Темы авторефератов и диссертаций по физике из каталога библиотеки ФизМатХим. Физика полупроводников
Код ВАК 01.04.10Тема работы | Автор | Год |
---|---|---|
ЕПР спектроскопiя чистих i легованих кристалiв нiобату лiтiю i парателурiту
ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ. А1стуальн1сть теми. Монокрисгалм н1обату л1т1ю 1АШЭ3 1 парателур1-ту а-ТеОя завдяки сво1м ун1кальним ф1зичним властивостям широко вюсористовуються в науц1 1 техн1ц1 : в акусто- 1 електрооптичних присгроях, п'езоперетворювачах, в тому чмсл1, в ф1лътрах на повер-хневих акустичних хвилях, як дефлектори 1 модулятори в… |
Ракитина, Людмила Григорьевна | 1993 |
Закономерности фазообразования в имплантированном ионами кремнии
Ионно- лучевая модификация твердых теп является быстро развивающимся метопом создания момнх материалов. В минроэлентронине данный метоп обычно применяется лля легирования полупроводниковых материалов. Однано н последние годы он все чаше начинает использоваться для ионного синтеза различных химических соединений… |
Данилин, Алексей Борисович | 1993 |
Излучение и электрические домены, обусловленные разогревом носителей заряда электрическим полем, в арсениде галлия и одноосно деформированном германии
Кр:1?ер:з1 устойчивости к неустойчивости однородного распределения поля в кристалле с ОДП, выведенные и экспериментально подтвержденные для случая воздействия на образец постоянного напряжения и переменного напряжения от внешнего псточннка СВЧ колебаний, остаются в силе, когда переменное ¡пряжение возникает на образце за счет автоколебаний в… |
Алтухов, Игорь Витальевич | 1993 |
Изовалентное легирование и получение квантовых гетероструктур на основе соединений А3 В5 в методе жидкофазной эпитаксии
Актуальяосг_ь_те^ы. Развитие волоконно-оптических систем связи и техникл СВЧ потребовало создания сложных полупроводниковых приборов, оптимизированных для работы в различных спектральных диапазонах. Это привело к интенсивному исследованию технологии получения эпитаксиальных слоев и многослойных структур на основе различных бинарных соединений и… |
Ле Туан | 1993 |
Исследование влияния параметров реактивного магнетронного распыления на электронные свойства аморфного гидрированного Si, Ge и сплавов на их основе
Особое место, среди аморфатх полупроводников, занимают аморфшйТ-гидрированный . кремний. (a-Sl:H) и сплавы на его основе. Главным моментом, спредэливэим развитие интереса к этому классу материалов, явилась возможность значительно уменьши» концентрацию внутренних дефектов пассивацией их водородом в процессе роста пленок. Исследования, выполненные в… |
Ишкалов, Жанай Толаганович | 1993 |
Исследование влияния примесей переходных элементов на фотоэлектрические и оптические свойства фосфида и арсенида галлия
Широкозонные полупроводники типа А^Вд обладают хорошими оптическими и фотоэлектрическими свойствами,ситьно ., зависящими от дефектности структуры, которыми удается управлять в определенных пределах в зависимости от концентрации чу&еродных примесей и собствешисс д^ЬектоБ структуры, от степени их компенсации, от их рассположе- . ния, ориентации в… |
Атаев, Патышакулы | 1993 |
Исследование влияния структурного совершенства и физико-химических обработок поверхности кремния на характеристики силовых диодов
НАУЧНАЯ НОВИЗНА. Исследовано пространственное распределение по кремниевой пластине величин поверхностного изгиба зон Уз , эффективного времени жизни X и проведено их сравнение с плотностью распределения структурных нарушений, выявленных позднее травлением пластин в селективных иравителях. Установлено шесть характерных видов распределений… |
Нам Чанг Сон | 1993 |
Исследование влияния упругого взаимодействия на формирование дефектных структур и примесных неоднородностей в полупроводниковых материалах
Характерной чертой полупроводниковых материалов является их структурная чувствительность. Именно поэтому этапы развития твердотельной электроники соответствуют этапам развития исследований влияния структуры полупроводников на свойства приборов… |
Гайдуков, Геннадий Николаевич | 1993 |
Исследование комбинационного рассеяния света в напряженных сверхрешетках на основе полупроводников GaAs-InAs
С помощью комбинационного рассеяния света можно определить многие фундаментальные параметры динамической системы: энергию, времд жизни, симметрию колебательных состояний. Частота и полуширина спектральных линий несет информацию о напряжениях, плотности дислокаций и разупорядоченности образующих сверхрешетку полупроводниковых материалов. Применение… |
Курочкина, Татьяна Викторовна | 1993 |
Исследование кремниевых Р-П переходов методом наведенного тока
На всех стадиях производства полупроводниковых приборов неотъемлемым элементом технологического цикла, очевидно, должно быть диагностирование параметров, определяющих функционирование прибора. Основой большинства п/п приборов различного назначения служит р-п переход. Самым широко используемым материалом в микроэлектронике в настоящее время и в… |
Кузичев, Дмитрий Валентинович | 1993 |
Исследование оптических и фотоэлектрических свойств аморфных тонкопленочных материалов a-Si1-xCx:H и активных приборных структур на их основе
Объектом исследования являются аморфные гидрогенизированные сплавы "'о - ¿>2_К0Х:Н рс всей диапазоне изменения X от 0 до I, то есть включены однокомпонентные материалы а - и… |
Ханов, Джумамурад | 1993 |
Исследование оптических и электрических свойств кристаллов Si и Ge, содержащих дислокации и границы зерен
В последнее .время возрос интерес к исследованию электронных свойств протяженных дефектов, из-за их важности в процессах 'рекомбинации [Ли, генерирования примесей [Л2] и в работе полупроводниковых приборов СЛЗ… |
Шретер, Юрий Георгиевич | 1993 |
Исследование полупроводниковых твердых растворов соединений АIVBVI и создание инфракрасных лазеров на их основе
С середины шестидесятых годов стали развиваться полупроводниковые лазера на основе твердых растворов соединений 17-УХ. груш (соединений свинца-олова о серой,оаленом.таллурои)-.полупроводников с узкой запрещенной зоной (Е^ к 0,3 эВ).позволившие перекрыть широкий диапазон инфракрасного (ИК) спектра 3-50 ккм. ,Такие лазеры явились базой дан.развития… |
Даварашвили, Омар Ильич | 1993 |
Исследование процессов накопления и растекания зарядов в приборах типа металл-диэлектрик-полупроводник
В связи с этим представляется актуальным проведение экспериментальных исследований особенностей процессов происходящих в МДП-приборах при внепкта воздействиях… |
Атамуратов, Атабек Эгамбердиевич | 1993 |
Исследование процессов ударной ионизации и лавинного умножения в узкозонных твердых растворах А3 В5 на основе CaSb и InAs
Для указанных выше задач требуются высокоэффективные фотодетекторы, которые должны удовлетворять ряду требований: -иметь высокую чувствительность в заданном спектральном дияпавонв -обладать высоким быстродействием или произведением коэффициента усиления на ширину полосы пропускания, -иметь минимальные шумы в необходимой полоса частот. Этим… |
Андреев, Игорь Анатольевич | 1993 |
Исследование реактивного ионного травления как метода создания элементов оптоэлектронных устройств
Основная цоль настояцей работы заключалась в разработки технологии РИТ полупроводниковых соединения А3В6 для создания различных элементов оптоэлектронных приборов, в ¡астности. лаззрных диодов. Для этого' предполагалось создание диагностического коми лекса для исследования газового разряда и его взаимодействия с поверхностью образцоь и деталями… |
Дулькин, Александр Евгеньевич | 1993 |
Исследование рекомбинационных параметров поликристаллического кремния для солнечных батарей
Требование невысокой стоимости заключает в себе противоречие. Приборы с невысокой стоимостью невозможно изготовить на очень совершенных материалах, потому что такие материалы являются дорогими. Требование невысокой стоимости влечет за собой структурное несовершенство большинства типов используемого кремния… |
Али Ибрагим Боуба | 1993 |
Исследование субмикронных многослойных гетероструктур с помощью фотоэмиссионной спектрометрии
На сегодняшний день базовым способом получения полупроводникоЕнх прибороЕ на основе А3В5 в промышленной 1ехнологии массового производства является шдкофазная эштаксия ■ (Ш). При создашь различных типов пр/боров мккро- и оптозлектроники, особенно основанных на структурах о кваятоворазмэршми слоями (таэдшы активных слоев в десятки нанометров и… |
Сайфидинов, Джабир Жураханович | 1993 |
Исследование токовых флуктуаций в потенциальных барьерах кремниевых поликристаллических структур
Поликристаллический кремний в настоящее время выдвигается в число наиболее перспективных материалов твердотельной электроники и находит широкое применение в производстве полупроводниковых приборов (интегральных транзисторов, диодов, резисторов, фотоэлементов). Выбор в качестве объекта исследований поликремния представляется обоснованным, так как… |
Коломоец, Геннадий Павлович | 1993 |
Исследование физических процессов определяющих основные рабочие параметры фотоприемников на сонове легированного кремния
Когда распространение излучения идет в атмосфере, предстанет интерес не весь ИК диапазон спектра, а только те его уча, которые приходятся на прозрачные области ("окна") атмос-?ы… |
Гареев, Газинур Зиятдинович | 1993 |