Темы авторефератов и диссертаций по физике из каталога библиотеки ФизМатХим. Физика полупроводников
Код ВАК 01.04.10Тема работы | Автор | Год |
---|---|---|
Структура и проводимость тонких пленок жидкого диэлектрика на поверхности твердого тела
… |
Иванов, Игорь Владимирович | 1997 |
Структуры сегнетоэлектрик-полупроводник: свойства, технология и применение
Использование совокупности свойств сегнетоэлектрических материалов в составе многослойных структур, например, при непосредственном контакте с полупроводниками, существенно расширяет их функциональные возможности, так как параметры таких структур могут перестраиваться после воздействия импульсов поляризующего электрического поля. Интенсивное… |
Афанасьев, Валентин Петрович | 1997 |
Температурный гистерезис и угловое распределение интенсивности второй оптической гармоники в титанате бария с примесями
Апробация результатов работы. Полученные результаты докладывались на семинарах кафедры физической электроники Российского государственного педагогического университета и на XIV Всероссийской конференции по физике сегнетоэлектриков (Иваново, 1995… |
Залесский, Вячеслав Геннадьевич | 1997 |
Теоретическое исследование беспороговых процессов оже-рекомбинации в полупроводниковых гетероструктурах
В параграфе 2.1 выводится общая формула для расчета матричного элемента через интегралы перекрытия между начальными и конечными состояниями частиц. Квадрат модуля матричного элемента оже-перехода после статистического усреднения по начальным спиновым состояниям электронов имеет вид: < |М|2 >= |М1|2 + |Л2и|2-Ле(М-Щ),где… |
Андреев, Алексей Дмитриевич | 1997 |
Теоретическое исследование особенностей неэкспоненциальной релаксации в области стеклования на основе модели иерархически ограниченной динамики
Характер отклика стеклообразующих материалов на внешнее воздействие может соответствовать или твердому или жидкоподобному агрегатному состоянию вещества в зависимости от времени наблюдения или частоты прикладываемого воздействия. В этом отношении стекло является твердым телом в том смысле, что временной масштаб для типично жидко-подобных явлений… |
Волчек, Андрей Олегович | 1997 |
Теория корреляционных эффектов при фазовых переходах в твердых телах
Исчерпывающее теоретическое объяснение поведения вещества вблизи фазового перехода до сих пор-сопряжено .о рядом фундаментальных трудностей, хотя и здесь имеются несомненные достижения и успехи. Известно, что вблизи точга! потери устойчивости определенного состояния решающую роль начинают играть коллективные, эффекты и задача не сводится-к… |
Щедрина, Наталия Васильевна | 1997 |
Теория примесных состояний в полупроводниковых квантовых точках
Важной особенностью ннзкоразмерных полупроводниковых систем является возможность целенаправленного изменения зонной структуры полупроводника при помощи варьирования геометрических параметров системы. С этой точки зрения наиболее интересными объектами являются так называемые полупроводниковые мнкрокристаллы различных форм, выращенные в… |
Гаспарян, Арман Суренович | 1997 |
Термодинамические модели расчета концентрации точечных дефектов с учетом их взаимодействия в элементарных и многокомпонентных полупроводниках
Основное содержание работы докладывалось на научных семинарах и конференциях в Ульяновском Государственном Университете на физико-техническом факультете… |
Комлев, Антон Васильевич | 1997 |
Термо- и фотостимулированные процессы в системах полупроводник - металл, полупроводник - органическая среда
… |
Костенко, Михаил Иванович | 1997 |
Термомеханические напряжения в процессах формирования тонких пленок металла на основе золота на поверхности арсенида галия
Практическая ценность: Данные о влиянии термомеханических напряжений и о возможности изменения состава приповерхностного слоя GaAs при воздействии электронных пучков, используемых в электронной литографии, пропускании постоянного или СВЧ тока, а также ПАВ, могут быть использованы при разработке технологии изготовления приборов на основе структур с… |
Любченко, Дмитрий Владимирович | 1997 |
Точечные дефекты в диоксиде кремния, исследование с помощью численного моделирования
Диоксид кремния (ЭЮг) широко применяется в техпике в виде кристаллов кварца, в оптике в виде кварцевого стекла и в микроэлектропике в виде изолирующих аморфных пленок. Диоксид кремния представляет таяже большой интерес для фундаментальных исследований в физике твердого тела как один из простейших по химическому составу представителей широкощелевых… |
Сулимов, Владимир Борисович | 1997 |
Транспорт двумерных электронов в периодических решетках антиточек
Периодические решетки антиточек создавались для того, чтобы наблюдать чисто квантовые эффекты, а именно, бабочку Хофштад-тера, описывающую структуру энергетических зон периодической решетки в магнитном поле, и эффект • Ааронова-Бома. Тем не менее, размеры большинства созданных структур превышают длину волны электрона и поэтому в них в первую… |
Погосов, Артур Григорьевич | 1997 |
Физические процессы в лавинных фотоприемниках на основе структуры кремний-широкозонный слой
Решение вышеуказанных задач с помощьн традиционных лавинных фотодиодов СЛФД) затруднено из-за присутствия в реальных р-п-переходах локальных микропробоев (микроплазм), ограничивавших рабочую площадь и коэффициент усиления прибора. Микроплазмы проявляется как случайные импульсы тока больной амплитуды (от 10 мкА до 100 мкй), протекавшего во вневней… |
Садыгов, Зираддин Ягуб-оглы | 1997 |
Физические процессы определяющие прочность и долговечность волоконных световодов
Первые волоконные световоды из кварцевого стекла изготавливались без полимерных оболочек и имели поэтому очень низкую прочность. Вскоре проблема повреждения световодов при вытяжке была решена путем использования защитных полимерных покрытий различных типов, которые наносились на световод прямо в процессе вытяжки и затвердевали до момента первого… |
Семенов, Сергей Львович | 1997 |
Формирование заготовок волоконных световодов методом легирования кварцевого стекла азотом, изучение их свойств
Кварцевое стекло стало наиболее важным и широко используемым материалом доя изготовления волоконных световодов из-за его высокой прозрачности в широком диапазоне длин вол» и особенно в телекоммутвжщшишых окнах в районе 1.3 и 1.55 мкм, благодаря его высокой технологичности и превосходным физическим и механическим свойствам. В настоящее время в… |
Храпко, Ростислав Радиевич | 1997 |
Фотоэлектрические методы определения коэффициента примесного оптического поглощения в полупроводниках и их применение к GaAs
Исследование оптического поглощения является одним из важнейших методов изучения энергетического спектра полупроводников: структуры энергетических зон и энергетического спектра примесных состояний. Коэффициент примесного оптического поглощения характеризует чистоту материала и совершенство его кристаллической структуры. Данные о концентрации… |
Планкина, Светлана Михайловна | 1997 |
Численный анализ физических процессов в мощных биполярных полупроводниковых структурах с учетом радиационных воздействий
В последние годы радиационно-технологические процессы (РТП), состоящие из последовательных операций обработки высоко-энергетичными частицами и термостабилизирующего отжига, успешно применяются в производстве полупроводни .овых приборов, в частности, биполярных транзисторов и диодов. Радиационно-термическое воздействие приводит к формированию… |
Клебанов, Максим Павлович | 1997 |
Электрический пробой и электролюминисценция пленок ZnS:Mn, полученных высокочастотным магнетронным распылением
Одним из вариантов решения данной проблемы является созданий электролюминесцентных (ЭЛ) экранов. Электролюминесцентный экран является серьезным конкурентом электронно-лучевой трубки и имеет ряд преимуществ. Он является технологичным н может иметь достаточно большую площадь при высокой равномерности характеристик. Кроме того, в одном… |
Жигальский, Александр Анатольевич | 1997 |
Электрический пробой и электролюминисценция пленок ZnStMn, полученных высокочастотным магнетронным распылением
Одним из вариантов решения данной проблемы является создание электролюминесцентных (ЭЛ) экранов. Электролюминесцентный экран является серьезным конкурентом электронно-лучевой трубки и имеет ряд преимуществ. Он является технологичным и может иметь достаточно большую площадь при высокой равномерности характеристик. Кроме того, в одном… |
Жигольский, Александр Анатольевич | 1997 |
Электронно-эмиссионная спектроскопия поверхностей слоистых полупроводников типа А3В6 и кремния
Особлив! умови, в яких знаходяться атоми поверхневих шар!в твердого т!ла, пор1внпно з об'емом, породаують специф1ку цих uaplB, що в1добрахаеться у в!дм1нност1 Зхн!х м1кроскоп1чних характеристик в!д об'емних. Досл!дчення .поверхонь шаруватих нап!впров!дникових кристал!в, в силу кваи!двом!рност1 таких матер!ал!в, е ц!кавими як •з фундаментально… |
Ненчук, Тарас Николаевич | 1997 |