Исследования состояния поверхности эмульсионных микрокристаллов галогенидов серебра методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии тема автореферата и диссертации по химии, 02.00.04 ВАК РФ

РГ6 од

1 С АВ '

На правах рукописи

Гуэенко Алексей Федорович

ИССЛЕДОВАНИЕ СОСТОЯНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ЭМУЛЬСИОННЫХ ШКГОКРИСЕАШГОВ ГАЛОГЕНИДЭВ СЕРЕБРА МЕТОДСМ РЕНТГЕНОВСКСЙ ФОТОЭЛЕКТРОННСЙ СПЕКТРОСКОПИИ

/специальность 02.00.04 - физическая химия/

Автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук

Кемерово 1996

Работа выполнена на кафедре экспериментальной физики ровского государственного университета Научный руководитель: кандидат химических наук,

доцент

Колесников Лев Васильевич.

Официальные оппоненты: доктор технических наук,

профессор

Мэскинов Виталий Алексеевич,

доктор физико-математических наук, профессор

Мазалов Лев Николаевич.

Ведущая организация: Институт Катализа СО РАН (г. Новосибирск).

Защита диссертации состоится "16" декабря 1996 г. часов на заседании Совета по защите диссертаций Д.064.1' Кемеровском государственном университете в зале заседания (650043, г.Кемерово, ул.Красная, 6)

С диссертацией можно ознакомиться в библиотеке Кемерс государственного университета.

Автореферат разослан " 1 " ноября 1996 г.

Ученый секретарь

Совета Д.064.17.01,

кандидат химических наук, доцент

Б.А. Сечкаре

ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ дальность проблемы. Использование галогенидов серебра в лро-эдстве фотографических материалов обусловлено сочетанием их сальных физико-химических свойств. Основные стадии фотографи-сого процесса протекают на поверхности микрокристаллов (МК) згенидов серебра. Химическая (ХС) и спектральная сенсибилиза-(в совокупности с современными способами увеличения их эф-сивности ) - преимущественно поверхностные процессы, так же и .проявление. Если в понятие поверхности включить и внутрен-границы МК (блочные границы в Т-кристаллах, поверхность ядра К "ядро/оболочка" и т.п.), то следует прийти к выводу, что сояние поверхности играет важную роль в направлении и эффек-юсти фотографического процесса. Кроме того, преднамеренная 1фикация поверхности с применением поверхностно-активных ве-:в является одним из кардинальных направлений фотографической 1и. Несмотря на очевидность таких представлений, фотографиче-I наука располагает крайне ограниченными сведениями о.физико-хческих свойствах поверхности реальных МК, что объясняется юзненным характером проведенных исследований. При этом суще-гет ряд противоречий в анализе экспериментальных результатов физико-химическим свойствам АдНа1, а также практически от-:твуют данные по сопоставлению изменений состояния поверхно-с характеристиками фотографических систем, что вызывает зходимость дальнейшего комплексного исследования МК галогени-серебра. В связи с этим в работе поставлена задача: методом теновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) в рамках на-зго сопровождения технологии" получения эмульсий различного £ачения исследовать состояние поверхности МК АдНа1 различного 1т^са, галоидного состава, структуры, при изменении рАд ра->ра, до и после химической сенсибилизации, а также влияние эрбции различных фотографически активных добавок.

Далью работы является:

L. Создание автоматизированной установки для получения рена яовских фотоэлектронных спектров и программного обеспечения лх обработки и документирования.

2. Разработка подхода для анализа состава поверхности и при]: взаимодействия фотографически активных добавок с МК галогена-серебра при варьировании параметров синтеза.

3. Сопоставление полученных результатов с условиями синтез оптимизации фотоэмульсий с целью установления взаимосвязи с гографическими характеристиками.

Научная ттонизна: Впервые методом РФЭС проведено систематичес исследование состояния поверхности МК AgHal различного габитз галогенидного состава, структуры, при изменении рАд раста хранения, до и после химической сенсибилизации, адсорбции стг лизаторов вуали на поверхности AgHal. Показано, что:

- отношение [Ag]/[Hal] зависит от габитуса МК AgHal;

- для МК AgBr кубической и октаэдрической огранки при увелич« рАд раствора хранения отношение [Ад]/[Вг] практически не изм« ется в области 1<рАд<8 и значительно уменьшается при дальнее увеличении рАд;

- рАд раствора хранения для МК Agi р-модификации не изменяет ( хиометрии поверхности, тогда как для ^-модификации при выс< значениях рАд отношение [Ад]/[1] уменьшается;

- в спектрах эмульсионных МК АдВг после ХС обнаружено прису вие серы, по энергии связи соответствующей элементарной;

- показана взаимосвязь условий синтеза и состава поверхности Ад(Br,I);

- установлено различие во взаимодействии стабилизаторов с се]

«

ром в растворе и на поверхности AgBr.

Достоверность экспериментальных результатов обосновывается зеркой на тест - объектах и статистической обработкой прк ведении исследований.

этическая значимость: Результаты работы показывают, что усло-синтеза эмульсионных МК АдНа1 оказывают существенное влияние состояние поверхности. Полученные данные могут быть использо-л с целью выработки рекомендаций для оптимизации фотографиче-< характеристик на различных этапах синтеза, например при эре условий синтеза смешанных МК Ад(На11,На12) с необходимым этением [На!^] / [На12].

длй вклад автора заключается в проведении всего комплекса ра-по модернизации электронного спектрометра ЭС-3201; выполне-всех экспериментальных работ, представленных в диссертации; овместном с научным руководителем обсуждении полученных ре-.татов'; в проведении части расчетов методом частичного пре-эежения дифференциальным перекрыванием (ЧЦЦП) . авныз зашупцаемыэ положения.

сспериментально обоснованный подход к анализу природы химсд-I и изменению энергии релаксации при исследовании эмульсион-МК АдНа1;

эзультаты по составу поверхности эмульсионных МК АдНа1 раз-юго габитуса, структуры, до и после химической гибилизации;

эдель адсорбции стабилизаторов вуали на поверхности золей

>бация работы. Материалы диссертации докладывались на Всесо->й конференции "Физические процессы в светочувствительных си-ах" (Кемерово, 1986), на Международных симпозиумах по (графической науке (Дрезден, 1989, Германия, Пекин, 1990, Ки-рочестер, 1994, Вашингтон, 1995, Миннеаполис, 1996, США), Всесоюзной конференции по физике вакуумного ультрафиолета

(Иркутск, 1989), на Международном симпозиуме по фотохимии и гофизике (Пардубице, 1989, Чехословакия), на Всесоюзных сове лиях "Радиационные гетерогенные процессы" (Кемерово, 19 L995), на V Всесоюзном симпозиуме "Фотохимические и фотофизи 2кие процессы в галогенидах серебра" (Черноголовка, 1991), /III Международном симпозиуме по реакциям в твердых телах ( I эург; 1996, Германия) . Основные результаты изложены в 18 печ тлх работах.

Структура и обгьем диссертации. Диссертация состоит из введен пяти' глав, выводов и списка литературы. Работа содержит страниц машинописного текста, иллюстрирована 48 рисунками работе приводятся 24 таблицы. Список используемой литературы держит 122 наименования.

КРАТКОЕ СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ

В первой главе . приведен обзор и анализ известных экспе ментальных и теоретических данных по исследованию состояния верхности галогенидов серебра различными поверхност чувствительными методиками.

Состояние поверхности примитивных МК AgHal исследовал: различными поверхностно-чувствительными методиками (ультрафис товая и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-спе роскопия и др.). Показано, что в некоторых случаях поверхнс МК AgHal обогащена галогеном, хотя причины этого в данных рг тах обычно не рассматриваются.

До настоящего времени остается открытым вопрос об измене энергии связи серебра в галогенидах серебра. Некоторые авч [1] предлагают использовать энергию связи серебра как стан; для учета заряжения поверхности образцов. Также обсуждаются просы об изменении энергии связи серебра совместно с измене! кинетической энергии его оже-линий и энергии релаксации. Тес тичэские расчеты и экспериментальные методы исследовг

ояния поверхности показывают наличие релаксации и реконст-ии поверхности твердых тел, в частности Ж АдНа1. Составу поверхности композиционных систем на основе галоге-в серебра в литературе уделяется достаточно пристальное вни-е. По данным различных авторов содержание иода и профиль его ентрации либо соответствует, либо не соответствует расчетно-что связано с условиями синтеза микрокристаллов. Имеется ряд работ по изучению состояния поверхности МК 1 после адсорбции фотографически активных компонент (сенси-заторов, стабилизаторов, антивуалентов, модификаторов роста) дом РФЭС. Однако при анализе приведенных данных возникает противоречий, а также отсутствуют работы по систематическому едованию всего комплекса факторов, влияющих на состояние по-ности реальных МК АдНа1.

Обсуждаются работы, посвященные исследованию органических кул, в спектрах которых обнаружены сателлиты встряски аке-ир"). Рассмотрены подходы, позволяющие описать . физиче-природу данных сателлитов, а также положение относительно вного пика и интенсивность.

Во второй главе описана модернизация спектрометра ЭС-3201 в геноэлектронный. Приведена конструкция созданного рентгеново источника с двойным анодом (А1/7г), который при работе пол удовлетворительные эксплуатационные характеристики пс нению с параметрами рентгеновских источников ведущих мировых -производителей рентгеноэлектронных спектрометров. Елок пия рентгеновского источника был изготовлен на основе прора-и конструкций отечественных и зарубежных прибороЕ огичного класса.

Для автоматизации процесса управления, сбора и обработка рмации на данном спектрометре была выбрана микро-ЭВМ ДВК-31-отерфейсом КАМАК (рис.1) . В качестве основы программы дл^

обработки РФЭ-спектров была использована программа, разрабо1 ная в группе гетерогенного фотокатализа ИК СО РАН (г. Hobi бирск) для электронного спектрометра ЭС-2401. Она i адаптирована и дополнена с учетом возникающих при работе пот] ностей. Полностью был переписан пакет подпрограмм по управл' спектрометром, а также процедуры хранения и документирования лучаёмой информации. Программа написана на языках Фортран-] Макроассемблер. Данная программа также реализована для ыикро типа IEM PC с возможностью обмена файлами в операционных си мах RT11, RSX и MS-DOS.

Рис.1 Елок - схема экспериментальной установки (1 - микроэвм ДВК-ЗМ, 2-ходной регистр, 3 - цифроаналоговый преобразователь, 4 - высоковольтный литель, 5 - таймер, 6 - уашитель/дис1фими1!атор/формирователь, 7 - счет 8 - ионизационная кювета, 9 - энергоанализатор, 10 - вторичный электро1 умножитель, КК - контроллер интерфейса Камак) .

Для синтеза эмульсионных МК АдНа1 использовалась двухст ная технология. Для анализа методом РФЭС полученные эмульсис МК АдНа1 подвергались отмывке ферментом.

Также в данной главе изложены основные положения по ка"ч венному и количественному анализу рентгеноэлектронных спектр!

В третьей хотаве приведены результаты анализа использ^ при синтезе желатины. В количестве, отличном от следового, идентифицированы углерод, азот, кислород, фосфор, кальций и ра. Данные химические элементы либо входят в состав макромш желатины, либо их присутствие обусловлено её кислотно - щелс

откой. Основной компонентой в спектре является линия угле-которая имеет сложную форму. После разложения данной линии гементарные составляющие пик с максимальной интенсивностью юставлен в соответствие алифатическому или ароматическому оду с энергией связи Ej, = 285.0 эВ. В дальнейшем, если не рено особо, данный пик использовался как внутренний сган-для контроля заряжения исследованных образцов в процессе кания фотоэлектронов.

Отсутствие химсдвига линии Ag 3d между AgBr и Ад было объ-ю следукщим образом:

ДЕ (MW) - ДЕ(М) = 2AR (M*) (1) Е (М) - изменение энергии Ag 3d состояния между AgBr и Ад, V) - изменение кинетической энергии Ад MjW между AgBr и Ад M*) - изменение энергии релаксации ( в основном внеатомной) ¡ечном однократно ионизованном состоянии. Наблюдаемое в экс-[енте ДЕ^ (М) = 0 эВ и ДЕ (MjW) = 2.0 эВ дало возможность юложить, что химический сдвиг между металлическим и ионным ¡ром маскируется процессами релаксации в конечном состоянии, ¡ный эффект наблюдался при исследовании адсорбции хлора на >хности серебра [2]. Анализ спектров МК AgBr показал, чтс увеличении рАд раствора хранения наблюдается симбатное изме-: энергий связи серебра, брома и энергии релаксации, свиде-;твуюцее о модификации приповерхностного слоя при изменении

Известно, что при рАд = 6 и рАд = 13.1 Agi кристаллизует-различные решетки. Дпя.МК Agi у- и р-модификации наблюдает-1 же тенденция изменения энергии связи серебра, кинетической тии Ag MjW и энергии релаксации от рАд раствора хранения, 1 для МК AgBr октаэдрического и кубического габитуса. Анализ состава поверхности AgHal, полученных неконтролируе-синтезом (золей), показывает, что их поверхность содержит

избыток галогена. Отношение атомных концентраций [Ag]/[Hai] AgI выше, чем в' МК АдВг кубической и октаэдрической огранки, нии брома и иода в примитивных МК AgHal практически всегда рены, что свидетельствует о наличии в приповерхностном адсорбированных молекул Вг и I.

2.00

0.00

Металл ' • КуОы

Oicx здэлле»

4.00 8.00

рДд

0.00

5.00 15.00

10.00

рАд !

Рис.2 Зависимость отношения [Ад]/[Вг] и [Ад]/[1] МК АдВг кубического и эдрического габитуса и Ж Agi у- и ß-модификации от pAg ( (1) -ß-модИфи»

(2) -у-модификация) . Для МК AgHal, которые эдранились при различных рАд до п

лизации, изменений в РФЭ-спектрах практически не наблюдалс отличие от эмульсионных МК, которые выдерживались при рАд : гидролизации. Особенности изменения спектров в последнем с качественно совпадают с таковыми для золей.

В заключении рассмотрены возможные причины отклонена стехиометрии в МК AgHal. Кривую зависимости отношения [Ад]

-10-

g раствора хранения (рис.2) для октаздрических и кубических Вг можно разделить на две области. В диапазоне рАд от 1 до начительное отклонение от стехиометрии в пользу брома может объяснено модификацией поверхности. При данных значениях тношение [Ад]/[Вг] для кубических и октаздрических Ж прак-ки совпадает, что дает возможность предположить формирова-убооктаэдрических МК. В области рАд от 8 до 11 наблюдается твенное отклонение от стехиометрии в пользу брома, причем ктаэдров отношение [Ag]/[Br] меньше, чем для кубов. Данный может быть объяснен тем, что в этой области рАд происходит рование огранки, свойственной полярным поверхностям. Можно ить, что ХС проводится при рАд»8.5, когда отношение [Вг]->1.

Отношение [Ag]/[I] для МК Agi р-модификации практически не ит от рАд раствора хранения, тогда как для ^-модификации при их значениях рАд оно уменьшается. Если учесть тот факт, что 'словиях синтеза, характерных для МК p-Agl, получается чис--фаза, тогда как не удается подобрать такие условия синте-i которых возможно осуществить получение чистой у-фазы, то предположить превалирование р-фазы при высоких значениях МК Agi у-модификации.

3 четвертой главе приведены результаты исследований состоя-, оверхности смешанных МК Ag(Br,I), а также типа ядро/оболоч-g(Br, I)/AgBr и AgBr/Ag (Вг, I) . В плане задач разработки рафических систем ядро/оболочка совместно с лабораторией за, проводилась работа по анализу состава смешанных МК ,1). Сопоставление полученных данных и условий синтеза по-о, что при концентрациях иода в растворе больше 5 моль %, «держание в приповерхностной области МК в два и более раз сходит ожидаемое (рис.3). Изменение скорости подачи реаген-[риводило к равномерной сокристаллизации в пределах границ

смешиваемости. Эти скорости подачи и использовались при нарг вании оболочки.

При заращивании кристаллов с большим содержанием иода в ре оболочкой АдВг на поверхности наблюдается присутствие иода Возможным объяснением наблюдаемого факта является десорбция т, при наращивании оболочки и его повторная рекристаллизация окончании синтеза или неоднородное заращивание ядра оболочкой

е.со la.aa го.00

Кэнцвнтрщиж иола, моль 1

Еис.З Зависимость концентрации иода на поверхности смешанных МК Ag(Br,I) данным РФЭС от рассчитанной из условий синтеза ( (1) - синтез, (2) - РФЭ

На основе полученных экспериментальных данных можно еде) следующие выводы. Отработана методика контроля содержания i на поверхности смешанных МК Ag(Br,I). Причина обогащения пов( ности иодидом можег заключаться в образовании зародышевых Agi, которые сохраняются в растворе после завершения синт< Далее происходит их растворение и конверсия оболочки по меха: му Оствальда. Обнаружено, что состояние поверхностного ио, отличается от решеточного и проявляется в разнице энергий свя В пятой хшава исследована адсорбция серосодержащих про, тов на золи АдВг, изменение состояния поверхности МК АдВг кг ческого и октаэдрического габитуса в кинетике ХС, а т, адсорбция различных стабилизаторов вуали фотографических эм; сий на поверхности золей АдВг.

Отношение [Ag] / [Вг] на поверхности МК AgBr при ХС не изме-!ся для кубических МК и увеличивается для октаэдрических. соответствует общей тенденции изменения стехиометрии поверх-и при изменении рАд. Учитывая, что синтез кубических МК осу-вляется при рАд=10, а ХС проводится при рАдк8.5, отношение / [Вг] на поверхности октаэдрических МК должно совпадать с вым для кубических.

Состояние серы на поверхности исследовалось при добавлении ульфата натрия в растворы, содержащие золь AgBr ( 1СГ3 - 1(Г5 Na2S203A^nb Ад) . При концентрации 1СГ3 моль Na2S203/Monb Ад на рхности золей AgBr обнаружена сера в состоянии, соотвегст-,ем сульфиду серебра. При более низких концентрациях тиосуль-, в том числе и обычно принятых при ХС, на золях и МК AgBr тифицирована сера в состоянии, соответствующем элементарной, может означать, что концентрация сульфида серебра на поверх-и эмульсионных МК меньше чувствительности метода РФЭС. При-образования . элементарной серы могут быть связаны с утствием карбонатов в реакторе при синтезе [3]:

Na2S203 + 2С02 + 2Н20 -> 2NaHC03 + H2S03 + S (2) Проблема стабилизации вуали созревания остается актуальной, ко, несмотря на достигнутые технологические успехи, причины льзования тех или иных соединений остаются неясными. В связи им в работе исследованы: тетраазаинден (ТАИ), некоторые его вводные, фенипмеркаптотетразол (ФМТ) и нитробензимидазол ).

В таблице 1 приведены результаты расчета методом ЧПДП рас-еления зарядов на атомах исследованных соединений в основном оянии и в ряде таутомерных форм, а также энергии связи ато-азота, кислорода, серы, серебра и брома в свободном состояв соединении с серебром и на поверхности золей AgBr.

Сопоставление форм линий N для ТАИ в свободном состс -и, в соединении с серебром, на поверхности АдВг и зарядов, г /ченных методом ЧПДП(рис.4,5), позволило предположить, что 1 его производные существуют в кето-форме Ш6Н) в свободном с гоянии. Совпадение характеристик спектра для ТАИ и его про» эдных в свободном состоянии и на поверхности АдВг моя видетельствовать о том, что механизм адсорбции заключается утеснении протона при взаимодействии с серебром. При взаимоде гвии ТАИ и его производных с ионами серебра в растворе наблкд гея вырождение линии N 1б, энергия связи Ад 3с1 увеличиваете го свидетельствует об образовании комплексов серебра, что отх ается от взаимодействия ТАИ при адсорбции на поверхности.

0.204 е -0.341 е

О

1

/\

II] 12]

N Л

V41

-0.52 е н ^

-0.124 е

Рис.4 Структурная формула ГйИ с указанием зарядов на атомах азота, рассщ танных методом ЧПДП ([*] - нумерация атомов, использованная при расчете)

ФМТ в свободном состоянии существует в меркаптоформе. сновании изменения энергий связи серебра, азота(рис.6) и серь оединении ФМТ с серебром можно предположить, что, как и д АИ, происходит комплексообразование. При адсорбции на поверх! ти золей АдВг наблюдается увеличение энергий связи серы и азе о сравнению с энергиями связи исходного ФМТ, что позвол; редположить взаимодействие ионов серебра с атомами азота и с ы. Этим можно объяснить более высокую теплоту адсорбции ФМТ равнению с другими исследованными стабилизаторами) на поверх! :ти золей АдВг.

1л

н.—

Обнаружен "shake-up" сателлит в спектрах линий N Is (pic. 7) ) Is при исследовании НБИ, который связан с релаксацией пр& оионизации [4]. Использование процедуры разложения линии £ соответствующего нитрогруппе НБИ и его соединения с сереб-:, показало, что данный пик не является элементарным. Для ¡сортности разложения бьш введен дополнительный пик. Сумме егралов пика КГ Is нигрогруппы и сателлита "shake-up" равна усумме интегралов пиков N Is, соответствующих аза-атомам. Прр азовании соединений НШ с серебром интенсивность и положение еллита встряски изменяется, а также имеет место вырождение ии N Is аза-атомов, что можно объяснить формированием хелат-связи. При адсорбции НБИ на поверхности АдВг линия N Is, со-етствуюцая нитрогруппе отсутствует, что может объясняться о вытеснением ее сверхстехиометрическим бромом, либо неусгой-остью ее в данной форме под воздействием рентгеновского излу-ия. Сопоставление энергетических интервалов <линия N 1г рогруплы - сателлит встряски>, <линия О Is нигрогруппы - салит встряски> показало, что они удовлетворительно согласуются азницей в энергиях между основным и возбужденными состояниями , полученной методом ЧПДП.

ОСНОВНЫЕ ВЫВОДЫ РАБОТЫ На базе спектрометра ЭС-3201 создан экспериментальный комп-:с, реализующий метод РФЭС. Установка оснащена автоматизиро-ной станцией для получения, документирования, и хранения периментальных результатов, а также их последующей математикой обработки. Тестовые испытания показали, что характеристи-созданного прибора находятся на уровне коммерческих приборо! логичного класса. г

Анализ состояния поверхности эмульсионных МС„ АдВг указывает то, что в большинстве образцов в приповерхностном слое при-'ствует избыток ионов брома, который уменьшается npi

величении рАд раствора хранения, что связано с модафикащ оверхности.

. Отношение [Ag]/[Hal] увеличивается в ряду: октаэдрические gBr, кубические МК AgBr, p-Agl, y-Agl, что согласуется с пре тавлениями о поверхностной морфологии данных МК. Изменение j ожет существенно изменять величину [Ag]/[Hal], что можно of снить модификацией огранки МК и формированием равновесного гц оверхностного слоя.

. В процессе синтеза на поверхности смешанных МК Ag(Br, I) фс ируется слой с избыточной концентрацией иодида, превышай: а счетную, что связано с образованием фазы Agi. При определи ых условиях возможно получение расчетной концентрации иодида. . Показано, что при проведении ХС в условиях стандартных реи ентов синтеза на поверхности МК AgHal присутствует сера, нергии связи соответствующая элементарной. Присутствие серь орме Ag2S обнаруживается при больших концентрациях тиосульф; .атрия.

. При использованных условиях приготовления образцов ТАИ и < роизводные в свободном состоянии существуют в кето-форме (N61 МТ в меркаптоформе и образуют при соединении с серебром к< лексы с участием атомов азота. Различие в теплотах адсорб] АИ и ФМТ можно объяснить тем, что при адсорбции ТАИ cepei ,заимодействует только с аза-атомом, тогда как при адсорбции 1 ■ с азотом и серой.

. Сопоставление рентгеноэлектронных спектров линии N Is исх юго НБИ и" в соединении с серебром позволяет предположить, 1ри формировании комплекса происходит образование хелатной св LTOMa серебра с аза-атомами. В спектрах линий N Is и О Is, >тветствуюцих нитрогруппе исходного НБИ и в соединении с сер >ом, обнаружен сателлит, имеющий "shake-up" природу, интенсивность и положение изменяется при переходе от НБК

лексу. В спектре N Is НБИ, адсорбированного на поверхности й AgBr, компонента, соответствующая нитрогруппе, отсутству-что можно объяснить либо ее вытеснением избыточным бромом, р. неустойчивостью данной группы под воздействием рентгенов-'о излучения.

ЛИТЕРАТУРА

Okusa Н., Matsuzaka S., е.a. Surface analysis of silver .de microcrystals by X-ray photoelectron spectroscopy // "s 47th Intern. Conf., The Physics and Chemistry of Inag. : Proceed of Int. Conf. 15-20 May 1994. - Rochester, New :, USA, 1994 - V.l. P. 35 - 38.

Sowker M. An XPS investigation of the chloridation of Ag(110) J. of Electr. Spectr. and Rel. Phen. 1986. - V. 37.N4. -.9-327.

"■арбузов A.M., Тиле В.К. Количественный химический полумикро-1из - М.¡Высшая школа, 1963. - 135 с.

"hehimi М. and Delamar М. X-ray photoelectron spectroscopy of jcyanine dyes. VI. Shake up satellites in the nitro N Is :tra of some nitromerocyanine dyes // J. of Electr.

rtr. and Rel. Phen. 1988. - V.46. - P.427-434.

\

Список работ, опубликованных по тема диссертации: Гузенко А.Ф., Звиденцова Н.С., Колесников JI.B., Просвирин . Рентгеновские фотоэлектронные спектры эмульсионных микробаллов AgBr различного габитуса. // Обз. инф. Сер. "Метода I. хим. реакций в тв. неогр. веществах". Ч., НИИТЭХИМ, 1986.

-Деп. в ВИНИТИ 10.09.86, N 1075 - ХП. Колесников Л.В., Гузенко А.Ф., Бреслав Ю.А., Просвирин И.П. сав поверхности примитивных и сенсибилизированных микрокри-шов AgBr-по данным рентгеновской фотоэлектронной спектроскопу Физические процессы в светочувствительных системах нг

основе солей серебра. ч.1: Тез. Докл. Всес. Конф. 10 -14 окт^ 1986 г. - Кемерово, 1986. - С. 17 - 18.

3. Гузенко А.Ф., Колесников Л.В., Бреслав Ю.А. Исследование става поверхности эмульсионных микрокристаллов АдВг мете рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии // Физические г цессы в светочувствительных системах на основе солей сереС !4ат.-Всес. Конф. 10 - 14 октября 1986 г. - Кемерово. 1986. -65-71.

4. Kolesnikov L.V., Dzubenko F.А., Fyodorov G.M., Guzenko I The structure, energy characteristics and transfeer paramme change in microcrystals dependent on synthesis conditions Int. Symp. on Imag. Systems: Proceed of the Int. Symp. 2С August 1989. - Dresden, Germany, 1989. - P.81-82.

5. Гузенко А.Ф., Милешин И.В., Федоров Г.М., Колесников JI. Звиденцова Н.С. ФЭС исследование смешанных микрокристат Ag(Br,I) // Конференция по физике вакуумного ультрафиолета и взаимодействию с веществом ВУФ-89. ч.1: Тез. Докл. VIII Вс Конф. 3 -5 октября 1989 г. - Иркутск, 1989. - С.122-123.

6. Гузенко А. Ф. Исследование поверхности эмульсионных микро* сталлов // Symposium о fotochemii, fotofyzice. Fotogra Académica'89: Тез. Докл. 15 Симп. 20 - 23 октября 1989 г. - Г цубице, 1989. - С. 46.

7. Кагакин Е.И., Гузенко А.Ф., Михальцова B.C., Закомсип Н.И., Звиденцова Н.С. Стехиометрия поверхности и вуалестойкс Ж АдВг. // Сб. науч. трудов ГосНИИхимфотопроект - : М., 198Í С.16-21.

8. Гузенко А.Ф., Колесников Л.В., Гой A.C. Адсорбция модафь торов на поверхность микрокристаллов АдВг // Радиационные терогенные процессы. ч.2: Тез. Докл. V Всес. Сов. 28 - 31 1990 г. - Кемерово, 1990. - С.27-28.

здоров Г.М., Гузенко А.Ф., Федорова Н.М., Колесников JI.B. »миссионное изучение свойств поверхности эмульсионных кри-юв AgBr в кинетике химической сенсибилизации //Фотохимичес-и фотофизические процессы в галогенидах серебра.: Тез. Всес. Симп. 25 - 27 апреля 1991 г. Черноголовка, 1991. -

'olesnikov L.V., Guzenko A.F. Adsorption of growth modifiers ?Br microcrystals // Intern. Cong, of Phot. Sci.: Proceed of Int. Cong. 15-19 October 1990. - Beijing, China, 1990. -•85.

Солесников JI.B., Гузенко А.Ф., Звиденцова H.C., Дзюбенко Бреслав Ю.А. Исследование поверхности эмульсионных кри-юв// ЖНиПФиК. - 1991. - Т.36. N 5. - С.360-366. "■узенко А.Ф., Колесников J1.B. Адсорбция модификаторов на по-юсти микрокристаллов AgBr // Журнал физ.химии. - 1991. -

Кб. - С.1470-1474. Колесников JI.B., Гузенко А.Ф., Звиденцова Н.С., Милешин Никонова Г.Н., Сергеева И.А. Изменение параметров переноса ;ергетических характеристик эмульсионных микрокристаллов в зшости. от условий синтеза / / Физика и химия конденсирован-состояния. МежВуз. Сб. научных трудов. КемГУ. Кемерово.-- С.3-20.

Артюхов В.Я., Кблесников JI.B., Гузенко А.Ф., Колесников Кострицкий С.М. Адсорбция модификаторов на поверхность )кристаллов AgBr //Физика; и химия конденсированного состоя-МежВуз. Сб. научных трудов. КемГУ. Кемерово.- 1993.--69.

Kolesnikov L.V., Zvidentsova N.S., Guzenko A.F., Popov . Synthesis and properties of homogeneous and heterogeneous 2r halide microcrystals, core-shell and heterojunction ans // IS&T's 47th Intern. Conf., The Physics and Chemistry

Еис.5 Линия N ТАИ (А-исходный, В- в соединении с серебром, С-адсорО-ванный на поверхности золей АдВг) ( пунктиром показаны результаты разлоз

на гауссовы составляющие) .

с

Рис. 6 Линия N ФМГ (А-исходный, В- в соединении с серебром, С-адсорби ванный на поверхности золей АдВг) ( пунктиром показаны результаты разлоя

на гауссовы составляицие).

стабилизаторов вуали, рассчитанные методом ЧПДП (ХХХП - таутомеры

с протоном на п - атоме азота) и энергии связи линий N 1э, О 1з, Ад Зс1, Вг Зй и Э 2р исходных образцов, в соединении с серебром и после адсорбции на поверхности золей АдВг.

I

го

Н1 I

образец Заряд, е Энергия связи, эВ

М2 ы4 э 0 1з Б 2р Ад Зс15/2 Вг 3с1 N

ТАИ 0.16 -0.43 -0.48 -0.75 - - - - - -

ТАИ6 0.20 -0.. 34 -0. 52 -0.13 - 532.0 - - - 400.4

+Ад - - - - - 532.4 - 368.6 - 400.4

+АдВг - - - - - 532.4 - 367.9 69.0 400.4

ФМТ 0.10 -0.18 -0.08 -0. 37 -0.10 532.4 164.4 - - 400.9

ФМТ4 0.09 -0.12 -0.14 0. 33 -0.55 - - - - -

+Ад - - - - - 532.7 163.8 368.4 - 401. 0

+АдВг - - - - - 532. 9 164.6 368.1 68.7 401.7

НБИ -0.46 -0.13 0. 93 - - 532 . 8 - - - 399. 6

+Ад - - - - - 532.5 - 368.5 - 399.1

+АдВг - - - - - 532. 4 - 367.8 68. 4 399. 7

Л 400.00

Энергия связи, аВ

Рис. 7 Линия N Is НШ (А-исходный, В- в соединении с серебром, С-адсорб ванный на поверхности золей АдВх) ( пунктиром показаны результаты разло:

на гауссовы составляшие) .

of Imag. Sci.: Proceed of Int. Conf. 15-20 May 1994 Rochester, New York, USA, 1994 - V.l. - РД7-18.

16. Guzenko A.F., Kolesnikov L.V., Milyoshin I.V. and Pugs V.M. The investigation of 7-, p-Agl microcrystals propei .•under ionic equilibrium change //IS&T's 48th Intern. Conf

Phot. Sci.: Proceed of Int. Conf. 7-11 May 1995. - Washir D.C., USA, 1995. - P. 293-294.

17. Guzenko A. P., Kolesnikov L.V. The adsorption photographically . active materials on "-the surface of microcrystals // IS&T's 49th Intern. Conf. of Phot. £ Proceed of Int. Conf. 19 -24 May 1996.- Minneapolis, MinneE 'ISA, 1996. - P. 129-132.

Guzenko A.F., Kolesnikov L.V., Mileshin I.V., e. a. Sui axation and Microcrystals Properties // VTII Int. Symp 4eact. of Solids: Proceed of Int. Symp. 8-12 Septe i - Hamburg, Germany, 1996. - P. 5-PO-342. фг