Темы авторефератов и диссертаций по физике из каталога библиотеки ФизМатХим. Физическая электроника

Код ВАК 01.04.04

Тема работы	Автор	Год
Рассеяние ионов поверхностью монокристалла сложного состава Состав и структура поверхности во многом определяют сопротивление твердого тела внешним химическим, механическим и другим воздействием, а также активность различных физико - химических процессов, протекающих на этой поверхности. В этой связи особое значение приобретают диагностические исследования поверхности. Одним из методов диагностики состава…	Ядгаров, Ишмумин Джаббарович	1993
Системы формирования пучков заряженных частиц для исследования поверхности твердого тела В настоящее время наблюдается интенсивное развитие методов исследования поверхности твердого тела и приповерхностных слоёа с использованием зондирования пучками заряженных частиц. В ряду других заметное место занимают методы электронографии как эффективный способ определения структуры поверхности, а т атаке получателе всЭ более широкое…	Пасовец, Сергей Владимирович	1993
Сравнительные исследования образования и фрагментации положительно и отрицательно заряженных гомо— и гетероядерных кластеров при распылении C, Al, Si, V и Cu ионами Xe+, O2+ CS+ Эмиссия кластеров при распылении твердих тол нона'га средних энергий давно привлекает к себе внимание многих исследователей. Интерес этот связан с широким развитием исследований свойств малых тастиц, являющихся переходным состоянием между изолированным атомом >! твердым телом…	Беккерман, Анатолий Давыдович	1993
Физико-химические и эмиссионные свойства термокатодов на основе окислов щелочноземельных металлов Оксидному катоду среди различных типов тзраокатодов, широко и. традиционно используемых в ЭЗП, отводится особое место. Изучении .. его сзоНстз поезгщено большое количество исследоваш>й, однако ряд бопросос, касающихся-работы ЯГ, до сих пор остается невыясненным, что затрудняет возможность оптимизации его характеристик…	Шнюков, Вадим Федорович	1993
Электронно-и ионно-стимулированная десорбция возбужденных частиц При анализе результатов большинства имеющихся экспериментальных работ по "десорбции, значительные трудности их интерпретации сопря-кены с неопределенностью первичного фактора.вызывающего десорбцию, в частности,характера первичного электронного возбуадения в системе адсорбент - адсорбат. В этом плане важную информацию дают значения порогов…	Альдургам Набиль	1993
Электронно-спектроскопические исследования и анализ состояния поверхности многокомпонентных систем, созданных ионной имплантацией Изучению влияния ионной имплантации на состояние и свойства поверхности твердых тел посвящено большое число работ. Эти исследования показали, что ниэкоэнергетичная бомбардировка приводит к увеличению коэффициента вторичной электронной эмиссии, способствует низкотемпературному апмтаксиальному росту пленок из нонно-молекулярних пучков, позволяет…	Умирзаков, Балтохаджа Ерматович	1993
Анализ параметров и дефектов монокристаллических полупроводников методами наведенного тока и катодолюминесценции Растровая электронная микроскопия (РЭМ) - один из наиболее локальных методов исследования твердых тэл. Ккогообразпы физические явления, которые используются для формирования изображения в РЭУ с высоким пространственным разрешением. Для изучения дефектов я измерения локальных параметров полупроводников часто используется jareo ток, индуцированный…	Аль Шаер Валид	1992
Влияние сильного электрического поля на диффузионные и эмиссионные процессы, исследованное в случаях монокристиаллов Ir, Pt, Ta и пленок Si на W Система 7.-SÍ неоднократно выбиралась в качестве объекта для исследований различными авторами. использующими в своем арсенале всевззмогиые методики. Что касается полевых эмиссионых методов, то го cía пор не было проведено -ачестввнкого изучения процессов, пр. исходядз'-X при конденсации S1 на >'.' с микроскопической тоща: зр*-. ,чия. При этом…	Бутенко, Виталий Григорьевич	1992
Диссоциативная поверхностная ионизация молекул в стационарных и нестационарных условиях Поверхностная ионизация (ПвИ)ислол1>эуется для исследований взаимодействия частиц с поверхностью твердого тела.Изучая а стационарных условиях ПвИ атомных частиц, можно получать информацию об ионизирующей поверхности (работе выхода, ее эмиссионной неоднородности, фазовых превращениях в адсорбированных слоях), а также о коэффициентах .поверхностной…	Назаров, Эркинжан Ганиджанович	1992
Закономерности формирования термополевых микровыступов, изучаемые полевыми эмиссионными методами К настоящему времени накоплен и обобщён значительный теоретический и экспериментальный материал, посвященный проблеме тер. МОПОЛ9БОГО изменения формы вершин змиттеров-острий. Так было доказано, что при воздействии на остриЗ высоких температуры и поля за изменение форма его поверхности отвечает процесс поверхностной семодиффузии атомов…	Власов, Юрий Александрович	1992
Запись статической голограммы бегущей интерференционной картиной в фоторефрактивном кристалле Важнейшей задачей фоторефракции является увеличение фэто-рефрактивногб отклика среды. Для этой цели необходимо контролировать поток зарядов в кристалле. Простейшими механизмами разделения пространственного заряда являится диффузия и дрейф электронов во внутреннем фотовольтаическом поле 11.2]. В кристаллах с относительно малыми электрооптическими…	Ильиных, Петр Николаевич	1992
Исследование изменения состава поверхности двухкомпонентных систем при ионной бомбардировке Возможность предсказания изменения состава твердого тела под действием каскадов столкновений в последнее времяГактивно обсуждалась Сом.,- например, tW. Eckstein', 199113. В настоящее враля для исследования изменения состава используется главным образом моделирование методом Монте-Карло. Более высокую степень обобщение представляет собой подход…	Степанова, Мария Георгиевна	1992
Исследование процессов кратного рассеяния и каналирования ионов и образования атомов отдачи на поверхности и в тонких кристаллах методом моделирования на ЭВМ Исследование этих процессов не в последнюю очеред стимулируется уникальными аналитическими возможностями развиваемых на i.x основе нетодоз диагностики поверхности. В частности, кратное рассеяние ионов и образование атомов отдачи при скользящем падении на поверхность открывают новые перспективу в исследовании ультратонких слоев вещества, при…	Умаров, Фарид Фахриевич	1992
Исследование процессов радиационной деградации и низкотемпературного отжига в фотопреобразователях на основе кремния n-типа, легированных литием Исследование природа и евойстз электрически актавних ектов и рекомбанациоинык цент рой (РЦ) в л-51 с примесш лития зт важное значение для анализа процессов, протекащй в 4>Л ёо ля сблучечия иди при повышении температуры (отжиге). Эти ;ессы оказниаот определяющее влияние иа основные параметры ^ в конечном счете обеспечивают ресурс работы ФП…	Щербаков, Юрий Викторович	1992
Исследование топографии облученных поверхностей и ее влияния на пространственные распределения распыленных частиц МТ^^Ч^ть раЗрты ■.'. В течение последних лет выполнено большое число работ, как фундаментального характера, так и Накладного, посвящонпнх исследованию распадения твердых тел под действием бомбардировки частицами, В настоящее яремя; усилия исследователей концентрируются на анализе взаимосвязи между развитием фундаментальных исследований я…	Фаязов, Илхамжан Мухаммаджанович	1992
Исследование характеристик импульсно-периодического электроразрядного СО2-лазера с квазистабильной газовой средой Таким образом, для создания СС^-лазерсв с квазистабильной газовой средой, имеющих большой срок слуабы и высокие энергетические характеристики актуальным является решение следующих задач: поиск и исследование методов повшения ресурса работы (Х^-лазера с квазистабильной газовой средой при повышенной уровне удельной энергии, рассеиваемой в газе…	Беляков, Игорь Иванович	1992
Когерентное черенковское излучение сильноточных релятивистских электронных пучков Вместе с тем определились и возможности различных механизмов ндуцированного излучения. Так в коротковолновой части иллимэтрового и особенно в субмиллиметровом диапазоне редлочтительны источники, действие которых основано на тимулированном магаттгормозном излучении. В более длинноволновых иапазонах - . миллиметровом и сантиметровом - целесообразно…	Ковалев, Николай Федорович	1992
Количественный электронно-зондовый анализ легирующих примесей в приповерхностных слоях кремния Использование ионной имплантации для создания областей "сток" и "исток" в МОП-транзисторах , "эмиттер" и "база" - в биполярных транзисторах интегральных схем, требует доз легирования 1015-101бсм~2. Существующий метод рентгеноспектрального микроанализа ( РСМА ) позволяет детектировать данные количества атомов примеси в кремнии. Данный метод…	Алексеев, Андрей Петрович	1992
Масс-анализаторы с аксиально-симметричными магнитными призмами Большинство приборов и оборудования,действие которых основано на магнитной сепарации ионов по массам,построено на базе анализаторов с секторными стационарными магнитными и электрическими полями. Основные характеристики таких анализаторов реализованы достаточно полно и возможности их существенного улучшения практически исчерпаны. Поэтому проблема…	Кузема, Александр Сергеевич	1992
Масс-спектрометрическое исследование молекулярных пучков, содержащих кластеры Аналитическая масс-спектрометрия продвигается в направлении исследования все более сложных соединений, содержащих сстни и тысячи атомов. Наиболее интенсивно исследуемые классы таких сложных частиц - большие биологические молекулы и полимолекулярные соединения - кластеры…	Козлов, Борис Николаевич	1992