Количественный рентгеноспектральный микроанализ индивидуальных частиц синтетических минералов тема автореферата и диссертации по химии, 02.00.02 ВАК РФ

Ван, Константин Владимирович АВТОР
кандидата технических наук УЧЕНАЯ СТЕПЕНЬ
Москва МЕСТО ЗАЩИТЫ
1991 ГОД ЗАЩИТЫ
   
02.00.02 КОД ВАК РФ
Автореферат по химии на тему «Количественный рентгеноспектральный микроанализ индивидуальных частиц синтетических минералов»
 
Автореферат диссертации на тему "Количественный рентгеноспектральный микроанализ индивидуальных частиц синтетических минералов"

/ МОСКОВСКИЙ ИНСТИТУТ ТОНКОЙ ХИМИЧЕСКОЙ ТЕХНОЛОГИИ ! им. М. В. ЛОМОНОСОВА

На правах рукописи ВАН Константин Владимирович

УДК 549.082:543.422.8:537.533.36

КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ , МИКРОАНАЛИЗ ИНДИВИДУАЛЬНЫХ ЧАСТИЦ СИНТЕТИЧЕСКИХ МИНЕРАЛОВ

Специальность 02.00.02 — аналитическая химия

Автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук

Москва 1991

л

Работа выполнена в Институте экспериментальной минералогии АН СССР.

Научные руководители:

академик АН СССР Жариков В. А., кандидат химических наук Романенко И. М.

Официальные оппоненты:

доктор физико-математических наук, профессор Васичев Б. Н., кандидат технических наук, старший научный сотрудник

Ильин Н. П.

Ведущее предприятие: ИГЕМ АН СССР

Защита состоится Ж- —

са~о1( Л 199 / г. в час.

на заседании специализированного Ученого совета К 063.41.04 ¡Московского института тонкой химической технологии им. М. В. Ломоносова по адресу: Москва, 117571, проспект Вернадского, 86.

С диссертацией можно ознакомиться .в библиотеке института.

Автореферат разослан «

а » мая 1991 г.

Отзывы на автореферат (в двух экземплярах, заверенные печатью учреждения) ¡просим направлять ;по указанному адресу ученому секретарю.

Ученый секретарь специализированного ученого совета кандидат

химических наук Ю. А. Ефимова

© Московский институт тонкой химическй технологии им. М. В. Ломоносова

ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ (

Актуальность проблемы. Исследование методом рентгеноспектраль-ного микроанализа (Т'СМА) элементного состава массивных объектов, тонких слоев и пленок получило к настоящему времени достаточно полное методическое обеспечение. Однако, при микроанализе нетрадиционных д~я РСМА объектов - микрочастиц и микровключений, размеры которых соизмеримы с локальностью метода, уровень методических разработок до си» пор недостаточен.

Основные причины, сдерживающие развитие способов РСМА частиц малых размеров (1-5 мкм), связаны с проблемой ¿чета массы вещества, находящейся в зоне генерации рентгеновского "излучения и отсутствием моделей распределения пучка электронов и генерируемого рентгеновского излучения в частице произвольной формы, что приводит к неопре-делеш )Стям в выборе поправок на матричные эффекты.

Цель работы: разработка методик и практических способов проведения количественного РСМА индивидуальных частиц, размеры которых меньше или соизмеримы с областью генерации рентгеновского излучения, возникающей в плоском массивном образце аналогичного состава и регистрации рентгеновского спектра кристалл-дифракционным (КДС) или ■энергодисперсионным спектрометром с полупроводников -м детектором (ПЦД). •

В связи с этим определены основные задачи работы:

- разраб< гка способа подготовки порошкового материала к проведению определения состава отдельных частиц микронных размер. ) методом РСМА;

- исследование с применением КДС зависимости интенсивности аналитической линии характеристического рентгеновского спектра элемента пробы от размера исследуемой частицы и аппаратурных условий проведения анализа и ее применение в способе РСМА макроскопических частиц;

- для ми ералов переменного состава разработан способ И-отно- ■ шений, когда определение количественного элементного состава пробы проводится с применением отношения относительных интенсивностей пиков характеристического рентгеновского излучения элементов, содержащихся в' пробе;

- разработка методических рекомендаций и практических приемов проведения РСМА массйвных объектов, вктючений и частиц с применейи-ем ПЦД, установление пределов обнаружения элементов и способов про

ве'"гния анализа малых содержаний элемента в пробах сложного состава

Новизна исследований, выполненных при разработке способов, методик и практических приемов проведения количественного РСМА микроскопических объектов с размерами 1-5 мкм с обработанной и необработанной поверхностью с применением КДС и ППД, заключается в следующем:

- предложено введение коэффициента размерного фактора и экспериментально получены зависимости интенсивности пиков характеристического рентгеновского 1 ил учения элементов, содержащихся в пробе, для частиц ряда силикатных минералов в диапазоне размеров от 1 до 5 мкм при энергиях возбуждающих электронов 15, 20 и 25 юВ; разработан способ количественного рентгеноспектрального микроанализа с применением кристалл-дифракционного спектрометра (на способ получено авторское'свидетельство на изобретение);

- предложено дальнейшее развитие метода "внутреннего стандарта" на основе которого разработан способ N-отношений, использующий Стехиометрию краевых и промежуточных составов соответствующих минеральных рядов с изоморфными замещениями;

- экспериментально установлены оптимальные условия возбуждения й г -истрации рентгеновского излучения элементов пробы с применением ППД, и разработаны приемы выбора оптимальных аналитических уело-* Вий спс .о£ствующие улучшению точности анализа и снижению предела Обнаружения элемента; _ '

- впервые изучен сос .в некоторых зональных и сосуществующих, синтетических и природных минералов (в том числе и микроскопических размеров),, что позволило получить, новые данные, для целей гео-термо-барометрии н оценить основные физико-химические условия метаморфизма геологических пород.

• Практическая ценность ' работы. Разработаны способы, методики и практические приемы проведения количественного РСМА мик, хкопичес-' ких • объектов, позволившие исследовать состав природных и синтетических минералов (силикаты, карбонаты, сульфиды и'сульфо ши). Методики могут быть использованы для проведения анализа локальнъ^ областей микронных размеров в массивных образцах, плёнках, слоях, включениях и, частицах во многих областях техники. Применение разработан н и способов и методик РСМА в Ьнституте экспериментальной ми-. нералогии АН СССР позволило изучить эволюцию образования и роста ' некоторых • Мйнералов, определить составы сосуществ, ю'Чих минералов и ■ на их основе оценить основные физико-химические уелг^ия метаморфиз- .

ма пород, а в ОИХФ АН СССР определить состав некоторых примесных включений з порошковых материалах.

На гаиилу выногчтся следующие положения:

1. Способ количественного определения элементного состава частиц с необработанной поверхностью с применением коэффициента размерное фактора.

2. Способ N-отношений для количественного определения элементного состава силикатных минералов с изоморфно -замещающимися компонентами.

3. Методики установления оптимальных условий проведения РСМА с применением энергодисперсионного спектрометра и методика определения малых содержаний элементов в силикатах сложного состава вблизи предела обнаруже"ия.

-' ¡робпция. Основные материалы диссертации докладывали и обсуждали на III Си^лрском семинаре по рснтгеноспстральным методам анализа (Новосибирск, 1982 г.), VIII Вс дзюзнои конференции по локальным рентгеноспектральным исследованиям и их применению (Черноголовка, 1982 г.), Всесоюзно,. симпозиуме "Современная техника и методы экспериментальной минералогии" (Черноголовка, 1983 г.), IX Всесоюзном совещании по рентгеновской и электронной спек-^оскопии (Иркутск, 1984 г.), IX .Всесоюзной конференции по локальным рентгеноспектральным исследованиям и их применению (Ижевск, 1985 г.).

Публикации. Основные положения работы опубликованы в 11 работах и авт рском свидетельстве на изобретение.

Структура диссертации. Диссертация .состоит из введения, че~ы-рех глав, заключения и приложения. Работа изложена- на 156. страницах машинописного текста, содержит 33 рисунка, 21 таблицу и приложения на 19 страницах. Список литературы включает 177 наименования.

Во введении показана актуальность проведенных исследований; сформулирована цель и определены основные задачи, требующие решения.

В первой главе дан обзор современного состояния теоретических и экспериментальных работ по исследованию состава пленок, слоев, частиц и включений методом РСМА. Рассмотрены существующие спосрбы проведения РСМА и учета массы вещества", находящейся в зоне генера-цш. рентгеновского излучения. .

Во второй главе проведены теоретические оценки размеров зрны возбуждения рентгеновского излучения возникающей при проведении - PCM/v и рекомендованы способы подготовки частиц порошкового и.атериа-

ла ч проведению исследования состава. .Изложен способ проведения РСМА индивидуальных частиц микронных размеров ш лещенных на подложку, когда учет массы вещества, находящейся в зоне генерации рентгеновского излучения, осуществляете посредством использования коэффициентов размерного фактора. Способ основан на установленных экспериментально, с пименением кристалл-дифракционных спектрометров, • зависимостях интенсивносгей аналитических линий характеристического рентгеновского излучения элементов пробы от размера исследуемой частицы и аппаратурных условий проведения анализа.

В третьей главе описан способ N-отношений для количественного рентгеноспектрального микроанализа силикатных минералов поименного состава с применением градуировочной зависимости содержания элемента в пробе от отношения относительных интенсивностей пиков характеристического рентгеновского излучения элементов, содержащихся в исследуемом образце,

В четвертой главе обсуждаются методические ' рекомендации и практические приемы проведения РСМА масчвных объектов и частиц с . применением ППД. Изучены оптимальные условия про эдения исследова- . ния состава пробы и установлены пределы" ^наружения ряда элементов, дан: практические рекомендации по определению м. дых содержаний зле' ментов, вблизи предела обнаружения. Приведены примеры аналитических ■ приложения и представлены результаты применения предлагаемых методических приемов, полученные при анализе геологических объектов.

В приложении" I при 'дены результаты .расчета величины R(x) (продол* чой локальности) для некоторых элементов в матрицах простого и' сложного состава. В приложении II приведены данные, применяемые в способе N-отношений для проведения анализа некоторых типов минералов переменного состава, а так же используемые для выбора N'-отношений основного и оптимального вида.

■; АППАРАТУРА И МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА ' '

Еолылинстьо методов рентгеяоигектрального микроанализа основано *на применении "масашных" полированных образцов сраьиеш'" известного состава ' и регистрации . возбужденного в пробе рентгеновск..го излучения элементов кристалл-дифракционным или энергодисперсионным . спектрометрами. Наиболее paenpoerj ?aj• f мм способом преобразования зарегистрированной интенсивности Пиков характеристического рентгеновского .спектра массивного образца в содержание составляющих его элементов являемся 'введение поправок на учет матричных эффектов Пу

способу трех поправок "ZAP" или по способу а-факторов. При проведении РСМА, когда размер исследуемой пробы меньше размера области генерации рентгеновЬкого излучения,' возникающей в плоском массивном образце аналогичного состава, который можно оценить применяя зависимость, предложенную Касгеном для расчета массовой глубины облает., генерации характеристического рентгеновского излучения, ».¿обходимо дополнительно проводить учет массы вещества, находящейся в этой зоне. Анализ частиц с размером '. - 5 мкм соответствует такому случаю. .

Д». проведения эксперимента с индивидуальной частицей, частицы порошкового материала отделяли друг от друга ультразвуковым диспергированием в жидкости и некоторое количество суспензии пипеткой наносили на полированную пластинку и- бериллия. После испарения жидкости частицы оставались на поверхности пластины. Это позволяло вы- , бирать отдельные частицы, расположенные на расстоянии более 10 мкм друг от друга • изучать их геометрические размеры и форму с использованием оптического и растровое электронного микроскопа. Для • обеспечения электропроводности и снятия электросгати еского заряда с исследуемых непровог чцих частиц на их поверхность напыляли пленку углерода толщиной 20-30 нм..

Исследования проводили с применением микроанапизаторов "JXA-5А" с тремя кристалл -дифракционными спектрометрическими каналами и "Camebax" с кремниево-литиевыл- энергодисперсионным спектрометром. В качестве образцов сравнения использованы массивные плоско-полированные образцы чистых металлов, оксиды и минералы известнее состава. В двух последних случаях пересчет .интенсивности пиков хара"те-рис.лческого рентгеновс ого излучения к таковым •чистых, элементов проводили с применением обратных величин коэффициентов, рассчитанных по способу "ZAP коррекции. В исследованиях изучены образцы как природных минералов, так и специально синтезированные из конкретных составов исходной смеси веществ. Количественный элементный состав образцов контролировали методами оптического, химического и рентге-нофазового анализа. Массивные образцы дополнительно исследовали на микроанализаторе, а количественное определение состава проводами стандартным способом "ZAP. Частицы размером порядка микрометра ^готовили njrreM дробления массивь jh пробы.-При проведении исследований 1 центр падающего пучка электронов устанавливали по наблюдению в оптическом микроскопе на. центр исследуемой частицы, а настройку и контроль зонда осуществляли по наблюдению изображения частицы во ., втор^-ных электронах в режиме РЭм, а так же по показаниям ънтенси-

мет"ов рентгеновского излучения и измерениям величины тока поглощенных образцом (частицей) электронов. . .

СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕ' 'БИТНОГО СОСТАВА ЧАСТИЦ С НЕОБРАБОТАННОЙ ПОВЕРХНОСТЬЮ И ПРИМЕНЕНИЕМ КОЭФФИЦИЕНТА РАЗМЕРНОГО ФАКТОРА

В разработанном графическом способе применял.1 массивные образцы сравнения, а для относительных интенсивностей пиков характеристического рентгеновского излучения элементов, измеренных ст частицы вводили дополнительную поправку на размерный фактор. Под размерным фактором понимается учет геометрически:; размеров присущих рельефной частице малых размеров, отклонение ее геометрической формы от сферы и рельефность поверхности. При проведении исследований, определение средних размероз часгиц, помещенных на подложку, проводили в режиме ' растрового .электронного микроскопа, а выбор аппаратурных условий проведения эксперимента - с учетом рассчитанных величин размеров зоны генерации'рентгеновского излучения эле^.нтоз (локальности). -

Предварительно, на массивных плоско-полнровглаых образцах ш-вестного химического состава и на образца -частицах того состава исс? довано изменение. величины относительной иь.гнсивности пика характеристического рентгеновского излучения элемента пробы 1<1 и К. ч* в зависимости от размера часшцы, диаметра падающего пучка электро, нов и энергии возбуждения: .-

К,Л1Л> и

где: Л - поперечный размер частицы; Д^ - диаметр пучка электронов; Е^ - энергия возбуждения; I. ч I, и I - интенсивность линии характеристического • рентгеновского излучения ¡-ого элемента, с учетом коррекции ца фон, -измерения" от частицы, массивного образца сравнения аналогичного состава и чистого элемента.

. , В зависимости от «.реднего поперечного размера частицы (размер А) и с учетом возможной ошибки определения этого, размера в режиме РЭМ, (А ± 0,25) мкм, проведена группировка ъсптпп оЛюспп лных ин-' тенсивносгей К. Число исследованных частиц каждого, размера с о-тааляло не менее 16. Полученные экспериментальные данные, приведенные частично, из-за их аналогичного вида,,. на рис. 1, показывают, что зависимость величины К/ ч от размера частицы А в интервале 0,5-' ' » 4. м)см п. применяемой энергий возбуждения Ер близка к линейнш при минимальном диаметре пучка электронов 5 ! мкм, , при ^ * 5 10

рентгеновского спектра элемента образца г размера исследуемой частицы (размерного эффекта) при энергии возбуждения Ео = 15 кэВ и диаметре пучка электронов Д, (подложка из бериллия): а - К^ф мет.); б - Кя К^Ю2); в - К&к/СаО); г - КРеК/РеО); д, е кс.кЛ(Саз513а.); 1 - Д, = 1 мкм; 2 - Д, = 5 мкм; 3 - Д, = 10 мкм. *

MKf нелинейна для всех энергий возбуждения Е0 (исследования проведены при Е0 - 15; 20 и 25 кэВ), Необходимо от; .етить, что вид зависимости для К. имеет выраженный воерастающий характер только до определенного размера А, а при больших размерах частиц ее изменение становится незначительным. Точки перегиба на графике (рис. 1) соответствуют условиям когда размер исследуемой частицы становится со-■ измеримым с размером области генерации характерлс.ического рентгеновского излучения элемента R(x), возбужденной в массивной матрице аналогичного состава. Несовпадение точек перегиба полученных экспериментально с данными теоретического расчета, обусловлено вероятностным характером определения высоты частицы (при достаточно точном определении линейных размеров в плоскости, перпендикулярной оси падения пучка электронов), а также сложным рельефом ее поверхности и несоответствия формы частицы зоне возбуждения, возникающей в плоском массивном образце аналогичного состава. Полученные экспериментальные данные показывают, что для частиц различных материалов при • изменении энергии возбуждения Е0 и постоянном диаметре пучка электронов Д^ характер зависимости К. ч существен > не меняется, а

Только изменяется угол наклона этих зависимостей и происходит сме-

•1

щен г точек перегиба, положение которых обуслош. ло величинами продольной и. поперечной рентгеновской локальности для данного элемента, и влияньем состава образца.

Полученные от частиц-образцов сравнения данные использовали для расчета величины кшфф . гаенгга размерного фактора Кр -в виде:

КР)1 -К Ач = 1 < 1,4 * Для "исследования частицы неизвестного состава, с учетом ее размера А и- определяемого элемента, по ра"ее построенным графическим зависимостям К, ч вычиа ли коэффициент размерного фактора, который применяли для коррекции величины относительной интенсивности,, измеренной от частицы: . ■

' W я К -К

i,KOpp. 1,4 p,i -

•Для определения. количественного "элементного состава частицы использован учет матричных эффектов по способу "ZAF .коррекции или а-факторов, однако в расчет состава уже вводят. скорректированные, с учетом коэффициента размерного фактора( величины относительных интен -' сивносгей пиков характеристического рентгеновского излучения. элементов чаЛицы. В. таблице 1'приведен пример определения состав"

Таблица 1.

Содержание элементов в минерале Ре2ЗЮ4, определенное по стандартной методике в массивном образце и по разработанному способу с учетом размеренного фактора в микронных частицах (Д, < 1мкм, Ео = 15 юВ)

Минерал Размер, мкм Размерный фактор Относительная интенсивность Содержание, масс.% Сумма, ма.сг.%

Измеренная С учетом Элемент Оксид

к* Кге ка Сгс Са Оъо

300* 100 1.00 0.492 0.104 0.492 0.104 54.8 Ш 705 295 100.0 .

0J ШО 1342 0.041 0.008 0500 .103 55.6 13.7 71.6 29.4 101.0

1.0 6.09 6.71 0.081 0.016 0.493 0.104 54.9 13.8 70.7 29.6 1003

15 4.07 4.48 ' 0.122 0.023 0.497 0.103 553 13.7 71.1 293 100.4

Ре^Ю«" го 3.05 336 0.164 ' 0.031 0300 0.104 55.6 13.8 71.6 29.6 101.2

25 2.45. 2.69 . 0202 0.038 0.495 0.102 55.1 а' 70.9 29.1 100.0

3.0 2.03 224 0246 0.046 0.459 0.103 55.6 13.7 715 293 100.8

33 1.75 1.>2 0285 0.054 0.499 0.104 555 Ш 71.4 295 100.9

4.0 1.53 1.68 0320 0.061 0.490 0.102 54.6 13.6 702 29.1 993

* - массивный, плоско-полированный образец! . .*• - состав минерала' Ие^Ю,,: СРе0 = 7051%, СЯог = 29,49%.

частиц минерала Ре^СК Для определения численного значения коэффициента Кр. использованы ранее полученные зависимости, например, рис. 1.

Анализ экспериментальных данных показал, что по .данному способу определения количественного элементного состава частиц с разме-, ром 1-5 мкм точность определения содержания элемента не хуже чем • ±(7-13) % отн., которая в основном обусловлена пглносгами определения среднего размера частицы и численного значения коэффициента Кр.. Для частиц, близких по составу образцу сравнения, возможно уточнение значения коэффициента Кр. по величине суммарной относительной интенсивности пиков характеристического излучени.. элементов, входящих в состав исследуемой частицы. Для таких случаев возможно дополнительное построение зависимости величины суммарной интенсивности или суммарной величины относительной интенсивности от состава и размера частицы, применение которой позволяет снизить погрешность получаемых результатов до ± (4 - 8) % отн. и менее.

СПОСОБ N-ОТНОШЕНИЙ ДЛЯ КОЛИЧЕСТВЕННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ

ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА СИЛИКАТНЫХ МИНЕРАЛОВ С ИЗОМОРФНО-ЗАМЕЩАЮЩИМИСЯ ЭЛЕМЕНТАМ:! -

Преложенный способ количественного РСМА силикатных минералов с . изоморф 'о0-замещающимнся элементами как массивных образцов, так и частиц произвольной формы и размера, основан на применении градуи-ровочной характеристики:

• ; ; сд = гсм) = £(к/к.) = ОДД^г/у],

Где: Сд '- содержание элемента А; N = -

величина N «-отношения; К. и К. - относительные интенсивности для ¡-го. и'.¡-го элементов; Д. *• I. и - интенсивности линии

характеристического рентгеновского излучения 1-го и ¿-го элементов, зарегистрированные от пробы и образца сравнения чистого элеме.-гга соответственно. Из выражения для N видно, что в,расчете применяют отношение интенсивнссгей 1-го и ¿-го элементов, 'зарегистрированных от пробы - 1./1. и от образца сравнения - Если предпо о-

житъ, что с уменьшением массы вещества, находящейся в зоне возбуждения рентгеновского излучения, 'уменьшаются, только величины I. и I, а их отношение остается постоянным, то, применяя данную

зависимость,, можно определять количественный элементный состав проб . любого размера й формь! с применением для 1-го и ¿.го элементов сб.-

разцов сравнения любого одинакового размера. В данной работе попользованы массивные образцы сравнения силикатных минералов с полированной поверхносп ю.

Для практическое применения способа N-отношений на первом этапе на образцах одного и того же типа минерала нескольких известных составов, изучают зависимости изменения относительных интенсив-костей линий характеристического рентгеновского излучения элементов К( от их содержа дш. Величины К. либо измеряли экспериментально, либо рассчитывали теоретически по способу коррекции, исходя

га принятого состава и энергии возбуждени,. Е0. Полученные значения относительных интенсивносгей К. группировали в новые отношения, названные N -отношениями, и строили градуировочныс зависимости Н(= ¡ХС). Эти зависимости использовали для установления содержания

Рис, -2. Градуировочные зависимости х =» ф^,) для определения переменной х • для клннотшроксена .ряда дислсид - геденберптг П^еМ^ и энергии возбуждения Е0:

а " М ^м/^ 6 - Ы = Км/Ка: в - Ы =у(Кй К^; г - N = КрУКу

1 - Б„ » 25 кэВ; 2 - Е0 =- 15 шВ; 3

;Р| " Ь

элементов в исследуемых образцах минералов этого же типа, но уже в виде С = f(N). Для клинопироксена, описываемого формулой -Ca(Mgt KFex)Si206, на рис. 2 приведены градуировочные зависимости • х = f(N.) для определения переменной х. Коэффициенты кристаллохими-ческой формулы клинопироксена показывают, что происходит изоморфное замещение только двух элементов - Mg и Fe (значение х метается от О до 1). Поэтому, основное N-отношение для определения количественного состава должно включать величины KMg и К^, например, вида;

= I'Fc/KMe или N2 = КГс/(Крс + KMg). В этом случае р~т необходимости измерять величины Ksj и К0, так как они не используются в применяемом N-oтl[Oшeнии. N-отношения, например, вида: N3 = К^К^,

N< = КмД,> N5 = = N, = "

являются t дополнительными и служат для контроля и уточнения состава,

определенного с применением основного N-отношения.

Возможен случай, когда в клишмшроксене имеется примесный элемент, например алюминий. Известно, что А( замещает Mg, поэтому во всех выражениях для К значение KMg, необходимо заменить суммой значений (К^ ■fKA|) или для определения состава нужно применять N-ot-

• ношепиж, ие содержащее KMr, например, - N?. При необходимости, содержание А1 рассчитывают i.jk разницу между составом, полученным с

, применением суммы значений (Км + Кд|), и составов, полученным без учета А1, например, с применением отношения N . Так как для проб с многоэлементным составом число возможных сочетаний группировок К-отношений в N-отношения значтельно, то для получения более точных данных о количественном составе образца необходим выбор N-отношения

• оптимального вида.

Для практического использования рекомендуется применять такую градуировочную зависимость С( = f(N), для которой при одном й том же интервале значений AN наблюдается минимальное изменение величины, Л С с тем, чтобы флуктуация регистрируемой интенсивности Д1 минимально влияла на конечное определение значения С.. Для клинопироксена оптимальным N-отношением является N . Для исключения случайных ошибок регистрации интенсивности и для уменьшения погрешности определения С или х можно, использовать дополнительные N-отношения двух и более видов, например, N} - N^ и рассчитать значение С. Если в-.состав пробы входят элементы не учитываемые кристаллохимичес-<сой формулой, а следовательно, .и не учитываемые при теоретическом расчете состава для построения градуировочных зависимостей, то производится их учет. Так, например, в состав ортопироксена

(ЭД^Ре^Д Ое может входить кальций (замещает Ре) и алюминий (замещает в равных мольных соотношениях М^ и 81). В этом случае при исследовании минер шов ортопироксена неизвестного состава измеряют значения К( для всех элементов, а при расчете значений N. заменяют величину Кре на сумму. (Кре + Кй), Кщ на сумму (КМг + К^/2), а Кя на сумму (К$. + К^/2). 3 табл. 2' приведены результаты единичных определений состава с применением энергодисперсионного спектрометра по стандартной методике и по способу N-отношений.

Размер частицы может влиять на выбор оптимального вида N-отношения, так как предположение о том, что отношение 1(/1 остается постоянным с уменьшением массы вещества, находящейся в зоне возбуждения рентгеновского излучения, не соблюдается, когда размер исследуемой частицы больше размера рентгеновской локальности И(х) для одних элементов и меньше такового для других. Поэтому, оптимальный вид N-отношения должен включать значения К., измеренные для элементов с близким значением величины &(х). Для клинопироксена отношение

КМг/Кя являемся оптимальным для учета различия значений Щх) (ЫМ8 = 1,91 мкм, Кя - 1,88 мкм). При РСМА частиц сложного состава, когда их толщина намного меньше величины значение поправки р, учитывающей влияние элемег юго состава пробы, изменяется, приближаясь к единице. И при толщине менее 0,2 К(х) становится незначительной и ей можно пренебречь. В этом случае К( = С|, а величины т* и не зависят от энергии возбуждения Еэ. При исследовании тонких объектов из-за их переменной толщины для одной и той же измеренной величины N определяемое значение С( может находиться в диапазоне значений, заключенных между градуировочными зависимостями, построенными ; я случая массивного образца и применяемой энергии возбуждения и случая, когда поправка Р. = 1. Поэтому, для уменьшения возможной погрешности определения состава, обусловленной размером исследуемого объекта, необходимо применять N-отношение такого вида, при котором эти две градуировочные зависимости . расположены как можно ближе друг к другу.

При иссле довании непроводящих объектов и проведении теопети-? ческого расчета величины К. не учитывается возможный эффект наведенного ?пряда, который может вг-никнуть. из-за рельефа поверхности и плохого стока электронов, что может внести логрешнбсть в результаты анализа. В этом случае необходимо применять N-отношение опти-1. ального вида, т.е. такое, для которого влияние изменений энергии возбуждения ^минимально. Это достигается при использовании относи-

Таблица 2

Сопоставление результатов, полученных по разработанному способу с использованием Н-отношений и по . стандартной программе с применением ППД

Значе нив X * Содержание оксида элементов, % масс

//2 По Способу N-отношения С применением ППД

М^+АДОз ЯО^АЬОз' БеО + СаО Л^0+А1203" 5Ю2+А12Оэ* БеО + СаО

I 0.709 ¿Ой 48.9 ± 02 415 ±03 9.6 ± 02 482 ± 02 42.1 ± 02

2 от 11.1 д 03 495 + 0.1 39.4 ± 0.4 10.8 ± 0.1 49.8 ± 02 39.4 ± "2

3 от 10.9 ± 05 49.4 ± 0.1 39.6 + 03 10.9 ± 0.1 49.5 ± 02 395 + 02

' 4 от 10.4 ± 03 * 492 ¿0.1 40.4 ¿0.4 10.1 ± 02 49.7 + 0.2 402 ±02

5 0.784 6.9 ± 0.1 48.0 + 0.1 45.0 + 0.1 6.9 + 02 47.8 + 02 452 +02

б 0.666 10.4 ± 03 492 +0.1 40.4 + 0.4 102 +02 49.4 ± 02 40.4 +.02

А1* - использовано численное значение относительной интенсивности КА,/2.

тельных чнтенстаиостсй элементов с близкими атомными номерами.

Результаты применения разработанного способа для определения состава массивных проб и частиц произвольной формы и размера позволяют получать данны. с учетом рассмотренных и предложенных условий проведения анализа н применении N-зависимостей основного и оптимальною вида, с погрешностью не более чем 4 1,5 % отн. для массивных объектов н 4 4 % отн. для частиц и слоев микронных размеров. Установлено, что -"рл спределешгл состава образцоз размером в микрометры, введение поправок, учитывающих влияние элементного состава " пробы' обязательно.

РЕНТганОСПЕРКТРАЛЬНЫИ АНАЛИЗ МАССИВНЫХ

ОБЪЕКТОВ, ЧАСТИЦ И ВКЛЮЧЕНИЙ С ПРИМЕНЕНИЕМ ЗНЕРГОДИСПЕРСИОННОГО СПЕКТРОМЕТРА

Применение энергодисперсионного спектрометра с полупроводниковым детектором позволяет практически для одного и того же локального объема вещества при одних и тех же экспериментальных условиях проводить одновре ленную регистрацию фона и большинства линий характеристического рентгеновского спектра элементов содержащихся в' пробе. В настоящее время в мировой практике продолжается изучение и выработка практических приемов использования ППД дгч целей количественного определения элементного состава пробы, а. также поиск оптимальных условий проведения анализа с целью повышения чувствительности и точности проводимого анализа.

Для повышения точности РСМА с ППД и уменьшения влияния наложения соседних линий расчет; интенсивности в пике характеристического рентгеновского излучения элемента рекомендовано проводить при ширине зоны интегрирования ДЕ численно равной йЕ = (1,0-1,5) его ширины на пслузысоте. . .

Контраст пика характеристического рентгеновского излучения элемента зависит от состава матрицы, ширины зоны интегрирования АЕ и энергии возбуждения Е0. Такие зависимости величины, относительной . интенсивности К, = ^ П и относительного контраста К^ =

О 15

=(Р/В)4 :(Р/В)(1 приведены на рис. 3. Установлено, что для дости-

0 15

женшз максимального контраста пика характеристического рентгеновского излучения элементов, с'2.' ® 12 -14 в.матрицах Сложного состава величины перенапря7'ения и «15 - 25. Рассмотрена зависимость интен-ивности пика характеристического. рентгеновского спектра элемента

от сто атомного номера и ее использование при проведении РСМА. В случае определения малых содержаний элементов в матрицах сложного состава, для уточнения величины относительной интенсивности К., рассчитанной по стандартной программе математического обеспечения, рекомендовано применение корректирующих коэффициентов, величину которых устанавливают экспериментально. Изучены пределы обнаружения элементов в матрицах простого и сложного состава и установлены

Рис. 3. Зависимость относительной интенсивности К( и относительного контраста Кр линий хара1 еристического рентгеновского спектра элементов от энергии возбуждения Е0 и состава матрицы: ■ а - оливин - (К^.Ре^БЮ^,

б - пироксен - Са(»^,Ре,А1)(51,А1)2Об; в - санидин - (К^а^АЙ^С^; г - нефйшн - КЫаДАШЮ^.

оптимальные условия возбуждения рентгеновского излучения элементов и его регист] чции. Зависимость предела обнаружения элемента от состава матрицы, типа аналитической линии и условий проведения анализа, приведены на рис. 4.

Установлено, что применение метода нормирования суммы измеренных содержаний элементов или оксидов к сумме 100 процентов позволяет, проводить сравнение значений определяемых содержаний элементов для массивных проб, слоев и частиц микронных размеров и 1 :ет необходимости учета изменения величины тока поглощенных

Атомный номер

Рис.-4; Зависимость предела обнаружения элемента С^ от выбора аналитической линии характе-; ристичесхого рентгеновского излучения, состава матрицы и энергии возбуждения Е^ >' а • мщш&АДОСЗеЗД 1 " О^БМ, ); 2 - Ст1л(А^ ); 3 - С^^Ь ); 4 - CfJ.SK ); . б - матрица Ее мет, в - матрица диопсид СаК^5!206;

1,- Ёо » 15 кэВ; 2 * Ео = 20 кэВ; 3 - Ео = 25 кэВ; 4 - Ео = 30 кэВ.

образцом электронов.

Практическое применение разработанных сиособоз и приемов проведения рентгеноспектрального кшкроаггтод с знергодишерсионным спектрометром при определении состава природных и синтетических минералов как массивных, так и частиц микронных размеров шпинелей, оливинов, пироксенов, гранатов, "мстггов, амфиболов, кордиеритов с размером более 1-2 мкм показали, что погрешность определения содержания элемента не более чем t (I - 4) % ото. при содержаки'* элемента более чем 1 - 3 % масс.,а предел обнаружения элемента при рядовом анализе не хуже 0,02 - 0,3 % масс, для элементов начиная с натр. 1. Для достижения одинаковых условий работы счетного ^измерительного трактов и получения соизмеримых плотностей регистрируемых квантов .рентгеновского излучения от массивного образца сравнения и частицы необходимо применять различные «оки пучка электронов.

ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ РАБОТЫ

Основные результаты диссертационной работы сводятся к следующему:

1. Разработан способ подготовки частиц порошкового материала к проведению определения состава индивидуальных частиц микронных размеров методом рентгеноспектрального микроанализа.

2. Для ряда элементов силикатного анализа изучена с применением кристалл -дифракционного спектрометра зависимость интенсивности аналитической линии рентгеновского спектра элемента пробы от размера исследуемой частицы.

Установлено, что для частиц со средним размером менее 0,7- Я и возбуждении рентгеновского излучения элементов пробы минимальным диаметром пучка электронов (С^ £ 1 мкм), зависимость изменения величины относительной интенсивности характеристического рентгеновского излучения элемента пробы от размера частицы К)ч = ^А.Д^^) носит приб гженно линейный характер.

Разработан новый оригинальный способ количественного элементного рентгеноспектрального микроанализа м чкроскопических объектов с размером 1-5 мм, с использованием КДС и коэффициента размерного фактора, при этом погрешность определения состава не более чем 4 4 отн.'%. Подтверждены данные ряда исследователей, что при определении элементного состава частиц с размером более 1 мкм применение поправок учитывающих влияние элементного 'состава образца обязательно. '

3. Разработан способ N-отношений для определения элементного • состава силикатных минералов с изоморфно-замещающимися элементами с применением градум -точной характеристики зависимости а .ержания элемента в пробе от отношения относительных интенсивностей пиков характеристического рентгеновского излучения элементов, содержащихся в исследуемом образце. Он позволяет определять содержание элементов как в массивных, так и в тонких обьектах, а также частицах произвольной формы и размера. Применение данного способа для РСМА известных типов минералов позволяет не проводить дополнительных измерений и расчетов по учету массы вещества, находящейся в зоне генерации рентгеновского излучения.

Показано, что определение состава по способу N-отношений возможно с применением только одной выбраной N-зависимости, при этом нет необходимости в регистрации интенсивности характеристического рентгеновского излучения элементов, не применяемых в расчете величины N-отношения основного вида.

Установлены кпитерии по выбору оптимальных условий проведения РСМА и предложен вид N-отношений основного и оптимального вида. При исследовании минералов переменного состава N-отношение сновного вида должно включать огносителыг е интенсивности изоморфно-замещающихся элементов.

Погрешность результатов^ полученных с применением способа N - отношений не более чем ± 1,5 % отн. для массивных проб и ± 4 % отн. для индивидуальных частиц и слоев микронных размеров.

4. Разработаны методические рекомендации и практические приемы . проведения РСМА с . применением энергодисперсионного спектрометра. Определены опт-мальные условия проведения анализа и регистрации рентгеновского излучения. Показано, что для сопоставления между собой данных, полученных для массивных образцов и частиц микронных и . субмикронных размеров можно применять метод нормирования с/ммч измеренных содержаний элементов (оксидов) к 100 %.

Разработаны процедуры, уменьшающие неточность получаемых ре-зуль.атов и поар~тяющие определять малые содержания элемента в пробах сложного состава. Определены пределы обнаружения некоторых элементов. Установлено, что погрешность определения содержания элемента в частицах с размером более 2 мкм при применении ПГЙ не более чем ± (1 - 4) % отн при содержании элемента более 1 - 3 масё., 1',едел обнаружения/при рядовой съемке не более чем 0;02 у- 0,3 % масс., для э .»тентов начиная с который згвиент от энергии, воз-

.Суждения, состава пробы и выбранной аналитической линии характеристического рентгеновского спектра элемента.

СПИСОК ПУБЛИКАЦИЙ ПС ТЕМЕ ДИССЕРТАЦИИ

1. Ван К.В., Доронин В.Н. Метод локального рентгеноспектраль-ного анализа частиц с размером 1-5 мкм. В кн.: VIII Всесоюзная конференция по локальным рентгеноспектральным исселедованиям и их применению, тезисы докладов, Черноголовка, 1982, с. 19.

2. Ван К.В. Методика количественного локального рентгено-спектрального анализа зональных минералов переменного состава. Минералогический журнал, т. 5, N 6, 1983, с. 86-91.

3. Ван К.В. Количественный электроннозондовый микроанализ породообразующих минералов, частиц и включений с применением энергодисперсионного спектрометра. В кн.: IX Всесоюзное совещание по

ентгенографии минерального сырья, тезисы докладов, Казань, 1983,' с. 253-254.

4. Аранович Л.Я., Косякова Н.А., Ван К.В. Экспериментальное изучение равновесия кордиерит + ортопироксен + кварц в системе Mg - А1203 - ЭЮ^ Доклады АН СССР, т. 269, N 5, 1983, с. 1:74-1176.

5. Синицын В.А, В; I К.В. О составе синтетических железистых хлоритов. Доклады АН СССР, т. 277, N 3, 1984, с. 700-703.

6. Ван К.В. Выбор оптимальных условий проведения рентгено-спектрального микроанализа низких концентраций элементов с применением энергодисперсионного сп;ктром1..ра. В кн.: XIV Всесоюзное совещание по рентгеновской и электронной спектроскопии, тезисы докладов, Иркутск, 1984, с. 81.

7. Доронин В.Н., Ван К.В., Дубовицкий Ф.И., Трегубое В.Н. Способ количественного рентгеноспектрального анализа. Авторское свидетельство N 1231980, 1986.х

8. Ван К.В., Доронин В.К. Количественный локальный рентгено-спектральиый анализ индивидуальных частиц и фаз с размером 1-" мкм. Препринт ОИХФ АН СССР, Черноголовка, 1985, 48 с.

9. Ван К.В. Определение значений корректирующих коэффициентов и их использование при количественном РСА малых содержаний элементов . применением ПОД и программы М1. В кн.: Локальные рентгено-спектральные исследования и их применение, тезисы докладов IX Всесоюзной научно-технической конференции, Ижевск, 1985, с. 71-72.

' 10. Ван В,Р. Исследование зависимости интенсивности линий характеристического ретШЮ?£Кога спектра элемента от его атомного

т

номера и ее использование при количественном РСА с применением энергодисперсионного спектрометра без использования образцов сравнения. В кн.: Локальные рентгеноспектралыше исследования и их применение, тезисы докладов IX Всесоюзной научно-технической конференции, Ижевск, 1985. с. 69-70.

11. Ван К.В. Метод количественного ренттеноспектрального анализа с применением отношения относительных интенсивносгей (Метод N-отношений). Журнал аналитической химии, т. 40, N 10, 1985, с. 1797-1806. '

12. Ван К.В. Определение количественного состава минералов* и минеральных. частиц методом локального ренттеноспектрального анализа с применением энергодисперсионного спектрометра. Депонировано ВИНИТИ. N 2228 - В 86. Деп., ВИНИТИ, 198о, 49 с.

07.05.1991г. Ззк. 286 Объём 1,5 п.л. Тир. ГООзкз. Типография ИХФЧ ,