Темы авторефератов и диссертаций по физике из каталога библиотеки ФизМатХим. Физика полупроводников
Код ВАК 01.04.10Тема работы | Автор | Год |
---|---|---|
Замещение по Воткинсу и диффузия имплантированных примесей в кремнии
В начале 60-х годов Воткинсом было обнаружено явление вытеснения элементов III группы из узлов решетки кремния междо-узельными атомами кремния, возникающими при облучении кристаллов электронами с энергией порядка 1 МэВ. Боткине наблюдал это явление при 20.4 и 4.2 К. Затем этот Эффект наблюдался при еще более низких температурах: 1.6 и 0.5 К… |
Муханад Абдуль-Хафииз, Ражих Джадан | 1994 |
Излучательная рекомбинация на примесно-дефектных центрах в облученном германии
Германий явился первым материалом, на котором было изучено влияние облучения высокоэнергетическими частицами на свойства полупроводниковых кристаллов и приборов… |
Долгих, Наталья Ивановна | 1994 |
Исследование границы раздела Si (III)/SiO2 в кластерном приближении
В последние годы наблюдается рост интереса к границе раздела 31/зЮг одному из основных структурных элементов в микроэлектронике. Этот интерес связан, в частности, с актуальной на сегодняшний пень задачей создания газочувствительных элементов-сенсоров на зснове современной технологии. Перспективным является использова-ше структуры ра-БЮ^-Б! в… |
Грошев, Геннадий Евгеньевич | 1994 |
Исследование границы раздела диэлектрик-полупроводник с целью разработки плазмохимического процесса для формирование МДП структур на соединениях А3В5
Наиболее оптимальной элементной базой доя цж* чвых и линейных ИС являются транзисторы со структурой металл- диэлектрик -полупроводник (МДП ПТ). Однако, реализация МДП ПТ на арсенида галлия и фосфиде индия имеет существенные трудности и, прежде всего, из-за неудовлетворительных параметров границы раздела диэлектрик-полупроводник, связанных с… |
Падеров, Виктор Петрович | 1994 |
Исследование зарядовой нестабильности МДП-систем в сильных электрических полях и разработка методов контроля
Для исследования зарядовых явлений в диэлектрических пленках МДП-систем при критических воздействиях широкое применение нашли следующие экспериментальные методы: воздействия постоянным электрическим полем, облучения ионизирующей радиацией, лавинной инжекпии, фото-инжекции, инжекцин заряда постоянным током и т. д. Одним из наиболее перспективных… |
Андреев, Владимир Викторович | 1994 |
Исследование комплексов, содержащих вакансию галлия в арсениде галлия, легированном теллуром или оловом
Дефекты с глубокими уровнями могут вводиться в материал намеренно - для получения необходим электрических и оптических свойств. В ряде случаев их появление вызывается неконтролируемыми загрязнениями или собственными дефектами, образующимися как в процессе роста кристаллов, так к в процессе изготовления и эксплуатации приборов, к/или… |
Сосновский, Валерий Роальдович | 1994 |
Исследование концентраторных солнечных элементов и высоковольтные фотопреобразователи на основе GaAs — AlGaAs
Целый настоящей работы является: исследование структур фо-•1ч').трообразователой на основе гетеросистеш СаАз - А1СаАз подученных вддкофазной апитаксией (КФЭ); определение причин ухудшения их фотоэлектрических характеристик; разработка ■ оригинальных коЕьтругШий (Сонц8лт];аторнах, каскадных и высоковольтных ФП нэ основе гетеропереходов в системе… |
Кутлимратов, Александр | 1994 |
Исследование оптических особенностей фотолегированных слоев халькогенидных стеклоподобных полупроводников
Розробка 1 досл1дшення рееструючих оередовищ для оптичш/о ?<а-пису 3.нформац11 в наш час вид!лились в окремий. перспективный иауковий напрямок. Основна увага в цьому напрямку прид!лястьсн досл1дженню ков ж ф1зичних та 1нженерно-технолог1чних принциШв, як! б дозволяли покращувати параметри резструючих середовищ. Одним 1з нових перспекгивнкх клас!в… |
Стецун, Аполлинарий Иванович | 1994 |
Исследование особенностей механизма генерации многомодовых непрерывных InCaAsP/InP ( λ =1.3 мкм) лазеров раздельного ограничения, выращенных методом краткоконтактной жидкофазной эпитаксии
Исследования полупроводниковых структур о квочтовораз-мерными слоями привели к открытию новых явлений в физике полупроводников, обусловленных эффектами изменения распределения плотности состояний по энергии в таких структурах, что сказывается на других важных параметрах структуры. На основе таких структур были существенно улучшены параметры ряда… |
Зайцев, Сергей Витальевич | 1994 |
Исследование особенностей плазмон-фононного взаимодействия и оптическая диагностика структур на основе GaAs
Актуальн1сть теми. Використання СаАз як нап1впров1днико-вого матер1алу для створення млсроелекгронних прилад1в дае ряд в!домих переваг пор1вняно до використання кремнш через б1льшу рухлив1сть носИв 1 ширину заборонено! зони, прямозонн1сть, можлив1сть отримання широкого спектра твердшс розчшив, тощо. Як правило, м1кроелектронн1 припади на основ1… |
Васильковский, Сергей Анатольевич | 1994 |
Исследование примесных центров марганца, цинка и халькогенов в кремнии и твердых растворах кремний-германий
Одним из полупроводниковых растворов,привлекавших особое внимание исследователей в течение многих лет«являются твердые растворы кремний-германий.Исследование твердых растворов Si-Ge, легированных примесями с глубокими уровнями представляет повышенный интерес, которое кроме чисто прикладного имеют также большое значение для физики… |
Мирсаатов, Равшанбек Муминович | 1994 |
Исследование процессов неравновесного структурообразования и модификации свойств полупроводников кристаллов теллурида кадмия и ртути под действием лазерного излучения
Актуальність теми. Лазерні методи обробки матеріалів знаходять > все більш широке застосування в процесах виготовлення мікро-електронних приладів. Широкі діапазони зміни енергетичних і просторово-часових характеристик випромінювання оптичних квантових генераторів (ОКГ), простота спряження лазерного обладнання з вакуумним технологічним… |
Загиней, Аполлинарий Алексеевич | 1994 |
Исследование роста эпитаксиальных слоев материалов A3B6 и их некоторых электрофизических свойств
Младая такими уникальными возможностями, материалы А"зс ко ;ашли широкое практическое применение для изготовления активных '.ле^ентов электронной техники как, например, германии и кр^/.лкй. >то свяаано с. тем, что связь кеэду химической чистотой и физическими свойствами, которая была установлена для германия и к рам в и:? ¡елъад раопрсх. то^дито… |
Барри, Умар | 1994 |
Исследование субмикронных рельефных прямоугольных структур методом растровой электронной микроскопии
Детальное исследование рвльефти поверхностей естественно! ' чать с объектов, имеющих наиболее простой профиль поверхносг-й структуры с известными с высокой точностью линейными рпз*ю- : ки, например, прямоугольный. При этом желательно иметь едва-дный по атомному составу материал рельефного эджент;*. Нади!-; 9 таких объектов упрощает задачу… |
Стрижков, Илья Борисович | 1994 |
Исследование фотоэлектрических свойств аморфного гидрированного кремния
Понятно, иго удовлетворить все возраставшие требования зс параметрам и характеристикам электронных лриборсз в связи с расширением областей их применения, можно только используя новые материала. Поэтому не случайно в последнее десятилетке ргзвитие фотоэлементов было связано с кспогъзованиен акорфинх полупроводников… |
Икрамов, Рустамжон Гуламжанович | 1994 |
Исследование электронной структуры и оптических свойств идеальных и содержащих точечные дефекты кристаллов диэлектриков кластерным методом рассеянных волн
Необходимость пнтерпретацпп новых экспериментальных результатов, касающихся спектроскопических свойств твердого тела, требует постоянного развития теоретических моделей и методов. Высокую эффективность для описания параметров электронной структуры и оптических свойств как идеальных, так и содержащих дефекты кристаллов, демонстрируют методы физики… |
Соболев, Александр Борисович | 1994 |
Исследование электронных процессов в структурах полупроводник-диэлектрик-полупроводник и металл-диэлектрик-полупроводник с туннельно-прозрачным слоем диэлектрика и квазиодномерным электронным каналом
Исследование туннелирования носителей заряда сквозь промежуточный окисел представляет значительный научный интерес, поскольку вопросы зонной структуры и макроскопического описания окисных слоев толщиной 10 - 40 химического состава окисла и переходных слоев остаются до конца не. выясненными… |
Осипов, Владимир Юрьевич | 1994 |
Исследование электронных процессов в структурах полупроводник-диэлектрик-полупроводник и металл-диэлектрик-полупроводник с туннельно-прозрачным слоем диэлектрика и квазиодномерным электронным каналом
Исследование туннелирования носителей заряда сквозь промежуточный окисел представляет значительный научный интерес, поскольку вопросы зонной структуры и макроскопического описания окисных слоев толщиной 10 - 40 1, химического состава окисла и переходных слоев остаются до конца не. выясненными… |
Осипов, Владимир Юрьевич | 1994 |
Исследование электронных свойств поверхности эпитаксиального арсенида галлия с адсорбированными слоями цезия и кислорода
Для повышения квантовой эффективности и стабильности фотокатодов с 0Э0 важным представляется изучение фотоэмиссионных свойств широкозонных твердых растворов А3В5. Такие полупроводники, сохраняя преимущества СаАз, должны обладать большей величиной ОЭС и, возможно, лучшей стабильностью… |
Паулиш, Андрей Георгиевич | 1994 |
Исследование эффектов квантования ионного и электронного спектров в полупроводниковых сверхрешетках As/AlAs методом инфракрасной спектроскопии
Л Б т у п л ь п о с' г ь___темы. Значительный прогресс в полупроводниковой технологии позволил создать искусственные микроструктуры с размерами сравнимыми с межатомными расстояниями. Доступность этого класса полупроводниковых структур создает новые пути для исследования физики твердого тела в условиях с сильно пониженной размерностью, где… |
Мирихин, Александр Германович | 1994 |