Темы авторефератов и диссертаций по физике из каталога библиотеки ФизМатХим. Физика полупроводников
Код ВАК 01.04.10Тема работы | Автор | Год |
---|---|---|
Особенности излучательной и безызлучательной рекомбинации в квантоворазмерных структурах InGaN/GaN, GaAsN/GaN, связанные с характером организации наноматериала
До недавнего времени при анализе квантовой эффективности, практически не учитывались уникальные структурные особенности нитридов Ill-группы, связанные не только с высокой плотностью дислокаций более… |
Карташова, Анна Петровна | 2010 |
Особенности оптических свойств сильно легированного GaAs:Te в условиях коррелированного распределения примеси
Необходимо отметить, что термин «упорядочение» понимается в литературе неоднозначно. При распаде твердых растворов могут образовываться, так называемые, моделированные структуры при сегрегации точечных дефектов по периодическому или квазипериодическому типу. Образование моделированных структур, тоже зачастую относят к процессам упорядочения. В… |
Сидоров, Евгений Николаевич | 2010 |
Особенности формирования активной области InGaN/(In,Al)GaN для светоизлучающих приборов
Впервые получены и исследованы короткопериодные сверхрешётки ¡пОаМ/ОаЪ}, выращенные методом периодической конвертации поверхностного слоя кКЗаЫ. Показано что, использование короткопериодных сверхрешёток 1пОаМЛлаК в активной области позволило значительно улучшить характеристики светодиодных структур. Впервые предложен и реализован метод… |
Сизов, Виктор Сергеевич | 2010 |
Спектроскопия глубоких уровней в полупроводниковых структурах
Основные проблемы, возникающие при интерпретации и анализе результатов экспериментальных исследований дефектов с глубокими уровнями в многослойных полупроводниковых структурах (диодах Шоттки, МОП структурах), обусловлены тем, что наблюдаемые изменения электрофизических параметров исследуемых структур являются интегральным результатом… |
Бормонтов, Александр Евгеньевич | 2010 |
Структурные и оптические свойства нанокластеров кремния в матрице субоксида кремния
Для решения поставленных задач был применен комплекс методов исследования, включающий просвечивающую электронную микроскопию (ПЭМ), оптическую спектроскопию отражения и поглощения, инфракрасную (ИК) Фурье-спектроскопию, спектроскопию комбинационного рассеяния (КРС) и метод фотолюминесценции (ФЛ… |
Маслова, Наталья Евгеньевна | 2010 |
Теория резонансных фотонных кристаллов и квазикристаллов
Практическая значимость работы состоит в том, что в ней впервые рассчитаны зонная структура и спектры отражения, пропускания и дифракции одномерных, двумерных и трехмерных резонансных фотонных кристаллов с учетом пространственной дисперсии диэлектрической проницаемости и диэлектрического контраста; теоретически исследовано температурное поведение… |
Поддубный, Александр Никитич | 2010 |
Транспорт тока, ЭПР и фотолюминесценция в пористом кремнии
Таким образом, уникальные свойства ПК обуславливают его многочисленные применения в микроэлектронике, наноэлектронике, оптоэлектронике и даже в технологии биосовместимых материалов [10]. Вместе с тем ПК является интересным модельным объектом для развития физики токопереноса, фото- и электролюминесценции в наноразмерных гетероструктурах, физики… |
Демидова, Наталия Евгеньевна | 2010 |
Формирование и полупроводниковые свойства тонких слоев на основе Fe и Ca2Si на Si(111)
Особенностью подхода к формированию двумерных (2D) пленок силицидов металлов является использование стабильных поверхностных сверхструктур различных металлов на кремнии в качестве барьерных слоев или прекурсоров для создания сплошных пленок моноатомной толщины в условиях сверхвысокого вакуума… |
Фомин, Дмитрий Владимирович | 2010 |
Фотоэлектрические явления и эффект поля в квантово-размерных гетеронаноструктурах In(Ga)As/GaAs, выращенных газофазной эпитаксией
Результаты работы могут быть использованы для экспресс-анализа, качества выращенных КРС и усовершенствования технологии ГФЭ'МОС при создании' приборных структур. Метод ДЭП может быть использован для диагностики процессов медленного захвата носителей на ловушки и определения высоты эмиссионного барьера в КТ,. а также для определения дрейфовой… |
Истомин, Леонид Анатольевич | 2010 |
Электрические и фотоэлектрические явления в гетероструктурах и диодах Шоттки на основе полупроводников A3B5 и кремния и их применение в сенсорах водорода
В последние годы в связи с проблемой глобального потепления основное внимание мирового научного сообщества обращено к поискам альтернативных источников энергии, при этом возник стойкий интерес к развитию водородной энергетики… |
Салихов, Хафиз Миргазямович | 2010 |
Электронные, оптические и механические свойства кристаллов Ga1-x(Inx, Alx)Se, GaSe1-x(Sx, Tex) нелинейной оптики терагерцового диапазона
Кристаллы GaSe обладают высокой плотностью собственных дефектов решетки, в частности, плотность дислокаций в них достигает значений до 109 см"2 [20], а число дефектов упаковки на слои - до 0,67 [21]. При этом ростовый материал обладает устойчивым р-типом проводимости с концентрацией свободных дырок 1015-1018 см"3 [1, 22]. р-тип проводимости GaSe… |
Саркисов, Сергей Юрьевич | 2010 |
Электронные состояния на поверхности GaAs с адсорбированными слоями цезия и сурьмы
Адсорбированные атомы могут различаться по степени аккомодации (от физадсорбции до хемосорбции) и занимать различные адсорбционные места на поверхности полупроводника. Взаимодействие между адатомами оказывает влияние на состояния, индуцированные отдельными адатомами и может приводить к возникновению новых, "коллективных" ПС. Как следствие… |
Журавлев, Андрей Григорьевич | 2010 |
Электронный транспорт и фотопроводимость в нанокристаллических пленках PbTe(In)
Особенности примесных состояний индия во многом обусловлены свойствами кристаллической матрицы теллурида свинца, в частности, высокой поляризуемостью решетки и, как следствие, чрезвычайно высоким значением статической диэлектрической проницаемости с ~ 103. Взаимодействия в системе примесный центр - ближайшее кристаллическое окружение приводят к… |
Добровольский, Александр Александрович | 2010 |
Электрофизические и фотоэлектрические характеристики МДП-структур на основе гетероэпитаксиального варизонного HgCdTe, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии, с различными диэлектриками
В настоящее время уже распространенно создание структур с приповерхностными варизонными слоями с повышенным составом при выращивании материала Н^1хСс1хТе для матриц инфракрасных фотодиодов. Варизонные слои позволяют улучшить пороговые характеристики (например, обнаружительную способность) детекторов путем снижения роли поверхностной рекомбинации и… |
Дзядух, Станислав Михайлович | 2010 |
Электрофизические свойства структур кремний-на-изоляторе, изготовленных методом сращивания и водородного расслоения
Из многообразия способов изготовления таких структур в промышленных масштабах используются всего два - SIM OX (Silicon IMplanted by OXygen) [3] и Smart Cut [4]. В обоих способах основным процессом при изготовлении является имплантация, в первом случае ионов кислорода, во втором — водорода. В первом случае имплантация используется для создания… |
Николаев, Данил Валериевич | 2010 |
Асимметричные гетероструктуры раздельного ограничения и мощные лазеры на их основе (λ=1.6-1.85 мкм
Таким образом, разработка гетероструктур, излучающих в диапазоне длин волн 1.6-1.9 мкм, и создание мощных полупроводниковых лазеров с низкими внутренними потерями на их основе являются актуальными задачами как с научной, так и с практической точек зрения… |
Лютецкий, Андрей Владимирович | 2009 |
Взаимодействие акустических волн и лазерных пучков с индуцированными решетками и доменными структурами в сегнетополупроводниковых кристаллах ниобата лития
До середины 1990-х годов наибольшее внимание исследователей было обращено на увеличение стойкости электрооптических параметров к лазерному воздействию и разработку на этой основе нового поколения оптоэлектронных и акустоэлектронных устройств. В то же время были недостаточно исследованы взаимодействия лазерных пучков с примесными центрами и роль… |
Калимуллин, Рустем Ирекович | 2009 |
Влияние водорода на электрофизические свойства германия в системе полупроводник-электролит
С присутствием водорода и его состоянием в полупроводниках, связаны многие вопросы технологии полупроводниковых приборов и интегральных схем. Водород присутствует практически на всех этапах производства приборов на основе 81, Се и полупроводниковых соединений Ш-У: в процессах роста кристалла, отжига п плавления, как составная часть плазмы для… |
Родионов, Николай Викторович | 2009 |
Влияние микро- и наноструктурирования на оптические свойства кремниевых слоев
В последние годы было обнаружено, что можно формировать кремниевые слои с большой оптической анизотропией, используя преимущественное травление c-Si вдоль определенных кристаллографических направлений в электрохимическом, плазмохимическом или химическом процессах. Важными примерами таких анизотропноструктурированных кремниевых объектов являются… |
Мамичев, Дмитрий Александрович | 2009 |
Влияние структурных особенностей на физические свойства редкоземельных полупроводников на основе сульфида самария
Наличие тензорезистивного эффекта позволило применить материалы на основе 8т8 для изготовления тензорезисторов и тензорезисторных датчиков всевозможных механических величин (давлений, деформаций, перемещений, ускорений, вибраций и т. п.). Развитие этого направления доведено до коммерческого производства… |
Шаренкова, Наталия Викторовна | 2009 |