-37.

231. Штауберг И. Ф.,Куликов ЕЛ. Рентгеновские трубки для спектрального анализа // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -1983. -Л.¡Машиностроение -Вып.29. -С.61-64373.

232. Kis-Varga М., Bacso J. Investigation for determining the optimum measurement geometry of Si(Li) detector X-Ray Spectrometer /7 Journal Ra-dioanalytical Chemistry. -1976. -V.31, №2. -P.407-412.

233. Плотников P.П., Закасовский Г.В. О возможности бескристального рентгеноспектрального анализа легких элементов в воздушной среде // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.: Машиностроение. -1967. -Вып.2. -С. 51-54.

234. Бондаренко Г. В. Анализ тонких.магнитных пленок методом рентгеновской флуоресценции // В кн.: Спектроскопические методы в анализе и исследование веществ в конденсированном состоянии. -Красноярск. -1979. -С. 19-29.

235. Пивоваров A.B., Рубанов И.А. Интенсивность флуоресценции от плоскопараллельного образца в направлении поверхности? противоположной облучаемой // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.: Машиностроение. -1974. -Вып. 13. -С. 158-162.

236. Конев A.B., Суховольская П.Е. Новый способ учета избирательных эффектов при рентгеноспектральном анализе многокомпонентных материалов // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.: Машиностроение. -1986. -Вып.35. -С.39-44.

237. Маланьин M.Ii, Крупенина А.П., Чернышова М.М. и др. Обогащение алмазосодержащих коренных пород и песков. // -М.: Госгеолтехиздат. -1961. -243 с.

238. Справочник по обогащению руд (В 3-х томах). Гл.ред. О.С.Богданов.Том 2. Часть 2. Специальные и вспомогательные процессы, испытание обогатимости, контроль и автоматика. -М.: Недра. -1974. -452 с.

239. Patent № 941,301 Improved Means for Sorting Grains . Int.Cl.:-G08C (B02F). Complete Specification Published: Nov.6. -1963. (Патент Великобритании от 25.01.1961)

240. А.с. СССР № 1 51 3695, от 24.09.87г., кл. В07С 5/342.

241. Patent № 1,103,591 Improvement in/or relating to analysing and/or sorting arrangements. Int.Cl.:-G 01 n 23/00 , Complete Specification Published: 21 Febriary 1968. (Патент Великобритании от 19.02.1965)

242. Patent № 1 135232, Int. CI. G01N 23/12 (Патент Великобритании от 16.03.1966).

243. Patent № 2013335 A , Int. CI. G01N 23/00 (Патент Великобритании, от 29.01.1979).

244. Старчик Л. П, Горлов Ю.И., Цораев В. Т., Горлов Ю.В. А.С. СССР , № 988377 Устройство для сепарации кусков материалов. М. кл.(З) В 07 С 5/34, опубл. 15.01.83.

245. Каган Б.С., Лапенко В.В., Левитин А.И., Фрумкин С.П. Пространственное распределение интенсивности излучения рентгеновских трубок типа БХВ-6 и БХБ-7 // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Л.: Машиностроение. -1981. -Вып.25. -С. 39-41.

246. Philibert 1. A method for calculating the absorption correctioin functions for electron probe microanalysis // X-ray optic and microanalysis. N.Y. -1963. P.379—392.

247. Reiter W. Ionization function and its application to the electron probe analysis of thin films // X-ray optic and microanalysis. -1972. P. 121 —130.

248. Лаврентьев Ю.Г., Бердичевский Г. В., Чернявский Л.И. Модель «эффективной глубины» в рентгеноспектральном микроанализе // Заводская лаборатория. -1979.-Т. 45, №11. -С.998—1003.

249. Tomlin S.G. The penetration of electrons into matter//Proc. Phys. Soc. -1963. №82.-P.465.

250. Ileinrich K.F.J Optique des Rayons X et Microanalysis. -Paris:Hermann. -1966. -159 p.

251. Springer G. Die berechnung von korrekturen fur die quantitative elektronenstrahl-microanalyse // Fortschr. Mineral. -1967. Bd 45, № 1. -S.103-124.

252. Wilson R. R. Range and ionization measurements on high speed protons // Phys. Rey. -1941.-V.60, №11. P.749-753.

253. Berger M. I.,Seltzer S. M. / Nab.Res.Consil.Washington:National Academy of Sciences. -1964, № 1133. P. 205.

254. Brown D.B., Gilfrich J. V., Peckerar H.C. Measurement and calculation of absolute intensities of X-ray spectra// J. Appl. Phys. -1975.-V. 46, №10. -P.4537-4540.

255. Закс Л. Статистическое оценивание. -М.: Статистика. -1976. -598 с.

256. Лебедь В.И., Афонин В.П. Расчет спектральной интенсивности излучения рентгеновских трубок с анодами прострельного типа // Заводская лаборатория . -1983. -Т.49, №2. -С.26-29.

257. Финкельштейн А.Л., Афонин В.П. К учету поглощения излучения рентгеновских трубок в аноде прострельного типа // Заводская лаборатория. -1986.-Т.52, №8. -С.25-26.

258. Морговский Л.Я., Курбатов В.M. Особенности спектрального состава излучения импульсных рентгеновских генераторов // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -JL: Машиностроение . -1977. -Вып. 18 . -С.175-179.

259. Broil N., Tertian R. Quatitative X-ray fluorescence analysis by use of fundamental influence coefficients // X-Ray Spectrometry. -1983.V.12, №1,-P. 30-37.

260. Rousseau R. Fundamental algorithm between concentration and intensity in XRF analysis. 1 Theory // X-Ray Spectrometry. -1984.-V.13, № 3. -P.l 15-120.

261. Afonin V.P., Finkilshtein A.L., Borkhodoev V.Ja, Camicheva T.N. X-ray fluorescence analysis of rocks by fundamental parameter method // X-Ray Spectrometry. -1992.-V.21. №1. -P.69-75.

262. Finkelshtein A. L.,Pavlova Т.О. Calculation of X-Ray Tube Spectral Distributions//X-Ray Spectromtnry.-1999. V.28, №1. -P.27-32.

263. Pavluisky G. V. Formation of X-Ray fluorescence of elements with low atomic number // The Nucleus. Pakistan. -1995. -V.32, № 3-5. -P.l 19124.

264. Симаков В.А., Исаев B.E. Метод фундаментальных параметров в рентгеноспектральном анализе. Использование внутреннего стандарта при расчете матричных поправок // Журнал аналит.химии.-1999.-Т.55, №7. -С.695-698.

265. Fatemi М, Birks L.S. On obtaining consistent solutions of empirical equations in X-Ray fluorescence // Analytical Chemistry. -1973.-V. 45, № 8. -P.1443-1447.

266. FlaenuncKidi Г.В., Китов Б.И., Сидоровский А.Н., Лосев Н.Ф. Расчетный вариант способа внутреннего стандарта // В кн.: Тезисы докладов XI Всесоюзного совещания по рентгеновской спектроскопии. -Ростов-на-Дону. -1975. -С.24-25.

267. Пивоваров А.В., Рубанов И.В. Анализ веществ методом двусторонней регистрации рентгеновской флуоресценции // Аппаратура и методырентгеновского анализа. -JL: Машиностроение. -1972. -Вып.11. -С.115-123.

268. Tertian R. Discussion of "Quantitative X-Ray fluorescence analysis using solid solution specimens a theoretical study of the influence of the quality of primary radiation" -A reply // Spectrochim. Acta. -1972.-V.27, №5. -P.155-157.

269. Павлинский Г.В., Китов Б.И. О монохроматическом приближении при расчетах интенсивности рентгеновской флуоресценции // Заводская лаборатория,-1980. -Т.46, №6. -С. 502-505.

270. Смагунова А.Н., Молчанова Е.И., Усова EJI. Учет фона при рентгенофлуоресцентном определении малых содержаний элементов в сталях // Журн.аналит.химии. -1987. -Т.42, № 10. -С. 1797-1807.

271. Mitchell B.J., Hopper N. Digital computer calculation and Correction of matrix Effects in X-Ray Specrtoscopy // Appl. Spectoscopy. -1966. -V.20, №3. -P. 172-180.

272. Якубович А.Л., Пржиялговский C.M., Рощина И.А., Цамерян И.А. Об эффекте избирательного возбуждения // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -JL: Машиностроение. -1975. -Вып. 17. -С.126-132.

273. Jenkins R., Hurley P. W. Effects of surface finish in the X-Ray fluorescence analysis of bulk materials // 12th Colloq. Spectroscopicum Intern. Exter. -1965. -London: Hilger&Watts Ltd. -1965. -P.444.

274. Stankiewicz W., Fudal A., Scislewski J. Effect chropowatosci powierzchni w rentgenjfluorescencyjnej analizie probek proszkowych // Rudy i Metale nezelazne. -1983. V. 28, № 2. -S.57-61.323

275. Шульц В.Д., Алексушин И.Н. Влияние размеров частиц однофазной порошковой пробы на результаты рентгеноспектрального флуоресцентного анализа // Заводская лаборатория. -1987.-Т.53, № 3. -С. 8486.

276. Рентгенофлуоресцентный анализ. Применение в заводских лабораториях. Под ред. X. Эрхардта . М.: Металлургия. -1985. -256 с.

277. Шульц В.Д., Алексушин И.Н. Ренггеноспектральное определение молибдена в порошковых пробах ферромолибдена /7 Заводская лаборатория. -1988. -Т.54, № 10. -С.101-103.

278. Сквайре Д. Практическая физика . -М.: Мир. -1971. 246 с.

279. Горелик А.П., Скрипкин В.А. Методы распознавания. Учебн. пособие для вузов. -М.: Высшая школа, -1977. -222 с.

280. Ту Дж., Гонсалес Р. Принципы распознавания образов/ -М.: Мир. -1978. -412с.

281. Мокроусов В.А., Лилеев В.А. Радиометрическое обогащение нерадиоактивных руд. -М.: Недра. -1977. -192 с.

282. ПУБЛИКАЦИИ ПО ТЕМЕ ДИССЕРТАЦИИ

283. Pavlinsky G.V., Kitov B.I. Influence of divergence of the Primary radiationbeam on the line intensity of the X-Ray fluorescence spectrum // X-Ray Spectrometry. -1979. -Y.8, №3. -P.96-101.

284. Павлинский Г.В., Китов Б. И. Оценка погрешности монохроматическоймодели возбуждения рентгеновской флуоресценции неоднородным первичным излучением // Заводская лаборатория . -1982. -Т.48, № 4. -С.21-24.

285. Китов Б.И., Павлинский Г.В. Эффективные характеристики расходящегося пучка первичного излучения для некоторых рентгеноспектраль-ных аппаратов//Заводская лаборатория. -1981. -Т.47, №12. -С.34-35.

286. Павлинский Г.В., Китов Б.И. О монохроматическом приближении прирасчетах интенсивности рентгеновской флуоресценции // Заводская лаборатория. -1980. -Т.46, №6. -С.502-505.

287. Павлинский Г.В., Китов Б.П., Тюменцев В.Н., Хайдурова Е.А. Возбуждение L -спектров флуоресценции жестким рентгеновским излучением // В кн.: XIII Всесоюзное совещание по рентгеновской и электронной спектроскопии. -Львов. 1981. -С. 57-58.

288. Павлинский Г.В., Китов Б.И., Лосев Н.Ф. Компенсация избирательных эффектов в рентгеноспектральном флуоресцентном анализе // В кн.:

289. Физические и математические методы в координационной химии. -Кишинев: Штийница. -1974. -С.165.

290. Китов Б.И., Павлинский Г.В. Влияние условий проведения рентгеноф-луоресцентного анализа на воспроизводимость определений высоких содерданий элементов // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -Д.: Машиностроение. -1981. -Вып.25. -С.55-61.

291. Павлинский Г.В., Китов Б.П., Лосев Н.Ф. Способ устранения влияния эффекта избирательного возбуждения при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. 1974.-Т.40, № 9. -С.1083-1087.

292. Павлинский Г.В., Китов Б.И., Таскаев В.И. О способе рентгенофлуо-ресцентного анализа с поправками на поглощение // Заводская лабо-оратория. 1979. -Т. 45, № 6. -С.519-522.

293. Павлинский Г.В., Китов Б.И., Сыдоровский А.Н., Лосев Н.Ф. Расчетный вариант способа внутреннего стандарта //В кн.: Тезисы докладов XI Всесоюзного совещания по рентгеновской спектроскопии. Ростов-на-Дону. 1975. -С.24-25.

294. Китов Б.И. , Павлинский Г.В. Об алгоритме расчета концентраций способом фундаментальных параметров при рентгенофлуоресцентном анализе //Депонирование в ВИНИТИ 1.06.1981 , № 2608-81. -26с.

295. Китов Б.И., Имешкенова H.H., Тюменцев В.Н. Автоматизированная обработка результатов рентгеноспектрального эксперимента по схеме многофакторного дисперсионного анализа // Депонирование в ВИНИТИ 9.03.1982. № 971-82. -14с.

296. Павлов С.Л., Китов Б.И., Павлинский Г.В. Расчет интенсивности рентгеновского спектра флуоресценции на ЭВМ М-6000 //Депонирование в ВИНИТИ 16.04.1982. № 877-82. -11с.

297. Павлов С.Л. , Китов Б.И., Павлинский Г.В. Программа расчета интенсивности рентгеновской флуоресценции на ЭВМ М-6000 аналитического комплекса // Аппаратура и методы рентгеновского анализа Л.: Изд-во Машиностроение. -1983. -Вып.31. -С. 124-128.

298. Смагунова А.Н., Розова О. Ф.,Китов Б.И., Панъков С.Д. Использование ЭВМ при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе // Депонирование в ВИНИТИ 9.03.1985. № 1655-85. -33 с.

299. Смагунов A.B., Китов Б.И.,Завьялова Л.Н. Влияние качества поверхности образца на результаты рентгеноспектрального анализа магниевыхсплавов // в кн.:1 Всесоюзное совещание по рентгеноспектральному анализу. -Орел: Ротапринт ПО Научприбор. -1986. -С.25.

300. Смагунова А.Н., Розова О.Ф., Китов Б.И., Козлов В.А. Использование ЭВМ при рентгеноспектральном флуоресцентном анализе вещества // Журнал аналитической химии. -1987. -Т.42, №1. -С.29-42.

301. Павлинский Г.В. , Китов Б.И., Тюменцев В.Н. Роль рентгеновского излучения высоких энергий в возбуждении L-спектра флуоресценции // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. -JL: Изд-во Машиностроение. -1987. -Вып. 36. -С.49-53.

302. Смагунов A.B., Карпукова О.М., Китов Б.И., Мельникова P.A. Рентге-носпектральный анализ магниевых сплавов // Заводская лаборатория. — 1987.-Т.53,№4. -С.23-25.

303. Китов Б.И., Селезнев В.В., Павлииский Г.В. Теоретическое описание спектра рентгеновской трубки с массивным анодом // в kh.:XV Всесоюзное совещание по рентгеновской и электронной спектроскопии. -Л.: Ротапринт Л НПО Буревестник. -1988. -С.8-9.

304. Китов Б.И., Смагунов A.B., Портнов М.А. Интенсивность рентгеновской флуоресценции образцов с шероховатой поверхностью // в кн.:ХУ Всесоюзное совещание по рентгеновской и электронной спектроскопии, -Л.: Ротапринт ЛНПО Буревестник. 1988. -С.26-27.

305. Китов Б.И., Смагунов А.В., Портнов М.А. Влияние качества поверхности излучателя на интенсивность рентгеновской флуоресценции // Депонирование в ВИНИТИ 33.04.1988. № 3149-В88.-21 с.

306. Китов Б.П., Селезнев В.В., Павлинский Г.В. О расчете спектра рентгеновской трубки с массивным анодом // Заводская лаборатория. -1989.-Т.55, №12 -С.21-23.

307. Portnjv М.А., Kitov B.I., Smagounov A.V., Seleznev V.V. Microgeometrical effects of the sample surface in the RFA, polychromatic approximation // XI Conference on Analytical Atomic Spectroscopy. -Moscow : Nauka. -1990. -P. 373.

308. Китов Б.И., Смагунов А.В., Портнов М.А. Влияние качества поверхности образца на интенсивность аналитической линии при рентгеноф-луоресцентном анализе // Журнал аналитической химии. -1990.-Т.45, №10. -С.1927-1933.

309. Китов Б.И. , Ревенко А.Г., Копылов С.Э. Принципы организации баз аналитических данных рентгеноспектральных лабораторий // Тезисы докладов XIV Уральской конференции по спектроскопии. Екатеринбург: Из-во УГТУ. -1999. -С. 190-191.

310. Китов Б.И. Регуляризируютцая процедура для способа фундаментальных параметров при рентгенофлуоресцентном анализе // Журнал Аналитической химии. -М.: Наука. -2001-Т.56, №2. -С. 151-156.

311. Kitov B.I. Calculation Features of the Fundamental Parameter Method in XRF // X-Ray Spectrometry. -2000.-V.29. -P.285-290.

312. Для проведения испытаний по методике, утвержденной от 15.01.2001 г., была отобрана проба концентрата СЛБ (разомкнутая комбинированная схема) весом 36,5 кг и сменная касса доводки крупностью -5+2 мм весом 1.58 кг

313. Перед технологическими испытаниями проведена ревизия экспериментальногообразца:

314. Пространственное положение рентгеновской трубки, коллиматора, полупрозрачного экрана, детектора было приведено в соответствие с рекомендациями разработчика. С помощью люминесцирующего экрана была проведена юстировка рентгенооптической схемы.

315. Механически доработан узел отсечки, увеличена высота делительной перегородки.

316. Угол У-образного профиля лотка растягивающего вибропитателя в зоне разгрузки уменьшен до 60°.

317. Оптимизировано положение места разгрузки растягивающего лотка и приемного окна устройства отсечки.

318. Лабораторией физики алмазов НИИПФ ИГУ (акт от 22 ноября 2000г) былирекомендованы следующие режимы работы:

319. Напряжение на рентгеновской трубке (UpT) 34 кВ

320. Ток на рентгеновской трубке (1рт) 55 мкА

321. Напряжение ФЭУ (ифэу) 700 В

322. Порог дискриминации (ип0р) 1,5 В

323. Длительность транспортной задержки (тзад) 104 мс

324. Длительность импульса отсечки (т0ТС ) 47 мс, в том числе:прямой ход 20 мсудержание 20 мсвозврат 7 мс

325. Производительность макета 1,77 кг/ч

326. Технологические испытания проводились на концентрате СЛБ крупностью -5+2 мм. Хвосты макета абсорбционного сепаратора контролировались малогабаритным лабораторным сепаратором.

327. Ситовая характеристика концентрата СЛБ: +5 мм 17,3% -5+2 мм 60,8% -2+1 мм 21,9%

328. Насыпной вес 1 л составил-1,73кг

329. Результаты испытаний макета при рекомендованных режимах представлены в таблице 1.

330. Вес пробы, Отсечки, Минералы, Алмазы, Извлечение,г шт. шт. шт. %концентрат кон-т хвосты500 103 28 45 3 93,4500 112 34 43 2 95,5

331. Так как получено недостаточно высокое извлечение алмазов, было решено откорректировать режимы, установленные разработчиком. Результаты испытаний представлены в таблицах 2 (подбор режимов при проведении испытаний) 3 (распределение алмазов по продуктам).