Новые сегнетоэлектрические и суперионные кристаллы с каркасной туннельной структурой тема автореферата и диссертации по физике, 01.04.07 ВАК РФ

Харитонова, Елена Петровна АВТОР
кандидата физико-математических наук УЧЕНАЯ СТЕПЕНЬ
Москва МЕСТО ЗАЩИТЫ
2002 ГОД ЗАЩИТЫ
   
01.04.07 КОД ВАК РФ
Диссертация по физике на тему «Новые сегнетоэлектрические и суперионные кристаллы с каркасной туннельной структурой»
 
 
Содержание диссертации автор исследовательской работы: кандидата физико-математических наук, Харитонова, Елена Петровна

Глава I ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ.

1.1. Соединения в тройной системе К20-М)205-В20з.

1.2. Монокристаллы К3М)3В20]2, К3Та3В2012 и КзМ^гОп.

1.2.1. Структура кристаллов.

1.2.2. Некоторые физические характеристики кристаллов.

1.2.3. Синтез монокристаллов КМ$ и КТВ.

1.3. Соединения в системах М20 - №>205 (М = 1л, Ыа, К, Шэ, Сз), их кристаллическая структура и свойства.

 
Введение диссертация по физике, на тему "Новые сегнетоэлектрические и суперионные кристаллы с каркасной туннельной структурой"

В настоящее время в научных исследованиях по поиску и изучению физических свойств новых сегнетоэлектрических, нелинейных оптических и суперионных кристаллических материалов большое внимание уделяется кислородсодержащим соединениям с туннельной структурой, примерами которых могут быть гексагональные и тетрагональные бронзы, соединения семейства пирохлора, титанил фосфата калия КТЮР04 и другие. Все эти соединения объединяет их структурный мотив, состоящий из двух подрешеток: жесткого каркаса, включающего, как правило, сГ -кислородные октаэдры и имеющего широкие сквозные каналы, и щелочных катионов, располагающихся в этих каналах. У многих таких соединений обнаруживаются сегнетоэлектрические свойства в сочетании с высокой ионной проводимостью и нелинейной оптической восприимчивостью. Проводится поиск и среди боратов, отличающихся широкой полосой пропускания света в ультрафиолетовой области, что может быть использовано при создании источников излучения в голубой области спектра.

Настоящая работа посвящена поиску, выращиванию и исследованию физических свойств новых сегнетоэлектриков-суперионных проводников среди щелочных ниобатов и ниобатов-боратов со структурами туннельного типа. Основное внимание уделялось монокристаллам ниобата-бората калия К3КЬзВ2012 (ЮЧВ) и их твердым растворам с частичными замещениями калия на натрий и рубидий, ниобия на тантал и сурьму и, наконец, бора кремнием. Впервые получены и исследованы монокристаллы ниобатов с крупными щелочными катионами цезия и рубидия состава ЫгМ^Оц, где Я = ЫЬ и Сб.

Кристаллы КМВ относятся к семейству, в котором в настоящее время насчитывается около 10 соединений различного состава. Все эти -соединения объединяет алгоритм построения их кристаллической решетки, состоящей из троек сцепленных вершинами ниобий-кислородных или тантал-кислородных октаэдров, образующих непрерывные цепи, которые, в свою очередь, связаны между собой боратными (В03) или силикатными (81207) группами. Широкие каналы, имеющиеся в таких структурах, заполняются щелочными или щелочноземельными катионами. Впервые соединения с подобной структурой были обнаружены в 1977 году, но их физические свойства оставались недостаточно изученными. Известно, что первые представители этого семейства, кристаллы танталата-бората калия КзТазВ2012, были отнесены к полярно-нейтральному классу и отличаются высокими пьезоэлектрическими коэффициентами. У другого представителя этого семейства, ниобата-бората калия КзКГЬзВгОп (ЮЧВ) был отмечен сложный полиморфизм с существованием 6 различных фаз.

В настоящей работе были получены достаточно крупные и совершенные монокристаллы последнего соединения и с помощью рентгенографического анализа, электрофизического, оптического и других методов детально исследованы их основные характеристики. Показано, что у кристаллов ЮЧВ в интервале температур от -200 до 600°С могут существовать восемь различных фаз, имеющих антисегнетоэлектрическую, сегнетоэлектрическую и сегнетоэластическую природу. Туннельный тип структуры оказался ответственным за аномально высокую ионную электропроводность этих кристаллов, что позволяет отнести их к суперионным проводникам.

Впервые были изучены твердые растворы на основе кристаллов ЮЧГВ с частичными замещениями калия, ниобия и бора на другие элементы. Данные исследования показали, что состав этих кристаллов и их физические свойства можно регулировать в широких пределах, что позволяет исследовать взаимосвязи, имеющиеся между составом, структурой и свойствами. Исследование физических свойств таких твердых растворов позволило установить, в частности, что катионы, 6 находящиеся в разных позициях, в разной степени влияют на механизмы фазовых переходов и на появление новых фаз.

В настоящей работе были также впервые получены монокристаллы ниобатов рубидия и цезия состава ЯгМ^Оп, где Л = ЯЪ и Се, также имеющие структуру каркасного типа, изучены их полиморфизм и физические свойства, отмечены их высокая ионная проводимость и существование сегнетоэлектрического фазового перехода у ниобата цезия.

 
Заключение диссертации по теме "Физика конденсированного состояния"

Заключение

Монокристаллы с каркасными туннельными структурами являются перспективными объектами для поиска новых сегнетоэлектрических и суперионных материалов. Сюда относятся, в частности, ниобаты, танталаты, бораты и смешанные бораты-ниобаты щелочных элементов.

Среди этих кристаллов ниобат-борат калия КзМэзВгОп заслуживает особого внимания. Это кристалл с каркасной туннельной структурой, обладающий сложным полиморфизмом и проявлениями сегнетоэлектрических и сегнетоэластических свойств, но природа его фазовых переходов детально еще не исследовалась. Вместе с тем, существует явное несоответствие между некоторыми имеющимися в литературе данными о структуре этих кристаллов, их морфологии и физических свойствах, таких как, например, пьезоэлектрические. Симметрия формы роста кристаллов 6/ттт, относящаяся к высокотемпературной модификации, не соответствует их симметрии 6т2, вытекающей из структурных данных. Твердые растворы, которые могут дать ценную дополнительную информацию о природе фазовых переходов и физических свойствах этих кристаллов не синтезировались и не исследовались.

Научный и практический интерес могут представлять также монокристаллы имеющих каркасную туннельную структуру соединений С82№>40ц и Ш^М^Оц, у которых можно ожидать повышенную ионную электропроводность и проявление сегнетоэлектрических свойств.

Глава II. МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТОВ

Основные экспериментальные методы, использованные в данной работе, включают синтез керамических образцов в системах K3Nb3B2Oi2 -M3Nb3B2012 (М = Na, Rb), K3Nb3B2012 - K3M'3B20i2 (M* = Та, Sb), K3Nb3B20J2 - K3Nb3Si20i3 и Cs2Nb40n - Rb2Nb4On и их рентгенофазовый анализ, выращивание монокристаллов указанных соединений и их твердых растворов с помощью спонтанной кристаллизации из раствора в расплаве, определение их морфологии, плотности и оптических характеристик, рентгенографический анализ кристаллов, исследование температурных зависимостей диэлектрической проницаемости, электропроводности, интенсивности генерации второй оптической гармоники при лазерном облучении, изучение перестроек доменной структуры и полиморфизма кристаллов в области температур от -150 до 900°С.

2.1. Синтез керамических образцов

Определение границ твердых растворов в системах, приведенных выше, проводилось с использованием керамических образцов различного состава, полученных с помощью двукратного обжига и последующего быстрого охлаждения. Конкретные составы образцов были различными для каждой из шести систем и приведены в соответствующих главах 4, 5, 6 и 7, а методика их синтеза приводится ниже.

Синтез керамических образцов твердых растворов на основе соединения K3Nb3B20i2 проходил согласно следующим реакциям: (3-х)К20 + xNa20 + 3Nb205 + 2В203 = 2K3.xNaxNb3B2012 (2.1)

3-х)К20 + xRb20 + 3Nb205 + 2В203 = 2K3.xRbxNb3B2012 (2.2)

3K20 + (3-x)Nb205 + хТа205 + 2В203 = 2K3Nb3.xTaxB20i2 (2.3)

3K20 + (3-x)Nb205 + xSb203 + 2В203 = 2K3Nb3.xSbxB20i2 (2.4)

3K20 + Nb205 + (2-2х)В203 + (4x)Si02 = 2K3Nb306(B206)1.x(Si207)x (2.5)

Керамические образцы в системе Cs2Nb40n - Rb2Nb40n были синтезированы в твердой фазе по реакции:

1 -x)Cs20 + xRb20 + 2Nb205 = Cs2.xRbxNb40! i (2.6)

Во всех указанных выше реакциях использовались реактивы К2СОз, Na2C03, Rb2C03, CsN03, Nb205, Ta205, Sb203, H3B03, Si02 квалификации «осч». Взвешивание нужных количеств этих реактивов проводилось на весах фирмы "Sartorius" с точностью до 0.001 г. Общий вес навесок составлял 1 - 2 г. Далее эти реактивы смешивались в нужной пропорции в агатовой ступке и на гидравлическом прессе отпрессовывались таблетки диаметром 1 см и толщиной 2 мм. Давление при прессовании составляло 150 кг/см . Полученные образцы затем обжигались в муфельной печи в воздушной среде, при этом образцы различного состава не соприкасались друг с другом. Предварительный обжиг проводился при 600°С в течение 1-5 часов, затем таблетки растирались в агатовой ступке, вновь отпрессовывались и помещались в печь. Длительность и температура второго обжига были различными для каждой из вышеперечисленных систем и приведены в главах 4, 5, 6 и 7. Границы существования твердых растворов в указанных системах определялись с использованием рентгеновского фазового анализа путем сопоставления дифрактограмм образцов с дифрактограммами монокристаллов K3Nb3B20i2, K3Ta3B20i2, K3Nb3Si2013, Cs2Nb40n и Rb2Nb40n.

2.2. Выращивание монокристаллов

Исследования полиморфизма и физических свойств полученных соединений и их твердых растворов проводились на монокристаллических образцах. Поскольку все эти соединения плавятся с разложением, для получения их монокристаллов был использован метод спонтанной кристаллизации из раствора в расплаве [38]. Монокристаллы K3Nb3B20i2, K3Ta3B20i2, K3Nb3Si20i3 и твердые растворы на основе K3Nb3B20i2 были выращены из расплавов, относящихся к системам К20 - KC1(KF) - Nb2Os -В203, К20 - Na(Rb)20-Nb205 - В203, К20 - Nb205 - Ta205(Sb203,W03) - В2Оэ и К20 - Nb205 - В203 - Si02. Монокристаллы Cs2Nb4On, Rb2Nb4On и Cs2.xRbxNb40n были выращены в системах Cs(Rb)20-Nb205, ранее изученных в работах [26, 27].

Опыты по выращиванию кристаллов проводились в печах с силитовыми и проволочными нагревателями, контроль за температурой в которых осуществлялся с помощью платино-платинородиевых термопар, а ее изменение проводилось по заданной программе с помощью регулирующих устройств 818Р фирмы Eurotherm. Смеси реактивов нужного состава перемешивались в агатовой ступке и прокаливались в муфельной печи при 600°С с целью разложения углекислых и азотнокислых солей. Полученную смесь затем измельчали в агатовой шаровой мельнице в течение часа и заплавляли в платиновые тигли объемом 50 мл. Выращивание монокристаллов проводилось в воздушной атмосфере. Максимальная температура нагрева расплавов варьировалась от 1250 до 1000°С в зависимости от состава исходной смеси. При этих температурах тигли выдерживали в течение 12-24 часов и затем температуру снижали по программе со скоростью 0.5 - 2°С/час до 1150 -900°С. Точные составы исходных смесей и условия выращивания приведены в соответствующих главах экспериментальной части настоящей работы. После охлаждения до указанных температур расплав сливали, а выросшие на дне и стенках тигля монокристаллы охлаждали вместе с печью до комнатной температуры. Скорость охлаждения для кристаллов K3Nb3B20i2 и твердых растворов на их основе составляла 50°С/час. Условия охлаждения монокристаллов в системе Cs(Rb)20-Nb20s были различными для каждого опыта и приведены в Гл. 7.

От остатков растворителя выросшие монокристаллы отмывали в горячей воде, а в случае K3Nb3Si20i3 - в горячей воде с добавлением HF.

Исключение составили монокристаллы С82№>40ц и С82хШэх1ЧЬ4011, которые от остатков растворителя очищались механически.

2.3. Рентгенофазовый анализ и состав кристаллов

Фазовый анализ керамических образцов и полученных монокристаллов проводился путем сравнения с эталонными порошковых рентгенограмм, полученных на дифрактометрах ДРОН-2.0 и Ь^аки О/шах-ЫС (СиКа-излучение) при скорости вращения счетчика, соответственно, 2 град./мин. и 4 град./мин. Рентгенограммы высокого разрешения с измельченных кристаллов С82№>4С)1 1 и ИЬ21ЧЬ40ц были получены на рентгеновском дифрактометре УРД-6.

Дифрактограммы монокристаллов К3№>3В2012, С821ЧЬ40ц и КЬ2№>40ц индицировались методом подбора [39]. Для кристаллов К3№>зВ2012 первоначально определялись индексы плоскостей (ИОО), (ОкО), (001) и параметры элементарной ячейки а, Ь, с с помощью разверток с граней {1120}, {Ю10}, {0001} на дифрактометре ДРОН-2.0. Индицирование порошковых дифрактограмм и расчеты параметров элементарной ячейки проводились для этих кристаллов в ромбической, моноклинной и триклинной установках. Установка кристаллов в ромбической сингонии соответствовала принятой в работе [15]. Дифрактограммы кристаллов С82№>40ц и Шэ21ЧЬ40ц были получены и проиндицированы совместно с сотрудниками Физико-химического института им. Л.Я. Карпова. Индицирование дифрактограмм твердых растворов проводилось путем их сопоставления с дифрактограммами чистых монокристаллов К3№>3В2012, С82№>4Оц и КЬ2№>40,,. Параметры элементарных ячеек всех полученных монокристаллов рассчитывались по методу Когена [40], в основе которого лежит метод наименьших квадратов.

По экспериментально определенным плотностям кристаллов Л твердых растворов р (г/см ) и полученным по методу Когена объемам элементарных ячеек V (А3) оценивался их химический состав. В основе таких расчетов лежит формула из работы [41]:

1.66020 2 М

Р =-^-~> (2-7) где Ъ - число формульных единиц в элементарной ячейке кристаллов, МТВр - молярная масса твердого раствора. В случае твердых растворов с изовалентными замещениями Мтв р рассчитывается по формуле:

Мт,р. = М - х (М, - М2), (2.8) где М, М! и М2 - молярные массы чистого кристалла, замещаемого иона и замещающего иона, х - искомое содержание примеси в кристалле. В случае гетеровалентного замещения бора кремнием в кристаллах Кз№)3В2012 формула была следующей:

Мтв.р. = Мкыв - х (МВ2об - М5;2о7), (2.9) где МКыв, МВ2об и М8йо7 молярные массы К31чГЬ3В2012, двух замещаемых групп В03 и одной замещающей их группы 81207.

Таким образом, искомое содержание примеси в кристалле равно, соответственно: х = " М^М2 ~ М:1°) 1.6602 Ъ в случае изовалентных замещений и х = (7-77^7; - Мкыв)/( М^207 - МВ2Об) (2.11)

1.6602 Z в случае гетеровалентного замещения бора кремнием. Определение состава кристаллов твердых растворов с помощью химического анализа оказалось неприменимым вследствие присутствия в данных соединениях легких атомов бора.

2.4. Электрофизические исследования

Температурные зависимости диэлектрической проницаемости и электропроводности были изучены с помощью мостов TESLA ВМ 431Е и Р5083. В качестве образцов использовались пластинки, вырезанные из оптически прозрачных монокристаллов перпендикулярно трем кристаллографическим осям а,Ьис.

Измерения с использованием моста TESLA ВМ 431Е проводились на частоте 1МГц в интервале температур 0 - 900°С. Скорость изменения температуры составляла 1-10 °С/мин. На кристаллические пластинки наносили серебряные электроды. Образцы помещали в печь, температура в которой контролировалась с помощью платино-платинородиевой термопары со спаем, касающимся поверхности образца. Поскольку электропроводность кристаллов при высоких температурах была достаточно велика, при расчете емкости образцов вносилась поправка:

С = Сизм. + АС, (2.12) где С - истинное значение емкости в фарадах, Сизм. - показание прибора, АС - поправка, рассчитанная по инструкции по эксплуатации моста TESLA ВМ 431Е, и составляющая в нашем случае:

АС = 2.2 х 109/R2. (2.13)

Такая поправка становится существенной при сопротивлении образца R менее 1000 Ом.

Измерения температурных зависимостей диэлектрической проницаемости и электропроводности в интервале температур от -150 до 600°С на частотах 100 Гц - 100 кГц проводились с помощью моста Р 5083 совместно с сотрудниками Физико-химического института им. Л.Я. Карпова. На кристаллические пластинки наносили золотые или платиновые электроды. Для проведения низкотемпературных измерений (от -150 до 30°С) использовался соответствующий криостат, а в интервале температур от 30 до 600°С измерения проводили в электрической печи.

Температуру образца определяли с помощью дифференциальных термопар, один из спаев которых находился при фиксированной температуре 53.2°С. Скорость изменения температуры составляла 1 - 5°С/мин. Для расчетов диэлектрической проницаемости с и электропроводности ст и построения графиков зависимостей с (Т) и logo (Т) использовались программы, составленные для IBM PC/XT.

2.5. Генерация второй гармоники лазерного излучения (метод Куртца)

Температурные зависимости интенсивности генерации второй оптической гармоники при лазерном облучении (ГВГ) исследовались совместно с сотрудниками Физико-химического института им. Л.Я. Карпова. Измерения проводились порошковым методом Куртца [42] в интервале температур 30 - 700°С на измельченных до 3 - 5 мкм кристаллах К3М>зВ2012, Cs2Nb40n и Rb2Nb40n и K3.xNaxNb3B20i2. Скорость изменения температуры составляла 5 - 8°С/мин.

Физической основой этого метода является экспериментально установленная связь между величиной сигнала ГВГ у мелкодисперсного поликристаллического образца, регистрируемой по схеме на отражение, и степенью полярности кристаллической решетки [42]. Схема измерений приведена на рис. 2.1. Считалось, что если размер зерна (L) меньше длины когерентности (1соь)? то интенсивность ГВГ является непосредственной мерой нелинейной оптической восприимчивости. У большинства оксидов это условие выполняется при L < 3 мкм. Влияние толщины образца устранялось путем измерения излучения от образца по схеме "на отражение". Частота следования импульсов YAG:Nd лазера составляла 25 имп./с.

2.6. Методы изучения оптических свойств и доменной структуры

Край оптического поглощения монокристаллов КзМЪзВгО^ и СБгМ^Оц был измерен с помощью спектрофотометра фирмы Бресогс! совместно с сотрудниками ИНЭОС РАН. Коноскопия кристаллов изучалась с использованием поляризационного микроскопа МИН-4, источником света к которому служила ртутная лампа. Поведение кристаллов при изменении температуры исследовалось на микроскопе МИН-8 в поляризованном свете с использованием в качестве источника лампы накаливания. Исследования проводились в интервале 30 - 1200°С с использованием нагревательной приставки, которая представляла собой петлю из платинородиевой проволоки, на которую помещался исследуемый образец. Нагрев нити осуществлялся электрическим током с величиной до 8 А, а ее температура определялась по градуировочной кривой. Измерения показателей преломления кристаллов проводились по методу Шолне [43] на микроскопе МИН-8. Измерение разности хода окрашенных пластинок осуществлялось с помощью компенсатора Берека [44]. Угол оптических осей кристаллов 1ШВ был оценен по методике, описанной в [45].

Показатели преломления кристаллов ККВ были измерены экспериментально на срезах {1010} (пй) и {0001} (пс). Показатель преломления па был оценен по формуле [46]: втК =

-А'') р v g т / к'Ж-К) т \ г Р '

2.14) р где V - угол оптических осей, ^ 1Чт и Кр - показатели преломления кристаллов.

Доменная структура кристаллов исследовалась в проходящем поляризованном свете на микроскопе МИН-8 с нагревательной приставкой и методом избирательного химического травления в смеси НР и Н№)3 (1:2 по объему) или в НБ в интервалах температур, соответственно, 30-110°С и 30 - 120°С. Обработка кристаллических срезов перед травлением была различной для разных кристаллов. Так, поверхность срезов {100}, {010} и {001} кристаллов СвгМ^Оц, среза {112 0} кристаллов Кз№>зВ2012 и их твердых растворов и среза {0001} кристаллов Кз№>з81201з была отшлифована и отполирована. У кристаллов К3МззВ2012 и их твердых растворов срез {0001} был получен скалыванием кристаллов по плоскости спайности {0001}, а срез {1010} этих кристаллов представлял собой естественную грань и не подвергался дополнительной обработке. Режимы травления кристаллов составили 20 - 40 мин. при комнатной температуре, 5-10 мин. при 50°С и 1 - 5 мин. при температурах кипения смесей (110 и 120°С). Наилучшим режимом для кристаллов КзМз3В2012, К3Мзз812013 и твердых растворов на основе К3МЪ3В2012 оказалось травление при 80°С в течение 5 мин, а для С82МЪ40ц - травление при 50°С в течение 10 мин. Исследование травленых кристаллических срезов проводилось с использованием оптического микроскопа на отражение фирмы САЯЬгЕКЗ и микроскопов на просвет МИН-8 и ЬАВОУАЬ-4.

2.7. Другие методы исследования физических свойств

Морфология кристаллов изучалась с помощью двукружного гониометра 2ЯО-3, а их плотность была измерена методом гидростатического взвешивания в толуоле [47] на весах фирмы БаЛопш с точностью взвешивания 0.001г. Дифференциальный термический анализ проводился на сканирующем калориметре "Термофлекс" при скорости нагревания и охлаждения образцов 10 - 20°С/мин. Тест на пьезоэффект проводился статическим методом [48].

Глава III. КРИСТАЛЛЫ НИОБАТА-БОРАТА КАЛИЯ K3Nb3B20i2: ВЫРАЩИВАНИЕ, СВОЙСТВА, ФАЗОВЫЕ ПЕРЕХОДЫ

Разработана методика получения совершенных монокристаллов ниобата-бората калия K3Nb3B20i2 (KNB) и детально изучены их кристаллографические характеристики, фазовые переходы, доменная структура, температурные зависимости диэлектрических, нелинейных оптических свойств и электропроводности. Показано, что эти кристаллы отличаются сложным полиморфизмом и уникальным сочетанием антисегнетоэлектрических, сегнетоэлектрических, сегнетоэластических и суперионных свойств.

3.1 Выращивание монокристаллов K3Nb3B2Oi2 и их характеристика.

Соединение K3Nb3B20i2 плавится инконгруэнтно и в этой связи для выращивания его монокристаллов был использован метод спонтанной кристаллизации из раствора в расплаве (см. п. 2.2) в тройной системе К20-Nb205-B203, которая ранее была исследована в работе [1]. Первоначальный подбор оптимального состава для кристаллизации осуществлялся с помощью высокотемпературной микроскопии (табл. 3.1). Поле кристаллизации KNB в этой тройной системе является достаточно широким, но все изученные расплавы характеризуются большой летучестью и высокой вязкостью.

По результатам этих исследований и с учетом данных работы [1] для выращивания монокристаллов KNB был выбран расплав следующего состава: 41 мол% К20, 24 мол% Nb205, 35 мол% В203. Температурный режим кристаллизации и размеры полученных монокристаллов указаны в таблице 3.2 (опыт №1). При температурах, близких к 1000°С, испарение расплава было достаточно сильным, однако быстро уменьшалось при снижении температуры. Монокристаллы KNB имели хорошее оптическое качество, но внутри некоторых крупных кристаллов наблюдались

45

 
Список источников диссертации и автореферата по физике, кандидата физико-математических наук, Харитонова, Елена Петровна, Москва

1. В.И. Воронкова, В.К. Яновский, И.Н. Леонтьева, Н.И. Сорокина, В.И. Симонов. Рост, структура, полиморфизм и физические свойства кристаллов KNbB206 и K3Nb3B20i2. // Кристаллография. 1996. Т. 41. № 5. с. 879-881.

2. Н.А. Пыльнева, Ж.Г. Базарова, и др. Синтез и раствор-расплавная кристаллизация новых тройных оксидов KNbB60i2 и KNbBi202i. IX Национальная Конференция по Росту Кристаллов (НКРК 2000), Москва, ИК РАН 16-20 октября 2000г. Сборник тезисов, с. 467.

3. М. Gasperin. Synthese et structure d'un oxyde multiple d'un type nouveau: TlNbB206. II Acta Cryst. 1974. В 30. p.l 181-1183.

4. A. Baucher, M. Gasperin. Sur une nouvelle famille d'oxides multiples a base de bore: М^ВгОб (M = Tl, Rb; M' = Nb, Та). // Mater. Res. Bull. 1975. V. 10. p. 469-472.

5. J. F. H. Nicholls, B.H.T. Chai, D.L. Corker et al. KNB (KNbB206) & its isomorps a new family of non-linear optical materials. // SPIE. 1993. V. 1863. p. 54-59.

6. P. Becker, L. Bohaty. CsNb0B205: the basic structure type of the borates AM0B205 (A = K, Rb, Cs, Tl; M = Nb, Та). // Acta Cryst. 1995. С 51. p. 17211723.

7. A. Akella, D. A. Keszler. Crystal chemistry of noncentrosymmetric alkali-metal Nb and Та oxide pyroborates. II J. Solid State Chem. 1995. V. 120. p. 74-79.

8. J. F. H. Nicholls, B. Henderson, H.G. Gallagher, B.H.T. Chai. Synthesis, growth and assessment of mixed niobate-borate (XYB206) compounds. // J. Crystal Growth. 2000. V. 220. p. 263-274.

9. S. Schmid, R.L. Withers, D. Corker, P. Baules. Towards a unified description of the AM0B205 (A = K, Rb, Cs, Tl; M = Nb, Та) family of compounds. // Acta Cryst. 2000. В 56. p. 558-564.

10. D.J. McKee, J. F. H. Nicholls, I.S. Ruddock. Interferometric measurement of refractive index. II Eur. J. Phys. 1995. 16. p. 127-134.

11. J. Gopalakrishnan, К. Ramesha, К. Kasthuri Rangan, Sonal Pandey. In search of inorganic nonlinear optical materials for second harmonic generation. // J. Solid State Chem. 1999. V. 148, 75-80.

12. J. Choisnet, D. Groult, В. Raveau. Nouvelles structures à tunnels de section pentagonale К3М>зВ2012 et КзТа3В2012. II Acta Cryst. 1977. В 33. p. 1841-1845.

13. P. Becker, J. Schneider, L. Bohaty. Ferroishe Phasenumwandlungen in K3Nb3B2Oi2. // Z. Kristallogr. Suppl. 1993. No. 7. p. 14.

14. P. Becker, L. Bohaty. Phasenumwandlungen in K3Nb3B20i2. H Z. Kristallogr. Suppl. 1995. No. 9. p. 28.

15. P. Becker, P. Held, L. Bohaty. Crystal growth of ferroelectric and ferroelastic Кз№>з0б|(В03)2. and crystal structure of the room temperature modification. // Z Kristallogr. 1996. V. 211. B. 7. p. 449-452.

16. П. Беккер, JI. Бохаты, Ю. Шнайдер. Уточнение кристаллической структуры высокотемпературной фазы Кз№>зОб(ВОз)2. методом Ритфелда. // Кристаллография. 1997. Т. 42. № 2. с. 250-254.

17. S.C. Abrahams, L.E. Zyontz, J.L. Bernstein, J.P. Remeika, A.S. Cooper. Piesoelectric K3Ta3B20i2: crystal structure at room temperature and crystal growth. II J. Chem. Phys. 1981.V. 75. No. 11. p. 5456-5460.

18. Г.Б. Бокий. Кристаллохимия. Москва: Издательство Московского университета. 1960. с. 314.

19. J. Choisnet, N. Nguyen, D. Groult, В. Raveau. De noveaux oxydes a reseau forme d'octaedres Nb06 (Ta06) et de groupes Si207: les phases A3Ta6Si4026 (A = Ba, Sr) et КбМ^Оге (M = Nb, Ta). Il Mater. Res. Bull. 1976. V. 11. No 8. P. 887894.

20. S. Jaulmes, S. Launay, P. Mahe, M. Quarton. Silicatoniobate de potassium, K3Nb306Si207. Il Acta Cryst. 1995. C51. p. 794-796.

21. Ю.И. Сиротин, М.П. Шаскольская. Основы кристаллофизики. Москва: "Наука". 1975. с. 642.

22. Б.В. Милль, A.B. Буташин, A.A. Каминский. Выращивание и люминисценция кристаллов K6Nb6Si4026.11 Неорганические материалы. 1993. Т. 29. № 11. с. 1563-1564.

23. А. Reisman, F. Holtzberg. Heterogeneous equilibria in systems Li20-, Ag20-Nb205 and oxide-models. II J. Amer. Chem. Soc. 1958. V. 80. No 24. p. 6503-6507.

24. A. Reisman, F. Holtzberg, E. Banks. Reactions of the group VB pentoxides with alkali oxides and carbonates. VII. Heterogeneous equilibria in the system Na20 or Na2C03-Nb205. II J. Amer. Chem. Soc. 1958. V. 80. No 1. p. 37-42.

25. A. Reisman, F. Holtzberg. Phase equilibria in the system K2C03-Nb205 by the method of differential thermal analysis. II J. Amer. Chem. Soc. 1955. V. 77. No 8. p. 2115-2119.

26. A. Reisman, F. Holtzberg. Equilibria in the system Rb20-Nb205 and sequental trends in oxide-oxide interactions. The prediction of compound retention. II J. Phys. Chem. 1960. V. 64. p. 748-753.

27. A. Reisman, J. Mineo. Compound repetition in oxide-oxide interactions. The system Cs20-Nb205. II J. Phys. Chem. 1961. V. 65. No 6. p. 996-998.

28. Г.А. Смоленский, B.A. Боков, B.A. Исупов и др. Сегнетоэлектрики и антисегнетоэлектрики. Ленинград: "Наука". 1971. с. 434-437.29. Там же с. 424-427.30. Там же с. 378-381.

29. М. Serafín, R. Hoppe. Rubidium niobate (RbNb03) a metaniobate with pyrgom structure. II J. Less-Common Met. 1980. V. 76. p. 299-316.

30. G. Meyer. R. Hoppe. Ober oxoniobate (V): die kristallstructur von CsNb03. // Z. anorg. allg. Chem. 1977. V. 436. p. 75-86.

31. И.С. Желудев. Основы сегнетоэлектричества. Москва: "Атомиздат". 1973. с. 68.

32. В.И. Воронкова, В.К. Яновский, И.Н. Леонтьева и др. Кристаллы RM308 (R = Rb, Cs, М = Nb, Та): выращивание и свойства. // Кристаллография. 1998. Т. 43. №2. с. 379-381.

33. Р.Н. Щелоков, Е.Н. Траггейм, М.Б. Варфоломеев и др. Рентгенографическое исследование тетрапероксониобатов щелочных металлов и аммония. II Ж. неорган, химии. 1972. Т. 17, № 9. с. 2439-2441.

34. М. Gasperin, М.Т. Bihan. Mecanisme d'hydratation des niobates alkalins lamellaires de formule ^NbeOn (A = K, Rb, Cs). Il J. Solid State Chem. 1982. V. 43. p. 346-353.

35. M. Gasperin. Structure du Niobate de Cesium Cs2Nb40n. Il Acta Cryst. 1981. В37. p. 641-643.

36. P. Лодиз, P. Паркер. Рост монокристаллов. Москва: "Мир". 1974. с. 311315.

37. Г. Липсон, Г. Стипл. Интерпретация порошковых рентгенограмм. Москва: "Мир". 1972. с. 134-138.

38. Г. Липсон, Г. Стипл. Интерпретация порошковых рентгенограмм. Москва: "Мир". 1972. с. 191-196.

39. Г.А. Ильинский. Определение плотности минералов. Ленинград: "Недра". 1975. с. 17.

40. S.K. Kurtz, Т.Т. Perry. A powder technique for the evaluation of nonlinear optical materials. II J. Appt. Phys. V. 39. No 8. 1968. p. 3798-3813.

41. A. Miller. Duc de Chaulnes' method for refractive-index determination. // J. Opt. Soc. Amer. V. 58. P. 428. 1968.

42. H.M. Меланхолии. Методы исследования оптических свойств кристаллов. Москва: "Наука". 1970. с. 53-55.45. Там же с. 70-72.

43. Р. Стойбер, С. Морзе. Определение кристаллов под микроскопом. Москва: "Мир". 1974. с. 168.

44. Г.А. Ильинский. Определение плотности минералов. Ленинград: "Недра". 1975. с. 22-23.

45. Физика твердого тела. Спецпрактикум. М.: Изд-во МГУ. 1983. с. 124.

46. Меланхолии Н.М. Методы исследования оптических свойств кристаллов. Москва: "Наука". 1970. с. 44-45.

47. Калинин В.Б., Стефанович С.Ю. Катионная подвижность в ортофосфатах. Итоги науки и техники. Серия химия твердого тела. Москва: ВИНИТИ, 1992. с. 3,

48. Ю.Я. Гуревич, Ю.И. Харкац. Суперионные проводники. Серия современные проблемы физики. Москва: "Наука". 1992.

49. Shannon R.D. Revised effective ionic radii and systematic studies of interatomic distances in halides and chalcogenides. // Acta Cryst. 1976. A 32. p. 751-767.

50. Уэллс А. Кристаллохимия. Москва: "Мир". 1988. с. 88-163.

51. И. Костов. Кристаллография. Москва: "Мир". 1965. с. 145-148

52. И. Костов. Кристаллография. Москва: "Мир". 1965. с. 144-145

53. И.С.Желудев. Симметрия и ее приложения. Москва: "Атомиздат". 1976. с.202.

54. Л.А.Шувалов. Сегнетоэластики. // Изв. АН СССР. Серия физическая. 1979. т.43. № 8. с. 1554-1560,

55. И.С.Желудев, А.С.Сонин. Пространственная симметрия и сегнетоэлектрические фазовые переходы. // Кристаллография. 1959. т. 4. с.874.

56. K.Aizu. Possible species of "ferroelastic" crystals and of simultaneously ferroelectric and ferroelastic crystals. // J.Phys.Soc.Japan. 1969. Vol.27. No.2. p.387-396.

57. P. Блинц, Б. Жекш. Сегнетоэлектрики и антисегнетоэлектрики. Динамика решетки. Москва: "Мир". 1975. с. 91-95.

58. И.С. Желудев. Основы сегнетоэлектричества. Москва: "Атомиздат". 1973. с. 63.

59. Б.А.Струков, А.П.Леванюк. Физические основы сегнетоэлектрических явлений в кристаллах. Москва: "Наука". 1983. с. 103-106.